본 발명 은 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 및 이 를 이용 한 핀 블록 구조 에 관한 것 으로 , 보다 상세 하 게 는 검사 용 소켓 의 상 , 하 동작 또는 회동 동작 을 통해 프로브 가 단자 핀 과 접촉 하 여 회로 연결 될 때 , 프로브 가 단자 핀 을 상부 에서 가압 하 여 발생 되 는 단자 및 회로 의 파손 을 방지 하 기 위한 프로브 및 이 를 이용 한 핀 블록 구조 에 관한 것 이 다 .