측정 의 적응 모드 가 , 특히 , 잘 알려 지 지 않 은 홀 프로파일 의 샘플 의 분석 이 수행 될 때 구현 될 수 있 다 . 이러 한 측정 의 적응 모드 에서 , 강하 게 인식 가능 한 특징 부 를 갖 는 뚜렷 한 상 이 얻 어 질 때 까지 측정 상 을 연속 하 여 획득 하 는 동안 , 조명 시스템 파라미터 가 달라질 수 있 다 . 달라질 수 있 는 파라미터 는 입사 의 각도 , 회전 각도 , 파장 , 발산 각도 를 포함 할 수 있 으나 이 에 한정 되 는 것 은 아니 다 . 인식 가능 한 특징 부로 는 언더 필 된 링 ( under - filled ring ) , 점 ( spot ) , 하이 - 앵글 신호 링 , 첨단 ( cusp ) 을 갖 는 링 , 측벽 반사 의 개수 에 의존 하 는 대역 이 포함 되 나 , 이 에 한정 되 는 것 은 아니 다 .