상기 와 같이 오토 프로브 패드 ( 130 ) 를 공통 으로 연결 된 게이트 테스트 패드 ( 124 ) 의 양 끝단 에 병열 식 으로 연결 하 는 것 은 , 공통 으로 연결 된 게이트 테스트 패드 ( 124 ) 들 의 저항 으로 인하 여 오토 프로브 패드 ( 130 ) 에 가까운 부분 의 게이트 테스트 패드 ( 124 a 1 ) 와 먼 부분 의 게이트 테스트 패드 ( 124 a ( 2 n - 1 ) ) 간 에 인가 되 는 신호 의 전압 강하 가 발생 하 여 액정 패널 의 불량 검사 시 에 사이드 효과 가 발생 하 는 것 을 방지 하 기 위함 이 다 .