이 와 같 은 문제점 으로 인해 , 대부분 의 테스트 장비 에서 는 영상 감 지부 에 대한 특성 테스트 와 영상 처 리부 에 대한 특성 테스트 를 각각 분리 하 여 수행 한다 . 예 를 들 면 , 영상 감지 부 의 경우 에 는 EDS ( Electrical Die Sorting ) 시 영상 감지 부 로부터 검출 된 데이터 를 검증 하 는 테스트 를 독립 적 으로 수행 하 고 , 영상 처 리부 의 경우 에 는 벡터 ( vector ) 를 통한 간단 한 펑션 ( function ) 테스트 를 각각 독립 적 으로 수행 한다 . 하지만 , 이 와 같 은 테스트 방식 은 CMOS 이미지 센서 의 전체 동작 특성 을 반영 한 것 이 아니 라 , 영상 감지 부 와 영상 처 리부 각각 에 대한 개별 적 인 특성 만 을 반영 한 것 에 불과 하 다 . 그러므로 , 영상 감지 부 와 영상 처 리부 의 전체 데이터 경로 ( full data path ) 를 테스트 하 되 , 테스트 시간 과 테스트 의 복잡 성 을 줄일 수 있 는 방안 이 요구 된다 .