상기 제 1 매트릭스 물질 ( 113 ) 및 상기 제 2 매트릭스 물질 ( 130 ) 의 굴절 률 각각 은 , 굴절 률 측정기 ( 예 를 들 면 , Ellipsometer ( Ellipsometer M - 2000 , J . A . Woollam ) ) 를 이용 하 여 양자 점 - 함유 물질 ( 1 ) 중 양자 점 ( 111 ) 을 제외 한 제 1 매트릭스 물질 ( 113 ) 및 제 2 매트릭스 물질 ( 130 ) 만 의 굴절 률 을 각각 측정 ( 예 를 들 면 , 하 기 평가 예 4 참조 ) 하 거나 , 양자 점 ( 111 ) 없이 상기 제 1 매트릭스 물질 ( 113 ) 로 만 이루어진 박막 또는 입자 및 상기 제 2 매트릭스 물질 ( 130 ) 로 만 이루어진 박막 또는 입자 제작 후 , 이 의 굴절 률 을 측정 함 으로써 , 평가 될 수 있 다 .