이 와 같이 , 회전자 ( 7 ) 의 회전 에 수반 하 여 슬라이더 ( 13 ) 를 아치형 상 부재 ( 8 ) 를 따라 이동 시키 고 , 슬라이더 ( 13 ) 의 브러시 ( 16 ) 를 아치형 상 부재 ( 8 ) 에 배치 형성 된 제 1 및 제 2 띠 부재 ( 10 및 11 ) 의 표면 에 접촉 시키 도록 했으므로 , 제 1 및 제 2 띠 부재 ( 10 및 11 ) 의 일 단부 간 의 저항 값 에 의해 슬라이더 ( 13 ) 의 이동 위치 가 검출 되 어 , 소형 이 면서 정확 하 게 회전자 ( 7 ) 의 회전 위치 를 측정 하 는 것 이 가능 해진다 .