mm)リンクをクリックすると基板材料の仕様をご覧いただけます。Flatness)と同様に、曲率を有する光学素子の表面と校正された基準面との間の偏差を表します。Fit」とも表記されます。nm詳細は「損傷閾値」タブをご参照ください。mm(Ø2インチ)の製品をご用意しております。J/cm2以下の一般的なNd:YAGパルスレーザにご使用いただけます。nmで測定)、紫外(UV)域から近赤外(NIR)域までの用途にお使いいただけます。N-BK7と比較すると、UV溶融石英は均一性が高く、熱膨張係数が小さい素材です。両凸レンズは多くの有限光学系のイメージング用途で一般的に使われています。両表面は球面で、同じ曲率半径を有しています。従って、物体と像の距離が等しいか、ほぼ等しい場合に、収差が最小になります。目安として、共役比(物体までの距離:像までの距離)が5:1から1:5の間にある場合、収差を最小化するには両凸レンズが最良の選択になります。その範囲外では、一般に平凸レンズが用いられます。V-コーティング:Vコーティングは反射防止用の誘電体多層膜コーティングで、光の入射角(AOI)が設計の範囲内であれば、狭い波長帯域内での反射率をより小さく抑えることができます。反射率が最小となる波長の両側では反射率が急速に増加し、V字形の反射率曲線が得られます(「グラフ」タブの性能グラフをご覧ください)。広帯域ARコーティングと比較して、誘電体Vコーティングは狭い帯域においてより低い反射率が得られます。nm)レーザや、光が複雑な光学系を透過するアプリケーションなどに適しています。Hz)高く、ハイパワー光用にも適しています。ここに示すレンズは当社の多くのレンズマウントに取り付けることができます。詳細については「取付けオプション」タブをご覧ください。Files下の型番横の赤いアイコンをクリックすると、各製品のZemaxファイルをダウンロードできます。こちらからは当社の全てのZemaxファイルを一括してダウンロードできます。μm)カスタムコーティングも承ります。お見積りについては、当社までお問い合わせください。mmのUV溶融石英サンプルを使用して得られた透過率曲線で、表面反射の影響も含んでいます。大きい入射角で使用したい場合は、45°の入射角に最適化されたカスタムコーティングをご検討ください。このコーティングは入射角25°~52°の範囲で使用することを推奨しています。詳細は当社までお問い合わせください。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。mmのUV溶融石英に、光を垂直入射したときに得られたものです。この透過率の測定値には表面反射の影響も含まれています。VコーティングVコーティングは反射防止用の多層誘電体薄膜コーティングで、狭い波長帯で反射率が最小となるように設計されています。反射率が最小となる波長の両側では反射率が急速に増加し、下のグラフのようにV字形の反射率曲線になります。当社のVコーティングは0〜20°の入射角(AOI)に対応するように設計されており、コーティング波長における1表面あたりの最小反射率は0.25%以下になります。広帯域ARコーティングと比べると、Vコーティングは、特定の入射角で使用したとき、より狭い帯域幅でより低い反射率が得られます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Vコーティング付きUV溶融石英(UVFS)レンズの測定値です。このコーティングが施されたレンズの損傷閾値の仕様は、レンズのサイズに関わらずすべて同じです。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。