위 와 같 은 실시 예 들 에서 , 제 1 실시 예 에 따른 푸 셔 ( 400 ) 는 테스트 사이트 상 으로 직접 유출 되 는 공기 의 양 을 많 게 할 필요 가 있 는 경우 에 적절히 채택 될 수 있 으며 , 제 2 실시 예 에 따른 푸 셔 ( 800 ) 는 반도체 소자 로 공급 되 는 공기 의 양 과 테스트 사이트 로 직접 배출 되 는 공기 의 양 이 조화 될 필요 ( 공기 관통 홀로 공급 되 는 공기 의 대부 분 이 공기 유출공 으로 만 배출 되 지 않 도록 할 필요 ) 가 있 는 경우 에 적절히 채택 될 수 있 다 .