또한 , 본 발명 에 있 어서 ' 입자 표면 에 이 물 의 부착 이 대부분 인지 되 지 않 을 정도 의 표면 평활 성 ' 이 란 , 도 4 에 도시 하 는 바 와 같이 , 상기 다공질 실리카 계 입자 의 전체 표면 을 10000 배 의 주사 형 전자 현미경 으로 찍 은 사진 ( SEM 사진 ) 으로 관찰 했 을 때 , 그 표면 에 이 물 의 부착 이 대부분 인지 되 지 않 는 상태 에 있 는 것 을 말 한다 . 이 경우 , 입자 표면 에 극소 미립자 ( 도 4 에 있 어서 는 , 백색 의 점 으로서 관측 된다 . ) 등 이 일부 , 부착 된 다공질 실리카 입자 이 더라도 , SEM 사진 에서 파악 한 평면 1 ㎛ 2 당 에 존재 하 는 상기 극소 미립자 가 5 개 이하 이 면 , 이 범위 에 포함 되 는 것 으로 한다 .