또한 , 상기 기재 한 실시 양태 들 은 바제 독시 펜 아세테이트 , 및 바제 독시 펜 아세테이트 형태 A 및 / 또는 형태 B 의 특징 적 인 피크 들 에서 또는 그 근처 에서 간섭 피크 를 갖 는 XRD 패턴 을 제공 하 는 하나 이상 의 성분 을 포함 하 는 제약 조성물 에서 바제 독시 펜 아세테이트 형태 A 및 / 또는 형태 B 를 검출 하 는 방법 을 제공 하 는 방식 으로 조합 될 수 있 다 . 상기 방법 은 바제 독시 펜 아세테이트 및 하나 이상 의 제 약상 허용 되 는 희석제 , 충전제 , 부형제 , 결합제 , 윤활제 , 붕해제 , 또는 현 탁 화제 또는 안정 화제 ( 예 를 들 어 , 수 크로즈 ) 를 포함 하 는 하나 이상 의 투여 단위 로부터 임의 의 코팅 을 제거 하 는 단계 ; 교반 하 면서 상기 제약 조성물 에 적절 한 양 의 아세트산나트륨 용액 ( 약 0 . 2 M ) 을 약 2 내지 약 10 분 동안 첨가 하 여 , 현탁액 을 생성 하 는 단계 ; 상기 현탁액 을 원심 분리 하 여 , 고체 및 상청 액 을 생성 하 는 단계 ; 상기 상청 액 을 제거 하 는 단계 ; 진탕 하 면서 상기 고체 에 추가 의 아세트산나트륨 용액 을 첨가 하 여 , 또 다른 현탁액 을 생성 하 는 단계 ; 상기 현탁액 을 원심 분리 하 여 , 또 다른 고체 및 또 다른 상청 액 을 생성 하 는 단계 ; 상기 상청 액 을 제거 하 는 단계 ; 상기 고체 를 여과 하 고 건조 시키 는 단계 ; XRD 측정 을 위해 상기 고체 를 분쇄 하 고 , 펠 렛 으로 압착 하 는 단계 ; 및 제조 된 펠 렛 을 XRD 회절계 , 예 를 들 어 GADDS 를 구비 한 브루커 디 8 디스 커버 X - 선 회절계 를 이용 하 여 분석 하 는 단계 를 포함 한다 .