상술 한 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 의 일 실시 예 에 따른 전자 광학 장비 의 초점 조절 시험 시스템 은 , 초점 조절 용 표적 을 생성 하 는 표적 생 성부 , 상기 표적 을 모사 하 는 시준기 , 상기 모사 된 표적 의 신호 를 집광 하 는 광학계 , 상기 집광 된 신호 를 아 날로 그 전기 신호 로 변환 하 는 검 출부 , 상기 광학계 와 상기 검 출부 사이 의 거리 를 미세 조정 하 는 리니어 스테이지 , 상기 검 출부 에서 변환 된 상기 아날로그 전기 신호 를 디지털 영상 신호 로 변환 하 는 영상 획득 부 , 상기 변환 된 디지털 영상 신호 로부터 대 조비 전달 함수 ( Contrast Transfer Function ) ( CTF ) 를 계산 하 고 , 상기 CTF 가 계산 된 리니어 스테이지 의 위치 를 확인 하 고 , 상기 확인 된 리니어 스테이지 위치 에 해당 하 는 초점 조절 용 심 ( Shim ) 을 선택 하 고 , 상기 전자 광학 장비 의 조립 후 상기 전자 광학 장비 의 변조 전달 함수 ( Modulation Transfer Function ) ( MTF ) 를 계산 하 는 데이터 처 리부 를 포함 한다 .