CVD 법 으로 고품질 그래핀 을 생산 하 지만 , 가장 고유 한 그래핀 의 성능 과 비교 할 때 항상 몇 가지 단점 이 존재 한다 . 근본 적 인 이유 는 CVD 그래핀 은 항상 결함 이 있 기 때문 인데 , 한편 으로 는 성장 과정 에서 입계 와 주름 이 생기 고 다른 한편 으로 는 전사 과정 에서 도입 되 는 절 첩 , 파손 및 파열 이 발생 한다 . 연구원 들 은 센티미터 수준 의 그래핀 단결정 을 성장 시켜 입계 의 영향 을 제거 하 고 , 전사 과정 을 최적 화 하 여 절 첩 파손 의 영향 을 제거 하 였으나 , CVD 그래핀 의 성능 에 는 본질 적 인 개선 이 이루어지 지 않 았 는데 그 중요 한 이유 는 주름 이 보편 적 으로 존재 했 기 때문 이 다 .