먼저 , 본 실시 예 에서 의 메모리 모듈 ( 10 ) 은 검사 소켓 ( 50 ) 과 마더 보드 ( 1 ) 의 전기 적 연결 을 위하 여 도 1 에 도시 한 바 와 같 은 커 텍 터 를 사용 하 고 있 지 않 고 , 마더 보드 ( 1 ) 에 고정 결합 되 어 있 는 인터 포저 ( 20 ) 를 사용 하 고 있 어 전체 적 인 전류 경로 ( current path ) 를 짧 게 하 여 전체 적 인 검사 의 신뢰 성 을 향상 시킬 수 있 다 .