(B) een samengevoegde afbeelding van (A) met inbegrip van een differentiële interferentie contrast (DIC) afbeelding om te visualiseren van de microgrooves-regio van de chip.

(B) een samengevoegde afbeelding van (A) met inbegrip van een differentiële interferentie contrast (DIC) afbeelding om te visualiseren van de microgrooves-regio van de chip.

(b) (a) 的合併影象, 包括差分干涉對比度 (dic) 影象, 以視覺化晶片的微槽區域。
