각 촬상부 ( 43 a , 43 e 1 , 43 e 2 ) 에서 의 타 겟 마크 ( 42 j 4 ) 의 위치 데이터 의 검출 이 완료 되 면 , 제 어 장치 ( 110 ) 는 각 촬상부 ( 43 a , 43 e 1 , 43 e 2 ) 의 상대 위치 의 어긋남 을 구한다 . 즉 , 기억 부 ( 111 ) 에 는 , 타 겟 마크 ( 42 j 4 ) 의 기준 위치 가 촬상부 ( 43 a , 43 e 1 , 43 e 2 ) 마다 미리 기억 되 어 있 다 . 기준 위치 는 본 실시 형태 에서 는 XY 좌표 인데 , 이 XY 좌표 는 예컨대 전자 부품 ( W ) 의 실장 을 시작 하 는 전 단계 에서 각 촬상부 ( 43 a , 43 e 1 , 43 e 2 ) 를 이용 하 여 상술 한 것 과 같 은 식 으로 타 겟 마크 ( 42 j 4 ) 의 위치 를 인식 함 으로써 취득 할 수 있 다 .