IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability is een internationaal, aan collegiale toetsing onderworpen wetenschappelijk tijdschrift op het gebied van de natuurkunde. De naam wordt in literatuurverwijzingen meestal afgekort tot "IEEE Trans. Device Mater. Reliab."
Het wordt uitgegeven door Institute of Electrical and Electronics Engineers en verschijnt 4 keer per jaar.
Het eerste nummer verscheen in 2001.
Q215028
collegiale toetsing
Concept
Q5633421
wetenschappelijk tijdschrift
Concept
Q413
natuurkunde
Concept
Q131566
Institute of Electrical and Electronics Engineers
ORG
Q5327634
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
MEDIA
2001-01-01T00:00:00Z^^http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime
2001
DATE
+4^^http://www.w3.org/2001/XMLSchema#decimal
4
NUMBER
publisher