日立ハイテクこのウェブサイトでは、JavaScriptの機能を有効に設定していただくことで、最適なコンテンツをご覧いただけます。(ENGLISH)3次元像で高さ、粗さを測定可能。使用することで試料の傾斜等を行うことなく、3次元像を構築、高さ、粗さを測定できます。レポート画面上で直接編集。任意のレイアウトに変更可能です。(面粗さ、線粗さ)などの測定ができます。計測したワークフローはレポート上に表示され確認・出力できる為トレーサビリティが確立できます。わせを行うことなく3次元モデルの構築が可能なソフトウェアです。任意の場所から断面・表面を抽出し、高さ測定や断面上での2点間計測が可能です。画面上の領域から縦・横・斜めと任意の測定場所を選択できます。画面上の測定場所を移動させると、計測結果がリニアに変化します。試料:ねじ様々な計測・レポート機能ISOに準拠した面粗さ、線粗さの計測が可能レポートレイアウト上で工程・作業前後の比較表示ができます。Corporationの米国およびその他の国における商標または登録商標です。試料:六角ナットおよびねじ3Dギャラリー2次元ではわからない形状が、3次元では見えてきます。アプリケーションおよび新製品情報を公開しています。アプリケーションデータSEMの測定例を紹介します。造形の美をコンピュータのグラフィック技術により、さらに美しく仕上げた写真集です。日立電子顕微鏡の歩み年表で見る日立の電子顕微鏡の歩みを紹介します。観察に関するポイントなど田中先生の「秘伝」を伝授いただきました。極微の世界をミクロ先生が紹介します。