일반 적 으로 , 반도체 시험 장치 는 피 시험 대상 ( DUT ) 인 IC , LSI 등 에 시험 신호 를 부여 하 고 , DUT 출력 을 측정 하 여 , DUT 의 양부 ( 良 否 ) 판정 을 실시 하 는 것 이 다 . 반도체 시험 장치 는 , 테스트 헤드 내 에 드라이버 회로 와 콤퍼레이터 회로 의 조합 으로 이루어지 는 핀 엘렉 트 로 닉스 기판 을 가지 고 , 여기 서 시험 신호 의 출력 과 DUT 를 평가 한다 .