퓨즈 프로그래밍 시 퓨즈 ( FUSE ) 가 외부 에 노출 됨 에 따라 , 고온 다습 의 신뢰 성 평가 ( HAST ) 시 퓨즈 ( FUSE ) 의 TiN 이 주변 의 습기 와 반응 하 여 산화 ( oxidation ) 되 어 부피 가 팽창 되 었 고 , 이 로 인해 A 부분 에 나타낸 바 와 같이 , 퓨즈 ( FUSE ) 주변 구조물 에 크랙 ( CRACK ) 이 발생 되 었 으며 , 이 크랙 으로 인해 주변 퓨즈 가 어택 ( attack ) 되 었 다 ( HAST fail ) .