참고 로 , 상기 측 정부 ( 32 ) 는 제 1 및 제 2 탐 촉 자 ( 32 a ) ( 32 b ) 에 의해 송신 및 수신 되 는 파장 의 변화 를 측정 하 는 실시 예 뿐 만 아니 라 , 파장 의 다양 한 특성 들 의 변화 를 감지 하 는 변형 실시 예 도 가능 하 다 . 예컨대 , 상기 측 정부 ( 32 ) 가 제 1 탐 촉 자 ( 32 a ) 를 통해 송신 된 파장 이 제 2 탐 촉 자 ( 32 b ) 로 수신 되 는 시간 , 입사 각도 등 의 변화 를 측정 하 여 , 결함 을 감시 하 는 변형 예 도 가능 한 것 이 다 .