일반 적 으로 반도체 메모리 장치 는 복수 개 의 데이터 출력 패드 를 구비 하 여 반도체 메모리 칩 외부 로 데이터 를 출력 한다 . 반도체 메모리 장치 의 테스트 시 상기 복수 개 의 데이터 출력 패드 에 각각 연결 된 데이터 출력 라인 이 테스트 장비 에 상기 데이터 를 전달 한다 . 상기 테스트 장비 는 출력 되 는 데이터 를 테스트 하 고자 하 는 바 에 따라 여러 가지 가 사용 될 수 있 다 . 이 때 각각 의 장비 에 연결 되 는 상기 데이터 출력 라인 의 수 에 는 제약 이 따르 게 된다 . 따라서 각 테스트 장비 가 한 번 에 테스트 할 수 있 는 반도체 메모리 칩 의 수 는 제한 적 이 며 이 는 반도체 메모리 장치 의 테스트 를 실시 하 는 데 에 있 어서 효율 성 의 문제 와 직결 된다 .