복수 의 광원 을 포함 하 는 조명 시스템 에 대한 특성 을 측정 하 기 위하 여 기 저장 된 광원 에 대한 정보 데이터 를 이용 하 여 측정 함 으로써 , 보다 신속 한 측정 이 가능 한 조명 시스템 특성 측정 장치 및 이 를 이용 한 조명 시스템 특성 측정 방법 이 제안 된다 . 본 발명 에 따르 는 조명 시스템 특성 측정 장치 는 , 복수 의 광원 으로부터 의 광선 에 대한 정보 데이터 의 집합 인 레이 맵 을 저장 하 여 , 저장 된 레이 맵 을 이용 하 여 변경 된 정보 데이터 만 을 변경 하 여 배광 특성 을 산출 한다 .