도 7 a - 7 e 에 대한 참조 가 이루어지 며 , 상기 도면 에서 , 마스크 층 으로 코팅 되 어 있 고 , 9 마이크 론 에서 2 마이크 론 ( 도 7 a 가 9 마이크 론 , 도 9 b 가 7 마이크 론 , 도 7 c 가 5 마이크 론 , 도 7 d 가 3 마이크 론 , 도 7 e 가 2 마이크 론 의 바닥 반경 을 가짐 ) 까지 달라지 는 서로 다른 바닥 반경 을 갖 는 살짝 원뿔형 인 홀 ( 도 7 f 에 도시 되 어 있 음 ) 에 있 어서 의 서로 다른 반사 패턴 이 도시 된다 . 이러 한 특정 예시 에서 , 홀 의 깊이 가 30 마이크 론 , 상부 직경 이 2 . 7 마이크 론 , 바닥 직경 이 2 . 5 마이크 론 , 마스크 두께 가 2 마이크 론 이 다 . 바닥 직경 이 감소 함 에 따라 통합 시간 은 증가 한다 . 도 7 a 의 N 의 공칭 통합 시간 에 통합 시간 이 , 도 7 b 에서 토 d 이 1 . 5 N 이 고 , 도 7 c 에서 3 N , 도 7 d 에서 6 N , 그리고 , 도 7 e 에서 11 N 이 다 . 홀 의 바닥 이 둥글 게 된 경우 , 일반 적 인 입사광 이 이용 될 수 있 다 . 둥글 게 된 바닥 으로부터 반사 된 빛 이 홀 의 바닥 으로부터 퍼져 나가 는 2 차원 팬 ( fan ) 으로 뻗 어 나가 고 , 이러 한 빛 이 측벽 을 엄밀히 조사 ( probe ) 할 수 있 다 . 측벽 반사 의 개수 는 홀 프로파일 의 둥근 바닥 의 반경 과 종횡비 에 따라 달라진다 . 임의 의 측벽 기울기 가 반사 된 팬 의 각도 의 변화 를 야기 하 고 , 결과 로서 생기 는 측정 된 상 이 측벽 기울기 반사 의 개수 에 따라 달라지 는 대역 을 포함 하 고 있 다 . 따라서 , 검출기 에 수집 된 반사 된 빛 패턴 이 더 큰 공간 적 범위 에 걸쳐 펼쳐진다 . 이러 한 반사 는 또한 재 - 진입 측벽 프로 파일 을 엄밀히 조사 할 수 있 다 . 바닥 반경 의 수축 과 결부 되 는 증가 하 는 각도 의 퍼짐 으로 인해 , 다수 의 반사 에 의해 야기 되 는 손실 때문 에 , 증가 된 측정 통합 시간 또는 증가 된 광원 세기 가 요구 된다 . 평평 한 바닥 을 가진 홀 과 의 비교 에서 , 둥근 바닥 을 갖 는 홀 에 있 어서 각각 의 광선 은 홀 의 내부 에서 더 많 은 개수 의 반사 를 겪 고 , 측벽 으로 의 입사 각도 는 평평 한 바닥 에 있 어서 보다 더 낮 다 .