일부 구 현예 에서 , 도 1 을 참조 하 면 , 모니터 ( 110 ) 는 전압 신호 ( 예 를 들 어 , 전압 감지 ) 를 감지 하 고 파워 서플라이 도메인 ( Vdd _ core ) 에서 의 전압 신호 ( 예컨대 , 전압 감지 ) 를 샘플링 함 으로써 전압 신호 ( 예컨대 , 전압 감지 ) 의 디지털 신호 ( ds ) 를 제공 하 는 ADC 를 나타낸다 . 또한 , 촉 진기 ( 112 ) 는 ADC 로부터 디지털 신호 ( ds ) 를 수신 하 고 디지털 신호 ( ds ) 의 평균값 ( avg ) 을 생성 할 수 있 다 . 일부 예 에서 , 평균 은 이전 N 개 의 샘플 의 누계 합 을 추적 하 고 N 으로 나눔 으로써 계산 될 수 있 다 . 촉 진기 ( 112 ) 는 ADC 로부터 디지털 신호 ( ds ) 를 수신 하 고 , 디지털 신호 ( ds ) 의 기울기 를 판정 함 으로써 디지털 신호 ( ds ) 의 도함수 ( drv ) 을 검출 하 고 , 디지털 신호 ( ds ) 의 기울기 에 기초 하 여 디지털 신호 ( ds ) 의 도함수 ( drv ) 를 생성 하 는 도함수 생성기 를 포함 한다 . 일부 경우 에 , 중요 이벤트 는 디지털 신호 ( ds ) 의 기울기 의 상당 한 변화 를 나타낼 수 있 고 , 디지털 신호 ( ds ) 의 기울기 의 상당 한 변화 는 전압 신호 ( 예컨대 , 전압 감지 ) 의 진폭 의 실질 적 인 변화 ( 또는 상당 한 변화 ) 를 나타낸다 . 또한 , 제어기 ( 114 ) 는 촉 진기 ( 112 ) 의 도함수 생성기 로부터 디지털 신호 ( ds ) 의 도함수 ( drv ) 를 수신 하 고 , 디지털 신호 ( ds ) 의 도함수 ( drv ) 를 임계 치 와 비교 하 여 디지털 신호 ( ds ) 의 기울기 로부터 중요 이벤트 를 선택 하 는 디지털 제어기 를 나타낼 수 있 다 . 중요 이벤트 는 현저 한 크기 의 이벤트 또는 상당 한 진폭 의 이벤트 를 나타낼 수 있 다 . 또한 , 변환기 ( 들 ) ( 116 A , 116 B ) 는 전류 기반 디지털 - 아날로그 변환기 ( iDAC ) 를 나타낼 수 있 고 , iDAC 는 디지털 신호 ( ds ) 의 기울기 에 비례 하 는 아날로그 전류 로 파워 서플라이 도메인 ( Vdd _ core ) 의 서플라이 전압 라인 ( 120 ) 에 전류 를 주입 하 거나 전류 를 싱 킹 할 수 있 다