Одержувана дифракційна картина характеризує симетрію кристала: наприклад якщо кристал, що має вісь симетрії четвертого порядку, орієнтований так, що ця вісь паралельна падаючому пучку, то лауеграма також буде мати вісь симетрії четвертого порядку, Лауеграми широко використовуються для орієнтації кристалів при експериментальному вивченні різних твердих тіл.