2 번 째 모드 에서 는 동일 한 시스템 에서 제 1 회절격자 ( 31 ) 를 회전 시켜 제 1 회절격자 를 통과 한 0 차 의 빛 이 시편 ( 41 ) 에 입사 되 도록 한다 . 0 차 빛 은 제 1 회절격자 ( 31 ) 에 의해서 단순히 반사 된 빛 으로 광원 의 전체 파장 을 포함 하 고 있 다 . 샘플 을 통과 한 빛 은 검 출부 ( 7 ) 앞 에 위치 하 고 있 는 분 광부 ( 6 ) 에 의하 여 원 하 는 빛 의 파장 만 을 통과 시키 고 이 를 검 출부 ( 7 ) 에서 측정 하 게 된다 . 종래 의 측정 방법 으로 는 특정 파장 의 빛 λ 1 에 대한 3 차원 굴절 률 n ( x , y , z , λ 1 ) 을 측정 하나 , 본 발명 에 따르 면 여러 파장 λ 1 , 2 , ... 에 대해서 3 차원 굴절 률 n ( x , y , z , λ 1 , 2 , ...) 을 측정 할 수 있 다 .