상기 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 의 일 측면 에 따른 반도체 패키지 검사 모듈 은 , 반도체 패키지 들 을 지지 하 며 상기 반도체 패키지 들 을 이동 시키 기 위해 수평 방향 으로 이동 가능 하 도록 구성 된 이송 테이블 과 , 상기 반도체 패키지 들 의 이동 경로 상부 에 배치 되 며 상기 반도체 패키지 들 을 검사 하 기 위하 여 상기 반도체 패키지 들 을 촬상 하 는 카메라 유닛 과 , 상기 카메라 유닛 의 측면 부위 들 에 장착 되 며 상기 반도체 패키지 들 상 으로 에어 를 분사 하 여 상기 반도체 패키지 들 을 건조 하 기 위한 에어 나이프 들 을 포함 할 수 있 다 .