神奈川県Japanhttp://www.chroma.co.jp小間番号2115ホーム出展製品クロマジャパンにご興味お持ちいただきありがとうございます。弊社のブースまで立ち寄りいただき、弊社の製品やソリューションについてお話し出来れば幸いです。弊社は台湾から始まり、幅広い半導体のポートフォーリオを持ち世界中に信頼できるソリューションを提供しております。ATE、PXIシステムから、ICハンドラーやシステムレベルのテストソリューションに至るまで、半導体テストソリューションに関する製品を持っております。ATE関連ATEとPXIのソリューションでは、コンシューマーSOC(MCU、コントローラ、オーディオ、ペリフェラル)、パワーマネージメントIC(レギュレータ、LDO、DC/DC、AC/DC、LEDドライバ)、RF(FEM、コネクティビティ、モバイル)、その他アプリケーション(CIS、光センサ、RFID)をカバーします。https://www.chromaate.com/jp/products_list/soc_test_system#nav_breadcrumbハンドラー関連また、ハンドラーと自動システムのソリューションでは、温度制御、拡張デバイスのハンドリング技術、ベアダイのハンドリング、CISターンキーソリューション、システムレベルのテストソリューションをカバーします。https://www.chromaate.com/jp/products_list/ic_pick_place_handler#nav_breadcrumb光学、ウェーハ関連その上に、Chromaは電気的および光学的測定において、統合されたメカニズムと温度制御技術で、さまざまな温度条件下でデバイスのエージングと特性テストを提供しています。モデル7945ダイシング前/後ウェーハに対する、高速ウェーハ、ダイ検査システムであり、同時両面検査が出来る装置となります。より、開発現場及び量産現場の生産性向上に寄与します。高速/高精度/高信頼性及び、使いやすい操作環境で、各種民生用デバイス/高機能マイクロプロセッサ(MCU)/アナログデバイス/SOC測定のサポートをします。InfoChroma最新3680テストシステムは、デバイスの幅広い機能及び、様々なテスト要求に応えられる、柔軟なシステム構成を準備しています。テストヘッドにいろいろな測定機能基板を、実装できるスロットを、24か所準備しています。デジタル測定として、最大2048ピン/測定速度1Gbps/ベクタメモリ容量256MW/総合タイミング精度&plusmn;150psの高精度高速を実現できます。24ビットAWG&DIGのオプションをそろえています。モデル3110-FT高機能化に伴う膨大な測定、及び微細化による超高速I/Fで、ATEで完全な不良検出が難しくなっています。ソリューションとして提案いたします。