제 1 검사 대상 ( 1 ) 은 컨 택트 시트 ( 3 ) 의 일 측 에 접촉 되 며 , 예 를 들 어 , 소정 의 전극 ( 11 ) 을 포함 하 는 디바이스 ( 10 ) 일 수 있 다 . 제 2 검사 대상 ( 2 ) 은 컨 택트 시트 ( 3 ) 에 대해서 제 1 검사 대상 ( 1 ) 과 반대쪽 에서 접촉 되 며 , 예 를 들 어 , 소정 의 전극 ( 21 ) 을 포함 하 는 PCB 기판 ( 20 ) 일 수 있 다 . 다만 , 본 실시 예 들 이 이 에 한정 되 는 것 은 아니 며 , 제 1 및 제 2 검사 대상 ( 1 , 2 ) 은 실질 적 으로 다양 한 전자 디바이스 일 수 있 다 . 또한 , 제 1 및 제 2 검사 대상 ( 1 , 2 ) 은 서로 동일 한 전자 디바이스 이 거나 , 서로 다른 전자 디바이스 일 수 있 다 . 또한 , 도면 에서 는 검사 대상 ( 1 , 2 ) 을 간략 화 하 여 도시 한 것 으로 그 구체 적 인 구성 은 실질 적 으로 다양 하 게 적용 될 수 있 다 .