한편 , 본 개시 의 일 실시 예 에 따른 전자 장치 는 , 특정 패턴 을 갖 는 광 을 조사 하 기 위한 광원 , 상기 광 에 기초 한 반사광 을 수신 하 기 위한 센서 및 상기 광원 에 의해 조사 된 상기 광 에 기초 하 여 반사광 이 상기 센서 에 수신 되 면 , 상기 특정 패턴 및 상기 센서 에 수신 된 반사광 이 갖 는 패턴 에 기초 하 여 상기 반사광 이 물체 에 의해 반사 된 반사광 인지 또는 상기 물체 에 반사 된 후 다른 물체 에 의해 재 반사 된 반사광 인지 를 판단 하 는 프로세서 를 포함 할 수 있 다 .