제거 부품 ( 11 a ) 이 제거 되 어 솔 더 볼 ( 13 ) 이 노출 된 회수 부품 ( 12 a ) 의 전극 을 국부 적 으로 프루브 ( probe ) 할 수 있 다 . 이때 , 회수 부품 ( 12 a ) 의 전극 중 에 제거 부품 ( 11 a ) 과 연결 된 전극 은 , 분석 부품 ( 10 ) 의 완성품 상태 의 작동 을 테스트 할 수 있 다 . 즉 , 분석 부품 ( 10 ) 의 분석 에 있 어서 , 제거 부품 ( 11 a ) 과 회수 부품 ( 12 a ) 과 솔 더 볼 ( 13 ) 를 개별 적 , 또는 통합 적 분석 이 가능 하 다 .