도 2 는 본 발명 에 따른 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 를 도시 한 분 해 사시도 이 고 , 도 3 은 본 발명 에 따른 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 의 요부 를 도시 한 분 해 사시도 이 다 . 도시 된 바 와 같이 , 본 발명 에 따른 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 ( 100 ) 는 반도체 웨이퍼 ( 1 ) 상 에 형성 되 는 칩 ( chip ) 으로 이루어진 반도체 소자 를 검사 하 기 위한 프로브 시스템 에 마련 되 는 것 으로서 , 다수 의 프로브 ( probe ; 110 ) 와 , 프로브 ( 110 ) 가 나란 하 게 고정 되 는 다수 의 고정 부재 ( 120 ) 와 , 고정 부재 ( 120 ) 가 양측 에 길 이 방향 으로 배열 되 도록 고정 되 는 프로브 바 ( 130 ) 와 , 프로브 바 ( 130 ) 가 고정 되 는 메 인회 로 기판 ( main printed circuit board ; 140 ) 과 , 프로브 ( 110 ) 와 메인 회로 기판 ( 140 ) 을 접속 시키 는 접속 수단 ( 150 ) 을 포함 한다 .