상기 테스트 이송 부 는 상기 반도체 소자 테스트 용 핸들러 ( 1 ) 에서 각 구성 간 에 테스트 트레이 ( T ) 를 이송 하 는 구성 으로서 , 로딩 이 완료 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 로딩 부 ( 2 ) 에서 제 1 챔버 ( 4 ) 로 이송 하 고 , 테스트 가 완료 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 제 2 챔버 ( 6 ) 에서 언 로딩 부 ( 2 ) 로 이송 하 며 , 언로 딩 이 완료 된 테스트 트레이 ( T ) 를 상기 언 로딩 부 ( 3 ) 에서 로딩 부 ( 2 ) 로 이송 한다 .