제 2 양태 의 제 6 구현 에 관련 하 여 , 제 7 구현 에서 , 상기 방법 은 : 상기 오프셋 구역 또는 상기 목표 구역 을 중심 으로서 이용 하 여 상기 오프셋 구역 또는 상기 목표 구역 을 바깥쪽 으로 확장 하 여 , 하나 이상 의 후보 구역 을 획득 하 는 단계 ; 상기 후보 구역 에 대해 특징 분석 을 수행 하 고 , 상기 대상 의 겉보기 특징 의 다른 기술 속성 을 인식 하 는 단계 ; 및 사전 설정 된 알고리즘 에 따라 상기 기술 속성 및 상기 다른 기술 속성 중 에 목표 기술 속성 을 결정 하 는 단계 를 추가 로 포함 하 고 , 상기 목표 기술 속성 은 상기 기술 속성 및 상기 다른 기술 속성 중 에 , 목표 데이터 에 가장 가까운 기술 속성 이 다 . 상기 목표 구역 또는 상기 오프셋 구역 은 위치 조정 을 위해 주위 로 확장 된다 . 상기 대상 의 부위 를 포함 하 지 않 거나 상기 대상 의 부위 의 부분 만 을 포함 하 는 그리고 뚜렷 하 지 않 은 목표 이미지 로부터 획득 되 는 목표 구역 에 대해 , 상기 목표 구역 또는 상기 오프셋 구역 이 확장 된 후 에 상기 대상 의 부위 를 포함 하 는 후보 구역 이 획득 될 수 있 다 . 이 는 상기 뚜렷 하 지 않 은 목표 이미지 로부터 상기 대상 의 부위 의 부분 만 을 포함 하 는 목표 구역 또는 오프셋 구역 이 획득 되 기 때문 에 기술 속성 을 인식 하 는 데 있 어서 오 차 가 비교 적 큰 위험 을 감소 시키 고 , 기술 속성 을 인식 하 는 정확도 를 증가 시킨다 .