그런데 , 만일 제 1 행 에 위치 된 화소 들 또는 제 1 열 에 위치 된 화소 들 중 적어도 하나 의 화소 에 쇼트 결함 이 발생 된 경우 , 제 1 행 1 열 에 위치 된 화소 는 정상 화소 임 에 도 불구 하 고 불량 화소 로 판정 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 도 4 에 도시 된 바 와 같이 제 1 행 4 열 에 위치 된 화소 및 제 3 행 1 열 에 위치 된 화소 에 쇼트 결함 이 발생 되 었 을 때 , 제 1 경로 ( 160 ) 이외 에 검사 전원 부 ( 140 ) 로부터 제 1 주사선 ( S 1 ) , 제 1 행 4 열 에 위치 된 화소 의 쇼트 결함 부 , 제 3 행 4 열 에 위치 된 화소 의 제 34 유기 발광 다이오드 ( OLED 34 ) , 제 3 행 1 열 에 위치 된 화소 의 쇼트 결함 부 및 제 1 데이터 선 ( D 1 ) 을 경유 하 여 다시 검사 전원 부 ( 140 ) 로 향하 는 제 2 경로 ( 170 ) 에 따른 전류 의 흐름 이 추가 적 으로 발생 된다 . 이때 , 제 34 유기 발광 다이오드 ( OLED 34 ) 에 는 쇼트 결함 이 발생 하 지 않 았 지만 , 제 34 유기 발광 다이오드 ( OLED 34 ) 에 는 순방향 의 전압 이 공급 되 기 때문 에 전류 가 흐른다 . 이 로 인하 여 , 검사 전원 부 ( 140 ) 에서 측정 되 는 전류 값 이 증가 함 으로써 제 1 행 1 열 에 위치 된 화소 가 정상 화소 임 에 도 불구 하 고 , 불량 화소 로 판정 될 수 있 다 .