레티 클 이 검사 툴 의 센서 를 지나 이동 함 에 따라 , " 레티 클 의 직사각 형 영역 또는 "" 스 와스 "" 로부터 광이 검출 되 고 ", 그러 한 검출 된 광 은 각각 의 패치 에서 다수 의 포인트 에서 다수 의 강도 값 으로 변환 된다 . 이 실시 예 에서 , 스캐너 의 센서 는 레티 클로 부터 반사 및 / 또는 투과 되 는 광 을 수신 하 고 레티 클 의 패치 의 스와 스에 대응 하 는 강도 데이터 세트 를 그 로부터 생성 하 기 위하 여 직사각 형 패턴 으로 배열 된다 . 특정 예 에서 , 각각 의 레티 클 스와 스 는 폭 이 약 백만 픽셀 이 고 높이 가 약 1000 내지 2000 픽셀 일 수 있 는 반면 , 각각 의 패치 는 폭 이 약 2000 픽셀 이 고 높이 가 1000 픽셀 일 수 있 다 .