웨이퍼 레벨 에서 DUT 를 테스트 하 기 위해 , 자동 화 된 프로브 카드 가 사용 될 수 있 다 . 프로브 카드 는 DUT 와 기구 회로 간 에 RF 신호 들 ( 및 DC 전력 ) 을 라우팅 하 기 위해 , 하나 이상 의 DUT 들 ( 동일 한 웨이퍼 에서 ) 의 최상 부면 또는 바닥 면 상 의 매칭 ( matching ) 전도성 RF 입력 또는 출력 패드 들 위 에 접촉 할 수 있 는 RF 접촉 프로브 들 을 가질 수 있 다 . 이 의 테스 트 기 측 상 에서 , 프로브 카드 는 RF 케이 블링 을 통해 테스 트기 에 연결 될 수 있 다 . 따라서 , 웨이퍼 내 의 DUT 들 은 테스 트기 의 제어 하 에서 전도성 RF 테스트 를 받 을 수 있 다 .