일반 적 으로 테스트 트레이 ( TT ) 에 는 반도체 소자 가 안착 되 는 인서 트 ( 30 ) 가 행렬 형태 로 배열 되 어 있 는 데 , 인서 트 ( 30 ) 는 도 6 의 평면도 에서 참조 되 는 바 와 같이 반도체 소자 가 안착 되 는 안착 공간 ( 31 ) 을 가지 고 있 다 . 이러 한 안착 공간 ( 31 ) 은 도 7 의 측면도 에서 참조 되 는 바 와 같이 양 측 ( i 및 j 측 ) 이 모두 개방 되 어 있 게 되 어 있 다 . 이러 한 이유 는 i 측 방향 으로 는 반도체 소자 를 로딩 또는 언로 딩 시켜야 하 며 , j 측 방향 으로 는 안착 된 반도체 소자 가 테스터 에 전기 적 으로 접속 되 어야 만 하 기 때문 이 다 . 따라서 반도체 소자 가 적재 되 었 을 때 반도체 소자 가 j 측 방향 으로 빠지 는 것 을 방지 하 기 위한 걸 림 턱 ( 32 a , 32 b ) 이 구성 된다 . 그런데 , 로딩 시 에 도 5 와 같 은 상태 로 반도체 소자 가 인서 트 로 낙하 하 게 되 면 , 도 8 에서 참조 되 는 바 와 같이 반도체 소자 가 걸림 턱 ( 32 a , 32 b ) 에 의해 걸리 지 못하 고 인서 트 ( 30 ) 의 하방 으로 낙하 될 위험 성 이 있 게 된다 . 일반 적 으로 대한 민국 등록 특허 공보 등록 번호 제 10 - 0486412 호 ( 고안 의 명칭 : 테스트 핸들러 의 테스트 트레이 인서 트 , 이하 ' 선행 기술 4 ' 라 함 ) 에서 참조 되 는 바 와 같이 인서 트 ( 30 ) 는 적재 된 반도체 소자 를 고정 시키 기 위한 고정 장치 가 구비 되 기 때문 에 , 이러 한 고정 장치 를 해제 시키 기 위한 해제 장치 가 필요 하 다 . 그러 한 해제 장치 로서 여러 가지 구 현예 가 있 으나 대한민국 등록 특허 공보 등록 번호 제 10 - 0687676 호 ( 고안 의 명칭 : 테스트 핸 들러 , 이하 ' 선행 기술 5 ' 라 함 ) 에서 참조 되 는 바 와 같이 로딩 위치 또는 언로 딩 위치 에 있 는 테스트 트레이 의 하방 에 개방 기 를 구비 시키 는 경우 , 도 8 과 같 은 상태 에 따르 면 반도체 소자 는 인서 트 ( 30 ) 의 안착 공간 ( 31 ) 을 통과 하 여 개방 기 에 낙하 되 게 되 기 때문 에 추후 개방 기 의 작동 시 에 개방 기 가 테스트 트레이 와 적절히 교합 되 지 못하 고 잼 이 발생 하 게 되 거나 인서 트 ( 30 ) 및 반도체 소자 의 손상 을 가져오 게 된다 . 물론 , 선행 기술 5 에 따르 지 않 는 테스트 핸 들러 라고 하 더라도 , 즉 , 로딩 위치 또는 언로 딩 위치 에 있 는 테스트 트레이 의 하방 에 개방 기 를 구성 시키 지 않 는 경우 라 할지라도 , 로딩 위치 또는 언로 딩 위치 에 있 는 테스트 트레이 의 하방 에 위치 하 는 임의 의 작동 장치 로 반도체 소자 가 낙하 하 여 해당 작동 장치 의 작동 불량 을 초래 하 게 된다 .