본 발명 의 일실 시예 에 따른 반도체 소자 테스트 핸들러 용 덕트 는 테스트 트레이 에 담겨진 반도체 소자 들 이 테스트 조건 에 상응 하 는 항온 으로 유지 되 도록 송풍 장치 로부터 공급 되 는 유체 의 온도 를 조절 하 는 온도 조성부 ; 온도 가 조절 된 상기 유체 가 상기 반도체 소자 들 에 전달 되 도록 테스트 보드 측 으로 개방 된 본체 ; 상기 본체 의 내측 에 설치 되 고 , 상기 유체 의 전달 방향 을 전환 하 여 상기 유체 가 반도체 소자 들 이 상기 테스트 트레이 에 담겨진 각 구역 별 로 전달 되 도록 복수 개 의 유로 를 형성 하 는 유로 형 성부 ; 및 상기 복수 개 의 유로 를 통해 흐르 는 상기 유체 각각 의 유량 을 조절 하 는 유량 조 절부 를 포함 한다 .