그래서 , 본 발명자 들 은 , 측정 자 에 의한 측정값 의 편차 를 없애 고 , 현장 에서 작업자 가 용이 하 게 측정 할 수 있 도록 , 특수 한 조명 장치 에 시료 파면 을 배치 하 여 , CCD 카메라 에 의해 그 파면 을 촬상 하 고 , 화상 을 컬러 농담 처리 하 여 소정 의 임계 값 에 의해 2 치화 처리 하 고 , 소정 의 입경 ( 예 를 들 어 100 ㎛) 이상인 사이즈 의 개 재물 개수 를 자동 계측 하 는 방법 을 개발 했 다 ( 일본 특허 출원 공개 제 2005 - 3510 호 공보 : 이하 「 종래 자동 계측 법 」 이 라 칭함 ) .