반도체 메모리 장치 의 고속화 경향 에 따라 그 동작 주파수 가 높 아 지 고 있 다 . 이러 한 경향 에 따라 회로 의 동작 속도 가 고속 화 되 고 있 으나 , 이 를 테스트 하 기 위한 기존 의 장비 는 저 주파수 로 동작 되 는 경우 가 대부분 이 고 고주 파수 로 테스트 가 가능 한 장비 의 경우 는 고가 이 기 때문 에 추가 투자 비 의 부담 으로 기존 테스트 장비 를 이용 해야 하 는 현실 이 다 .