SPring-8出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。分光スペクトルや顕微画像等を得る材料計測において,データ駆動型の自動データ解析を含むDX技術の開発とその普及のためのデータプラットフォームへの展開を行う。データ駆動型の自動解析の実現にあたっての大きな課題は,(1)データの統計ノイズを評価し属人性を排した自動データ解析技術と(2)計測装置のメーカー,機種,機関,操作者に依存してばらつく多数のデータを評価して(装置の違いに由来するデータのばらつきに影響されない)材料の本質的な情報を自動抽出する技術の2点である。ベイズ推定等の情報学と材料工学を融合してこの課題を解決する。多段階層の複数の工程からなるワークフローを実現することが必要となる。DX技術は,個人レベルに閉じた技術ではなく社会インフラの開かれた技術であるため,(1)属人性を排したワークフローの自動化や(2)ワークフローの多機関共用が要求される。構築し,国内の多数の研究機関で共用されている。そのRDEシステムでの特徴量抽出の例として,図にあるX線光電子(XPS)スペクトルから特徴量(ピークパラメータ)をベイズ情報量規準を用いて自動抽出する新機能が組み込まれて共用されている。まとめ分光スペクトルや顕微画像等を得る材料計測において,データ駆動型の自動データ解析を含むDX技術を開発し,その成果のNIMS内外への普及のためデータプラットフォームDICE上にてRDEシステムとして展開している。分光スペクトル(例,XPS)から試料材料の特徴量を自動抽出してデータ駆動型解析として再利用するニーズは多く,開発対象を他の計測手法にも拡大する予定。企業向け問い合わせ窓口この機能は所内限定です。この機能は所内限定です。(お問い合わせ先一覧)▲ページトップへ。