따라서 , 이러 한 노광 불량 에 특성 을 감안 하 여 유기 전계 발광 다이오드 모 기판 ( 111 ) 에 있 어 실제 유기 전계 발광 소자 를 이루 는 각 유기 전계 발광 다이오드 패턴 주변 에 검사 패턴 ( TP ) 을 구성 함 으로써 상기 검사 패턴 ( TP ) 에 쇼트 불량 이 발생 한 경우 상기 검사 패턴 ( TP ) 과 인접 한 유기 전계 발광 다이오드 패턴 에서 도 쇼트 불량 이 발생 한 것 으로 판단 하 게 된다 .