특히 , 연결부 는 제 1 기판 의 제 2 표면 에 형성 된 패드 들 각각 과 개별 적 으로 접촉 해야 하 기 때문 에 언급 한 패드 들 각각 에 대응 하 는 개수 를 가져야 한다 . 그러므로 , 최근 의 대구경 화 를 요구 하 는 반도체 소자 에 대응 하 기 위한 전기 검사 장치 는 수천 내지 수만 개 의 연결부 를 포함 한다 . 이때 , 연결부 는 제 1 기판 과 제 2 기판 사이 에서 수직 방향 으로 유지 되 는 가압 에 의해 제 1 기판 과 제 2 기판 을 전기 적 으로 연 결하 는 구조 를 갖 는다 .