이렇게 구성 된 메모리 모듈 의 테스트 방법 은 , 우선 테스트 장치 에 제 1 정렬 지 그 를 장착 한 후 , 도 2 a 와 같이 드라이브 신호 와 비교기 신호 의 위상 맞 도록 드라이버 ( DR 1 내지 DR 6 ) 의 위상 을 테스트 장치 에서 조정 한다 . 다음 , 테스트 장치 에 제 2 정렬 지그 를 장착 한 후 도 2 b 와 같이 비교기 CP 1 내지 CP 6 간 의 신호 위상 맞 도록 비교기 의 위상차 를 테스트 장치 에서 측정 한다 .