본 실시 형태 는 패드 ( 10 A ) 에서 변 ( 11 , 12 ) 에 대응 하 는 압착 볼 ( 20 ) 의 에지 ( 21 , 22 ) 가 명료 하 므로 , 검출 카메라 는 변 ( 11 ) 과 에지 ( 21 ) 의 폭 ( f ( Gx ) = Gx 1 ) 과 , 변 ( 12 ) 과 에지 ( 22 ) 의 폭 ( f ( Gy ) = Gy 1 ) 을 검출 한다 . 비교 회로 ( 8 ) 는 검출 카메라 ( 1 ) 로부터 의 검출 값 ( Gx 1 , Gy 1 ) 과 허용 메모리 ( 7 ) 에 기억 되 어 있 는 허용 범위 ( Qx 및 Qy ) 를 비교 하 고 , 검출 값 ( Gx 1 , Gy 1 ) 이 수학식 1 및 수학식 2 의 허용 범위 ( Qx 및 Qy ) 내이 면 오프셋 량 ( W ) 의 수정 불 필요 신호 를 출력 한다 . 검출 값 ( Gx 1 , Gy 1 ) 이 허용 범위 ( Qx 및 Qy ) 밖 이 면 , 오프셋 량 ( W ) 의 수정 신호 를 출력 한다 . 연산 제 어부 ( 3 ) 는 검출 값 ( Gx 1 및 Gy 1 ) 이 허용 범위 ( Qx 및 Qy ) 의 중앙 이 되 도록 보정 한다 . 압착 볼 ( 20 ) 의 어긋남 량 , 즉 오프셋 량 의 어긋남 량 ( Δ x , Δ y ) 을 수학식 3 , 수학식 4 에 의해 산출 한다 . 이 오프셋 량 의 어긋남 량 ( Δ x , Δ y ) 에 의해 오프셋 메모리 ( 2 ) 에 기억 되 어 있 는 오프셋 량 ( W ) 이 보정 된다 .