본 발명 은 테스트 트레이 가 테스트 유닛 의 상측 , 테스트 유닛 , 및 테스트 유닛 의 하측 간 에 이송 되 면서 테스트 가 수행 되 도록 구현 함 으로써 , 전체 핸들러 장비 의 폭 을 축소 시킬 수 있 으며 , 그 에 따라 종래 의 핸들러 와 대비 하 여 상대 적 으로 협소 한 설치 공간 에 도 설치 가 가능 하 고 , 동일 한 설치 공간 에서 는 보다 많 은 갯 수 의 핸들러 장비 를 설치 할 수 있 으므로 , 반도체 소자 테스트 설비 의 경쟁력 을 강화 시킬 수 있 는 효과 를 가진다 .