이 는 , 종래 의 표면 플 라즈 몬 공명 각 측정 장치 가 앞서 설명 된 바 와 같이 일정 한 크기 로 구분 된 픽셀 을 갖 는 이미지 센서 가 검출기 에 채용 될 수 밖 에 없 기 때문 에 이상 적 인 공명 각 측정 을 위하 여 미세 한 각도 별 로 반사광 의 입사 각도 를 조절 하 면서 선형 적 인 반사광 의 강도 변화 를 측정 할 수 없 을 뿐 만 아니 라 수 ㎛ 의 크기 의 픽셀 이 제한 된 개수 로 이루어진 이미지 센서 가 채용 될 수 밖 에 없 기 때문 에 오 차 값 수정 이 어려운 단점 이 있 다 .