ナノスケール赤外分光顕微鏡(AFM-IR)のシステムを統合した、新しい分析プラットフォームです。ナノ材料と幅広い材料の分析が可能となります。本来の機能として試料の表面形状やその機械特性を分析し,化学構造とリンクさせることも可能です。した総合的な材料評価により,これまで困難とされてきた微小・微量材料の分析を実現します。ついて,その測定原理から装置構成,そしてデモ機での測定・解析の様子を交えて詳しくご紹介していきます。