본 발명 의 메모리 모듈 실장 테스터 는 실장 테스트 대상 메모리 모듈 이 공급 되 고 실장 테스트 후 양품 으로 판정 된 상기 메모리 모듈 이 배출 되 는 공급 및 배 출부 , 상기 메모리 모듈 의 사용 환경 이 조성 되 고 상기 메모리 모듈 이 삽입 되 는 소켓 이 각각 구비 된 복수 의 메인보드 가 설치 되 어 있 는 테스트 부 , 상기 테스트 부 에 의해 불량품 으로 판정 된 메모리 모듈 이 적재 되 는 불량 적 재부 , 상기 공급 및 배 출부 에서 상기 메모리 모듈 을 픽업 하 여 상기 테스트 부 로 전달 하 는 전달 부를 포함 할 수 있 다 .