본 발명 의 목적 은 제안 하 는 구조 광 패턴 반사 기법 ( fringe pattern reflection ) 을 사용 하 여 짧 은 시간 에 대형 반사 집 광판 의 3 차원 표면 형상 을 측정 하 고 , 반사판 의 곡률 , 왜곡 , 집광 률 등 의 분석 을 수행 하 는 구조 광 패턴 반사 기술 을 이용 한 대형 반사판 3 차원 표면 형상 측정 방법 을 제공 하 는데 있 다 .