몇 년 간 , 매체 의 저장 밀도 는 증가 하 는 추세 이 며 저장 시스템 의 크기 는 감소 하 는 추세 이 다 . 이러 한 추세 는 보다 큰 정밀도 를 위해 필요 조건 이 되 었 으며 , 이 는 디스크 드라이브 에 사용 되 는 부품 들 에 대해 보다 엄격 한 공차 ( tolerancing ) 를 야기 시킨다 . 결국 , 더욱 엄격 한 공차 달성 은 상기 부품 들 의 특성 화 및 변수 화 ( parameterizing ) 를 위해 계측 시스템 의 강화 된 정확도 를 필요 로 한다 . 물체 의 각도 측정 은 계측 의 한 방 안 으로 , 원추형 캐비 티 들 의 각도 측정 이 일부 디스크 드라이브 설계 에서 관심 대상 이 되 고 있 다 .