231.21   1   Ordonnance  sur la protection des topographies de produits  semi-conducteurs   (Ordonnance sur les topographies, OTo)   du 26 avril 1993 (Etat le 1er janvier 2022)     Le Conseil fédéral suisse,   vu les art. 2, al. 2, 12 et 18 de la loi du 9 octobre 1992 sur les topographies (LTo)1,  vu l’art. 13 de la loi fédérale du 24 mars 1995 sur le statut et les tâches de  l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (LIPI)2,3   arrête:   Section 1 Dispositions générales   Art. 1 Compétence   1 L’exécution des tâches administratives découlant de la LTo et l’application de la  présente ordonnance incombent à l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle  (IPI)4.5   2 Toutefois, l’art. 12 LTo et les art. 16 à 19 de la présente ordonnance sont du ressort  de l’Office fédéral de la douane et de la sécurité des frontières (OFDF)6.   Art. 2 Langue   1 Les écrits adressés à l’IPI doivent être rédigés dans une langue officielle suisse.   2 Lorsque les documents remis à titre de preuve ne sont pas rédigés dans une langue  officielle, l’IPI peut exiger, en impartissant un délai pour les produire, une traduction  et une certification de conformité; en l’absence des pièces exigées, les documents  remis à titre de preuve sont réputés ne pas avoir été produits.        RO 1993 1834   1 RS 231.2  2 RS 172.010.31  3 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996   (RO 1995 5156).  4 La désignation de l’unité administrative a été adaptée en application de l’art. 16, al. 3, de   l’O du 17 nov. 2004 sur les publications officielles (RO 2004 4937). Il a été tenu compte  de cette mod. dans tout le texte.   5 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996  (RO 1995 5156).    6 La désignation de l’unité administrative a été adaptée en application de l’art. 20 al. 2 de  l’O du 7 oct. 2015 sur les publications officielles (RS 170.512.1), avec effet au  1er janv. 2022 (RO 2021 589). Il a été tenu compte de cette mod. dans tout le texte.   231.21      Droit d’auteur   2   231.21   Art. 2a7 Signature   1 Les documents doivent être signés.   2 Lorsqu’un document n’est pas valablement signé, la date à laquelle celui-ci a été  présenté est reconnue à condition qu’un document au contenu identique et signé soit  fourni dans le délai d’un mois suivant l’injonction de l’IPI.   3 Il n’est pas obligatoire de signer la demande d’inscription au registre. L’IPI peut  désigner d’autres documents qui ne doivent pas obligatoirement être signés.   Art. 2b8 Communication électronique   1 L’IPI peut autoriser la communication électronique.   2 Il détermine les modalités techniques et les publie de façon appropriée.   Art. 39 Taxes   L’ordonnance de l’IPI du 14 juin 2016 sur les taxes10 s’applique aux taxes prévues  par la LTo ou par la présente ordonnance.   Section 2 Procédure de dépôt de la demande d’inscription   Art. 411 Pluralité de déposants   1 Lorsque plusieurs personnes déposent une topographie, elles doivent soit désigner  celle d’entre elles à qui l’IPI peut envoyer toutes les communications, qui ont effet  pour chacune des personnes, soit désigner un mandataire commun.   2 Tant que l’une ou l’autre de ces options n’a pas été choisie, l’IPI désigne une  personne comme destinataire des communications au sens de l’al. 1. Si l’une des  autres personnes s’y oppose, l’IPI invite tous les intéressés à agir conformément à  l’al. 1.   Art. 5 Pièces d’identification   1 Les pièces nécessaires à l’identification et à la représentation concrète de la topo- graphie sont les suivantes:   a. dessins ou photographies de représentations (layouts) servant à fabriquer le  produit semi-conducteur;       7 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004, en vigueur depuis le 1er janv. 2005  (RO 2004 5037).   8 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004, en vigueur depuis le 1er janv. 2005  (RO 2004 5037).   9 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017  (RO 2017 4827).   10 RS 232.148  11 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017   (RO 2017 4827).     O sur les topographies   3   231.21   b. dessins ou photographies de masques ou de parties de masques servant à fa- briquer le produit semi-conducteur;   c. dessins ou photographies de différentes couches du produit semi-conducteur.   2 En outre, des supports de données sur lesquels sont enregistrés des couches de la  topographie sous une forme digitale ou leur tirage sur papier ainsi que le produit  semi-conducteur lui-même peuvent également être déposés.   3 Les pièces doivent être produites en format A4 (21 × 29,7 cm) ou pliées à ce for- mat. Les dessins, les plans ou les photographies de grande surface qui ne peuvent  pas être pliées, doivent être déposés sous forme de rouleaux dont la longueur et le  diamètre n’excèdent pas 1,5 m et 15 cm respectivement.   4 Dans la mesure où l’IPI accepte que les pièces d’identification lui soient remises  par voie électronique (art. 2b), il peut définir des exigences qui s’écartent de celles  énoncées dans le présent article; il publie celles-ci de façon appropriée.12   Art. 6 Demande d’inscription incomplète   1 L’IPI impartit un délai au déposant pour compléter sa demande d’inscription, lors- qu’elle est incomplète ou lacunaire.   2 Il n’entre pas en matière lorsque la demande d’inscription n’a pas été rectifiée à  l’expiration du délai. Il peut exceptionnellement impartir des délais supplémen- taires.13   Section 3 Registre des topographies   Art. 7 Contenu du registre   L’IPI inscrit au registre les indications suivantes:   a. le numéro d’enregistrement;   b. la date de dépôt de la demande d’inscription;   c. le nom ou la raison sociale ainsi que l’adresse du déposant ou de son succes- seur légal;   d. le nom et l’adresse du producteur;   e. la désignation de la topographie;   f. la date et le lieu de l’éventuelle première mise en circulation commerciale de  la topographie;   g.14 la date de la publication;       12 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004, en vigueur depuis le 1er janv. 2005  (RO 2004 5037).   13 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017  (RO 2016 4827).   14 Nouvelle teneur selon l’annexe ch. 1 de l’O du 8 mars 2002 sur les designs, en vigueur  depuis le 1er juil. 2002 (RO 2002 1122).     Droit d’auteur   4   231.21   h. le changement du domicile habituel ou de l’établissement commercial de  l’ayant droit;   hbis.15 les modifications relatives au droit sur la topographie;   i.16 les droits concédés ainsi que les restrictions au pouvoir de disposition or- données par des tribunaux ou des autorités chargées de l’exécution forcée;   k. la date de la radiation.   Art. 8 Dossier   L’IPI tient un dossier pour chaque topographie.   Art. 9 Secret de fabrication et d’affaires   1 Les documents remis à titre de preuve qui divulguent des secrets de fabrication ou  d’affaires sont, sur demande, classés séparément lorsqu’ils sont versés au dossier.   2 Les pièces servant à l’identification de la topographie, mentionnées à l’art. 5, ne  peuvent pas être dans leur totalité classées séparément.   3 Le dossier fait état de l’existence des documents classés séparément.   4 Après avoir entendu les ayants droit inscrits au registre, l’IPI décide d’autoriser ou  non la consultation des documents classés séparément.   Art. 1017 Confirmation   L’IPI confirme l’enregistrement au déposant.   Art. 1118 Publication   1 L’IPI publie les indications inscrites au registre.   2 Il détermine l’organe de publication.   3 Sur demande et contre indemnisation des frais, il établit des copies sur papier de  données publiées exclusivement sous forme électronique.19   4 …20       15 Introduite par le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017   (RO 2016 4827).   16 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017  (RO 2016 4827).   17 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017  (RO 2016 4827).   18 Nouvelle teneur selon l’annexe ch. 1 de l’O du 8 mars 2002 sur les designs, en vigueur  depuis le 1er juil. 2002 (RO 2002 1122).   19 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 3 déc. 2004, en vigueur depuis le 1er janv. 2005  (RO 2004 5037).   20 Abrogé par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004, avec effet au 1er janv. 2005 (RO 2004 5037).     O sur les topographies   5   231.21   Art. 1221 Modification et radiation d’inscriptions   1 Sur la base d’une déclaration de l’ayant droit ou de toute autre pièce jugée suffi- sante, l’IPI procède aux inscriptions suivantes:   a. la concession de droits sur la topographie;   b. les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux ou des  autorités chargées de l’exécution forcée;   c. les modifications concernant des indications portées au registre.   2 La radiation de l’inscription d’une topographie est gratuite.   Art. 13 Rectification   1 À la demande des ayants droit, les erreurs affectant l’enregistrement sont rectifiées  sans retard.   2 Lorsque l’erreur est imputable à l’IPI, elle est rectifiée d’office.   Art. 1422 Extraits du registre   L’IPI établit des extraits du registre.   Art. 15 Conservation et restitution   1 L’IPI conserve les documents ainsi que les supports de données et les produits  semi-conducteurs déposés pendant vingt ans à compter du dépôt de la demande  d’inscription valable.   2 Les supports de données et les produits semi-conducteurs non réclamés à l’expira- tion du délai de conservation peuvent être restitués d’office. Lorsqu’il est impossible  de trouver l’adresse des ayants droit, ils sont détruits en même temps que les docu- ments.   Section 4   Intervention de l’OFDF   Art. 1623 Domaine d’application   L’OFDF est habilité à intervenir en cas d’introduction sur le territoire douanier et de  sortie dudit territoire de produits semi-conducteurs lorsqu’il y a lieu de soupçonner  que la mise en circulation de ces produits contrevient à la législation suisse sur la  protection des topographies de produits semi-conducteurs.       21 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017  (RO 2016 4827).   22 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 2 déc. 2016, en vigueur depuis le 1er janv. 2017  (RO 2016 4827).   23 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008  (RO 2008 2543).     Droit d’auteur   6   231.21   Art. 17 Demande d’intervention   1 Le producteur ou le preneur de licence ayant qualité pour agir (requérant) doit  présenter la demande d’intervention à la Direction générale des douanes.24   1bis La Direction générale des douanes rend sa décision sur la demande au plus tard  40 jours après réception de l’intégralité des pièces justificatives.25   2 La demande est valable deux ans à moins qu’elle ait été déposée pour une période  plus courte. Elle peut être renouvelée.   Art. 1826 Rétention de produits semi-conducteurs   1 Lorsque le bureau de douane retient des produits semi-conducteurs, il les garde en  dépôt contre perception d’un émolument ou confie cette tâche à un tiers au frais du  requérant.   2 Il transmet au requérant le nom et l’adresse du déclarant, du possesseur ou du  propriétaire, une description précise et la quantité des produits semi-conducteurs  retenus ainsi que le nom de l’expéditeur en Suisse ou à l’étranger desdits produits.   3 S’il s’avère, avant l’échéance des délais prévus à l’art. 77, al. 2 et 2bis de la loi du  9 octobre 1992 sur le droit d’auteur27, que le requérant ne pourra pas obtenir des  mesures provisionnelles, le bureau de douane restitue les marchandises sans délai.   Art. 18a28 Échantillons   1 Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi  d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs  retenus. Au lieu d’échantillons, l’OFDF peut aussi lui remettre des photographies  desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.   2 Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en  même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits  semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semi- conducteurs.   Art. 18b29 Protection des secrets de fabrication et d’affaires   1 L’OFDF informe le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi- conducteurs de la possibilité de refuser le prélèvement d’échantillons sur présenta-      24 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008  (RO 2008 2543).   25 Introduit par le ch. I 2 de l’O du 6 juin 2014 sur la fixation de délais d’ordre dans le  domaine de l’Administration fédérale des douanes, en vigueur depuis le 1er sept. 2014  (RO 2014 2051).   26 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008  (RO 2008 2543).   27 RS 231.1  28 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008    (RO 2008 2543).  29 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008    (RO 2008 2543).     O sur les topographies   7   231.21   tion d’une demande motivée. Il lui impartit un délai raisonnable pour présenter cette  demande.   2 Si l’OFDF autorise le requérant à inspecter les produits semi-conducteurs retenus,  il tient compte, pour fixer le moment de l’inspection, de manière appropriée des  intérêts du requérant, d’une part, et de ceux du déclarant, du possesseur ou du pro- priétaire, d’autre part.   Art. 18c30 Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des  produits semi-conducteurs   1 L’OFDF conserve les échantillons prélevés durant un an à compter de la commu- nication adressée au déclarant, au possesseur ou au propriétaire conformément à  l’art. 77, al. 1 de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur31. Après expiration de  ce délai, il invite le déclarant, le possesseur ou le propriétaire à reprendre possession  des échantillons ou à supporter les frais pour la poursuite de leur conservation. Si le  déclarant, le possesseur ou le propriétaire ne donne pas suite à cette invitation ou s’il  ne fait pas connaître sa décision dans les 30 jours, l’OFDF détruit les échantillons.   2 Au lieu de prélever des échantillons, l’OFDF peut faire des photographies des  produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir  la conservation des moyens de preuve.   Art. 1932 Émoluments   Les émoluments perçus pour l’intervention de l’OFDF sont fixés dans l’ordonnance  du 4 avril 2007 sur les émoluments de l’Office fédéral de la douane et de la sécurité  des frontières33.   Section 5 Entrée en vigueur   Art. 20   La présente ordonnance entre en vigueur le 1er juillet 1993.       30 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008   (RO 2008 2543).   31 RS 231.1  32 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008   (RO 2 008 2543).  33 RS 631.035     Droit d’auteur   8   231.21       	Section 1 Dispositions générales 	Art. 1 Compétence 	Art. 2 Langue 	Art. 2a  Signature 	Art. 2b  Communication électronique 	Art. 3  Taxes  	Section 2 Procédure de dépôt de la demande d’inscription 	Art. 4  Pluralité de déposants 	Art. 5 Pièces d’identification 	Art. 6 Demande d’inscription incomplète  	Section 3 Registre des topographies 	Art. 7 Contenu du registre 	Art. 8 Dossier 	Art. 9 Secret de fabrication et d’affaires 	Art. 10  Confirmation 	Art. 11  Publication 	Art. 12  Modification et radiation d’inscriptions 	Art. 13 Rectification 	Art. 14  Extraits du registre 	Art. 15 Conservation et restitution  	Section 4  Intervention de l’OFDF 	Art. 16  Domaine d’application 	Art. 17 Demande d’intervention 	Art. 18  Rétention de produits semi-conducteurs 	Art. 18a  Échantillons 	Art. 18b  Protection des secrets de fabrication et d’affaires 	Art. 18c  Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des produits semi-conducteurs 	Art. 19  Émoluments  	Section 5 Entrée en vigueur 	Art. 20
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