현대 사회 에서 는 전자 기술 의 발달 로 전자 제품 에 사용 되 는 각종 소자 등 의 부품 이 점점 소형 화 되 고 있 다 . 특히 , 반도체 집 적 기술 의 발달 로 인하 여 , 반도체 소자 자체 와 그 에 따른 부대 부품 들 의 크기 가 미리 그람 단위 의 질량 을 가질 정도 로 소형 화 됨 으로써 , 이러 한 부품 들 의 불량 이나 품질 검사 를 위한 질량 측정 또한 밀리그램 ( milligram ) 단위 나 마이크 로 그램 ( microgram ) 단위 의 질량 측정 이 가능 한 장비 가 요청 된다 .