도 1 에서 알 수 있 듯이 , 종래 의 테스트 핸들러 는 회 전부 ( 10 ) , 제 1 챔버 ( 20 ) , 테스트 챔버 ( 30 ) 및 제 2 챔버 ( 40 ) 를 포함 하 여 이루어지 고 , 상기 회 전부 ( 10 ) , 제 1 챔버 ( 20 ) , 테스트 챔버 ( 30 ) 및 제 2 챔버 ( 40 ) 사이 를 테스트 트레이 ( 1 ) 가 이동 하 게 된다 . 상기 테스트 트레이 ( 1 ) 에 는 반도체 소자 가 수용 되 게 된다 .