본 발명 이 적용 되 는 광학 시스템 에서 최적 초점 조절 을 위해서 검출기 와 광학계 에 사이 에 들어가 는 심 을 단순히 교체 해 가 며 MTF 를 측정 하 여 가장 높 은 MTF 가 출력 되 는 심 을 최종 적용 해야 하 고 , 심 교체 시 조립 된 전자 광학 장비 를 분해 후 재 조립 해야 함 에 따라 그 과정 이 복잡 하 고 많 은 시간 이 소요 된다 .