änderung des Phasensprungs bei der Reflexion an Silber in Abhängigkeit vom Einfallswinkel
ZusammenfassungMit einem Platteninterferometer (nachJamin) wird in zwei verschiedenen Anordnungen die Phasenverschiebung bei der Reflexion Glas-Silber und bei der Reflexion Luft-Silber über einen größtmöglichen Bereich des Einfallswinkels gemessen. Dabei werden nach dem in der vorvorausgehenden Arbeit angegebenen Verfahren die zu vergleichenden Bündel vor der Interferenz auf gleiche Intensität gebracht. Die Phasensprünge werden für die beiden Polarisationsrichtungen des einfallenden Lichtes (elektrischer Vektor parallel bzw. senkrecht zur Einfallsebene) getrennt bestimmt.Verschiedene Schichten ergaben experimentell einen etwas verschiedenen Verlauf mit dem Einfallswinkel, der durch Oberflächenschichten erklärbar ist. Daher wurden für jede untersuchte Schicht einzeln effektive optische Konstanten bestimmt. Mit diesen ergab sich übereinstimmung zwischen Beobachtung und Erwartung innerhalb der Fehlergrenze. Dicke und Brechungsindex der Oberflächenschichten wurden nach einem bekannten Verfahren vonDrude abgeschätzt.