가공물 속성 들 을 측정 하 는 정확 도 및 정밀도 를 제한 하 는 세 번 째 쟁점 은 광학 측정 시스템 을 통한 광 의 전파 이 다 . 이 쟁점 은 처음 2 가지 쟁점 들 과 종종 결합 되 는데 , 이 는 , 광학 측정 시스템 의 불 완전 성 들 이 이러 한 시스템 들 에 의 광학 신호 들 의 제공 에 의 약간 의 변화 로 들 어 날 수 있 기 때문 이 다 . 예 를 들 어 , " 코팅 된 표면 상 에서 의 광 의 입사각 의 약간 의 변화 는 반사 된 스펙트럼 들 의 잘 - 알려진 크로마 틱 "" 블루 - 시프트 ( blue - shift ) "" 를 초래 할 수 있 다 . 코팅 된 표면 의 예 는 OAP 시준기 의 미러 이 다 . "