도 3 a 는 본 발명 의 실시 예 에 따른 예시 적 인 데이터 캡처 시스템 ( 300 ) 의 상세 를 도시 한다 . 데이터 캡처 시스템 ( 300 ) 은 피 시험 장치 와 의 통신 에 대한 액세스 를 제공 하 는 임의 의 적절 한 위치 에 물리 적 및 / 또는 기능 적 으로 배치 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 데이터 캡처 시스템 ( 300 ) 은 다운 스트림 포트 , 예컨대 도 2 의 다운 스트림 포트 ( 280 ) 내 에 위치 할 수 있 다 . 대안 적 으로 , 데이터 캡처 시스템 ( 300 ) 은 예 를 들어도 2 의 인 스턴스 화 된 FPGA 테스 트기 블록 과 같 은 인 스턴스 화 된 FPGA 테스 트기 블록 내 에 위치 할 수 있 다 . 일반 적 으로 , 각각 의 피 시험 장치 에 대해 데이터 캡처 시스템 ( 300 ) 의 하나 의 인 스턴스 가 있 다 . 데이터 캡처 시스템 ( 300 ) 은 피 시험 장치 와 통신 하 도록 구성 되 며 , 예 를 들 어 PCIe , ATA , SATA , NVMe , USB , SPI , JTAG 및 / 또는 SAS 등 과 같 은 직렬 및 / 또는 병렬 버스 인터페이스 를 포함 하 는 임의 의 필요 한 인터페이스 를 구현 할 수 있 다 .