Дифракція електронів з низькою енергією Інша назва методу - дифракція повільних електронів (ДПЕ), або ж LEED (). Метод, заснований на вимірюванні розподілу відбитих від кристалічної поверхні електронів за кутовою інтенсивністю при бомбардуванні електронами з низькою енергією (E< 500 еВ) під великим кутом падіння. Дифракційна картина дає інформацію про розташування атомів у поверхневому шарі.