이러 한 태양 에서 도 , 서로 인접 하 는 시험 유닛 ( TU 1 ) 내지 ( TU 4 ) 사이 에 는 , 프로브 침 ( 13 ) 이 접속 된 회로 기판 ( 14 ) 이 배설 되 어 있 기 때문 에 , 해당 시험 유닛 ( TU 1 ) 내지 ( TU 4 ) 를 , 서로 크 게 이 간 하 여 배치 할 필요 는 없 고 , 효율 적 으로 1 개 의 프로브 카드 기판 ( 11 ) 위 에 복수 의 시험 유닛 ( TU 1 ) 내지 ( TU 4 ) 를 설치 하 는 것 이 가능 하 다 .