본 기술 은 데이터 를 저장 하 는 복수 의 페이지 를 구비 한 복수 의 메모리 블록 들 을 포함 하 는 비휘발성 메모리 장치 ; 및 상기 비휘발성 메모리 장치 의 테스트 시 , 상기 복수 의 페이지 각각 의 에러 비트 정보 를 바탕 으로 상기 복수 의 메모리 블록 들 각각 의 상기 복수 의 페이지 중 워스트 페이지 를 검출 하 여 상기 워스트 페이지 각각 에 대해 우선 순위 를 부여 하 고 , 상기 우선 순위 에 대응 하 여 상기 복수 의 메모리 블록 들 중 상기 워스트 페이지 를 포함 하 는 메모리 블록 에 대한 테스트 리드 동작 을 수행 하 는 컨트롤러 를 포함 하 는 메모리 시스템 을 제공 할 수 있 다 .