다른 실시 예 에서 , 복수 의 장치 들 을 시험 하 기 위한 ATE 시스템 이 제공 되 며 , 이 ATE 시스템 은 시험 신호 를 처리 하 기 위한 적어도 하나 의 인쇄 회로 기판 ( PCB ) 을 갖 는 테스트 헤드 와 , 소켓 카드 조립 체 와 PCB 의 제 1 및 제 2 측면 을 서로 전기 적 으로 연결 하 기 위한 적어도 하나 의 가요 성 회로 와 , 취 급기 ( handler ) 에 의해 지지 되 는 시험 대상 장치 와 소켓 카드 조립 체 를 전기 적 으로 연결 하 도록 구성 된 인터페이스 를 포함 하 고 , 이 적어도 하나 의 가요 성 회로 는 하나 의 평면 을 따라 소켓 카드 조립 체 와 인터페이스 작용 하 고 이 하나 의 평면 에 실질 적 으로 수직 인 다른 평면 들 을 따라 PCB 의 측면 들 과 인터페이스 작용 하 도록 구성 된 규정 된 형상 을 갖 는다 .