인덕턴스 측정 들 은 또한 디바이스 ( 10 ) 에 대한 하우징 의 위치 및 배향 , 및 따라서 각도 배향 A 의 값 을 결정 하 도록 이루어질 수 있 다 . 예 를 들 어 , 디바이스 ( 10 ) 는 하우징 에 의해 중첩 되 는 전송 코일 들 ( 36 ) 에 대해 측정 된 인덕턴스 를 낮추 는 경향 이 있 는 금속 또는 다른 재료 로 형성 된 하우징 을 가질 수 있 다 . 디바이스 ( 10 ) 의 윤곽 이 직사각 형 인 시나리오 들 에서 , 표면 ( 60 ) 아래 의 코일 들 ( 36 ) 의 어레이 는 대응 하 는 직사각 형 세트 의 인덕턴스 감소 들 을 경험 할 수 있 다 . 디바이스 ( 10 ) 의 윤곽 은 낮 아 진 L 값 들 또는 다른 변경 된 L 값 들 의 직사각 형 패턴 을 인식 하 도록 제어 회로 부 ( 42 ) 를 사용 함 으로써 측정 될 수 있 다 . 감소 된 인덕턴스 값 들 의 직사각 형 세트 의 위치 ( 예컨대 , 도 6 의 3 개 의 코일 들 과 같 은 특정 코일 또는 코일 들 에 대한 인덕턴스 에서 의 측정 된 증가 를 둘러쌀 수 있 는 , 알려진 디바이스 ( 10 ) 의 형상 을 갖 는 감소 된 코일 인덕턴스 들 의 패턴 ) 를 측정 함 으로써 , 위치 ( X , Y 위치 ) 및 각도 배향 ( 도 5 의 각도 A ) 이 결정 될 수 있 다 . 디바이스 ( 10 ) 의 위치 및 각도 배향 에 대한 정보 는 제어 회로 부 ( 42 ) 에 의해 사용 되 어 시스템 파라미터 들 을 조정 ( 예 를 들 어 , 최대 충전 전력 들 을 설정 하 고 , 무선 전력 을 전송 하 기 위한 코일 또는 코일 들 을 선택 하 기 위한 등 ) 할 수 있 다 . 인덕턴스 측정 들 , 인덕턴스 변화 들 의 인식 된 패턴 들 , 및 코일 들 ( 36 ) 상 의 다른 측정 들 에 기초 하 여 취해질 수 있 는 추가 적 인 동작 들 은 , 디바이스 ( 12 ) 의 디스플레이 상 의 정보 의 디스플레이 를 조정 하 는 것 ( 예컨대 , 각도 배향 A 의 측정 된 값 에 기초 하 여 온 - 스크린 콘텐츠 의 각도 배향 을 제어 하 는 것 ) , 상이 한 디바이스 들 ( 10 ) 과 충전 표면 ( 60 ) 상 의 상이 한 위치 들 및 배향 들 사이 에서 디스플레이 된 정보 를 끊김 없이 이동 시키 는 것 , 디바이스 들 ( 10 ) 사이 의 통신 들 을 용이 하 게 하 는 것 등 을 포함 한다 .