상기 유기 막 형성 용 조성물 ( UDL - 1 ∼ 23 , 비교 UDL - 1 ∼ 14 ) 을 각각 실리콘 기판 상 에 도포 하 고 , 대기 중 , 180 ℃ 에서 60 초간 소성 하 여 , 200 nm 의 도포 막 을 형성 하 고 , 막 두께 를 측정 했 다 . 이 기판 을 또한 산소 농도 가 0 . 2 % 이하 로 관리 된 질소 기류 하 , 450 ℃ 에서 추가 로 10 분 간 소성 하 여 막 두께 를 측정 했 다 . 이 들 결과 를 표 5 에 나타낸다 .