본 발명 은 병렬 테스트 모드 동작 시 비트 라인 감지 증폭기 의 오버 드라이빙 동작 에서 안정 적 인 오버 드라이빙 전압 을 공급 하 기 위한 회로 에 관한 것 으로서 , 비트 라인 에 실린 데이터 를 감지 증폭 하 기 위한 비트 라인 감지 증폭 수단 과 , 감지 증폭 인 에이블 신호 에 응답 하 여 오버 드라이빙 신호 를 생성 하 며 , 상기 오버 드라이빙 신호 는 병렬 테스트 모드 인 에 이 블 신호 에 응답 하 여 활성 화 구간 이 변동 되 는 오버 드라이빙 신호 생성 수단 , 및 상기 오버 드라이빙 신호 의 활성 화 구간 에 대응 하 는 오버 드라이빙 구간 에서 상기 비트 라인 감지 증폭 수단 의 전원 라인 을 오버 드라이빙 하 는 오버 드라이빙 수단 를 구비 하 는 반도체 메모리 소자 를 제공 한다 .