본 발명 은 증가 된 측정 대역폭 , 즉 4 GHz 보다 큰 측정 대역폭 을 달성 하 는 , 전기 적 신호 라인 ( 14 ) 의 주파수 의 함수 로서 S - 파라미터 들 을 측정 함 으로써 특성 라인 파라미터 들 을 결정 하 는 측정 장치 에 관한 것 이 다 . 이 를 달성 하 기 위해 , 테스트 하의 전기 적 신호 라인 은 교대 방식 으로 한쪽 측면 상 에서 그라운드 에 접속 하 고 반대쪽 측면 상 에서 오픈 되 어 있 는 수개 의 인접 신호 라인 들 ( 12 ) 을 가진다 .