(b) (a) 的合併影象, 包括差分干涉對比度 (dic) 影象, 以視覺化晶片的微槽區域。

(b) (a) 的合併影象, 包括差分干涉對比度 (dic) 影象, 以視覺化晶片的微槽區域。

(B) een samengevoegde afbeelding van (A) met inbegrip van een differentiële interferentie contrast (DIC) afbeelding om te visualiseren van de microgrooves-regio van de chip.
