교정 제어 신호 들 CAL , CALB , CAL 5 V , 및 CAL 5 VB 가 교정 모드 를 인 에 이 블 할 때 , 트랜지스터 ( 2406 ) 는 고 - 전압 트랜지스터 들 에 의해 형성 된 전송 스위치 ( 2420 ) 를 통해 아날로그 버스 ( 2416 ) 로 전도성 결합 된다 . 테스트 버퍼 ( 2404 ) 는 테스트 패드 를 통해 집 적 회로 외부 로 출력 신호 를 구동 하 며 , 이 로써 외부 테스터 가 아날로그 버스 ( 2416 ) 상 의 신호 의 값 을 측정 할 수 있 다 . 적어도 하나 의 실시 예 에서 , 아날로그 버스 ( 2416 ) 및 테스트 버퍼 ( 2404 ) 는 집 적 회로 다이 ( 108 ) 의 다른 회로 들 과 공유 된다 . 교정 회로 ( 2400 ) 를 복조기 / 검출기 ( 204 ) 에 통합 하 는 것 은 아날로그 버스 ( 2416 ) 로부터 복조기 / 검출기 ( 204 ) 의 내부 노드 들 을 버퍼 링 한다 . 정상 동작 동안 , 진단 모드 는 디스 에이블 되 고 , 전송 스위치 ( 2420 ) 는 디스 에이블 되 고 트랜지스터 ( 2418 ) 는 인 에 이 블 된다 . ( 예 를 들 어 , 전송 스위치 ( 2420 ) 에서 n 형 고 - 전압 트랜지스터 의 기생 오버랩 커패시턴스 를 통한 ) 아날로그 버스 ( 2416 ) 로부터 의 임의 의 커플링 또는 아 날로 그 버스 ( 2416 ) 상 의 과도 들 은 트랜지스터 ( 2418 ) 를 통해 접지 로 분기 되 고 복조기 / 검출기 ( 204 ) 에 영향 을 주 지 않 는다 . 아 날로 그 버스 는 본 명세서 에 기술 된 진단 기능 들 전용 일 수 있 거나 , 본 명세서 에 참조 로서 동합 된 출원인 , 2017 년 5 월 31 일 출원 된 , " 발명자 들 로서 Ernest T . Stround 등 에 의해 명명 된 "" Test Interface with Access Across Isolation Barrier "" 라는 제목 의 미국 특허 출원 제 15 / 609 ", 996 호 에 기재 된 바 와 같이 , 다른 진단 기능 들 과 아날로그 버스 ( 2416 ) 를 공유 하 기 위한 선택 회로 를 포함 하 는 테스트 인터페이스 와 통합 될 수 있 다 .