도시 되 지 는 않 았 으나 , 상기 테스터 는 상기 반도체 패키지 ( 10 ) 의 전기 적 인 테스트 를 위한 신호 들 을 제공 할 수 있 으며 , 상기 반도체 패키지 ( 10 ) 로부터 의 출력 신호 들 을 분석 하 여 상기 반도체 패키지 ( 10 ) 의 전기 적 인 성능 을 검사 할 수 있 다 . 상기 테스터 는 상기 테스트 신호 들 의 제공 및 상기 출력 신호 들 의 수신 을 위한 테스트 보드 ( 미 도시 ) 를 포함 할 수 있 으며 , 상기 테스트 보 드 는 상기 인터페이스 보드 ( 110 ) 와 전기 적 으로 연결 될 수 있 다 .