( 상기 식 A 내지 식 C 에서 , nx , ny , nz 는 측정 파장 에서 각각 광학 소자 의 지상 축 ( slow axis ) 방향 , 진상 축 ( fast axis ) 방향 , 두께 방향 의 굴절률 이 고 , d 는 광학 소자 의 두께 ( 단위 : nm ) 이 다 ) . 상기 식 A 내지 식 C 에서 측정 파장 은 450 nm , 550 nm 또는 650 nm 가 될 수 있 다 .