이러 한 분석 대상물 을 정성 적 또는 정량 적 으로 분석 하 기 위하 여 , 분석 대상물 은 형광체 ( 20 ) 와 결합 될 수 있 다 . 즉 , 본 발명 에서 는 형광체 - 분석 대상물 결합체 가 패드 ( 10 ) 에 흡착 된 경우 를 가정 하 며 , 상기 형광체 - 분석 대상물 결합체 에 광 을 조사 하 여 형광체 ( 20 ) 로부터 방출 되 는 광 ( 여기 광 ) 의 검출 을 통해 분석 대상물 을 분석 한다 . 예 를 들 어 , 형광체 ( 20 ) 로부터 특정 파장 성분 을 갖 는 광이 방출 될 경우 에 는 분석 대상물 을 정성 적 으로 분석 할 수 있 고 , 상기 특정 파장 성분 을 갖 는 광 의 세기 가 클수록 분석 대상물 이 패드 ( 10 ) 에 많이 흡착 되 어 있 는 것 을 의미 하 기 때문 에 이 는 분석 대상물 을 정량 적 으로 분석 할 수 있 는 기반 이 된다 .