이런 문제 는 예 로서 , " 도 1 a 및 도 1 b 를 참조 하 여 설명 될 수 있 다 . 도 1 a 는 100 개 의 광전 성 엘리먼트 들 ( 10 ) 로 이루어진 CCD ( 1 ) 를 도시 한다 . CCD 는 A 로 표시 된 CCD 엘리먼트 들 상 에 떨어지 는 3 개 의 "" 스팟 ( spot ) 들 "" 내 의 조도 에 종속 된다 . 전달 및 판독 프로세스 동안 에 전하 는 도 1 b 도시 된 구성 에서 ", CCD 의 밑바닥 ( bottom ) 에 CCD 를 남겨 두 고 , 수직 열 들 내 에서 CCD 로부터 전달 된다 . 표준 처리 를 사용 해서 CCD 로부터 형성 된 결과 이미지 는 도 1 B 에 도시 된다 . 볼 수 있 듯이 3 개 의 밝 은 스팟 들 A 가 기록 되 었 다 . 그러나 비 노출 된 영역 들 을 보여 주 기 보다 는 노출 을 보여 주 는 S 로 표시 된 스미 어 ( smear ) 들 이 또한 존재 한다 . 스미 어 들 ( S ) 은 밝 게 노출 된 엘리먼트 들 위 의 CCD 엘리먼트 들 이 전달 및 판독 프로세스 동안 에 노출 된 엘리먼트 들 을 통해 끌어내려 지 는 때 에 축적 된 전하 때문 이 다 . 전달 및 판독 프로세스 에 의해 생긴 이런 틀린 ( false ) 이미지 데이터 의 문제 를 스미 어 ( smearing ) 이 라고 지칭 한다 .