T.I.P.S.)は、パワー半導体テスト用のテストインターフェイスの設計、開発、製造を行う主要企業として、25年以上にわたる経歴を有しています。2024」に出展し、SiC、Si、GaN向けの最新世代のテスト技術を日本市場に紹介いたします。Known-Good-Die特許取得済みのまったく新しい世代のTIPSテクノロジーは、パワー半導体の高電圧、大電流でのテストを、安全で信頼性高く、環境に優しく実現します。最大15kVの電圧、最大3000Aの電流でウェーハとKnown-Good-Dieテストを行うと同時に、最大180度という高温でのテストを可能にしました。KGDテクノロジー」は、脱炭素化を促進する上で極めて重要な役割を担っています。プローブカードに「パッシェンの法則」を適用することで、圧縮空気だけでパワー半導体をテストすることを可能としました。この方法ではウェーハテスト中に有害なガスを完全に排除できるため、プロセス全体を持続可能にすることができます。応用物理学と最先端の製造テクノロジーの組み合わせにより、世界市場において最高の信頼性と耐久性が保証されます。パワー半導体のパラレル測定にも使用することも可能です。Known-Good-Dieテクノロジーは国によるイノベーションアワードを受賞しています。このテクノロジーは、インダクタンスを最小限に抑え、テスト中の高速スイッチングを可能にし、パワーモジュール生産の歩留まり向上に貢献します。ワンストップショップの理念のもと、TIPSはプローブカードのメンテナンスサイクル全体をカバーし、テストボードの最先端のソリューション、プローバードッキング、ポゴタワー、テストヘッドなどの機械設計とエンジニアリングも提供しています。