Über die Photoleitung von Anthrazen
The dependence of the photocurrent on voltage, light intensity and electrode separation and also the decay-time of the photocurrent is measured. All these measurements are largely influenced by the electrode material. The results obtained with Cu I- and Al-electrodes and also with insulating electrodes are given and the different behavior is discussed by means of a model. Hereby conclusions are made about the mean ranges and the mobility of the holes which are mainly responsible for the photocurrent.Zusammenfassung1.Es wird festgestellt, daß die Art des Elektrodenmaterials die funktionale Abhängigkeit des Photostromes von Spannung, Elektrodenabstand und Strahlungsleistung stark beeinflußt. Das bei Verwendung von CuJ- bzw. Al-Elektroden auftretende unterschiedliche Verhalten wird darauf zurückgeführt, daß CuJ-Elektroden Defektelektronen nachliefern können, Al-Elektroden jedoch nicht.2.Die Bildung von Ladungsträgern erfolgt nur an den Grenzflächen Kristall-Elektrode.3.Die Schubwege der Ladungsträger beiderlei Vorzeichens sind bei fehlender Nachlieferung gleich dem Elektrodenabstand. Es wurden Werte bis zu 4 mm beobachtet. Wesentlich größere Werte kann der Schubweg der Defektelektronen annehmen, wenn für letztere die Möglichkeit der Nachlieferung besteht.4.Die ermittelte Abklingzeit des Photostromes ist bei Verwendung von CuJ-Elektroden von der Größenordnung 10−3 sec, dagegen bei Verwendung von Al-Elektroden ≦1,4 · 10−5 sec.5.Als untere Grenze der Defektelektronenbeweglichkeit kann der Wert υ+=2,3 cm2/Vs angegeben werden.