본 발명 의 실시 예 에 따른 복호 절차 를 설명 하 기 앞서 일반 적 인 SC Flip 복호 절차 를 설명 하 면 , 일반 적 인 SC Flip 복호 과정 에서 는 추정 할 오류 예상 비트 에 대해 CRC 검사 를 수행 한 뒤 , CRC 검사 가 실패 하 면 , 복호 결과 인 로그 우도 비 ( Log Likelihood Ratio ) 의 절대값 기준 으로 오름차순 으로 정렬 하 여 반전 대상 비트 를 정의 한다 .