이 와 같이 도 4 에 도시 된 검사 장치 를 이용 한 검사 방법 을 이용 함 에 따라 픽셀 에 악영향 을 주 는 이물 을 조기 에 발견 하 고 이 를 제거 할 수 있 게 된다 . 이 에 따라 , 이 물 에 대한 위험부담 이 제거 된 상태 에서 포 토리 쏘 그래피 공정 및 식각 공정 을 포함 하 는 마스크 공정 들 에 의해 박막 트랜지스터 어레이 기판 , 컬러 필터 어레이 기 판 들 을 형성 할 수 있 게 되 고 , 완성 된 액정 표시 패널 에 는 이 물 이 존재 하 지 않 거나 박막 픽셀 에 영향 을 미치 지 않 을 정도 의 이물 만 이 잔존 하 게 된다 .