본 발명 에 다른 측면 에 따르 면 , 특정 한 형태 혹은 식별자 가 형성 된 타켓 , 복수 개 의 타켓 조준기 및 계측기 를 이용 하 여 대면 적 판넬 를 계측 하 는 계측 방법 에 있 어서 , 상기 복수 개 의 타켓 조준기 를 이용 하 여 상기 대면 적 판넬 의 모서리 마다 설치 된 타켓 을 검색 하 는 단계 , 상기 검색 된 타켓 을 정 조준 하 기 위해 상기 복수 개 의 타켓 조준기 를 미세 조정 하 여 상기 타켓 을 정 조준 시키 는 단계 , 상기 타켓 에 정 조준 된 복수 개 의 타켓 조준기 를 이용 하 여 사전 에 정해진 기준 좌표계 의 기준 축 으로부터 상기 복수 개 의 타켓 조준기 가 회전 된 회전 각도 를 산출 하 는 단계 , 상기 산출 된 회전 각도 를 이용 하 여 상기 타켓 이 위치 한 타켓 좌표 를 산출 하 는 단계 및 상기 산출 된 타켓 좌표 를 이용 하 여 상기 복수 개 의 판넬 로 정렬 된 대면 적 판넬 의 가로 , 세 로 , 대각 길이 를 산출 하 고 , 상기 대면 적 판넬 의 제작 을 위해 정렬 된 판넬 의 정렬 상태 를 출력 하 는 단계 를 포함 하 는 대면 적 판넬 계측 방법 을 제공 할 수 있 다 .