일 예 로서 , 테스트 핸들러 ( 100 ) 는 반도체 패키지 들 ( 10 ) 이 수납 된 테스트 트레이 ( 20 ) 를 테스트 영역 으로 이동 시킬 수 있 으며 상기 테스트 영역 에 는 상기 반도체 패키지 들 ( 10 ) 을 상기 테스터 ( 200 ) 의 소켓 들 ( 202 ) 에 접속 시키 기 위한 푸 셔 유닛 들 ( 102 ) 이 구비 될 수 있 다 . 상기 테스터 ( 200 ) 는 상기 반도체 패키지 들 ( 10 ) 과 의 전기 적 인 연결 을 위한 인터페이스 보드 ( 210 ) 를 구비 할 수 있 으며 , 상기 소켓 들 ( 202 ) 은 상기 인터페이스 보드 ( 210 ) 상 에 배치 될 수 있 다 .