또한 , 본 발명 에서 는 , 상기 물품 의 온도 를 측정 하 는 온도 측정 수단 을 또한 구비 하 도록 하 여도 좋 다 . 여기 서 , 하등 의 이상 에 의해 물품 이 변형 할 때 에 는 , 온도 의 변화 를 수반 하 는 경우 가 많 다 . 예 를 들 면 , 물품 의 내부 에서 화학 변화 가 생기 는 것 같 은 경우 이 다 . 이 에 의하 면 , 물품 의 이상 에 수반 하 는 변형 에 아울러서 물품 의 온도 변화 를 측정 할 수 가 있 어서 , 이 2 개 의 파라미터 에 의거 하 여 보다 정밀 도 좋 게 , 물품 의 이상 을 검출 하 는 것 이 가능 하 다 . 또한 , 이 경우 에 는 , 온도 측정 수단 은 온도 센서 라도 좋 고 , 당해 온도 센서 는 , 압력 을 측정 하 는 센서 의 패키지 내 에 아울러서 마련 되 어도 좋 다 . 또는 , 다른 파라미터 로부터 온도 를 추측 하 는 수단 이라도 좋 다 .