그러나 일본 공개 특허 평 5 - 161002 호 에 기재 된 방법 에 의하 면 , 삼각 측량 방식 에 의해 서적 의 형상 을 측정 하 기 위한 특별 한 형상 계측 장치 가 필요 하 며 , 일본 공개 특허 평 11 - 41455 호 에 기재 된 방법 에 의하 면 , 작 은 계산 량 으로 왜곡 보정 을 할 수 있 지만 , 조건 에 따라 유효 한 보정 을 할 수 없 는 경우 가 발생 한다 .