상기 와 같이 구성 된 장비 를 이용 하 여 먼저 , 레이저 조사 가 있 기 전 에 LSI 테스터 ( 2 ) 를 이용 하 여 웨이퍼 ( W ) 에 대한 초기 상태 를 검사 하 게 된다 . 이 때 , 조사 결과 는 모니터 ( 3 ) 상 에 출력 되 거나 해당 위치 가 저장 되 게 된다 . 일반 적 으로 , 반도체 집 적 회로 는 구동 전압 범위 를 갖 는데 , 예컨대 1 . 8 ( V ) 에서 동작 하 도록 설계 된 회로 의 경우 에 는 약 1 . 3 내지 2 . 3 ( V ) 의 구동 전압 에서 도 정상 적 으로 작동 할 수 있 다 . 이 경우 , 최저 전압 은 1 . 3 ( V ) 가 되 고 최대 전압 은 2 . 3 ( V ) 가 된다 . 만약 , 임계 전압 을 최저 전압 또는 최대 전압 중 어느 하나 보다 낮 은 값 을 갖 도록 설정 한다면 , 시료 의 초기 상태 는 그 에 따라 결정 된다 . 즉 , 임계 전압 을 최저 전압 1 . 3 ( V ) 보다 낮 게 설정 하 면 , LSI 테스터 에서 는 집 적 회로 의 초기 상태 를 불량 ( Fail ) 으로 판정 할 것 이 다 . 반대 로 , 임계 전압 을 최대 전압 2 . 3 ( V ) 보다 낮 게 설정 한다면 , LSI 테스터 에서 는 집 적 회로 의 초기 상태 를 양호 ( Pass ) 로 판정 할 것 이 다 .