도 7 및 도 8 은 본 출원인 이 2006 년 및 2007 년 에 출원 한 특허 ( ( 출원 번호 10 - 2006 - 32084 , 명칭 : 듀얼 전자 부품 검사 장치 ) , ( 출원 번호 10 - 2006 - 32085 , 명칭 : 듀얼 전자 부품 검사 방법 ) , ( 출원 번호 10 - 2006 - 34145 , 명칭 : 듀얼 전자 부품 검사 장치 에서 의 부품 정렬 장치 ) , ( 출원 번호 10 - 2006 - 34146 , 명칭 : 듀얼 전자 부품 검사 장치 에서 의 부품 분류 방법 ) , 및 ( 출원 번호 10 - 2007 - 29787 , 명칭 : 듀얼 전자 부품 검사 장치 에서 의 전자 부품 촬영 장치 ) ) 를 응용 한 것 으로 , 도 7 은 본 발명 의 다른 일실 시예 에 따른 프리즘 을 이용 한 전자 부품 검사 장치 를 설명 하 기 위한 블록 구성도 이 고 , 도 8 은 도 7 의 블록 도 의 구성 들 을 실제 구현 한 전자 부품 검사 장치 의 구성도 이 다 .