상술 한 본 발명 에 따르 면 , 반도체 장치 에서 사용 되 는 내부 전압 ( VREFC ) 을 타 겟 ( target ) 전압 에 맞춘 후 테스트 시 내부 전압 ( VREF ) 의 레벨 을 변경 하 며 불량 분석 등 을 하 려 할 경우 , 테스 트시 의 내부 전압 ( VREFC ) 을 미리 설정 한 내부 전압 ( VREFC ) 을 기준 으로 변경 하 는 것 이 가능 해진다 .