일실 시예 로 , 광 초점 조 절부 ( 310 ) 는 나이프 에지 시험법 이 사용 될 수 있 다 . 나이프 에지 시험법 은 시험 하 고자 하 는 광학계 의 적당 한 위치 에 작 은 구멍 으로부터 나오 는 빛 을 두 고 , 초점 을 면도칼 과 같 은 나이프 에지 로 일정 방향 으로 서서히 차단 하 는 방법 으로 밝기 를 상 부근 에서 육안 또는 배 율 이 작 은 촬상 장치 ( 350 ) 로 관측 할 수 있 다 . 이때 , 렌즈 의 전면 에 어두워 지 면 광학 적 으로 완전 하 다는 것 을 , 밝 은 점 이 남 아 있 으면 광학 적 으로 불 완전 하 다는 것 을 판단 하 는 시험법 이 다 .