그러 한 과정 의 목적 은 패 키 징 된 청색 발광 PHOLED 및 / 또는 금속 유기 TADF 분자 의 통계 적 유의 한 모집단 을 테스트 하 기 위한 것 이 었 고 , 그리 하 여 PF = 3 - 5 로 마이크 로 캐 비 티 내 에서 삼 중항 - 매니 징 된 및 그 레이딩 된 EML 을 갖 는 디바이스 의 경우 L 0 = 1 , 000 ㏅/㎡ 에서 T 70 > 10 , 000 h 의 작동 수명 을 입증 하 기 위한 것 이 었 다 .