CBP PHOLED 중 의 청색 발광 Ir ( dmp ) 3 의 통계 적 으로 유의 한 모집단 ( ~ 10 각각 ) 을 PF = 1 및 PF = 3 - 5 를 사용 하 는 수명 시험 에 배치 하 였 다 . 디바이스 를 건조제 와 조합 된 유리 기판 과 유리 뚜껑 사이 에서 주변 에폭시 밀봉 을 사용 하 여 표준 테스트 쿠폰 으로 패 키 징하 였 다 . 디바이스 의 T 70 은 L 0 = 1 , 000 - 10 , 000 ㏅/㎡ 의 초기 휘도 로 PF 의 함수 로서 측정 하 였 다 . 그 후 , 삼 중항 - 폴라론 또는 삼 중항 - 삼 중항 소멸 이 주요 한 붕괴 메카 니즘 인지 를 결정 하 기 위하 여 PF 에 대한 T 70 의 기능 적 의존 성 을 계산 하 였 다 . 그러 한 과제 의 목적 은 상기 수학식 3 에 따라 방사성 비율 및 T 70 사이 의 비례 적 관계 와 함께 T 70 으로 의 디바이스 안정 성 에서 의 통계 적 유의 한 증가 를 입증 하 기 위한 것 이 었 다 . 추가 적 인 목적 은 증가 된 PF 에 기초 하 여 청색 발광 디바이스 안정 성 에서 의 증가 를 입증 하 면서 PF = 3 에 도달 하 는 OLED 구조 를 입증 하 기 위한 것 이 었 다 .