본 체부 ( 110 ) 는 하우징 ( 110 a ) 및 전자 소자 ( 300 ) 가 장착 되 는 실장 보드 ( 111 ) 를 구비 한다 . 하우징 ( 110 a ) 은 내측 에 실장 보드 ( 111 ) 를 포함 하 며 상면 에 는 개구 ( 開口 ) ( 110 b ) 가 형성 된다 . 상기 개구 ( 110 b ) 는 후술 하 는 커버 부 ( 120 ) 에 의해 폐쇄 됨 으로써 , 온도 신뢰 성 테스트 를 위한 챔버 가 형성 된다 . 또한 실장 보드 ( 111 ) 에 는 전자 소자 ( 300 ) 가 장 탈착 되 는 슬롯 ( 115 ) 과 , 슬롯 ( 115 ) 에 장착 된 전자 소자 ( 300 ) 를 분리 및 지지 하 기 위한 지지 레버 ( 113 ) 를 구비 한다 . 상기 지지 레버 ( 113 ) 및 슬롯 ( 115 ) 은 개구 ( 110 b ) 로 노출 됨 에 따라 전자 소자 ( 300 ) 의 장 탈착 이 용이 해진다 . 본 발명 의 테스트 장치 에서 테스트 할 수 있 는 시료 로 사용 되 는 전자 소자 ( 300 ) 는 예 를 들 면 , 메모리 시료 , 비 메모리 시료 및 발열 IC 소자 등 이 다 .