상기 테스트 헤드 의 상기 콘 택 요소 들 은 상기 유연 막 과 상기 PCB 사이 에 개재 되 고 , 상기 콘 택 요소 들 은 마이크 로 콘 택 프로브 각각 을 위한 감쇠 요소 로 작용 하 며 ( 즉 상기 콘 택 요소 들 은 상기 마이크 로 콘 택 프로브 와 상기 피검 소자 의 콘 택 패드 들 사이 의 콘 택 을 감쇠 할 수 있 도록 구성 됨 ) , 이 는 감소 된 길이 를 갖 는 상기 마이크 로 콘 택 프로브 들 의 강성 문제 를 극복 하 고 , 마이크 로 프로브 들 자체 의 파손 가능 성 을 현저히 감소 시킴 과 동시 에 마이크 로 콘 택 프로브 들 이 가하 는 압력 을 적절히 감소 하 는 것 을 보장 하 며 , 상기 마이크 로 콘 택 프로브 들 이 접하 는 상기 피검 소자 의 상기 콘 택 패드 들 이 파손 되 는 것 을 방지 할 수 있 다 .