도 12 에 도시 되 는 바 와 같이 , 영구 자석 ( 72 ) 이 더욱 R 방향 으로 회전 하 는 것 을 상정 한다 . 도 12 에서 , 자기 검출 소자 ( 82 c ) 및 자기 검출 소자 ( 82 d ) 가 + Z 방향 의 자속 성분 을 검출 하 고 , 자기 검출 소자 ( 82 a ) 및 자기 검출 소자 ( 82 b ) 가 - Z 방향 의 자속 성분 을 검출 한다 . 도 11 에 기재 된 상태 로부터 도 12 에 기재 된 상태 로 이행함 에 따라 , 자기 검출 소자 ( 82 a ) 및 자기 검출 소자 ( 82 c ) 에 의해 검출 되 는 자속 의 크기 는 증가 하 고 , 자기 검출 소자 ( 82 b ) 및 자기 검출 소자 ( 82 d ) 에 의해 검출 되 는 자속 의 크기 는 감소 한다 . 예 를 들 면 , 자기 검출 소자 ( 82 a ) 에 의해 검출 되 는 자속 의 크기 와 , 자기 검출 소자 ( 82 d ) 에 의해 검출 되 는 자속 의 크기 와 의 비 , 및 , 자기 검출 소자 ( 82 a ) 에 의해 검출 되 는 자속 의 크기 와 , 자기 검출 소자 ( 82 b ) 에 의해 검출 되 는 자속 의 크기 와 의 비 에 의거 하 여 , 각도 센서 ( 80 ) 는 , 자력선 의 X 축 에 대한 경사 , 즉 , 영구 자석 ( 72 ) 의 회전 각도 를 구할 수 있 다 .