도면 을 참조 하 면 , 본 발명 의 검사 장치 ( 100 ) 는 반도체 장비 또는 전자 기기 에 설치 되 기 전 의 완성 된 전자 부품 을 검사 하 기 위한 장치 다 . 그 구성 을 크 게 나누 어 보 면 , 피이 더 수단 ( 110 ) , 리니어 피이 더 수단 ( 112 ) , 회전 수단 ( 120 ) , 정렬 수단 ( 130 ) , 촬영 수단 ( 140 ) , 분류 수단 ( 150 ) , 엔 코더 ( 160 ) 그리고 마이컴 ( 170 ) 으로 이루어진다 .