이 들 3 개 의 영향 중 하나 이상 을 보상 하 는 것 이 공지 되 어 있 다 . Vth 이동 , 주된 영향 및 인가 된 바이어스 와 역전 될 수 있 는 것 ( Mohan 등 , " "" Stability issue in digital circuits in amorphous silicon technology "," Electrical and Computer Engineering , 2001 , Vol . 1 , pp . 583 - 588 ) 을 고려 하 여 , 보상 방식 들 은 일반 적 으로 4 개 의 그룹 , 즉 인 - 픽셀 보상 , 인 - 픽셀 측정 , 인 - 패널 측정 및 역 바이어스 로 나눠진다 .