또한 , 도 2 에 도시 된 바 와 같이 , 본 실시 예 에서 , 충전 층 ( 12 ) 은 전 극막 ( 4 ) 마다 분단 되 어 있 다 . 이 로 인해 , 충전 층 ( 12 ) 내 에 축적 된 전자 e 는 충전 층 ( 12 ) 내 에 갇혀 , 충전 층 ( 12 ) 의 외부 로 누설 되 기 쉽 지 않 다 . 따라서 , 전자 의 확산 으로 인한 데이터 의 소실 이 발생 되 기 쉽 지 않 다 . 이 결과 , 본 실시 예 에 따른 플래시 메모리 ( 1 ) 는 데이터 를 장시간 유지 함 에 있 어 높 은 신뢰 성 을 갖 는다 .