元素分析X線を照射し,放出される光電子を分析して,被験物質の表面組成の分析を行う装置です。固体試料のみで揮発性の物質は不可。有機分子の元素組成が得られます。おすすめ本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。装備した走査型電子顕微鏡です。おすすめ電子顕微鏡は、光の代わりに電子(電子線)をあてて拡大する顕微鏡のことです。薄い試料を用いますが、数十万倍にも拡大した像を得ることができます。原子の周期的な配列に対応した回折現象を利用して、電子回折像が得られます。これは、物質(試料)の性質、特に結晶構造や格子欠陥に関わる重要な情報です。(溶液、無機元素)おすすめ霧状にした試料を、円筒状のプラズマに導入することで、原子固有の波長の発光(スペクトル線)から元素の定性・定量をする分析法です。液体試料の元素を測定する類似の装置に原子吸光法、ICP-MSがあり、特徴は以下の通りです。・原子吸光法:ルーチン的な操作では扱いやすい。元素に応じた光源が必要。(ICP-OES):主成分の測定に対して比較的万能。・ICP-MS:微量成分の測定向き。ppmオーダーの高濃度マトリクスは不可。ICP-AESは、分光のために回折格子を使用していますが、それらを駆動させて測定するシーケンシャルタイプと、駆動させずに一度に検出するマルチタイプがあります。前者は分解能と感度が良いですが、測定時間が長いという欠点があります。本装置は多元素の同時分析に向いているマルチタイプ装置となっています。例)ラット大脳皮質初代細胞のを3次元培養したスフェロイド(細胞凝集体)を観察。3D-SIM超解像度イメージングシステムによる解析結果と合わせることにより、スフェロイドの実際の3次元構造を確認。X線分析装置(XRF)X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。求めることができます。基板の電極部分を測定し元素マッピングすることによって金属の分布を知ることができます。廃液を液体のまま測定することによって、液中に含まれる成分や量などを分析することができます。※組織により上記実験ができない場合がございます。(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。〇複合材料(樹脂)の断面の観察フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。〇電極断面の観察LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。※組織により上記実験ができない場合がございます。