어떤 메모리 셀 자체 에 결함 이 있 는 경우 해당 메모리 셀 위치 에서 는 계속 에러 가 발생 할 수 있 다 . 동일 위치 에서 에러 가 계속 발생 하 면 메모리 시스템 ( 150 ) 에 저장 되 는 데이터 를 신뢰 하 기 어렵 다 . 그러나 일부 메모리 셀 의 결함 때문 에 메모리 시스템 ( 150 ) 자체 를 폐기 하 면 메모리 시스템 ( 150 ) 의 수율 면 에서 비 효율 적 이 다 . 메모리 시스템 ( 150 ) 은 리 던 던 시 메모리 셀 을 구비 하 고 , 메모리 시스템 ( 150 ) 의 패 키 징 이후 테스트 시 에 결함 메모리 셀 이 검출 되 면 해당 결함 메모리 셀 을 리 던 던 시 메모리 셀 로 리 페어 할 수 있 다 .