도 2 a - 2 b , 3 a - 3 b , 4 , 5 및 6 a - 6 b 에 도시 된 예 들 에서 , 콘 택 부재 들 ( 22 ) 은 신호 들 을 전달 할 수 있 도록 구성 되 지 않 으며 , 다만 프로브 카드 ( 20 ) 의 감쇠 부재 들 로 포함 될 뿐 이 어서 , 콘 택 팁 들 ( 27 ) 들 이 피검 디바이스 의 패드 들 ( 28 ) 에 접촉 될 때 콘 택 팁 들 ( 27 ) 의 강성 으로 인한 문제 를 극복 하 여 파손 되 는 것 을 회피 할 수 있 다 . 다른 실시 예 로 , 도 7 에 도시 된 본 발명 의 일 실시 예 에서 , 콘 택 부재 들 ( 22 ) 의 일 그룹 ( group ) ( 22 ') 은 테스트 디바이스 와 테스트 장치 사이 에서 신호 들 을 전달 할 수 있 도록 구성 된다 . 상기 그룹 ( 22 ') 의 각 콘 택 부재 는 플렉시블 멤 브레인 ( 25 ) 에 위치 한 연결 도전 성 트랙 들 ( 31 ') 에 의해 대응 하 는 콘 택 팁 ( 27 ) 에 전기 적 으로 연결 되 며 , 상기 연결 도전 성 트랙 들 ( 31 ') 은 플렉시블 멤 브레인 ( 25 ) 의 제 1 면 ( F 1 ) 과 제 2 면 ( F 2 ) 의 사이 에서 연장 된다 . 다시 말 해서 , 연결 도전 성 트랙 들 ( 31 ') 은 플렉시블 멤 브레인 ( 25 ) 의 마주 보 는 제 1 면 ( F 1 ) 과 제 2 면 ( F 2 ) 에 연결 될 수 있 게 구성 되 며 , 상기 트랙 들 은 상기 플렉시블 멤 브레인 ( 25 ) 에 형성 된 관통 홀 또는 통로 ( paths ) 를 도전 성 물질 로 채우 는 방식 으로 형성 된다 .