전술 한 설명 에 대응 하 여 구체 적 인 실시 예 로서 테스트 모드 신호 ( TM _ sig ) 는 테스트 모드 신호 ( TM _ sig ) 의 제 1 신호 ( TM _ sig _ 1 ) 와 제 2 신호 ( TM _ sig _ 2 ) 및 제 3 신호 ( TM _ sig _ 3 ) 로 이루어져 있 다고 가정 하 고 , 테스트 신호 ( Test _ sig ) 는 종래 기술 에서 와 마찬가지 로 승압 테스트 신호 ( Raise _ TS ) 와 강압 테스트 신호 ( Fall _ TS ) 와 최종 전원 테스트 신호 ( ENDOFF _ TS ) 와 코어 레벨 테스트 신호 ( VCORELV _ TS ) 및 접지 레벨 테스트 신호 ( VSSLV _ TS ) 로 이루어져 있 다고 가정 한 후 비트 라인 프리 차지 전압 생 성부 ( 220 ) 와 디 코딩 부 ( 210 ) 의 구성 및 동작 을 설명 하 면 다음 과 같 다 .