일 실시 예 에서 , 상기 ( I - 1 ) 프로세스 에서 , 상기 프로세서 는 , 상기 제 1 내지 상기 제 h 마스크 레이어 중 에서 적어도 제 m 마스크 레이어 로 하여금 - 상기 m 은 1 부터 상기 h 까지 의 정수임 - 상기 제 m 마스크 레이어 에 대응 하 는 제 n 컨 벌 루 션 레이어 로부터 - 상기 n 은 1 부터 상기 k 까지 의 정수임 - 전달 된 제 n 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 으로부터 주파수 의 변화 가 상기 기 설정 된 임계 치 보다 큰 영역 을 추출 하 도록 함 으로써 , 제 m 테스트 용 밴드 패스 특징 맵 을 생성 하 고 , 상기 ( I - 2 ) 프로세스 에서 , 상기 프로세서 는 , 상기 제 m 마스크 레이어 에 대응 하 는 제 m 디 퍼런 셜 레이어 로 하여금 상기 제 n 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 과 상기 제 m 테스트 용 밴드 패스 특징 맵 사이 의 차이 를 계산 하 여 제 m 테스트 용 디 퍼런 셜 특징 맵 을 출력 하 도록 하 고 , 상기 제 n 컨 벌 루 션 레이어 다음 의 제 ( n + 1 ) 컨 벌 루 션 레이어 에 상기 제 m 테스트 용 디 퍼런 셜 특징 맵 을 전달 하 도록 하 고 , 상기 ( II ) 프로세스 에서 , 상기 프로세서 는 , 상기 제 m 마스크 레이어 에 대응 하 는 제 n 디컨 벌 루 션 레이어 로 하여금 상기 제 m 테스트 용 밴드 패스 특징 맵 과 제 ( n + 1 ) 디컨 벌 루 션 레이어 로부터 출력 된 제 ( n + 1 ) 테스트 용 디 코디 드 특징 맵 의 테스트 용 요소 별 합 ( element - wise sum ) 에 상기 디컨 벌 루 션 연산 을 가함 으로써 , 제 n 테스트 용 디 코디 드 특징 맵 을 출력 한다 .