BSDLファイルBSDLファイルバウンダリスキャン記述言語(BSDL)はVHDLの構文と文法をベースに、バウンダリスキャンアーキテクチャがデバイスにどのように実装されているかを記述しています。1149.1準拠として説明できません。これらのファイルは通常、JTAGデバイス製造元のWebサイトから無料でダウンロードできます(以下のリストを参照)。XJTAGなどのバウンダリスキャンテストシステムは、BSDLファイル内の情報を使用して、JTAGチェーン上のデバイスにアクセスする方法を決定します。ファイルには次の要素が含まれています。Description/論理ポートの説明:デバイスへの各接続について説明します。バウンダリスキャンに使用できるポートは、「in」、「out」、「inout」、または「buffer」として説明されています。電源ピンやアナログピンなど、使用できないものは、それぞれ「POWER_NEG」や「LINKAGE_OUT」などの用語で説明されています(2013標準より前に作成されたファイルは、非バウンダリスキャンポートの種類を区別せず、それらをすべて「LINKAGE」として指定します)。このセクションでは、ピン番号ではなく各ポートにシンボル名を使用して、異なるピン配列で再利用できるようにします。シリコンバージョンなどの情報を提供します。1149.7に準拠するデバイスでは必須です。Mapping/デバイスパッケージのピンマッピング:各ポートのシンボル名を物理ピンにマップし、接続されていないピンを識別します。(TAP)/スキャンポート識別(TAP):JTAGピン(TMS、TCKなど)を定義します。1149.1-2013で定義されているオペコードはBYPASSのみです)。Description/レジスタアクセスの説明:JTAG命令ごとにTDIとTDOの間に配置されるレジスタを定義します。Description/バウンダリレジスタの説明:バウンダリスキャンレジスタのサイズを提供し、使用する個々のセルを説明します。1149.6に準拠しているセルに関する情報を提供します。1149.7機能について説明します。1149規格は、バウンダリスキャンレジスタを構成するために使用できる一連の標準セルを定義しています。メーカーには独自のセルアーキテクチャを作成するオプションがあり、その場合、非標準のセルタイプの動作を説明する追加情報を提供します。デバイスのJTAGピンがテストモードになっているときにIEEE規格にのみ準拠している場合、BSDLファイルは、デバイスのコンプライアンスピンに適用してバウンダリスキャンモードに設定する必要があるビットパターンを提供します。BSDLファイルのより詳細な説明は、BSDLおよびSVFファイル形式のページにあります。BSDLファイルのダウンロードリンクがファイルのリストを直接表示しない場合は、「BSDL」で検索してみてください。2022年3月25日に更新。