인 - 픽셀 측정 Vth 보상 방식 은 Vth 이동 을 나타내 는 값 들 이 측정 되 도록 각각 이 서브 픽셀 에 추가 회로 소자 를 추가 한다 . 오프 - 패널 회로 소자 는 이후 측정 을 처리 하 며 Vth 이동 을 보상 하 기 위해 각각 의 서브 픽셀 의 구동 을 조절 한다 . 예 를 들 어 , 나탄 ( Nathan ) 등 에 의한 , US 2006 / 0273997 ( A 1 ) 은 TFT 저하 데이터 가 주어진 전압 조건 하의 전류 또는 주어진 전류 조건 하의 전압 으로서 측정 되 도록 하 는 4 - 트랜지스터 픽셀 회로 를 개시 하 고 있 다 . 나라 ( Nara ) 등 에 의한 , US 특허 7 , 199 , 602 는 디스플레이 에 검사 상호 연결 을 추가 는 것 , 및 검사 상호 연결 에 연결 하 기 위해 디스플레이 의 각각 의 픽셀 에 스위칭 트랜지스터 를 추가 하 는 것 을 개시 하 고 있 다 . 키무라 ( Kimura ) 등 에 의한 US 특허 6 , 518 , 962 는 EL 저하 를 보상 하 기 위해 디스플레이 의 각각 의 픽셀 에 정정 TFT 를 추가 하 는 것 을 개시 하 고 있 다 . 이 들 방법 은 인 - 픽셀 Vth 보상 방식 의 단점 을 공유 하 지만 , 그러나 몇 가지 의 방법 은 추가 로 Voled 이동 또는 OLED 효율 성 손실 을 보상 할 수 있 다 .