일례 로서 , 코일 C 1 의 측정 된 인덕턴스 가 도 10 의 인덕턴스 ( 170 ) 에 의해 주 어 지 며 코일 C 1 의 측정 된 인덕턴스 가 도 10 의 인덕턴스 ( 172 ) 에 의해 주 어 지 는 시나리오 를 고려 한다 . 이 들 인덕턴스 측정 들 이 유효 인덕턴스 곡선 들 ( 162 및 166 ) 에 속하 기 때문 에 , 디바이스 ( 12 ) 는 외부 물체 ( 160 ) 가 코일 ( 14 ) 과 중첩 하 지 않 는 것 으로 결론 내릴 수 있 다 ( 예컨대 , 물체 ( 160 ) 는 코일 ( 14 ) 과 코일 C 1 사이 에 위치 되 지 않 거나 , 또는 그렇 지 않 으면 측정 된 인덕턴스 값 들 을 교란 할 위치 에 존재 하 지 않 는다 ) . 그러나 , 외부 물체 ( 160 ) 가 코일 C 1 및 코일 ( 14 ) 과 중첩 하 는 위치 에 존재 하 는 경우 , 코일 들 C 1 및 C 2 에서 측정 된 인덕턴스 의 값 들 은 코일 들 C 1 및 C 2 에 대한 인덕턴스 들 의 임의 의 유효 세트 와 매칭 하 지 않 을 것 이 다 . 특히 , 도 10 의 예 가 증명 하 는 바 와 같이 , 물체 ( 160 ) 의 존재 는 코일 C 1 의 인덕턴스 가 포인트 ( 176 ) 의 인덕턴스 까지 상당히 떨어지 게 하 는 반면 , 코일 C 2 의 인덕턴스 는 ( 예컨대 , 포인트 ( 172 ) 의 예상 값 과 대조 적 으로 포인트 ( 174 ) 의 인덕턴스 까지 ) 약간 변할 것 이 다 . 이러 한 예 ( 포인트 들 ( 176 및 174 ) ) 에서 코일 C 1 및 C 2 의 측정 된 인덕턴스 들 의 세트 는 곡선 들 ( 162 및 166 ) 상 의 인덕턴스 들 의 임의 의 유효 세트 와 매칭 하 지 않 아서 , 디바이스 ( 12 ) 는 외부 물체 ( 160 ) 가 존재 한다고 결론 내릴 수 있 고 적합 한 동작 을 취할 수 있 다 ( 예컨대 , 전력 전송 동작 들 이 차단 될 수 있 다 ) .