또한 , 실시 하 기 에 따라서 는 테스트 트레이 ( TT ) 에 적재 된 모든 반도체 소자 들 로부터 한꺼번에 정전기 또는 잔존 전하 를 제거시키 도록 전도성 브러시 ( 91 ) 를 구성 시킨 경우 에 는 가변저항 을 이용 하 여 저항 을 점차 낮추 도록 제어 함 에 의해 반도체 소자 로부터 시간 을 두 고 순차 적 으로 정전기 또는 잔존 전하 가 제거 될 수 있 도록 하 는 것 도 가능 하 다 .