그리고 , 반도체 장치 ( 6 e ) 를 사용 한 광검 출 장치 ( 10 ) 에서 는 , 입사광 을 차분 회로 ( 15 ) 에서 포토다이오드 ( 1 , 2 ) 에 축전 된 전하량 의 차분 으로서 출력 하 기 때문 에 , 광검 출 장치 ( 10 ) 는 , 제 1 수광 소자 와 제 2 수광 소자 에 축적 시킨 전하량 의 차분 을 취득 하 는 차분 취득 수단 을 구비 하 고 , 당해 차분 을 원하 는 파장 의 입사광 에 대응 하 는 전하 의 전하량 으로서 출력 하 는 출력 수단 을 구비 하 고 있 다 .