なかでも、近年の様々なデバイスの高度化に伴い半導体結晶への要求性能は厳しさを増しています。よる歪み/変位計測システムについてご紹介致します。PL画像機器及びテラヘルツ分光装置についてはこちらをご覧ください。https://www.seika-di.com/manufacture/semicon.html歪み計測システムについてはこちらをご覧ください。伴い扱いが困難になる水銀式ポロシメトリーについて相談したい燃料電池のGDL、MEAのガスの拡散性能を評価したいセラミックフィルターの細孔径分布を測定したいなどなど、どんなささいな事でもご相談承りますので、まずはお気軽にご相談下さい。ラボルームもご用意しておりますので、デモや製品の見学も承ります。