芯片AEC-Q100认证测试怎么做
汽车芯片IC车规AEC-Q100认证 AEC-Q100认证 AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性,加速寿命模拟可靠性,封装可靠性,晶圆制程可靠性,电学参数验证,缺陷筛查,包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件. 需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q100的验证,需要晶圆供应商,封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力.广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证. 如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果,那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q100 认证.供应商可以与客户协商,可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些,但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q100 认证. Tier 1 : OEM车用模块/系统厂, 车用电子组件的End-User.Tier 2 : 使用/制造车用电子组件的厂商, 车用电子组件的Supplier.Tier 3 : 提供支持与服务给予电子行业, 车用电子的外包商. AECQ100认证测试周期: 3-4个月,提供全面的认证计划,测试,报告等服务. AECQ100认证测试地点: 广电计量广州总部,广电计量上海试验室. 测试元器件失效分析项目: 1 形貌分析技术:体视显微镜,金相显微镜,X射线透视,声学扫描显微镜,扫描电镜,透射电镜,聚焦离子束.2 成分检测技术:X射线能谱EDX,俄歇能谱AES,二次离子质谱SIMS,光谱,色谱,质谱.3 电分析技术:I-V曲线,半导体参数,LCR参数,集成电路参数,频谱分析,ESD参数,电子探针,机械探针,绝缘耐压,继电器特性.4 开封制样技术:化学开封,机械开封,等离子刻蚀,反应离子刻蚀,化学腐蚀,切片.5 缺陷定位技术:液晶热点,红外热像,电压衬度,光发射显微像,OBIRCH.