리 던 던 시 메모리 셀 을 갖 는 반도체 메모리 는 메모리 셀 의 로우 / 칼럼 을 나타내 는 어드레스 의 각 비트 를 기억 하 기 위해서 복수 의 퓨즈 회로 를 포함 하 고 있 으며 , 메모리 셀 에 불량 이 있 는 경우 , 테스트 공정 에서 불량 메모리 셀 의 로우 / 칼럼 어드레스 에 따라서 퓨즈 회로 의 퓨즈 가 컷팅 ( cutting ) 된다 . 퓨즈 는 예컨대 , 레이저 ( laser ) 조사 에 의해 컷팅 된다 .