이때 , 상기 제 1 공진 부 ( 161 a ) 가 기준 인덕턴스 를 가진다고 가정 할 때 , 상기 제 1 렌즈 어셈블리 ( 120 ) 의 위치 에 따라 상기 제 1 전도체 ( 123 ) 에서 발생 하 는 방해 자기장 에 의해 상기 제 1 공진 부 ( 161 a ) 는 상기 기준 인덕턴스 보다 작 은 제 1 인덕턴스 를 가지 게 된다 . 그리고 , 상기 제 1 인덕턴스 에 기반 하 여 상기 제 1 전도체 ( 123 ) 의 위치 를 감지 할 수 있 고 , 상기 제 1 전도체 ( 123 ) 의 위치 에 기반 하 여 상기 제 1 렌즈 어셈블리 ( 120 ) 의 위치 를 감지 할 수 있 다 .