도 4 에서 알 수 있 는 바 와 같이 , 본 발명 은 노 말 동작 시 빛 에 의해 화소 ( 12 ) 로부터 발생 된 화소 전압 ( VPXL 1 ) 에 해당 되 는 신호 ( 도 4 의 Signal 참조 ) 를 인위 적 으로 발생 하 여 테스트 를 수행 할 수 있 다 . 이때 발생 되 는 전압 이 바이어스 전압 ( BIAS ) 이 다 . 이 경우 , 바이어스 전압 ( BIAS ) 은 빛 에 의해 화소 ( 12 ) 로부터 발생 된 전압 과 사실 상 동일 한 역할 을 수행 한다 . 실제로 , 빛 을 이용 하 여 화소 전압 ( VPXL ) 을 원하 는 레벨 로 조절 하 는 것 은 매우 어렵 기 때문 에 , CMOS 이미지 센서 ( 1000 ) 에 대한 테스트 가 복잡 해 지 고 비용 또한 증가 하 게 된다 . 그러나 , 본 발명 과 같이 빛 이 조사 되 지 않 은 상태 에서 화소 ( 12 ) 의 출력 단 으로 바이어스 전압 ( BIAS ) 을 직접 인가 하 게 되 면 , 인가 된 바이어스 전압 ( BIAS ) 은 마치 빛 을 이용 하 여 발생 된 화소 전압 ( VPXL ) 과 같 은 기능 을 수행 할 수 있 게 된다 . 이때 발생 되 는 바이어스 전압 ( BIAS ) 은 그 레벨 을 정량 적 으로 조절 할 수다 . 테스 트시 바이어스 전압 ( BIAS ) 은 화소 전압 ( VPXL 1 ) 대신 에 코드 화 되 고 , 코드 화 결과 ( D ) 는 버퍼 ( 30 ) 를 통해 영상 처 리부 ( 1500 ) 로 제공 된다 . 버퍼 ( 30 ) 로부터 영상 처 리부 ( 1500 ) 로 제공 되 는 출력 신호 ( CIS _ OUT ) 는 결과 적 으로 영상 감지 부 ( CIS ; 1100 ) 의 출력 신호 에 해당 된다 .