재 정렬 된 이진 패리티 비트 의 위치 마다 수행 한 CRC 검사 결과 , 오류 가 발생 한 CRC 검사 횟수 가 미리 설정 한 횟수 이상 이 될 때 까지 SC - Oracle 복호 시뮬레이션 을 반복 한다 . 그리고 재 정렬 된 이진 패리티 비트 마다 확인 된 오류 비트 위치 를 빈도수 의 내림차순 으로 정렬 한 뒤 , 미리 설정 한 개수 ( S ) 만큼 선택 하 여 기준 비트 반전 후보 군 으로 정의 한다 .