Esta é a imagem de uma página de rosto dos anais de um simpósio. A capa é predominantemente vermelha com texto e gráficos em preto e branco. O título principal diz "IEE Proceedings" na parte superior em grandes letras maiúsculas brancas. Abaixo disso, em texto menor em preto sobre fundo branco, está o subtítulo "Simpósio Internacional IEE sobre DEFEITOS e TOLERÂNCIA DE FALHAS em SISTEMAS VLSI." O texto adicional fornece detalhes do evento, incluindo a data "2 a 4 de setembro de 1992" e o local "Universidade de Edimburgo, Escócia".

Um resumo gráfico com padrões e formas semelhantes a circuitos é colocado na metade inferior da capa, renderizado em preto e branco contra o fundo vermelho. O design inclui linhas e retângulos que podem representar caminhos eletrônicos e componentes em um microchip. O estilo geral da imagem é técnico e formal, indicativo de uma publicação acadêmica ou profissional.