또한 , 본 발명 에 관한 다공질 실리카 계 입자 는 , SEM 사진 을 이용 하 여 , 임의 의 100 개 이상 의 입자 중 에 포함 되 는 ' 이 물 이 관측 되 는 입자 ( 즉 , 상기 극소 미립자 가 6 개 / ㎛ 2 이상 관측 되 는 입자 ) ' 의 개수 를 눈 으로 세어 , 이것 에 해당 하 는 개수 로부터 다음 식 을 이용 하 여 산출 되 는 표면 평활 성도 가 , 70 % 이상 , 바람직 하 게 는 80 % 이상 , 더 바람직 하 게 는 90 % 이상 인 것 이 바람직 하 다 .