일부 프로브 설계 들 에 따르 면 , 기재 의 근위 및 원위 표면 들 은 ( 예컨대 , 선형 트랜스 듀 서 구성 들 에 대해 ) 대체 적 으로 평행 한 평면 들 을 따라서 연장 될 수 있 다 . 선택 적 으로 , 근위 및 원위 표면 들 은 ( 예컨대 , 만곡 된 트랜스 듀 서 구성 들 에 대해 ) 대체 적 으로 동심 인 원호 들 을 따라서 연장 될 수 있 다 . 선택 적 으로 , 근위 및 / 또는 원위 표면 들 은 , 평면 이 아니 고 / 아니 거나 일정 한 곡선 을 갖 지 않 는 다른 경로 들 을 따라서 연장 되 도록 구성 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 적어도 근위 표면 은 제 1 방향 ( 예컨대 , 종 방향 ) 으로 평면 방식 으로 연장 될 수 있 지만 , 직교 제 2 방향 ( 예컨대 , 횡 방향 ) 으로 만곡 된 경로 를 따라서 연장 될 수 있 다 . 기재 의 근위 및 원위 표면 들 은 깊이 방향 을 따라서 측정 될 때 기재 의 깊이 또는 두께 만큼 서로 이격 된다 . 대체 적 으로 , 기재 의 근위 및 원위 표면 들 은 서로 에 대해 대체 적 으로 평행 하 게 배향 될 수 있 지만 , 소정 실시 예 들 에서 , 근위 및 원위 표면 들 은 서로 에 대해 평행 하 지 않 은 각도 로 배향 될 수 있 다 .