Über eine neue Methode zur Messung von Anregungs- und Ionisierungsspannungen. I
ZusammenfassungEs wird eine Methode angegeben, die die Möglichkeit bietet, das „Nullelektronenkriterium“, welches Hertz bei seiner Differentialmethode zur Messung von Anregungspotentialen eingeführt hat, außer für Anregungsspannungen auch zur Messung von Ionisierungsspannungen zu verwerten. Es werden dadurch auch für die Messung von Ionisierungspotentialen die gleichen Vorteile nutzbar gemacht, die die Einführung dieses Kriteriums für die Messung von Anregungsspannungen zur Folge gehabt hat.