特性およびプログラミング技術に関した豊富な経験を活かして、電波吸収材料の実用的な技術を開発しています。[EAS01]ε'r、ε"r、μ'r、μ"r、試料厚および周波数のうち、最適化させたい2変数を選び、計算させることが出来ます。すると、下図の等高線のように反射減衰量の分布がわかります。このように、各種組み合わせを数回繰り返すことにより、最適のεrとμr、または試料の厚さを求めることが出来ます。[SFW05]エンブレムなどの設計に最適な透過減衰量や反射減衰量のシミュレーションソフトウェアです。使用予定材料の誘電率や透磁率をマウスを用いて設定すると、試料厚さと透過減衰量及び反射減衰量の関係をリアルタイムでグラフ化します。グラフは、横軸にエンブレムの厚さ、縦軸に減衰量を表示します。以下の規格に制定されました。[EAS03]電波吸収材料・シールド材料等の評価に適しています。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。ITS・ETS用にも使用されています。垂直入射の測定も行うことが出来る測定装置です。[EAS07]同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。持ち運び可能タイプです。電波吸収体を取り付けた後に反射量を測定することが可能です。アンテナを容易に動かすことが出来ますので、継ぎ目などの影響もよくわかります。同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトでありながらサンプルを平面波で測定できます。アンテナ近傍にサンプルをセットできるので、サンプルを小さくできます。[EMD01]レドームやカバー、電波吸収体およびシールド効果の温度特性を測定できる恒温槽です。ご希望の大きさ、試験帯に合わせて設計いたします。(キーコムも委員として参加)。2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。(キーコムも委員として参加)。2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。[NSS05]電波暗室なしで測定できます。高さ1.2m、幅60cm角のコンパクトサイズです。・3m法や10m法に準じた測定が電波暗室なしで可能(0.5~26.5GHz)。・システムが縦型のため、試料交換が容易。放射電波を誘電体レンズを用いて平面波に変換します。近距離で測定できるので減衰が少なく、アンプなどを追加する必要がありません。そのため、外来波などの影響が少なく、電波暗室が必要ありません。近距離でも平面波で測定できるので、あらかじめ校正することによって3m法や10m法に準じた測定が可能です。(キーコムも委員として参加)。2006年6月からJIS化も進めています(キーコムも委員として参加)。キーコムでは、この評価方法に準じた測定キットをいち早く製品化しました。携帯電話内などの発振防止やEMI対策に用いる電波吸収材料の評価に用います。狭いケースの中などは電磁波が乱れていたり、電界と磁界が独立していたりします。このような状況の中での電波吸収材料は、近傍界での電波吸収率が大きく、しかも回路のインピーダンスを乱さないことが要求されます。仕様・データ及び外観等は予告なく変更することがありますのでご了承ください。info@keycom.co.jp。