블록 ( 122 ) 의 동작 들 이 어떠 한 이 물질 도 존재 하 지 않 고 전자 디바이스 ( 10 ) 가 존재 한다는 것 을 드러내 면 , 블록 ( 124 ) 동안 부가 적 인 검사 동작 들 이 수행 될 수 있 다 . 특히 , 도 6 과 관련 하 여 설명 된 바 와 같이 , 도 3 의 발진기 회로 부 ( 84 ) 및 스윕 핑 된 - 주파수 측정 회로 ( 94 ) 와 같 은 회로 부를 이용 한 주파수 스윕 측정 들 은 감응 성 RFID 디바이스 의 존재 를 검사 하 기 위해 수행 될 수 있 다 .