text: Для того, чтобы соответствовать стандарту, микросхема должна содержать: 4-х или 5-ти проводный порт тестового доступа (TAP — Test Access Port), состоящий из следующих линий: TDI (Test Data Input) — вход тестовой последовательности, TDO (Test Data Output) — выход тестовой последовательности, TMS (Test Mode Select) — выбор тестового режима, TCK (Test Clock) — синхронизация, TRST (Test Reset) — опциональная линия сброса. внутренние ячейки периферийного сканирования (BS Cells) регистры периферийного сканирования (BS Registers) дополнительную переключающую обвязку (TAP Controller) Кроме того, производитель микросхемы должен предоставить так называемый BSDL-файл (англ. Boundary Scan Description Language), полностью описывающий логику периферийного сканирования в данном типе микросхем.