도 1 은 결정 내 의 적층 무 질서 로 인해 예리 한 반사 및 확산 된 반사 를 포함 하 는 SiAlON 형광체 의 XRD 패턴 을 나타낸다 . 무 질서 도 는 소성 프로파일 의 일시 정지 시간 및 냉각 속도 에 의해 영향 을 받 을 수 있 다 . 놀랍 게 도 , 적층 의 높 은 무 질서 도 는 발광 물질 의 효율 에 영향 을 미치 지 않 는 것 으로 밝혀졌 다 . ( 적색 라인 들 로 지시 되 는 ) 예리 한 반사 들 은 a = 7 . 47 Å , b = 9 . 05 Å 및 csharp = 2 . 95 Å 을 갖 는 사방정계 서브 셀 로 인덱싱 될 수 있 다 . 확산 된 반사 들 을 포함 하 는 완전 한 패턴 은 M 5 Si 23 - xAl 3 + xOxN 37 - x 구조 의 c 방향 ( cdiff = 23 . 61 Å ) 에서 의 8 중 의 가늘 고 긴 셀 ( eight fold elongated cell ) 로서 설명 된다 .