Neue spektroskopische Untersuchungen von Bindungen in Organosiliciumverbindungen
In den vergangeneu Jahren wurden zahlreiche spektroskopische Untersuchungen an Organasiliciumverbindungen durchgeführt. Im Folgenden soll eine Auswahl aus unseren Beiträgen der letzten Zeit gegeben werden, die sich im wesentlichen mit dem Einfluß von Substituenten und Lösungsmitteln auf die spektroskopischen Meßgrößen (IRund Raman-Wellenzahlen und Intensitäten, chemische Verschiebungen in der Kernresonanz) beschäftigen. Hierbei wurden unter anderem einige Cyclosiloxane untersucht. Hierauf soll im zweiten Teil etwas näher eingegangen werden. Die Infrarotaufnahmen wurden mit dem UR 10 des VEB Carl Zeissjena (KBr-, NaClund LiF -Prisma) durchgeführt. Die Wellenzahlgenauigkeit betrug nach entsprechender Eichung ± 1 cm-1. Die absoluten integralen Infrarotintensitäteil wurden nach der Methode III von Ramsayl ermittelt. Die absolute Genauigkeit der Werte beträgt etwa ± 10 Prozent, die relative Genauigkeit etwa ±4 Prozent. Als Intensitätseinheit verwenden wir aus praktischen Gründen 1041 Mol-I cm-2. Die Raman-Spektren wurden zum Teil einem photoelektrisch registrierenden Hilger-Gerät E 612, zum Teil mit einem Cary-81-Raman-Spektrometer gemessen. Für das zuerst genannte Instrument fanden wir eine Wellenzahlgenauigkeit von ±3 cm -1, für das zweite eine solche von ± 1 cm -1. Die Ramanintensitäten werden als relative Streukoeffizienten S bezogen auf LI v = 459 cm-1 von CCl4 angegeben. Zur Ermittlung von S vergleiche2. Die relative Genauigkeit war bei Einsatz des Hilger-Instrumentes ungefähr ± 10 Prozent, bei Einsatz des Cary-Gerätes ungefähr ±4 Prozent. Die Kernresonanzspektren wurden mit dem Gerät JNM-3H-60 (Japan Electron Optics Labaratory Co. Ltd.) bei 60 MHz aufgenommen. Als innerer Standard wurde (CHa)4Si benutzt. Die Substanzen wurden von uns hergestellt und nach den einschlägigen Methoden zumeist mit Hilfe der Gaschromatographie analytisch kontrolliert.