상기 와 같 은 본 발명 의 목적 은 반도체 검사 장치 에 수용 되 는 번인 보드 랙 유닛 에 있 어서 , 골격 을 형성 하 는 프레임 , 상기 프레임 의 내측 에 수직 방향 으로 적층 되 어 배치 되 며 , 테스트 소켓 을 구비 한 복수 개 의 번인 보드 , 상기 번 인보드 에 착 탈 가능 하 게 장착 되 며 , 테스트 대상 인 반도체 부품 이 장착 되 어 상기 반도체 부품 이 상기 테스트 소켓 과 전기 적 으로 접속 되 는 테스트 트레이 및 상기 프레임 에 구비 되 어 , 상기 테스트 트레이 를 상기 번 인보드 를 향해 가압 하 는 가압 판 을 구비 하 는 것 을 특징 으로 하 는 번인 보드 랙 유닛 에 의해 달성 된다 .