도 5 는 본 발명 의 실시 형태 1 에 따른 전자 부품 에서 의 , Ni 입자 의 평균 입경 측정 방법 을 나타낸 모식 적 부분 단면도 이 다 . 도 5 에 나타내 는 바 와 같이 , 측정 위치 ( P 1 ) 상 에서 제 1 Ni 도금 층 ( 122 ) 에서 서로 인접 하 는 10 개 의 Ni 입자 ( 122 G ) 의 합계 길이 를 측정 한다 . 이 합계 길이 를 10 으로 나눔 으로써 , 제 1 Ni 도금 층 ( 122 ) 의 Ni 입자 ( 122 G ) 의 평균 입경 을 산출 한다 .