프로세서 ( 120 ) 는 하나 의 분류 대상 이미지 로부터 추출 된 복수 의 패치 들 에 대한 정상 또는 결함 분류 결과 를 이용 하 여 분류 대상 이미지 의 결함 여부 를 결정 ( 850 ) 할 수 있 다 . 프로세서 ( 120 ) 는 복수 의 패치 들 에 대한 정상 또는 결함 분류 결과 를 종합 하 여 , 하나 의 분류 대상 이미지 의 결함 여부 를 결정 할 수 있 다 . 프로세서 ( 120 ) 는 분류 대상 이미지 로부터 추출 된 패치 들 중 , 결함 임계 개수 이상 의 패치 들 이 결함 패치 로 결정 된 경우 , 분류 대상 이미지 를 결함 이 포함 된 결함 이미지 로 결정 할 수 있 다 . 또는 , 프로세서 ( 120 ) 는 분류 대상 이미지 로부터 추출 된 패치 들 중 , 결함 임계 개수 미만 의 패치 들 이 결함 패치 로 결정 된 경우 , 분류 대상 이미지 를 결함 이 포함 되 지 않 은 정상 이미지 로 결정 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 결함 임계 개수 가 5 개 이 고 , 뉴 럴 네트워크 모델 이 분류 대상 이미지 로부터 추출 된 패치 들 중 6 개 의 패치 를 결함 패치 로 결정 한 경우 , 분류 대상 이미지 는 결함 이미지 로 결정 될 수 있 다 . 전술 한 추론 방법 에 관한 구체 적 인 기재 는 예시 일 뿐 이 며 본 개시 는 이 에 제한 되 지 않 는다 .