Verschideni Elektronestrahl-Ionefalle (Electron Beam Ion Trap, EBIT) sin am MPIK entwicklet un böue wore, wu mer Schwärione (zum Byschpel 78-fach glade Quäcksilber) dermit cha erzyge, spychere un untersueche. D Ione wäre mit Prezisionsschpäktrometer fir alli Wällelengene analysiert un au fir anderi Experimänt (zum Byschpel eme Reaktionsmikroskop) z Verfiegig gstellt. Aini vu dr EBIT isch speziäll as transportabel Grät konzipiert wore un isch am DESY z Hamburg un BESSY z Berlin fir d Untersuechig vu dr Wägselwirkig vu hochgladene Ione mit Synchrotronstrahlig bruucht wore. Mer het au Experimänt an dr Freie-Elektrone-Laser FLASH z Hamburg un LCLS z Menlo Park, Kalifornie, gmacht.