일 실시 예 에 따르 면 , 프로세서 ( 611 ) 는 전자 장치 ( 610 ) 의 동작 상태 를 테스트 하 기 위해 감압 테스트 를 수행 할 수 있 다 . 프로세서 ( 611 ) 는 일반 적 인 동작 전압 보다 낮 은 전압 값 을 가지 는 테스트 전압 을 공급 하 도록 전력 관리 회로 ( 615 ) 를 제어 하 고 , 테스트 전압 에 기초 하 여 테스트 시나리오 를 실행 할 수 있 다 . 프로세서 ( 611 ) 는 테스트 시나리오 를 실행 한 결과 에 기초 하 여 감압 테스트 데이터 를 획득 할 수 있 다 . 프로세서 ( 611 ) 가 테스트 시나리오 를 실행 하 는 과정 에서 락 업 ( lockup ) 과 같 은 장애 가 발생 하 는 경우 , 프로세서 ( 611 ) 에 포함 된 워 치독 타이머 ( 도시 되 지 않 음 ) 는 프로세서 ( 611 ) 의 동작 상태 를 리셋 할 수 있 다 . 따라서 , 전자 장치 ( 610 ) 의 외부 에서 는 테스트 시나리오 가 실행 되 는 과정 에서 장애 가 발생 하 였 는지 알 수 없 다 .