본 발명 에 따라 리셋 기간 의 셋 업 기간 에서 서 스테인 전극 에 부극 성 서 스테인 전압 이 인가 되 는 경우 , 스캔 전극 에 는 면방 전 형성 을 위하 여 적용 되 는 리셋 펄스 를 인가 할 수 있 다 . 즉 , 리셋 기간 의 셋 업 기간 에서 램프 업 파형 의 리셋 펄스 가 스캔 전극 에 인가 되 는 동안 서 스테인 전극 에 는 부극 성 펄스 가 인가 된다 . 이때 , 부극 성 펄스 의 크기 는 서 스테인 방전 을 위한 서 스테인 펄스 와 같 은 크기 를 갖 는다 . 이 에 따라 스캔 전극 과 서 스테인 전극 간 에 는 전압 차 가 더욱 커 지 게 된다 .