생산 성 저하 를 억제 할 수 있 는 복사열 을 이용 한 반도체 모듈 의 고온 검사 용 핸들러 에 관해 개시 한다 . 이 를 위해 본 발명 은 반도체 모듈 을 검사 할 수 있 는 핸들러 본체 와 , 상기 핸들러 본체 상부 에 설치 되 고 피 검사 모듈 보드 의 양면 에서 복사열 을 인가 할 수 있 는 히터 블록 부를 포함 하 는 검사 사이트 와 , 상기 검사 사이트 와 수평 방향 으로 일직선 상 에 설치 된 예비 히터 부 와 , 상기 검사 사이트 및 예비 히터 부 상부 에 설치 되 고 상기 예비 히터 부 에 있 는 피 검사 모듈 보드 들 을 상기 검사 사이트 로 이동 시키 는 쉬프 터 ( shifter ) 를 구비 하 는 것 을 특징 으로 하 는 복사열 을 이용 한 반도체 모듈 의 고온 검사 용 핸들러 를 제공 한다 .