또한 , 본 발명 의 기술 적 사상 은 , 상기 과제 를 해결 하 기 위하 여 , 테스트 소켓 ; 및 상기 테스트 소켓 이 실장 된 인쇄 회로 기판 ( PCB ) ; 을 포함 하 고 , 상기 테스트 소켓 은 , 인쇄 회로 기판 ( Printed Circuit Board : PCB ) 상 에 배치 되 고 , 상기 PCB 의 단자 들 과 전기 적 으로 연결 된 포고 핀 들 ( pogo pins ) 및 상기 포고 핀 들 이 삽입 되 어 배치 되 는 2 열 의 가이드 홀 들 이 형성 된 하우징 블럭 을 구비 한 포고 핀 구조 체 , 상기 포고 핀 구조 체 상 에 배치 되 고 , 양 사이드 에 일렬 로 배치 되 어 상기 포고 핀 들 에 전기 적 으로 연결 된 단자 핀 들 을 구비 한 인터페이스 , 및 상기 인터페이스 상 에 배치 되 고 , 중앙 부분 에 제 1 관통 홀 이 형성 된 상부 가이드 블럭 ; 을 포함 하 는 것 을 특징 으로 하 는 테스트 장치 를 제공 한다 .