테스트 ( test ) 중 번인 테스트 ( burn - in test ) 는 반도체 메모리 가 액티브 ( active ) 상태 일 때 반도체 메모리 의 입력 전압 과 주위 온도 를 실제 사용 조건 보다 더 높 은 조건 을 형성 하 여 반도체 메모리 에 스트레스 를 주 는 테스트 이 다 . 상기 번인 테스트 를 함 으로써 반도체 메모리 의 초기 결함 을 짧 은 시간 내 에 조기 발견 할 수 있 다