b'\n_START_ARTICLE_\nElektronmikroskop\n_START_PARAGRAPH_\nElektronmikroskop \xc3\xa4r ett samlingsnamn f\xc3\xb6r olika typer av mikroskop d\xc3\xa4r man anv\xc3\xa4nder elektroner i st\xc3\xa4llet f\xc3\xb6r elektromagnetisk str\xc3\xa5lning f\xc3\xb6r att erh\xc3\xa5lla bilder av mycket sm\xc3\xa5 objekt._NEWLINE_Med hj\xc3\xa4lp av denna teknik kan man komma f\xc3\xb6rbi det synliga ljusets uppl\xc3\xb6sningsgr\xc3\xa4ns, som \xc3\xa4r omkring en mikrometer, och ner till cirka 100 pikometer (det vill s\xc3\xa4ga 0,1 nanometer eller 1 \xc3\x85ngstr\xc3\xb6m), vilket m\xc3\xb6jligg\xc3\xb6r uppl\xc3\xb6sning av enskilda atomer. Vanlig uppl\xc3\xb6sning \xc3\xa4r 30 000 ggr, men 2 000 000 f\xc3\xb6rekommer._NEWLINE_De f\xc3\xb6rsta typerna konstruerades av Ernst Ruska och Max Knoll, b\xc3\xa5da fr\xc3\xa5n Tyskland, 1931. D\xc3\xa5 kunde den f\xc3\xb6rst prototypen ge bilder p\xc3\xa5 400 ggr. Reinhold Rudenberg fick det f\xc3\xb6rsta patentet. Alla arbetade vid det tyska f\xc3\xb6retaget Siemens. 1938 gjorde Eli Franklin Burton och studenterna Cecil Hall, James Hillier, och Albert Prebus, en mer praktisk version._NEWLINE_Tidigare kr\xc3\xa4vdes att det som skulle unders\xc3\xb6kas fixerades med relativt omst\xc3\xa4ndliga procedurer.\n_START_SECTION_\nOlika typer av elektronmikroskop\n_START_PARAGRAPH_\nDet finns olika typer av elektronmikroskop som bygger p\xc3\xa5 skilda principer.\n_START_SECTION_\nTransmissionselektronmikroskop (TEM)\n_START_PARAGRAPH_\nEn elektronkanon accelererar en elektronstr\xc3\xa5le som fokuseras genom en elektromagnetisk kondensorlins s\xc3\xa5 att en mycket tunn str\xc3\xa5le tr\xc3\xa4ffar provet som skall unders\xc3\xb6kas. Detta m\xc3\xa5ste ske i ett lufttomt omr\xc3\xa5de f\xc3\xb6r att undvika att elektronerna bromsas upp av luftburna partiklar. F\xc3\xb6r att elektronerna \xc3\xb6ver huvud taget skall kunna transmittera genom provmaterialet kr\xc3\xa4vs det att provet \xc3\xa4r mycket tunt (ca 20 - 50\xc2\xa0nm beroende p\xc3\xa5 om det \xc3\xa4r ett biologiskt material eller ej)._NEWLINE_Ju st\xc3\xb6rre elektront\xc3\xa4theten i materialet \xc3\xa4r, desto kraftigare kommer elektronstr\xc3\xa5len att spridas och fler sekund\xc3\xa4relektroner kommer att exciteras fr\xc3\xa5n provmaterialet. \xc3\x84ven materialets tjocklek spelar roll d\xc3\xa5 ett tjockare material kommer att f\xc3\xa5 str\xc3\xa5len av elektroner att spridas fler g\xc3\xa5nger. Str\xc3\xa5len kommer d\xc3\xa4refter att passera genom ett elektromagnetiskt objektiv, som skapar en bild av materialet p\xc3\xa5 en bildsk\xc3\xa4rm. Innan bildsk\xc3\xa4rmen finns det dessutom en projektionslins som f\xc3\xb6rstorar upp bilden._NEWLINE_Bildsk\xc3\xa4rmen best\xc3\xa5r av en elektrondetektor, i botten av mikroskopet, d\xc3\xa4r en stor andel elektroner kommer att bilda ett ljusare omr\xc3\xa5de och en liten andel ett m\xc3\xb6rkare. Elektroner som genom diffraktion sprids skapar en osk\xc3\xa4rpa p\xc3\xa5 bilden, vilket g\xc3\xb6r att man f\xc3\xb6rs\xc3\xb6ker att f\xc3\xa5nga upp dessa med en bl\xc3\xa4ndare innan de tr\xc3\xa4ffar detektorn. Man kan \xc3\xa4ven justera mikroskopet s\xc3\xa5 att det visar ett diffraktionsm\xc3\xb6nster ist\xc3\xa4llet f\xc3\xb6r en \xe2\x80\x9cskuggbild\xe2\x80\x9d. Den f\xc3\xb6rsta TEM konstruerades av Ernst Ruska._NEWLINE_TEM till\xc3\xa5ter att ta upp diffraktionsm\xc3\xb6nster, och d\xc3\xa4rmed strukturbest\xc3\xa4mning, av kristaller som \xc3\xa4r f\xc3\xb6r sm\xc3\xa5 att analyseras med r\xc3\xb6ntgenkristallografi. Med elektrondiffraktion kan kristaller ner till 5x5x5 nm strukturbest\xc3\xa4mmas.'