또한 , 시험 장치 ( 200 ) 는 기준 클록 을 각각 다른 분 주비 로 분주 함 으로써 각각 의 시험 주기 를 가지 는 테스트 레이트 클록 을 생성 해도 된다 . 예 를 들 어 , 200 MHz 의 기준 클록 을 2 분 주한 100 MHz 의 제 1 테스트 레이트 클 록과 3 분 주한 66 . 6 MHz 의 제 2 테스트 레이트 클록 을 생성 해도 된다 .