도 3 은 본 발명 에 따른 메모리 모듈 테스트 용 소켓 모듈 을 도시 한 분리 사시도 이 고 , 도 4 는 본 발명 에 따른 메모리 모듈 테스트 용 소켓 모듈 을 도시 한 결합 사시도 이 고 , 도 5 는 도 4 의 A - A ' 선 에 따른 단면도 이 다 . 도시 된 바 와 같이 , 본 발명 에 따른 메모리 모듈 테스트 용 소켓 모듈 ( 100 ) 은 메모리 모듈 ( memory module ; 1 ) 이 장착 되 는 테스트 소켓 ( test socket ; 110 ) 과 , 테스트 소켓 ( 110 ) 에 장착 되 어 메모리 소켓 ( memory socket ; 2 ) 에 접속 되 는 확장 PCB ( extend printed circuit board ; 120 ) 와 , 테스트 소켓 ( 110 ) 과 메모리 소켓 ( 2 ) 사이 에 설치 되 는 가이드 블록 ( guide block ; 130 ) 을 포함 한다 .