도 2 는 종래 반도체 디바이스 테스트 시스템 에서 핸들러 의 구조 를 보인 사시도 이 다 . 도 2 에 도시 한 바 와 같이 , 종래 의 테스트 핸들러 는 핸들러 본체 ( 110 ) 와 이 핸들러 본체 ( 110 ) 의 전방부 에 설치 되 는 스택 커 ( 120 ) 를 포함 하 여 이루어질 수 있 다 . 이러 한 구성 에서 , 스택 커 ( 120 ) 는 테스트 할 디바이스 가 담긴 복수 의 유저 트레이 ( 120 a ) 가 적재 되 는 유저 트레이 공 급부 ( 121 ) , 테스트 되 어 등급 별 로 소팅 된 반도체 디바이스 들 이 담기 는 복수 의 유저 트레이 ( 120 a ) 가 적재 되 는 유저 트레이 출하 부 ( 122 ) 및 여러 종류 의 유저 트레이 ( 120 a ) 를 구분 하 여 보관 할 수 있 는 멀티 적 재부 ( 123 ) 로 나누 어 진다 .