또한 , 도 2 에서 는 , 일렬 로 종속 접속 된 복수 의 회로 ( 132 ) 를 나타냈 지만 , 다른 예 에서 는 , 복수 의 회로 ( 132 ) 가 분기 하 여 설치 되 어도 된다 . 예 를 들 어 , 도 2 에 나타낸 복수 의 회로 ( 132 ) 중 소정 의 회로 ( 132 ) 의 출력 을 분기 하 여 수취 하 는 파이프라인 을 더 가져도 된다 . 분기점 보다 후단 의 파이프라인 은 각각 동일 한 제 1 시험 주기 를 가지 는 시험 패턴 을 생성 해도 된다 . 예 를 들 어 , 분기점 보다 후단 의 파이프라인 은 각각 패턴 메모리 를 가지 고 있 어 처음 단의 회로 ( 132 ) 가 순차 적 으로 생성 하 는 어드레스 에 따른 시험 패턴 을 생성 해도 된다 . 이 경우 , 분기점 보다 후단 의 각 파이프라인 의 단수 는 동일 한 것 이 바람직 하 다 . 이 에 의해 , 제 1 시험 모듈 ( 100 - 1 ) 은 복수 의 시험 패턴 을 동기 하 여 출력 할 수 있 다 .