이상 에서 설명 한 바 와 같 은 본 발명 의 반도체 디바이스 핸들러 시스템 에 따르 면 , 다수 의 테스트 단자 편 이 나란히 배열 된 커넥터 편 을 갖 는 테스트 보드 를 채택 함 으로써 수평 방향 에서 테스트 보드 와 접촉 하 여 테스트 할 수 있 도록 함 으로써 간단 한 구조 에 의해 동시 에 많 은 수 의 반도체 디바이스 를 테스트 할 수 있 도록 하 되 , 속 챔버 와 디 속 챔버 를 테스트 챔버 와 는 별도 로 마련 하 여 테스트 챔버 에서 테스트 가 수행 되 는 동안 에 속 과 디 속 작업 이 함께 이루어지 도록 함 으로써 테스트 헤드 의 이용 효율 을 극대 화 시킬 수 가 있 다 .