도 1 및 2 를 참고 하 면 , 본 발명 의 일 실시 에 에 따른 전자 소자 의 온도 신뢰 성 테스트 장치 는 , 다수 의 수납부 ( 10 a ) 를 갖 는 랙 ( 10 ) 을 구비 하 고 , 다수 의 수납부 ( 10 a ) 에 는 온도 신뢰 성 테스트 가 이루어지 는 각각 2 개 씩 20 개 의 개별 챔버 부 ( 100 ) 가 배치 된다 . 다수 의 개별 챔버 부 ( 100 ) 는 온도 제 어부 ( 20 ) 와 각각 전기 적 으로 연결 됨 에 따라 각각 개별 적 으로 테스트 온도 가 설정 될 수 있 다 .