開発に成功し、今年度中に発売を予定しています。50μm(0.05mm)微小スポットにより、実際の光デバイスについて曲面・平面を問わず、反射防止コート等の表面反射率測定を非破壊で行なえます。使用される光デバイスは高度化・微小化が進み、長距離通信での光量ロスの削減など高効率化が要求されています。高品質化の流れから個々の近赤外帯域光デバイスの精密な表面反射率測定ニーズが高まっています。従来の反射率測定機では、曲面の測定が行なえないため実際の光デバイスを測定するのではなく、レンズコーティング工程で同時にコーティングされた測定用平面ガラスを測定する方法しかなく、スポット径も数ミリ程度と広く、微小な光デバイスの表面反射率測定が行なえませんでした。測定には裏面の反射防止処理する必要があり、実際に使用する光デバイスの非破壊測定が困難でした。USPM-RU」を開発、販売しており、今回の開発に至りました。社内生産ラインでのレンズコーティング評価による長年にわたる利用実績と、可視光帯域での分光反射率測定機の販売から得た測定ノウハウを活かし簡単な操作でスピーディーな測定が可能となっています。微小な光デバイスの表面反射率測定が直接・非破壊で可能50μm(0.05mm)の微小スポットによる直接測定が可能なため、外径φ1~2mm程度の光デバイス(レンズ、フィルター、ミラー等)の曲面・平面のコーティング性能を確認できます。近赤外波長帯域をカバー(波長範囲1050nm~1650nm)近年、光通信で多用されている1.3μm、1.55μm帯をカバーする1050nm~1650nmの分光反射率測定が可能です。光デバイス裏面からの反射をカットオリンパス独自の特殊光学系の採用により裏面からの反射をカットします。そのため、裏面の反射防止処理を施すことなく、非破壊で表面反射率の測定が可能となりました。フィルターなど平行平面の被検物でも裏面反射の影響を受けずに測定が可能です。裏面からの反射光をカットするために照明光を輪帯状(ドーナツ)とし、この影響を除去しています。輪帯照明による表面反射光は再び対物レンズを通過し、結像面に設けられたセンサー開口に入射します。裏面からの反射光は同様に対物レンズ等を通過しますが結像位置の違いによりセンサー開口には入射しません。これによりサンプル裏面からの反射光をカットしています。水平な平面ステージに被検物を置く形でセットし、ピント調整後測定ボタンをクリックするだけの簡単操作でスピーディーな測定を可能としました。床上据置き型でなく卓上に設置できるため、設置制限も少なく省スペースが図れます。□120mm以下、t75mm以下(但し、形状によりこの範囲内でも測定できない場合があります。数秒から十数秒(試料の反射率により異なります。Windows98は米マイクロソフト社の米国及びその他の国における登録商標です。仕様は発売時までに予告なく変更されることがあります。オリンパス光学工業株式会社は、2003年10月1日をもってオリンパス株式会社と社名変更いたしました。本リリースに掲載されている内容は、報道関係者向けに発表した情報です。掲載内容は、発表日現在の情報であり、ご覧になっている時点で、予告なく情報が変更(生産・販売の終了、仕様、価格の変更等)されている場合があります。各社の商標または登録商標です。Corporation。