전술 한 구성 을 갖 는 본 발명 의 인라인 용 판재 스트립 스캔 방식 측정 장치 는 종래 와 같이 방사선 을 사용 하 지 않 고서 도 판재 스트립 의 형상 ( 두께 , 폭 , 평탄 도 및 판재 스트립 의 쏠림 ) 을 비접 촉식 으로 정밀 하 게 측정 함 에 따라 다양 하 고 신뢰 성 이 높 은 우수 한 품질 의 측정 데이터 를 한 번 에 제공 할 수 있 는 효과 가 있 다 .