结晶度有哪些测量方式？
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大多数测定结晶度的方法都假定材料是结晶和非结晶高分子的完美混合物，过渡区域占比例很低，可以忽略。测量方法包括密度法、差示扫描量热法（DSC）、X射线衍射（XRD）、红外光谱学和核磁共振（NMR）。不同的测量方法，测定的具体数值会有不同，因此需要综合运用多种方法测定结晶度。
高分子结晶
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除了以上的积分方法，晶区和非晶区也可以通过显微术观察，如和透射电子显微镜。 测量结晶度随时间的变换，可研究结晶动理学。高分子结晶动理学的最基本的模型来自。高分子结晶过程不总是满足简单的化学 速率方程。高分子结晶过程会跨越的越多个区域，与小分子结晶相比，高分子片晶有两个不同的表面。高分子结晶动理学两个最重要的理论是阿夫拉米方程和Lauritzen-Hoffman生长理论。
高分子结晶
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结晶度或结晶性（）指的是固体中的结构有序程度。换言之，结晶度表示聚合物结晶部分占全部聚合物的比例。结晶度对物质的硬度、密度、透明度、扩散程度均有重大影响。
结晶度
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结晶度为结晶部分所占的比例，表征结晶的程度，一般在10%到80%之间。只有小分子材料才能得到高结晶度晶体，一般比较脆。长时间保持在熔点以下的材料也可以获得高结晶度，这一般成本较高，只能应用于特殊情况。
高分子结晶
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高分子结晶是高分子链部分排列起来的过程，在此过程中，高分子链折叠起来，形成有序的区域，这样的区域成为片晶，片晶可堆砌成更大的球形结构，称为。高分子可从熔体冷却结晶，也可通过机械拉伸或溶剂蒸發结晶。结晶影响高分子材料的光学、力学、热和化学性质。结晶度可通过多种分析方法测定，一般在10%到80%之间，因此，结晶高分子常被称之为半结晶高分子。结晶高分子的性质除了通过结晶度表征，还通过分子链的折叠大小和取向表征。
高分子结晶
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对于许多聚合物的等温结晶过程，它们的结晶进程与时间的关系可以用阿夫拉米方程（Avrami equation）来描述。 方程如下： (V-V)/(V-V)=exp(-Kt) ， 亦可写成 1-C=exp(-Kt) ，  其中： V是聚合物的比容； 下标0、t、∞分别表示处于起始时、t时刻时、最终时的状态； C表示聚合物t时刻时的结晶度； K是结晶速率常数，K值越大，结晶速率越快； t是结晶进程所消耗的时间； n是Avrami指数，与成核的机理和生长的方式有关，理论上其数值是个整数，且等于生长的空间维数与成核过程的时间维数之和（如下表）: 不同成核和生长类型的Avrami指数值
阿夫拉米方程
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柠檬酸被用作添加剂，加入到软饮料、啤酒、苏打水中，并存在于很多天然果汁中。这导致了甜度测量上的问题——测量糖类的标准是溶液的折射率，而糖类溶液的折射率和柠檬酸溶液的折射率基本相同。对于软饮料和橙汁来说最好的甜度测量方法是含糖量和含酸量的比值。最近，红外線探测器被允许用来测量糖度和酸度。它的原理是测量糖类和柠檬酸在分子共振上的差异。这为测量饮料的甜度提供了准确的途径。
檸檬酸
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分光光度法是一种工具，取决于对有色化合物吸收多少光，对分子进行定量分析。 分光光度法使用称为分光光度计的光度计，该光度计可以测量光束强度作为其颜色（波长）的函数。分光光度计的重要特征是光谱带宽（它可以透射通过测试样品的颜色范围），样品透射率的百分比，样品吸收率的对数范围，有时还包括反射率测量的百分比。
分光光度法
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从晶体的衍射花样推测晶体结构的过程称为衍射花样的标定，涉及较繁琐的数学计算，常常要根据和衍射结果的比较对模型进行反复的修改（该过程一般称为modeling and refinement）。在这个过程中，晶体学家要计算出可能晶格结构的衍射花样，并与实际得到的花样进行对比，综合考虑各种因素后进行多次筛选和修正，最终选定一组（通常不止一种）与实验结果最大程度吻合的猜测作为推测的结果。这是一个异常繁琐的过程，但如今由于电脑的广泛应用，标定工作已经大大简化了。
晶体学
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产生的钨层的结晶度可以通过改变WF/H混合物的比例和基质温度来控制。低WF/H比率和温度可以形成(100)定向的钨微晶，而较高的比例和温度有利于形成(111)定向。这个沉积过程的缺点是会形成HF蒸气，它具有很强的腐蚀性，并会腐蚀掉大多数材料。此外，沉积的钨与二氧化硅的粘附性较差，而二氧化硅是半导体电子产品中的主要钝化材料。因此，SiO在钨沉积之前必须用额外的缓冲层覆盖。另一方面，HF的蚀刻可能有利于去除不需要的杂质层。
六氟化钨