한편 , 스트레스 에 의하 여 핫 캐리어 가 발생 하 는 경우 , 트랜지스터 의 특성 이 제작 후 초기 값 에서 벗어나 게 되 므로 통상 적 으로 는 집 적 회로 에서 바람직 하 지 않 은 결과 를 가져오 는 것 으로 인식 되 어 이 를 디바이스 의 열화 ( degradation ) 현상 중 하나 로 여겨 지 고 있 다 . 그러나 , 본 발명 에서 는 비교기 를 구성 하 는 트랜지스터 들 중 어느 하나 또는 그 이상 에 핫 캐리어 를 발생 시켜서 비교기 의 옵 셋 을 상쇄 시키 고자 하 는 본 발명 의 목적 을 달성 하 고자 한다 .