본 발명 은 로더 를 구비 한 전자 부품 내열 성능 테스트 시스템 에 관한 것 으로 , 보다 상세 하 게 는 전자 부품 의 내열 성 을 테스트 하 기 위하 여 정해진 온도 로 전자 부품 을 히팅 한 후 에 , 전기 적 특성 을 검사 하 여 , 내열 시험 시 에 히팅 시 파손 , 단락 은 없 는지 , 전자 부품 이 가지 는 전기 적 특성 이 나타나 는지 를 내열 성능 을 테스트 하 는 장치 에 관한 것 으로 것 이 다 .