도 2 를 참조 하 면 , 프로그램 후 에 간섭 효과 를 받 지 않 는 워드 라인 ( WL 31 ) 의 문턱 전압 분포 ( 201 ) 는 프로그램 후 에 간섭 효과 를 받 는 워드 라인 ( WL 0 내지 WL 30 ) 의 문턱 전압 분포 ( 202 ) 에 비해 대체로 폭 이 넓 게 형성 된다 . 물론 , 프로그램 후 에 간섭 효과 를 받 는 워드 라인 ( WL 0 내지 WL 30 ) 도 인접 한 셀 이 소거 상태 에 있 는 경우 는 간섭 효과 를 받 지 않 는 워드 라인 ( WL 0 내지 WL 30 ) 이 존재 하 는 경우 도 있 다 . 하지만 , 최후 에 프로그램 되 는 워드 라인 ( WL 31 ) 은 언제나 간섭 효과 를 받 지 않 기 때문 에 프로그램 후 에 간섭 효과 를 받 지 않 는 워드 라인 ( WL 31 ) 의 문턱 전압 분포 ( 201 ) 는 워드 라인 ( WL 0 내지 WL 30 ) 의 문턱 전압 분포 ( 202 ) 에 비해 폭 이 넓 게 형성 된다 . 이 에 따라 , 검증 전압 ( PV 1 내지 PV 3 ) 과 독 출 전압 ( R 1 내지 R 3 ) 사이 의 마진 이 감소 되 어 프로그램 스루풋 ( program throughput ) 이 저하 될 수 있 다 .