비 정상 이벤트 및 후보 결함 의 위치 를 찾 기 위한 하나 의 접근 법 은 2016 년 12 월 13 일 Chun Guan 등 의 미국 특허 제 9 , 518 , 935 호 에 추가 로 기술 되 어 있 으며 , 이 문헌 은 그 전문 이 본 명세서 에 참조 로 포함 된다 . 단일 - 다이 접근 법 의 일부 예 는 템플 릿 매칭 및 주요 컴포넌트 분석 을 포함 한다 . 템플 릿 매칭 은 일반 적 인 템플 릿 피처 를 참조 로 사용 하 여 비 정상 피처 의 위치 를 찾 기 위한 이미지 처리 기술 이 다 . 예 를 들 어 , 제 1 이미지 피처 가 그 랩 ( grab ) 되 어 , 다른 피처 들 과 비교 되 거나 매칭 된다 . 제 1 이미지 피처 는 제 1 이미지 피처 와 매칭 되 는 다른 피처 ( 또는 사소 한 수 의 피처 ) 가 없 다면 , 비 정상 또는 후보 이벤트 로서 정의 된다 . 철저 한 템플 릿 매칭 접근 방식 을 사용 하 여 각 이미지 피처 를 그 랩 하 여 , 다른 피처 와 비교 할 수 있 다 . 대안 적 으로 , 다른 공정 을 또한 구현 하 여 비 정상 피처 의 위치 를 보다 지능 적 이 고 효율 적 으로 찾 을 수 있 다 . 예 를 들 어 , 레티 클 이미지 를 분석 하 기 전 에 공통 피처 템플 릿 세트 를 처음 에 정의 할 수 있 다 . 템플 릿 이미지 피처 는 다른 특징 벡터 와 비교 하 기 위하 여 피처 벡터 로 변환 될 수 있 다 . 또한 유사 한 이벤트 가 여러 개 있 는 경우 에 도 특정 피처 를 비 정상 이벤트 로서 정의 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 다른 ( otherwise ) 0 D 또는 1 D 패턴 으로 나타나 는 작 은 피처 는 비 정상 이벤트 로서 식별 될 수 있 다 .