여기 서 , 상기 결정 격자 상수 는 ASTM 방법 을 참조 하 여 측정 될 수 있 다 : 티타늄 산화물 ( 아 나 타제 ( anatase ) ) 의 ( 111 ) 평면 에서 Ka 의 각 ( angle ) 은 1 차 기준 물질 ( primary reference material ) 로서 제공 하 는 실리콘 ( Si ) 을 사용 하 여 결정 된다 . Y 제올라이트 의 ( 533 ) 및 ( 642 ) 평면 으로부터 의 X - 선 회절 피크 ( X - ray diffraction peaks ) 는 2 차 기준 물질 ( secondary reference material ) 로서 제공 하 는 산화 티타늄 을 사용 하 여 측정 된다 .