본 발명 은 종래 와 달리 내부 전압 발생기 ( 20 ) 를 턴 오프 시킬 신호 를 입력 받 는 테스트 진입 패드 를 사용 하 지 않 고 도 테스트 전압 ( V _ test ) 을 내부 회로 ( 30 ) 에 인가 할 수 있 다 . 즉 , 내부 전압 발생기 ( 20 ) 를 턴 오프 시키 는 신호 를 외부 에서 입력 시키 지 않 고 도 상기 내부 전압 발생기 ( 20 ) 를 턴 오프 시킬 수 있 다 . 결국 , 상기 테스트 진입 패드 를 줄임 으로써 디램 의 면적 을 줄일 수 있 고 , 한 번 에 테스트 할 수 있 는 디램 의 개수 를 늘릴 수 있 다 .