250)により高速測定が可能です。粉体試料のθ-2θX線回折のほか、光学パーツを組み替えることでロッキングカーブ、逆格子マップ、極点、インプレーン回折、反射率など多様な薄膜試料測定や、粉体試料などに対する小角散乱測定に対応します。Explore、GlobalFitがインストールされています。X線回折装置解析PCにも、ソフトウェアが導入されていますので、解析に時間がかかる場合にご利用ください。Analyticsを利用しています。Analyticsは、クッキーを利用して利用者の情報を収集します。University.。