이 다 . 이 경우 , xl [ n ] 은 선형 심볼 간 간섭 성분 을 표시 하 고 , xm [ n ] 은 매체 잡음 성분 을 표시 하 고 , xr [ n ] 은 전자 잡음 성분 을 표시 하 고 , hb [ n ] 및 hi [ n ] 는 보드 레이트 샘플 들 hb [ t - 0 . 5 T ] 및 hi [ t ] 를 각각 표시 하 고 , v [ n ] 은 대역 제한 된 전자 잡음 의 보드 레이트 샘플 들 을 표시 한다 . 잡음 으로부터 심볼 간 간섭 을 분리 하 는 모델 을 이용 함 으로써 , 잡음 성분 들 을 처리 하 는 데 최적 화 된 잡음 예측 필터 들 의 뱅크 와 심볼 간 간섭 성분 을 처리 하 는 데 최적 화 된 주요 타 겟 의 전개 를 허용 한다 . 이러 한 분리 는 각각 의 문제 들 을 독립 적 으로 처리 하 도록 허용 하 고 , 일부 경우 들 에 있 어서 더욱 용이 한 최적 화 및 더욱 고도 의 최적화 를 허용 한다 .