이상 에서 설명 한 바 와 같이 , 본 발명 에 의하 면 , 테스트 셀 의 게이트 전극 , 소스 영역 또는 드레 인 영역 의 전위 를 p - 웰 영역 의 전위 와 동일 한 등 전위 로 유지 시켜 테스트 셀 과 p - 웰 간 의 전위차 를 원천 적 으로 제거 함 으로써 플 라즈 마 공정 시 유도 된 플 라즈 마 이온 들 이 테스트 셀 의 게이트 절 연막 에 포획 되 는 것 을 방지 할 수 있 다 .