또한 , 종래 기술 에서 는 , 일시 기억 ( temporary memory ) 데이터 는 전원 이 온 ( On ) 될 때 및 오프 ( Off ) 될 때 에 만 갱신 되 므로 , 전원 이 온 되 었 을 때 와 오프 될 때 의 사이 에서 , 용단 된 전자 퓨즈 를 가지 는 전자 퓨즈 세트 에 대하 여 덮어쓰 기 동작 이 실시 되 어 , 전자 퓨즈 에 대하 여 용단 동작 을 실시 하 는 신뢰 성 의 저하 를 초래 한다 . 또한 , 단시간 에 복수 의 전자 퓨즈 가 용단 되 어 그 중 1 개 의 전자 퓨즈 가 먼저 용단 될 때 , 큰 전류 가 먼저 용단 된 전자 퓨즈 에 유입 ( 流 入 ) 되 고 , 다른 전자 퓨즈 의 용단 전압 이 인하 ( 引下 ) 되 어서 다른 전자 퓨즈 의 용단 동작 의 신뢰 성 의 저하 를 초래 한다 .