상기 한 목적 을 달성 하 기 위한 본 고안 에 따른 테스트 핸들러 는 , 고객 트레이 에서 로딩 위치 에 있 는 테스트 트레이 로 반도체 소자 를 로딩 시키 기 위한 로딩 장치 ; 상기 로딩 장치 에 의해 로딩 이 완료 된 후 상기 로딩 위치 에서 테스트 위치 로 이송 된 테스트 트레이 에 적재 된 반도체 소자 의 테스트 를 지원 하 기 위해 마련 되 는 테스트 챔버 ; 상기 테스트 챔버 상 의 상기 테스트 위치 에서 적재 된 반도체 소자 의 테스트 가 완료 된 후 상기 테스트 위치 에서 언 로딩 위치 로 이송 된 테스트 트레이 에 적재 된 반도체 소자 를 고객 트레이 로 언 로딩 시키 기 위한 언로 딩 장치 ; 및 반도체 소자 의 정전기 또는 잔존 전하 를 제거 시키 기 위한 적어도 하나 이상 의 정전기 또는 잔 존전 하 제 거기 ; 를 포함 하 며 , 상기 정전기 또는 잔 존전 하 제 거기 는 , 반도체 소자 와 접촉 되 는 전도성 브러시 ; 및 상기 전도성 브러시 의 틀 을 유지 시키 며 전기 적 으로 접지 된 브러시 프레임 을 포함 하 는 것 을 특징 으로 한다 .