즉 , 제 1 형태 에 의하 면 , 피 시험 디바이스 를 시험 하 는 시험 장치 에 있 어서 , 피 시험 디바이스 가 출력 하 는 피 측정 신호 의 상승 엣지 의 기울기 와 하강 엣지 의 기울기 를 각각 독립 적 으로 조정 하 는 기울기 조정부 와 , 기울기 조정 부 에 의해 엣지 기울기 가 조정 된 피 측정 신호 를 샘플링 하 는 샘플링 부 와 , 샘플링 부 에서 의 샘플링 결과 에 기초 하 여 피 시험 디바이스 의 양부 를 판정 하 는 판 정부 를 포함 하 는 시험 장치 를 제공 한다 .