그러나 , 곡선 형태 의 퓨즈 인 경우 컷팅 ( cutting ) 영역 과 언 컷팅 ( uncutting ) 영역 으로 구분 될 수 있 는 데 언 컷팅 영역 의 경우 퓨즈 들 이 조밀 하 게 형성 되 어 있 어 컷팅 영역 에서 컷팅 된 퓨즈 부산물 이 조밀 하 게 형성 된 언 컷팅 영역 의 퓨즈 로 산란 될 수 있 다 . 이 에 따라 언 컷팅 영역 에서 인접 한 퓨즈 들 이 전기 적 으로 쇼트 ( short ) 될 수 있 다 . 따라서 반도체 소자 의 오동작 을 유발 시킬 수 있 으며 , 반도체 소자 의 수율 이 감소 된다 .