상기 한 바 와 같 은 문제점 을 해결 하 기 위한 본 발명 의 하나 의 목적 은 , 고속 테스트 시 테스트 신호 의 왜곡 의 발생 을 방지 할 수 있 고 , 반도체 소자 와 의 테스트 신호 교환 에 있 어서 합선 , 누전 , 및 노이즈 의 발생 을 방지 할 수 있 는 반도체 소자 테스트 신호 인가 장치 및 이 를 구비 한 반도체 소자 테스트 보드 를 제공 하 는 데 있 다 .