도 6 에 도시 된 바 와 같이 , 본 발명 의 일실 시예 에서 는 에지 를 검출 하 기 위해 소벨 필터 를 사용 한다 . 도 6 은 이 차원 소벨 컨 벌 루 션 마스크 ( 2 D Sobel Convolution Mask ) 를 나타낸 것 이 다 . 이 와 같 은 소벨 필터 는 미분 연산자 에 의한 계조 값 의 변화 를 이용 하 여 에지 를 검출 한다 . 소벨 필터 는 x 축 , y 축 으로 이 차 미분 연산 을 수행 한다 . 또한 , Gx 는 x 축 편미분 을 , Gy 는 y 축 편미분 을 나타낸다 . 마스크 내 의 모든 픽셀 의 합 은 0 이 다 . 소벨 필터 를 사용 함 으로써 , 보다 효과 적 으로 에지 를 검출 할 수 있 다 .