Schulzらの研究でよく知られているように、気体分子の場合、電子を照射すると電子が一時的に分子に捕獲された後、非弾性散乱されるという,いわゆる負イオン共鳴散乱機構がある。研究代表者は半導体表面に化学吸着した原子・分子の場合について、共鳴散乱の可能性を検討した。用いた装置は高分子解能電子エネルギー損失分光(EELLS)であり、用いた試料はCO/Si(100)、CO/K/Si(100)、(H+OH)/Si(111)である。OH/Si(111)については共鳴散乱の観測に成功した。他の系では共鳴散乱は観測されなかった。強く化学吸着しているため、形状共鳴状態ができないためである。