또한 , 본 개시 의 일 실시 예 에 따르 면 , 복수 의 레인 징 값 들 을 획득 하 기 위하 여 복수 의 STS 세그먼트 들 을 이용 하 는 방법 뿐 만 이 아니 라 , 복수 의 연속 적 인 레인 징 을 수행 하 는 방법 이 이용 될 수 있 다 . 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 , 복수 의 연속 적 인 레인 징 과정 을 통해 획득 되 는 복수 의 레인 징 값 들 을 기반 으로 , 도 16 b 의 단계 S 1670 에서 수행 되 는 것 과 같 은 무결성 검사 를 수행 할 수 있 다 . 연속 적 인 레인 징 간 의 간격 은 , 가 간섭 성 시간 ( coherence time ) 이하 의 간격 으로 설정 됨 으로써 , 전자 디바이스 의 움직임 에 따른 채널 변화 를 방지 할 수 있 다 .