도 1 에 도시 한 바 와 같 은 ITO 전극 을 갖 는 셀 을 제조 하 였 다 . 전극 A 에 직류 전압 6 . 0 V , 전극 B 에 직류 전압 0 . 5 V 를 실온 에서 24 시간 동안 인가 하 였 다 . 스트레스 해방 후 , 전극 A , B 에 직류 전압 0 . 1 내지 5 . 0 V 를 0 . 1 V 마다 인가 하 였 다 . 각각 의 전압 에서 의 전극 A , B 의 휘도 차 에 의해 소부 특성 을 판단 하 였 다 . 휘도 차 가 큰 경우 , 소부 특성 이 악화 되 었 다고 판단 하 였 다 . 소부 가 관찰 되 지 않 는 것 은 ○, 소부 가 약하 게 발생 한 것 은 △, 소부 가 강하 게 발생 한 것 은 × 로 하 였 다 .