도 4 b 에 도시 하 듯이 , 전력 시스템 ( 170 ) 이 디스크 드라이브 테스트 시스템 ( 10 ) 에 전력 을 공급 한다 . 전력 시스템 ( 170 ) 은 테스트 슬롯 ( 500 ) 내 의 디스크 드라이브 ( 600 ) 로 의 전력 을 감 시 및 / 또는 조절 할 수 있 다 . 도 4 b 에 도시 된 예 에서 , 각각 의 랙 ( 100 ) 은 적어도 하나 의 테스트 슬롯 ( 500 ) 과 통신 하 는 적어도 하나 의 자체 - 테스트 시스템 ( 180 ) 을 구비 한다 . 자체 - 테스트 시스템 ( 180 ) 은 클러스터 콘트 롤러 ( 181 ) , 테스트 슬롯 ( 500 ) 내 의 디스크 드라이브 ( 600 ) 와 전기 통신 하 는 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) , 및 상기 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) 와 전기 통신 하 는 블록 인터페이스 회로 ( 183 ) 를 구비 한다 . 클러스터 콘트 롤러 ( 181 ) 는 , 일부 예 에서 , 디스크 드라이브 ( 600 ) 의 대략 120 자체 - 테스트 및 / 또는 60 기능 테스트 의 성능 을 갖 는 하나 이상 의 테스트 프로그램 을 실행 시키 도록 구성 된다 . 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) 와 블록 인터페이스 회로 ( 183 ) 는 자체 - 테스트 를 수행 하 도록 구성 된다 . 그러나 , 자체 - 테스트 시스템 ( 180 ) 은 디스크 드라이브 테스트 시스템 ( 10 ) 의 하나 이상 의 성분 에 대해 자체 - 테스트 루틴 을 실행 및 제어 하 도록 구성 된 자체 - 테스트 회로 ( 184 ) 를 구비 할 수 도 있 다 . 클러스터 콘트 롤러 ( 181 ) 는 이더넷 ( 예 를 들 면 , Gigabit Ethernet ) 을 거쳐서 자체 - 테스트 회로 ( 184 ) 와 통신 할 수 있 으며 , 범용 비동기 화 송수신기 ( universal asynchronous receiver / transmitter : UART ) 시리얼 링크 를 거쳐서 블록 인터페이스 회로 ( 183 ) 와 통신 할 수 있 고 접속 인터페이스 회로 ( 182 ) 및 디스크 드라이브 ( 600 ) 상 에 통신 할 수 있 다 . UART 는 대개 컴퓨터 또는 주변 장치 시리얼 포트 에 대한 시리얼 통신 을 위해 사용 되 는 개별 집 적 회로 ( 또는 집 적 회로 의 일부 ) 이 다 . 블록 인터페이스 회로 ( 183 ) 는 테스트 슬롯 ( 500 ) 의 전력 및 온도 를 제어 하 도록 구성 되 며 , 테스트 슬롯 ( 500 ) 및 / 또는 디스크 드라이브 ( 600 ) 를 여섯 개 까지 제어 할 수 있 다 .