Joint Test Action Group
Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados. Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes. 
JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração. 

A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console.
Q173350
circuitos impressos
Concept
Q131566
IEEE
ORG
Q131566
IEEE
ORG
Q80831
circuito integrado
Concept
Q2283
Microsoft
ORG
Q15281614
XBox
MEDIA
Q545306
Joint Test Action Group
MEDIA
+1985^^http://www.w3.org/2001/XMLSchema#decimal
1985
NUMBER
+1990^^http://www.w3.org/2001/XMLSchema#decimal
1990
NUMBER
+1149.1^^http://www.w3.org/2001/XMLSchema#decimal
1.149,1
NUMBER
-1990^^http://www.w3.org/2001/XMLSchema#decimal
-1990
NUMBER
standards body
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