다른 유형 의 검사 는 , " 하나 이상 의 "" 후보 이벤트 또는 결함 "" 에 각각 대응 할 수 있 는 비 정상 이벤트 의 위치 를 찾 기 위하 여 다이 의 이미지 피처 에 대한 통계 적 분석 을 구현 하 는 것 을 포함 하 는 단일 - 다 이 검사 이 다 . 단일 - 다 이 검사 공정 은 후보 이벤트 를 식별 하 기 위하 여 이미지 피처 를 처리 하 기 위한 임의 의 적절 한 동작 을 포함 할 수 있 다 . 예 를 들 어 ", 이미지 처리 기술 의 임의 의 적절 한 조합 이 이미지 피처 를 분석 하 고 그러 한 피처 의 컨텍스트 가 주어졌 을 때 어느 피처 가 이례 적 인지 결정 하 는 데 사용 될 수 있 다 . 간단 한 일 예 에서 , 대부분 동일 한 바 ( bar ) 의 어레이 가 측면 에 노치 가 형성 된 단일 바를 포함 하 는 경우 , 노치 는 후보 결함 으로서 간주 될 수 있 다 .