귀금속 칩 의 평균 경도 는 다음 과 같이 하 여 측정 할 수 있 다 . 귀금속 칩 의 길 이 방향 을 따르 는 중심 축선 을 포함 하 는 평면 이 단면 이 되 도록 귀금속 칩 을 절단 함 에 의해서 나타나 는 귀금속 칩 의 단면 에 있 어서 의 임의 의 면적 의 단면 중 에서 임의 의 개수 의 측정 점 을 선택 하 여 그 측 정점 에서 경도 를 측정 하 고 , 얻 어 지 는 임의 의 개수 의 측정치 의 평균 을 냄 으로써 평균 경도 가 구해진다 . 다만 , 전극 모재 의 평균 경도 , 용접부 의 평균 경도 및 귀금속 칩 의 평균 경도 를 효율 좋 게 측정 하 는 것 이 라면 , 귀금속 칩 이 용접 되 어 있 는 전극 모재 의 단부 에 있 어서 , 귀금속 칩 의 중심 축선 을 포함 하 는 단면 이 나타나 도록 용접부 를 통해서 전극 모재 에 접합 된 귀금속 칩 을 절단 함 에 의해서 나타나 는 귀금속 칩 의 절단면 에서 임의 의 개수 의 경도 측 정점 을 선택 하 고 , 이 경도 측 정점 에서 마이크 로 비커 즈 경도계 에 의해서 0 . 5 N 하중 의 조건 에서 JIS Z 2244 에 준거 하 여 귀금속 칩 의 경도 를 측정 한다 . 그리고 , 임의 의 개수 의 경도 측정치 의 평균 을 냄 으로써 귀금속 칩 의 평균 경도 가 구해진다 . 또한 , 경도 측 정점 의 개수 로서 는 4 ∼ 16 개소 의 경도 측 정점 을 들 수 있 지만 , 통상 은 가로 3 열 및 세로 3 열 로 같 은 간격 으로 늘어선 9 개소 의 경도 측 정점 을 최적 한 예 로서 들 수 있 다 .