특히 , 본 발명 에 따른 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 ( 100 ) 및 이 를 이용 한 핀 블록 구조 ( 200 ) 의 제 3 실시 예 는 피 검사 체의 단자 ( 300 ) 가 외부 양측 으로 단자 핀 이 배치 된 형태 에 가장 적합 하 며 , 이 를 위해 프로브 ( 100 ) 가 양측 으로 배열 되 어 , 프로브 ( 100 ) 가 피 검사 체의 단자 ( 300 ) 를 감싸 도록 단자 ( 300 ) 가 프로브 ( 100 ) 사이 에 삽입 된 후 프로브 ( 1 ) 가 양측 에서 중앙 으로 오므려 지 면서 양측 단자 핀 의 측면 에 접촉 하 도록 구성 됨 이 바람직 하 다 .