각 실시 예 및 비 교예 에서 얻 어 진 적층 체 에 대해서 , 이하 와 같이 저온 굴곡 성 시험 을 행하 였 다 . 도 3 은 , 본 평가 시험 의 방법 을 모식 적 으로 나타내 는 도면 이 다 . 우선 적층 체의 중세 퍼 레이터 를 떼 어 내 고 , PET 필름 ( 두께 100 ㎛) 을 첩 합하 였 다 . 2 개 의 스테이지 ( 501 , 502 ) 를 구비 한 굴곡 장치 ( Science 　 Town 사 제 , STS - VRT - 500 ) 을 준비 해 , 스테이지 ( 501 , 502 ) 상 에 적층 체 ( 100 ) 를 배치 했 다 ( 도 3 a ) . 2 개 의 스테이지 ( 501 , 502 ) 의 사이 의 거리 ( 갭 ) C 는 6 mm ( 3 R ) 로 설정 하 였 다 . 이 스테이지 ( 501 , 502 ) 는 , 2 개 의 스테이지 의 사이 ( 갭 ) C 를 중심 으로 요동 할 수 있 고 , 초기 는 2 개 의 스테이지 ( 501 , 502 ) 는 동일 평면 을 구성 한다 . 2 개 의 스테이지 ( 501 , 502 ) 를 위치 P 1 및 위치 P 2 를 회전축 의 중심 으로서 상방 으로 90 도 회전 시켜 2 개 의 스테이지 ( 501 , 502 ) 를 닫 고 ( 도 3 b ) , 다시 스테이지 ( 501 , 502 ) 를 여 는 동작 을 1 회 의 굴곡 이 라고 정의 한다 . 이 동작 을 반복 해 , 적층 체 ( 100 ) 에 최초 로 크랙 이 생길 때 까지 의 굴곡 횟수 를 세 었 다 . 평가 의 기준 은 이하 와 같 다 .