EMC8A350197-63B6-4AE9-A506-E97B9573E47Aスケッチツールで作成。放電に対する電子設計の感受性を理解することは、検証の重要な要素です。回路性能に予期しないイベントをもたらす可能性があります。テレダイン・レクロイのオシロスコープは、このタスクに特化した高いサンプルレートと測定を提供します。つのパルスであれ、何十億回もの測定エンジニアであれ、デバイスやシステムの感受性に関する洞察を得ることができます。レートと帯域幅が重要です。パッケージは、必要な立ち上がり時間、立ち下がり時間、および幅の測定をカスタマイズして、発生器が業界標準を満たしていることを確認できる、調整可能なレベルを持つ特殊なパラメーターを提供します。レートと長いメモリを備えたオシロスコープが必要です。バーストをキャプチャできます。パッケージに追加され、統計およびヒスチコンと組み合わされて、すべてのバーストでの高速パルス測定が可能になります。オシロスコープの内蔵ズーム機能により、仕様から外れている可能性のあるパルスをすばやく見つけて表示できます。サージサージ波形を検証するには、非常に遅い繰り返し率で発生するパルスをキャプチャするために長いメモリが必要です。レートでキャプチャできます。パラメータを統計とヒスチコンと組み合わせて使用​​することで、多くの取得でサージ発生器のパルス形状をすばやく簡単に特徴付けることができます。規格に従って立ち上がり時間、立ち下がり時間、または幅の特性を測定するためのカスタマイズ可能なパラメーターを提供します。シーケンスをすばやく簡単にキャプチャして検証できます。測定フィルタリングパルスパケット内のすべてのパルスを測定することが常に望ましいとは限りません。テールに過剰なパルス状の摂動が存在する可能性があります。この場合、取得で特定の数のパルスのみを測定するか、過剰なテール摂動の影響を除外して最初のパルス上昇のみを測定することができます。秒間隔の過渡パルス形状を表示および検証するには、長いキャプチャ時間が必要です。レートとキャプチャ時間が保証されます。電圧ディップと割り込み電圧ディップと割り込みの基準を満たすためにデバイスをテストするには、電圧ディップ中にデバイスを監視する必要があります。オシロスコープは、必要な測定パラメータへの簡単なアクセスや、波形をすばやく保存して注釈を付ける機能など、デバイスを監視するために必要なすべてのツールを提供します。パラメータが含まれています。パッケージの新しい機能には、正確なパルス測定のためのユーザー定義可能なしきい値が含まれています。ライズ@レベル次のいずれかを使用するように測定計算を設定します。(パーセント)フォール@レベル次のいずれかを使用するように測定計算を設定します。(パーセント)幅@レベル次のいずれかを使用するように測定計算を設定します。オシロスコープは、業界で最も広範囲かつ高機能なツールのコレクションを持ち、解析能力は信じられないほど強力です。MAUIを使うと測定セットアップが非常に簡単になり、洞察を得るまでの時間が短縮されます。ウォルター・レクロイを偲んで*本サイトはAIを活用して翻訳しています。ご不明の点はお問合せください。