Japanese本発明は、光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置および配光特性測定方法に関する。source.光源から射出される光の特性の一つとして、配光特性が知られている。配光特性は、光源による光度(あるいは、輝度)の空間分布を意味する。配光特性としては、絶対値配光および相対値配光のいずれもが使用される。光度の相対値の空間分布を測定したものであり、配光パターンを求めるような場合などに利用される。一般的に、複雑な配光パターンを有する光源や、その特性が未知の光源について、その配光特性を測定することは、容易ではない。このような配光特性の測定方法や測定装置に関して、以下のような先行技術が知られている。apparatus.このような配光特性測定装置の一形態として、特開昭58−117422号公報(特許文献1)、特開昭60−187825号公報(特許文献2)、および特開2000−258246号公報(特許文献3)は、光源の周囲に複数の受光素子を配置した構成を開示する。特開昭57−090121号公報(特許文献4)は、複数の受光素子からなる受光部を光源の周りを回転可能にした構成を開示する。source.配光特性測定装置の別形態として、特開昭62−250325号公報(特許文献5)、特開平07−294328号公報(特許文献6)、および特開2003−247888号公報(特許文献7)は、光源と受光部との間の光路にミラーを配置し、このミラーの光源に対する相対位置を順次異ならせて測定を行う構成を開示する。source.配光特性測定装置の別形態として、特開平09−264781号公報(特許文献8)は、光源を回転および移動させつつ測定を行う構成を開示する。method"上述したような先行技術文献に開示される構成では、以下のような課題がある。特開昭58−117422号公報(特許文献1)、特開昭60−187825号公報(特許文献2)、および特開2000−258246号公報(特許文献3)に開示されるような構成は、複数の受光素子が必要となり装置が大型化するという課題がある。配光特性測定としての分光測定が難しいという課題がある。difficult.次に、特開昭57−090121号公報(特許文献4)に開示されるような構成は、測定精度が低下するという課題がある。光学部品を含む分光測定装置を採用する必要があるが、この分光測定装置が移動することで、その内部の光学部品のアライメントに影響を与える。この結果、波長設定や分光応答の精度が低下する。そのため、測定精度の観点からは、光源の周りを分光測定装置が回転する構成を採用することは難しい。source.特開昭62−250325号公報(特許文献5)および特開2003−247888号公報(特許文献7)に開示される構成においても、受光部が回転することから、測定精度の観点から課題がある。特開平07−294328号公報(特許文献6)に開示される構成は、分光測定が難しいという課題がある。8105−5:2011「照明器具−第5部:配光測定方法」(非特許文献1)では、「配光測定中に照明器具を回転させる又は点灯姿勢を変化させる配光測定装置は、照明器具の回転、又は点灯姿勢の変化が配光特性に実質的に影響を及ぼさない照明器具に対してだけ用いることができる」とされている。そのため、点灯姿勢が配光特性に影響を与える可能性のある光源については、光源の点灯姿勢を維持したまま配光特性の測定を行う必要がある。この観点からは、特開平09−264781号公報(特許文献8)に開示される構成は、すべての光源に適用することができない。sources.本発明の目的は、光源の配光特性をより高い精度で測定できる配光特性測定装置および配光特性測定方法を提供することである。第1の軸に沿って光源を回転させるための第1の回転機構と、第1の軸と直交する第2の軸上に設けられた検出部と、光源からの光を検出部へ導くためのアームと、第2の軸に沿ってアームを回転させるための第2の回転機構とを含む。アームは、第2の軸に直交しかつ光源の中心を通る仮想平面上に設けられ、光源からの光の光路を変換する第1の光路変換部と、第1の光路変換部によって光路を変換された光を導く導光路と、第2の軸の軸上に設けられ、導光路を経て入射した光を第2の軸と平行な方向に射出する第2の光路変換部とを含む。axis.好ましくは、アームは、光源について第1の光路変換部とは反対側に設けられ、光源から第1の光路変換部とは反対側に射出される光を吸収するための光吸収部をさらに含む。第2の軸と平行であって、第2の光路変換部からより遠い位置にある第3の軸に沿って、光源を回転させるための第3の回転機構をさらに含む。included.好ましくは、第2の光路変換部は、導光路に接続されるとともに、第2の軸の軸上に取出窓が設けられた積分球を含む。axis.好ましくは、第2の光路変換部は、第2の軸の軸上に設けられたミラーを含む。好ましくは、検出部は、分光測定装置を含む。第1の軸に沿って光源を所定角度に配置するステップと、第1の軸と直交する第2の軸上に設けられた検出部へ光源からの光を導くためのアームを、第1の軸と直交する第2の軸に沿って回転させるステップと、検出部で光源からの光を測定するステップとを含む。アームは、第2の軸に直交しかつ光源の中心を通る仮想平面上に設けられ、光源からの光の光路を変換する第1の光路変換部と、第1の光路変換部によって光路を変換された光を導く導光路と、第2の軸の軸上に設けられ、導光路を経て入射した光を第2の軸と平行な方向に射出する第2の光路変換部とを含む。axis.本発明によれば、光源の配光特性をより高い精度で測定できる。accuracy.実施の形態1に従う測定装置の全体構成を示す斜視図である。実施の形態1に従う測定装置の断面構成を示す模式図である。図2に示す水平回転ステージのより詳細な構成を示す断面図である。実施の形態1に従う測定装置の電気的構成を示す模式図である。実施の形態1に従う処理装置のハードウェア構成を示す概略図である。実施の形態1の変形例に従う測定装置の断面構成を示す模式図である。実施の形態2に従う測定装置の断面構成を示す模式図である。実施の形態3に従う測定装置の断面構成を示す模式図である。本実施の形態に従う測定装置を用いて配光特性を測定する際の回転角の時間的変化を示す模式図である。本実施の形態に従う測定装置を用いて配光特性を測定する際の処理手順を説明するための図である。本実施の形態に従う測定装置を用いて配光特性を測定する際の処理手順を示すフローチャートである。Embodiment.本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。図中の同一または相当部分については、同一符号を付してその説明は繰返さない。repeated.本実施の形態に従う配光特性測定装置(以下、単に「測定装置」とも称す。)は、測定対象の光源(以下、単に「光源」とも称す。)を中心とする所定の空間座標系における複数の位置での光度(あるいは、分光光度)をそれぞれ測定することで、配光特性を取得する。本実施の形態に従う測定装置は、光源の配光特性を測定する。Luminescence)などの各種の光源に適用できる。測定対象の光源は、サンプル光源と称されることもある。source.[実施の形態1]<1.装置構成>まず、実施の形態1に従う測定装置100の装置構成について説明する。図1は、実施の形態1に従う測定装置100の全体構成を示す斜視図である。図2は、実施の形態1に従う測定装置100の断面構成を示す模式図である。embodiment.図1および図2を参照して、測定装置100において、第1回転軸AX1に沿って光源2が回転可能に配置されるとともに、第1回転軸AX1と直交する第2回転軸AX2に沿ってアーム22が回転可能に配置される。検出部40は、第1回転軸AX1に沿った回転角θと第2回転軸AX2に沿った回転角φとの組合せが順次変更されるのに伴って、各測定位置での光源2から射出された光の光学特性を順次検出する。このように、測定装置100は、光源2に対する測定位置の位置関係を順次変化させることで、光源2の配光分布を測定する。2.具体的には、測定装置100は、ベース部4と、ベース部4に設けられた第1支持柱10および第2支持柱20とを含む。4.第1支持柱10には、第1回転軸AX1に沿って光源2を回転させるための回転機構が設けられている。具体的には、第1支持柱10には、その先端に光源2が装着される水平回転ステージ12と、水平回転ステージ12を保持するハウジング14が設けられている。水平回転ステージ12は、図示しない点灯治具などを含み、光源2を点灯させるための電源などを供給する。水平回転ステージ12は、パルスモータなどの角度変位を高精度に制御できる駆動部を含む。accuracy.第2支持柱20は、第2回転軸AX2に沿ってアーム22を回転させるための回転機構が設けられている。具体的には、第2支持柱20には、アーム22を回転可能に支持する垂直回転ステージ28と、検出部40とが設けられている。検出部40は、垂直回転ステージ28についてアーム22とは反対側の第2回転軸AX2上に設けられている。アーム22は、いずれの回転角φに位置している場合であっても、光源2からの光を検出部40へ導く。φ.垂直回転ステージ28の内部には、入射光学系38が設けられており、アーム22の回転角φに依存することなく、アーム22の反対側の面と光学的に連通した状態を維持する。垂直回転ステージ28は、パルスモータなどの角度変位を高精度に制御できる駆動部を含む。accuracy.アーム22は、略L字形状を有しており、その先端に光源2からの光の光路を変換する光路変換部30を含む。光路変換部30は、光源2からの光を受光する受光部として機能する。一例として、光路変換部30は、入射した光の光路を90°変換するミラー31を有する。この90°光路変換用のミラー31に限らず、プリズムなどの各種の光学部品を用いて実現してもよい。測定誤差を低減する観点からは、ミラー31の視野32を光源2を含む範囲に制限することが好ましい。2.光路変換部30は、アーム22の回転角φに依存することなく、その視野32が常に光源2を含むように配置される。光路変換部30は、第2回転軸AX2に直交しかつ光源2の中心を通る仮想平面上(図1に示す光軸AXVおよび第1回転軸AX1を含む、第2回転軸AX2に直交する平面)に設けられる。実施の形態1において、光路変換部30は、入射した光源2からの光の光路を第2回転軸AX2と平行な方向に変換する。AX2.アーム22は、さらに、光路変換部30に接続される光ファイバ26と、光ファイバ26に接続される積分球24とを含む。光ファイバ26は、光路変換部30によって光路を変換された光を導く導光路に相当する。光ファイバ26は、1つまたは複数の固定具27によって、アーム22の表面に固定されている。積分球24は、導光路である光ファイバ26を経て入射した光を第2回転軸AX2と平行な方向に射出する光路変換部に相当する。光路変換部は、導光路である光ファイバ26に接続されるとともに、第2回転軸AX2上に取出窓が設けられた積分球24を含む。AX2.積分球24の内面には、硫酸バリウムなどの拡散反射剤からなる拡散反射層25が形成されている。そのため、光ファイバ26を経て積分球24に入射した光は、積分球24内で積分(平均化)され、その積分された光は、入射光学系38を経て検出部40へ入射する。38.図3は、図2に示す垂直回転ステージ28のより詳細な構成を示す断面図である。図3を参照して、垂直回転ステージ28は、アーム22および積分球24を第2回転軸AX2に沿って回転させるための水平回転軸282と、水平回転軸282を回転駆動するためのパルスモータ284とを含む。水平回転軸282の中心には、入射光学系38が貫通している。入射光学系38は、積分球24と検出部40とを光学的に接続する。アーム22および積分球24の回転によって入射光学系38が影響を受けないように、入射光学系38と水平回転軸282の内面との間には、ベアリング286が設けられる。入射光学系38は、入射する光を集光するためのレンズ系などを含んでもよい。light.再度図1および図2を参照して、検出部40は、入射光学系38を経て入力される光の光学特性を検出する。検出部40としては、フォトダイオードのような光の強度を検出するための受光素子を採用してもよいし、波長毎の強度(スペクトル)を検出するための分光測定装置を採用してもよい。.検出部40によって取得された測定結果は、処理装置300へ出力される。処理装置300は、測定装置100における測定位置(典型的には、回転角θと回転角φとの組合せ)に関連付けて、測定結果を順次格納する。処理装置300は、順次格納した測定結果から光源2の配光特性を算出する。sequentially.なお、アーム22の光路変換部30が設けられる端とは逆側の端には、カウンタウエイト34が設けられることが好ましい。これは、垂直回転ステージ28によるアーム22の回転時に、過重の偏りが生じないようにするためである。28.<2.電気的構成>次に、実施の形態1に従う測定装置100の電気的構成について説明する。described.図4は、実施の形態1に従う測定装置100の電気的構成を示す模式図である。図4を参照して、測定装置100は、第1回転軸AX1に沿って光源2を回転させるための回転機構の一部として、パルスモータ124とパルスモータコントローラ126とを含む。測定装置100は、第2回転軸AX2に沿ってアーム22を回転させるための回転機構の一部として、パルスモータ284とパルスモータコントローラ286とを含む。パルスモータ124および284は、それぞれパルスモータコントローラ126および286からの駆動パルスのパルス数に比例して回転位置(位相)を変化させる。respectively.さらに、測定装置100は、パルスモータコントローラ126および286から出力される駆動パルスをカウントするパルスカウンタ350を含む。パルスカウンタ350は、パルスモータコントローラ126および286からそれぞれ出力される駆動パルスのパルス数を積算し、その積算値が処理装置300によって予め設定された測定条件を満たすと、検出部40に対して、測定開始を指示するトリガを出力する。この測定条件としては、例えば、アーム22の回転角が5°ずつ増加するといった条件が考えられる。considered.図4に示す電気的構成の動作としては、以下のようになる。処理装置300から出力される駆動指令1および駆動指令2に従って、パルスモータコントローラ126および286は、パルスモータ124および284にそれぞれ対応する駆動パルスを与える。パルスモータ124は、与えられた駆動パルスに応じた角度だけ光源2を回転させる。同様に、パルスモータ284は、与えられた駆動パルスに応じた角度だけ(あるいは、駆動パルスに応じた速度で)アーム22を回転させる。パルスカウンタ350は、パルスモータコントローラ126および286の駆動パルスをカウントし、光源2およびアーム22の回転角を監視する。パルスカウンタ350は、アーム22が所定角度(例えば、5°)だけ移動するたびに、測定開始を指示するトリガを検出部40へ出力する。検出部40は、入力されたトリガ信号に応答して、予め設定された露光時間にわたって測定を行い、当該設定された露光時間が経過すると測定を終了する。検出部40は、その測定結果を処理装置300へ出力する。300.ここで、実施の形態1に従う処理装置300について説明する。図5は、実施の形態1に従う処理装置300のハードウェア構成を示す概略図である。図5を参照して、処理装置300は、典型的にはコンピュータによって実現される。Drive)310とを含む。Memory)314aなどから読取られる。ネットワークインターフェイス(I/F)306を介してサーバ装置などからネットワーク経由で受信したプログラムを、ハードディスク310へ格納するように構成してもよい。Output)ユニット316を介して、検出部40からの測定結果を受信するとともに、図4に示す各エレメントへ駆動指令や測定条件を与える。FIG.CPU302は、キーボードやマウスなどからなる入力部308を介してユーザなどからの指示を受け取るとともに、プログラムの実行によって算出される配光特性などをディスプレイ304などへ出力する。like.処理装置300に搭載される機能の一部または全部を専用のハードウェアで実現してもよい。hardware.<3.利点>実施の形態1に従う測定装置100において、光源2は、測定装置100の独立した第1支持柱10の水平回転ステージ12に取り付けられる。垂直回転ステージ28の回転中心に積分球24が配置されるとともに、積分球24からアーム22の先端部までを光学的に接続する光ファイバ26が配置される。光ファイバ26は、固定具27によって、アーム22に固定されている。アーム22の先端部に設けられたミラー31がその視野内の光源2を臨む。積分球24は、垂直回転ステージ28を貫通する入射光学系38を介して、光源2からの光を検出部40へ導く。28.このような構成を採用することで、積分球24は、垂直回転ステージ28とともに回転するが、検出部40側にある入射光学系38と接続される積分球24の取出窓は、その位置を変化させない。光ファイバを回転するアームに固定する構成では、アームの回転によって光ファイバに回転方向のねじれやストレスが発生し、これによって測定精度が低下する場合があるが、実施の形態1に従う構成では、アーム22が回転しても、光ファイバ26には、ねじれやストレスが生じない。そのため、測定精度の低下を防止できる。accuracy.また、光源2の点灯姿勢は一定に維持されるため、放熱条件の変化などによる測定中の光特性の変化を防止できる。conditions.実施の形態1においては、光源2を回転させる水平回転ステージ12が設けられる第1支持柱10と、検出部40が配置される垂直回転ステージ28が設けられる第2支持柱20とが互いに独立している。そのため、両者が干渉することなく、垂直回転ステージ28のアーム22を連続的に一方向に回転させることができる。これによって、測定位置に対応する回転角に到達する度に垂直回転ステージ28を停止させることなく連続的な測定を行うことができ、測定時間を短縮化できる。shortened.[実施の形態1の変形例]上述の実施の形態1においては、導光路を経て入射した光を第2回転軸AX2と平行な方向に射出する光路変換部として、積分球24を採用した構成について例示したが、別の光学部品を用いてもよい。その一例として、90°光路変換用ミラーを用いる例を説明する。described.図6は、実施の形態1の変形例に従う測定装置100Aの断面構成を示す模式図である。図6に示す測定装置100Aは、図2に示す実施の形態1に従う測定装置100に比較して、積分球24に代えて光路変換部50が採用されている点が異なっている。その他の構成については、実施の形態1に従う測定装置100と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。repeated.光路変換部50は、導光路である光ファイバ26を経て入射した光の光路を90°変換し、垂直回転ステージ28を貫通する入射光学系38を介して検出部40へ導く。具体的には、光路変換部50は、90°光路変換用のミラー52を有する。光ファイバ26の射出側の光軸と入射光学系38の光軸との交点を中心として、ミラー52が設けられる。このように、本変形例において、光路変換部50は、第2回転軸AX2上に設けられたミラー52を含む。AX2.本変形例においても、上述の実施の形態1と同様の利点を得られる。それに加えて、積分球24を採用する場合に比較して、構造をより簡素化できる。employed.[実施の形態2]次に、測定時に生じる迷光成分を低減できる構成について例示する。図7は、実施の形態2に従う測定装置100Bの断面構成を示す模式図である。図7を参照して、実施の形態2に従う測定装置100Bは、図2に示す実施の形態1に従う測定装置100に比較して、光源2から射出された光を吸収するための光吸収部60をさらに含む点が異なっている。その他の構成については、実施の形態1に従う測定装置100と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。repeated.なお、光吸収部60および光吸収部60を支持する支持部材62は、アーム22と一体的に構成されてもよいし、アーム22に対して着脱可能に構成されてもよい。アーム22に対して着脱可能に構成された場合には、図2および図6に示すカウンタウエイト34に代えて、光吸収部60および支持部材62を装着可能に構成してもよい。6.光吸収部60は、主として、光源2から射出される光のうち、光路変換部30とは反対側に射出される光を吸収する。言い換えれば、光吸収部60に入射した光は、その内部で反射することなく、吸収される。光吸収部60は、光路変換部30の視野32の光吸収部60が存在する位置における断面範囲を含むように配置することが好ましい。これにより、光源2から光路変換部30が存在する向きとは異なる向きに射出された光が、何らかの部位で反射し、光路変換部30に入射するような現象を低減できる。光路変換部30に入射する迷光成分(誤差成分)を低減できる。reduced.このように、垂直回転ステージ28の回転軸に関して、光路変換部30(光源2からの光を受光する受光部)の反対側に、光吸収部60を設けることで、測定誤差の要因となる迷光成分を低減できる。reduced.この光吸収部60としては、入射した光を吸収できる構成であれば任意の構成を採用できるが、例えば、コーン状の光トラップなどを用いて実現できる。このように、実施の形態2に従う測定装置100Bにおいて、アーム22は、光源2について光路変換部30とは反対側に設けられ、光源2から光路変換部30とは反対側に射出される光を吸収するための光吸収部60を含む。included.実施の形態2によれば、上述の実施の形態1と同様の利点が得られるとともに、測定誤差の要因となる迷光成分を低減できるので、測定精度を高めることができる。increased.光吸収部60および支持部材62をアーム22に対して着脱可能に構成することで、例えば、光源2の種類(発光面積)に応じて、光吸収部60の種類を異ならせるようにしてもよい。上述した実施の形態1の変形例に対しても、上述したような光吸収部60を設けるように構成してもよい。above.[実施の形態3]上述の実施の形態1およびその変形例、ならびに実施の形態2においては、光源2が設けられる支持柱と、光路変換部30(受光部)および検出部40が設けられる支持柱とが互いに独立した構成を例示した。これに対して、実施の形態3においては、光源2、光路変換部30(受光部)および検出部40が同一の支持柱に設けられている構成について例示する。pillar.図8は、実施の形態3に従う測定装置200の断面構成を示す模式図である。図8を参照して、実施の形態3に従う測定装置200において、光源2は、第1回転軸AX1に沿って回転可能に配置されるとともに、第1回転軸AX1と直交する第3回転軸AX3に沿って回転可能に配置される。具体的には、光源2は、その発光中心が第1回転軸AX1と第3回転軸AX3との交点と実質的に一致するように配置される。ここで、第2回転軸AX2と第3回転軸AX3とは平行である。parallel.図8に示すような構成を採用することで、受光部である光路変換部30と光源2との間の距離Lを一定に保つことができる。この構成によって、受光部である光路変換部30の回転角にかかわらず、光源2の点灯姿勢を一定に維持できる。unit.具体的には、測定装置200において、アーム22の先端部には、第2垂直回転ステージ70が設けられている。アーム22には、第2垂直回転ステージ70を介して、その先端に光源2が装着される水平回転ステージ80と、水平回転ステージ80を支持する支持部材90とが設けられている。支持部材90は、略L字形状を有しており、第2垂直回転ステージ70によって第3回転軸AX3に沿って回転可能に配置される。光源2は、水平回転ステージ80によって第1回転軸AX1に沿って回転可能に配置される。水平回転ステージ80は、図示しない点灯治具などを含み、光源2を点灯させるための電源などを供給する。2.その他の構成については、実施の形態1に従う測定装置100と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。repeated.アーム22が第2回転軸AX2に沿って回転すると、それに伴って、支持部材90も第3回転軸AX3に沿って回転する。この支持部材90の回転角は、アーム22の回転によって生じる光源2の点灯姿勢の変化を打ち消すように決定される。吊り下げでの使用が想定されている光源については、常に重力下向きを向くような点灯姿勢が維持される。これによって、測定中における放熱条件の変化などによる光特性の変化を防止できる。measurement.実施の形態3に従う測定装置200は、第2回転軸AX2と平行であって、受光部である光路変換部30からより遠い位置にある第3回転軸AX3に沿って、光源2を回転させるための第2垂直回転ステージ70(回転機構)をさらに含む。このように、測定装置200では、垂直回転ステージ28の受光部が設けられる先端部とは反対側の先端部に、第2垂直回転ステージ70を設けるとともに、第2垂直回転ステージ70に光源2を回転させるための水平回転ステージ80が設けられる。処理装置300は、垂直回転ステージ28の回転と連動して、光源2の点灯姿勢を一定に保つように第2垂直回転ステージ70を制御する。28.また、実施の形態3に従う測定装置200では、実施の形態1に従う測定装置100に比較して、光源2から受光部までの測光距離を約2倍にできる。そのため、より大きな光源の配光特性を測定できる。measured.[測定に係る処理手順]次に、上述した各実施の形態に従う測定装置を用いて光源2の配光特性を測定する際の処理手順について説明する。以下に説明する処理手順は、上述したいずれの測定装置にも適用できる。above.上述した測定装置においては、第1回転軸AX1に沿った回転角θ(光源2の回転角)と第2回転軸AX2に沿った回転角φ(アーム22の回転角)との組合せを順次変更し、各測定位置での光源2から射出された光の光学特性を検出する。detected.典型的な測定手順としては、光源2およびアーム22の回転角を各測定位置に対応する値に設定し、光源2およびアーム22が静止した状態で測定を行う。すべての測定位置において、このような測定を行う。positions.これに対して、少なくともアーム22については静止することなく一定の角速度で回転させつつ、配光特性を測定してもよい。stationary.図9は、本実施の形態に従う測定装置を用いて配光特性を測定する際の回転角の時間的変化を示す模式図である。図9を参照して、光源2の回転角θ(例えば、0°)を各測定位置に対応する値に設定した状態で、アーム22を連続的に一回転させる。アーム22の回転角φを0°から360°まで一定の角速度で変化させる。このアーム22の回転角φが所定値(例えば、5°)だけ増加する毎に、検出部40に対して測定開始を指示するトリガが与えられる。アーム22の回転角φが0°,5°,10°,15°,...と一致するタイミングで測定開始を指示するトリガが出力される。このトリガが出力されると、検出部40は、所定時間(露光時間)の間ゲートを開放して、入射する光を受光する。検出部40では、トリガが与えられる毎に受光素子の露光を開始する。given.このように、光源2は、所定の角度ごとに停止した状態で、測定が実施される。水平回転ステージ12による光源2の回転に要する時間が無視できない場合には、アーム22が一回転する間に、光源2を回転させるようにしてもよい。アーム22が一回転する間に光源2のある回転角θについての測定が実行され、後続の回転中に光源2を所定角度だけ回転させ、さらに後続の回転中に新たな回転角θについての測定が実行される。このような方法を採用することで、垂直回転ステージ28によるアーム22の回転を途中で停止する必要がなく、連続的に回転させて測定を行うことができる。22.但し、露光時間が相対的に長い場合には、露光の開始時と終了時との間でアーム22が相対的に大きく回転してしまうこともある。このような場合には、以下のような処理手順を採用することが好ましい。procedure.図10は、本実施の形態に従う測定装置を用いて配光特性を測定する際の処理手順を説明するための図である。図10に示すように、アーム22を一定の角速度で回転させつつ、回転角θが所定値になったタイミングで露光を開始すると、露光終了時には、ある程度の角度ずれが生じることになる。exposure.一方、光源2は、水平回転ステージによって第1回転軸AX1に沿って回転し、光源2の測定対象の断面は、所定角度ずつ変化することになる。図10には、光源2の第1回転軸AX1に沿った回転角θが0°の場合と180°の場合とを示す。°.光源2の回転角θ=0°の場合において、第2回転軸AX2に沿った回転角φが0°および180°になったタイミングでそれぞれ露光を開始したとする。同様に、光源2の回転角θ=180°の場合において、第2回転軸AX2に沿った回転角φが0°および180°になったタイミングでそれぞれ露光を開始したとする。回転角θ=0°の場合と回転角θ=180°の場合との間では、アーム22の回転に伴って生じる光源2に対する相対移動の向きは反対になる。opposite.したがって、光源2の回転角θ=0°の場合において、アーム22の回転角φが0°において露光を開始したときに取得される測定結果と、光源2の回転角θ=180°の場合において、アーム22の回転角φが180°において露光を開始したときに取得される測定結果とを合成した測定結果は、目的の測定位置(この場合には、回転角θ=0°かつ回転角φ=0°)を中心とした等角度範囲の積分に相当する。range.同様に、光源2の回転角θ=0°の場合において、アーム22の回転角φが180°において露光を開始したときに取得される測定結果と、光源2の回転角θ=180°の場合において、アーム22の回転角φが0°において露光を開始したときに取得される測定結果とを合成した測定結果は、目的の測定位置(この場合には、回転角θ=0°かつ回転角φ=180°)を中心とした等角度範囲の積分に相当する。°).このように、測定開始を指示するトリガが出力されて(露光開始)から露光が終了するまでの時間が無視できない場合であっても、光源2の回転角θが180°だけ異なる2つの測定結果を合成することで、その時間ずれによる誤差を低減できる。本実施の形態に従う測定方法は、互いに対応する複数の測定結果を合成する処理を含む。other.検出部40の露光時間は、必要とする感度に応じて調整されるが、光源2の回転角θが180°だけ異なる2点間において、露光時間が同じであれば、露光時間に起因する測定精度の低下を防止できる。prevented.図11は、本実施の形態に従う測定装置を用いて配光特性を測定する際の処理手順を示すフローチャートである。図11を参照して、ユーザは、光源2を測定装置に装着する(ステップS100)。通常は、安定して点灯するようになるまで光源2を所定期間にわたって点灯状態に維持(エージング)する。stably.続いて、ユーザは、処理装置300を操作して測定開始を指示する。すると、処理装置300は、水平回転ステージ12に対して制御指令を与えて、第1回転軸AX1に沿った回転角θが最初の測定位置に対応する角度になるまで光源2を回転させる(ステップS102)。処理装置300は、垂直回転ステージ28に対して制御指令を与えて、アーム22を一定の角速度で連続的に回転させる(ステップS104)。S104).アーム22の回転角φが測定対象の回転角に到達すると(ステップS106においてYES)、処理装置300は、検出部40に対して、測定開始を指示するトリガを出力する(ステップS108)とともに、検出部40からの測定結果を、トリガを出力したタイミングにおける回転角θおよび回転角φと関連付けて格納する(ステップS110)。アーム22が一回転するまで、ステップS106およびS106〜S110の処理が繰返される。repeated.アーム22が一回転すると(ステップS112においてYES)、光源2が第1回転軸AX1に沿って一回転したか否かを判断する(ステップS114)。光源2が第1回転軸AX1に沿って一回転していなければ(ステップS114においてNO)、処理装置300は、水平回転ステージ12に対して制御指令を与えて、第1回転軸AX1に沿った回転角θが次の測定位置に対応する角度になるまで光源2を回転させる(ステップS116)。ステップS106以下の処理が繰返される。repeated.光源2が第1回転軸AX1に沿って一回転していれば(ステップS114においてYES)、処理装置300は、垂直回転ステージ28に対して制御指令を与えて、アーム22の回転を停止させる(ステップS118)。処理装置300は、測定処理によって格納された回転角θおよび回転角φと測定結果との組に基づいて、光源2の配光特性を算出する(ステップS120)。この配光特性の算出処理において、図10を用いて説明した合成処理などを行ってもよい。ends.[結論]本実施の形態に従う測定装置は、検出部40に光源2からの光を導く入射光学系の一部として光ファイバ26を採用する。光ファイバ26を伝搬する光を、光路変換部を用いて第2回転軸AX2上に設けられた検出部40に導くため、光ファイバ26が固定されているアーム22を回転させたとしても光ファイバ26に回転方向のねじれやストレスが発生することを防止できる。これによって、高い測定精度を維持できる。maintained.また、本実施の形態に従う測定装置では、測定中の光源2の点灯姿勢を一定に維持できるので、放熱条件の変化などによる測定中の光特性の変化を防止できる。LED電球などは、点灯姿勢によって放熱条件が変化し、光特性が変化することになるが、このような測定精度の低下要因を排除できる。change.今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。