대상 기판 ( SUB ) 은 전계 형성 유닛 ( 100 ) 상 에 제공 될 수 있 으며 , 전계 형성 유닛 ( 100 ) 은 대상 기판 ( SUB ) 의 상부 에 전계 를 형성 할 수 있 다 . 상기 전계 는 대상 기판 ( SUB ) 상 에 분사 된 잉크 ( I ) 에 전달 되 고 , 잉크 ( I ) 에 포함 된 쌍극자 와 같 은 입자 는 상기 전계 에 의해 일 방향 으로 정렬 될 수 있 다 . 여기 서 , 일 실시 예 에 따른 쌍극자 정렬 장치 ( 1000 ) 에 포함 된 광 조사 장치 ( 500 ) 는 잉크 ( I ) 에 광 을 조사 하 여 입자 의 전계 에 의한 정렬 반응 성 이 개선 될 수 있 다 .