text: Также в системе реализованы следующие возможности: карты смещений (Displacement), которые рассчитываются очень аккуратно, карты рельефа (Bump), подповерхностное рассеивание в тонких слоях (Thin SSS), таких как листья, бумага, тонкие плёнки и т. д., назначение источнику света параметров распределения на основе файлов IES и EULUMDAT.