제조 공정 에서 얻 은 데이터 로 훈련 시킨 알고리즘 을 개발 중 인 제품 에 적용 하 는 실험 도 하 고 있 다 . 웨이퍼 불량 원인 분석 시스템 은 이미 불량품 이 발생 한 웨이퍼 이미지 샘플 수천 장 을 학습 해 불량 패턴 을 유형 화 할 수 있 다 . 하지만 아직 데이터 가 쌓이 지 않 은 개발 제품 은 불량 이 발생 한 웨이퍼 의 이미지 샘플 을 구하 는 것 이 어렵 다 . 딥 러닝 을 통해 학습 한 알고리즘 은 그동안 나타나 지 않 았 던 새로운 종류 의 불량 까지 탐지 할 수 있 다 . 기존 에 학습 했 던 상황 과 다른 환경 에서 도 불량 패턴 을 찾아낼 수 있 도록 한 것 이 핵심 이 다 .