인쇄 가 시작 되 면 , 기판 ( 239 ) 은 시스템 ( 201 ) 내 로 도입 되 고 그 리퍼 ( 211 ) 의 진공 요소 ( 225 ) 에 의해 결합 된다 . 도면 에서 도시 된 바 와 같이 , 기판 ( 239 ) 은 의도 되 지 않 은 병진 오프셋 및 / 또는 회전 오 차 및 스큐 및 / 또는 크기 오 차 와 같 은 잠재 적 으로 다른 오차 를 가질 수 있 고 ; 그러므로 , 프린트 헤드 ( 들 ) 로부터 의 액적 이 기판 및 / 또는 그 위 에 제조 되 는 임의 의 제품 에 대해 정확 하 게 의도 된 위치 에 위치 될 수 있 도록 이러 한 오차 를 보정 하 거나 적어도 이 를 설명 하 는 것 이 일반 적 으로 바람직 하 다 . 이러 한 오류 를 보정 하 기 위한 많 은 메커니즘 이 있 음 에 유의 한다 . 예 를 들 어 , 기계 적 핸들러 를 사용 하 여 기판 을 재 위치 시킬 수 있 고 ; 선택 적 으로 참조 로 포함 된 특허 및 특허 공보 ( 예 를 들 어 , 미국 특허 공보 제 20150298153 호 참조 ) 에 기재 된 바 와 같이 , 노즐 할당 , 점 화 시간 , 프린트 그리드 정의 , 스캔 경로 위치 및 / 또는 다른 파라미터 가 미세 한 기판 정렬 , 배향 , 스큐 및 / 또는 크기 오차 의 가상 교정 을 본질 적 으로 허용 하 면서 기판 오 차 를 맞추 기 위해 소프트웨어 에서 조정 된다 . 메커니즘 에 관계없이 , 보정 을 수행 하 기 위해 , 이런 경우 에서 먼저 얼라인먼트 마크 ( 243 ) ( 즉 , 다른 기준점 ) 를 사용 하 여 기판 위치 , 크기 및 / 또는 스큐 에서 의 오 차 가 식별 된다 . 전형 적 인 적용 에서 기판 이 일반 적 으로 투명 유리 인 것 을 상기 하 면 , 이러 한 오차 검출 은 센서 ( 227 ) 를 사용 하 여 기준점 ( 243 ) 을 찾 고 이미지 화 하 기 위해 두 개 의 이송 경로 를 제어 함 으로써 수행 될 수 있 으며 ; 프린터 의 좌표 시스템 에서 의 기준점 ( 243 ) 의 위치 가 현재 측정 될 수 있 기 때문 에 , 각각 의 이송 경로 에 대한 위치 피드백 시스템 으로부터 알려진 위치 와 결합 된 이미지 처리 기술 ( 기준점 ( 243 ) 의 인식 ) 이 프린터 에 대해 기판 의 좌표 ( 예 를 들 어 , 기준점 ) 를 정확 하 게 결정 하 는 데 사용 될 수 있 다 . 상기 에서 참조 된 바 와 같이 , 복잡 한 기준점 또는 다중 기준점 을 사용 하 여 , 이미지 처리 시스템 은 또한 기판 회전 방향 으로 오차 와 같 은 다른 오 정렬 을 식별 할 수 있 다 . 기판 의 기준점 ( 예 를 들 어 , 243 ) 에 대해 ( 바람직 한 장치 의 모든 층 의 ) 층 증착 을 수행 함 으로써 , 기판 위치 및 / 또는 배향 에서 의 오 차 및 기판 에지 비선형 , 스큐 및 / 또는 크기 오 차 와 같 은 다른 오차 에 도 불구 하 고 정확 한 층 등록 이 수행 될 수 있 다 .