히팅 테스트 장치 부 제 어부 에서 제어 된 음극 전원 은 상부 히터 장치 의 전자 부품 접촉 판 을 공통 접지 ( GND COM ) 로 통전 되 며 , 양극 전원 은 테스트 보드 ( test B / D ) 를 통하 여 핀 보드 ( pin B / D ) 에 삽입 고정 된 테스트 용 핀 ( test pin ) 들 이 상승 하 여 트레이 안착 부 에 고정 된 트레이 하부 핀 홀 에 삽입 되 며 , 전자 부품 의 전극 부 와 접촉 되 어 전기 적 특성 을 테스트 하 고 , 테스트 결과 를 제 어부 에 송신 하 는 것 을 특징 으로 한다 .