실제로 , 전류 파형 은 클린 단계 이외 일 수 있 어 , 측정 은 정착 하 기 위해 파형 에 대한 대기 이후 에 만 행해질 수 있 다 . 각각 의 서브 픽셀 의 다수 의 측정 이 또한 행해질 수 있 으며 함께 평균 된다 . 이 와 같 은 측정 은 다음 서브 픽셀 로 진행 하 기 전 에 연이 어 행해질 수 있 다 . 이 와 같 은 측정 은 또한 개별 측정 패스 ( pass ) 에서 행해질 수 있 으며 , 패널 상 의 각각 의 서브 픽셀 은 각각 이 패스 에서 측정 된다 . 전압 공 급기 ( 206 ) 와 전압 공 급기 ( 211 ) 사이 의 커패시턴스 가 정착 시간 에 더 해질 수 있 다 . 이 커패시턴스 는 정상 동작 에서 일반 적 임 에 따라 , 외부 커패시터 에 의해 제공 되 거나 또는 패널 에 고유 하 다 . 측정 하 는 동안 외부 커패시터 를 전기 적 으로 연결 해제 하 는 데 사용 될 수 있 는 스위치 를 제공 하 는 것 이 유리 할 수 있 다 . 이 는 정착 시간 을 감소 시킬 것 이 다 .