이러 한 일련 의 공정 들 을 통해 반도체 소자 들 을 형성 한 후 반도체 소자 들 의 전기 적 인 특성 을 검사 하 기 위한 검사 공정 이 수행 될 수 있 다 . 검사 공정 은 복수 의 탐침 들 을 갖 는 프로브 카드 를 포함 하 는 프로 버 ( Prober or Probe station ) 와 전기 적 인 신호 를 제공 하 기 위하 여 프로브 카드 와 연결 된 테스터 에 의해 수행 될 수 있 다 .