Any other sampling configuration for the OT for which equivalent particle penetration for particles of 30 nm electrical mobility diameter can be demonstrated will be considered acceptable.
Hyväksyttävinä pidetään myös muita poistoputken näytteenottokonfiguraatioita, kun voidaan osoittaa vastaava hiukkasläpäisevyys sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n hiukkasille.