특정 한 애플리케이션 에서 , 최소 센서 판독 값 의 임계 값 ( 610 ) 은 위 또는 아래 로 조절 될 수 있 고 , " 다른 "" 관심 영역 "" 이 나타나 게 할 수 있 다 . 식 1 은 모든 센서 판독 값 에 대하 여 ", 또는 특정 한 관심 영역 에 대응 하 는 하나 의 서브 세트 의 센서 판독 값 에 대하 여 , CG 를 판정 할 수 있 는 방법 의 일부분 으로서 사용 될 수 있 다 . 하나 의 예 에서 , 사전 결정 된 경로 를 따라 지 면 상 에 배치 된 자기 스트립 또는 테이프 는 단일 극성 ( 모두 북극 , 남극 등 을 향함 ) 으로 한정 되 고 , 반대 극성 을 가진 자기 테이프 의 개별 적 인 또는 나누 어 진 조각 들 이 위치 표식 으로서 사용 될 수 있 다 . 예 를 들 어 , 공장 바닥 주변 의 주경로 가 북극 을 향하 는 자기장 을 발생 시키 는 자기 스트립 또는 테이프 에 의해 결정 되 어 있 다면 , 남극 을 향하 는 테이프 의 작 은 부분 이 도킹 또는 충전 소 등 의 위치 를 식별 하 기 위해 사용 될 수 있 다 . 또한 , 다른 기술 이 상기 제공 된 자기장 중심 분석 과 더불 어 또는 그것 을 대신 하 여 사용 될 수 있 다 . 앞선 설명 이 본 발명 의 하나 이상 의 바람직 한 예시 적 인 실시 예 일 뿐 임 을 이해 해야 한다 . 본 발명 은 본 명세서 에 개시 된 특정 한 실시 예 로 제한 되 지 않 고 , 아래 의 청구 항 에 의해서 만 정의 된다 . 또한 , 특정 실시 예 에 관하 여 앞선 설명 에 포함 된 진술 은 용어 또는 구문 이 앞서 분명 하 게 정의 된 경우 를 제외 하 고는 본 발명 의 범위 또는 청구 항 에 사용 된 용어 의 정의 를 제한 하 는 것 으로 해석 되 지 않 아야 한다 . 개시 된 실시 예 에 대한 다양 한 다른 실시 예 및 다양 한 변형 및 수정 이 당업자 들 에게 명백 할 것 이 다 . 모든 이러 한 다른 실시 예 , 변형 , 및 수정 은 첨부 된 청구 항 의 범위 내 에 속하 는 것 으로 의도 되 었 다 .