ファウンドリーサービステスト用膜付きウェハーウェハー加工実績ウェハー販売(Si/SOI/SiC/GaAs)金属汚染分析サービス恋する半導体(セミコイ)恋するパワー半導体(つよこい)イオンクロマト分析事例(固体表面)固体表面も溶液抽出することでイオンクロマトグラフにて測定が可能です。数cm角以上の試料表面について平均的なデータが得られるので、プリント基板などの平板試料の相対比較に適しています。ここでは液体試料と固体表面の分析の流れを示します。液体試料は、希釈やろ過などの溶液調整後、装置に導入し測定を行います。