따라서 본 발명 에 따르 면 , 광 가이드 의 기하학 적 특성 및 광학 적 특성 그리고 광 커플링 장치 의 광학 적 특성 으로부터 , 광 이 미리 결정 된 횟수 의 반사 후 에 도달 하 는 광 가이드 의 경계 표면 중 하나 상 의 광 입사 지점 이 확인 될 수 있 는 것 이 제공 될 수 있 다 . 여기 서 바람직 하 게 는 , 광 가이드 의 경계 표면 의 두께 및 / 또는 만일 의 곡 률 이 광 입사 지점 을 확인 하 기 위해 광 가이드 의 기하학 적 특성 으로서 사용 될 수 있 고 , 여기 서 광 가이드 재료 의 굴절 률 이 광 가이드 의 광학 적 특성 으로서 사용 될 수 있 다 .