즉 , 테스트 모드 일 경우 제 2 클럭 핀 제 어부 ( 200 ) 는 미러 동작 신호 ( MFEN ) 와 상관 없이 , 활성 화 된 하이 레벨 의 제 2 입력 버퍼 제어 신호 ( BFCT 2 ) 를 제공 한다 . 그리하여 , 제 2 클럭 핀 ( 도 1 의 C 2 참조 ) 과 연결 된 입력 버퍼 부 ( 320 ) 를 활성 화 시킨다 . 그러나 , 노멀 모드 일 때 에 는 미러 동작 신호 ( MFEN ) 에 응답 하 되 , 제 1 미러 동작 제 어부 ( 110 ) 와 는 배타 적 으로 동작 한다 . 다시 말 하 면 , 대칭 위치 의 핀 이 라 할지라도 미러 동작 회로 가 활성 화 되 거나 비활성 화 될 때 무조건 입력 버퍼 가 동시 에 활성 화 됨 으로 말미암 아 전류 가 소모 되 지 않 도록 제어 할 수 있 다 . 따라서 , 미러 동작 회로 가 활성 화 될 경우 와 비 활성 화 될 경우 , 대칭 위치 의 핀 의 입력 버퍼 부 를 각각 배타 적 으로 제어 함 으로써 전류 소모 증가 를 억제 할 수 있 다 .