У кристалі відбувається «відбір», і дифрагує тільки випромінювання з дискретним набором довжин хвиль λ, таких, що для цих довжин хвиль міжплощинні відстані d і кути падіння θ задовольняють закону Брега. Метод Лауе надзвичайно зручний для швидкого визначення симетрії кристала і його орієнтації. Він використовується також для визначення розмірів спотворень і дефектів, що виникають у кристалі при механічній і термічній обробці.