이 와 같이 구성 되 는 본 발명 에 따른 반도체 소자 의 전기 특성 테스트 를 위한 전기 적 연결 장치 및 그 의 제조 방법 은 내부 배선 이상 시 전체 전기 적 인 연결 장치 를 폐기 하 지 않 고 이상 이 발견 된 내부 배선 만 을 교체 할 수 있 어 비용 을 절감 할 수 있 으며 , 다양 한 배선 구조 를 채용 할 수 있 도록 하 여 사용 범용 성 을 증대 시킬 수 있 다 .