특히 , 데이터 전송 지연 을 줄이 기 위한 데이터 버스 인 버 젼 ( DBI ) 및 데이터 전 송시 오류 를 검출 하 는 순환 중복 검사 ( CRC ) 를 프로그래밍 할 수 있 는 앳 스피드 APG 퍼 핀 ( At speed algorithmic pattern generator per pin ) 을 통해 최신 DDR 4 메모리 기술 기능 테스트 가 가능 하 다 .