마이크 로 전자 또는 집적회로 제조 기술 에 있 어서 최근 의 진화 들 은 집적 형 무선 주파수 ( RF ) 송신기 및 / 또는 수신기 회로 를 또한 갖 는 시스템 - 온 - 칩 ( SoC ) 디바이스 들 에 대하 여 진화 되 어 왔 다 . 그러 한 집적 형 무선 디바이스 들 은 셀룰러 전화 들 및 노트북 또는 랩톱 컴퓨터 들 과 같 은 무선 통신 들 에 의존 하 는 소비자 등급 제품 들 에서 일반 적 이 되 었 다 . 대량 제조 ( HVM ) 세팅 에서 그러 한 집적 형 무선 디바이스 들 의 RF 기능 을 테스트 함 으로써 갖 게 되 는 문제 는 RF 자동 테스트 설비 ( ATE ) 에서 의 최근 의 발전 들 에 의해 부분 적 으로 충족 되 어 왔 다 . 이 들 은 합성 된 ( mixed ) 아날로그 , RF 및 디지털 테스트 를 자동 화 된 웨이퍼 및 패키지 처리 능력 들 과 조합 함 으로써 높 은 테스트 처리 량 ( throughput ) 을 제공 할 수 있 다 .