본 발명 의 일부 경우 들 에서 , 상기 저장 매체 로부터 의 프로세스 데이터 세트 에 액세스 하 는 단계 는 제 1 세트 의 디지털 샘플 들 을 제공 하 기 위하 여 상기 저장 매체 로부터 유도 된 정보 에 대해 아날로그 대 디지털 변환 을 수행 하 는 단계 , 및 제 2 세트 의 디지털 샘플 들 을 생성 하 기 위하 여 상기 제 1 세트 의 디지털 샘플 들 에 대해 데이터 검출 을 수행 하 는 단계 를 포함 한다 . 이 와 같 은 경우 들 에서 , 상기 프로세스 데이터 세트 는 상기 제 1 세트 의 디지털 샘플 들 및 상기 제 2 세트 의 디지털 샘플 들 을 포함 한다 . 이 와 같 은 경우 들 에서 , 상기 제 2 채널 비트 밀도 추정 치 를 계산 하 는 단계 는 채널 모델 계산 회로 를 사용 하 여 , 그리고 적어도 부분 적 으로 상기 제 2 세트 의 디지털 샘플 들 및 상기 제 1 채널 비트 밀도 추정 치 에 기초 하 여 채널 모델 계산 을 수행 하 는 단계 를 포함 할 수 있 다 . 게다가 , 이 와 같 은 경우 들 은 에러 신호 를 산출 하 기 위하 여 상기 채널 모델 계산 회로 로부터 유도 된 출력 을 상기 제 1 세트 의 디지털 샘플 들 로부터 감산 하 는 단계 를 더 포함 할 수 있 다 . 이 에러 신호 는 제 2 채널 비트 밀도 추정 치 를 계산 하 기 위하 여 다른 입력 들 과 관련 하 여 사용 될 수 있 다 .