또한 , 본 발명 은 비전 검사 결과 양품 또는 불량품 판정 된 반도체 소자 를 수납 하 기 위하 여 공급 되 는 공트 레이 를 별도 로 적 재부 에 적재 한 후 공급 하 지 않 고 검사 될 반도체 소자 가 빠져나간 트레이 를 순환 시켜 이용 함 에 따라 공트 레이 적 재부 가 차지 하 는 공간 만큼 장치 의 전체 사이즈 를 감소 시킬 수 있 는 반도체 소자 의 비전 검사 시스템 을 제공 하 기 위한 것 이 다 .