예비 산화 시험편 의 표면 을 XRD ( X - ray diffraction 리 가 쿠 제조 RINT - 2500 ) 로 분석 하 여 , 탄화물 , 붕화물 및 질화물 의 상 을 동정 ( 同定 ) 하 였 다 . 다음 으로 , 예비 산화 시험편 의 산화물 층 의 단면 을 , FE ( Field emission ) - EPMA ( 일본 전자 제조 JXA - 8530 F ) 로 분석 하 였 다 . Cr , Mn 등 의 합금 원소 와 산소 , 탄소 및 붕소 의 분포 를 분석 하 여 , Cr 산화물 층 및 스피넬 형 산화물 층 의 두께 를 측정 하 였 다 . 또한 , 탄소 및 붕소 의 분포 로부터 탄화물 및 붕화물 의 위치 를 특정 하 여 , 석출 물 의 돌출 위치 가 , Cr 산화물 층 의 위 이 며 , 스피넬 형 산화물 층 내 인지 , 스피넬 형 산화물 층 의 위 인지 에 대해서 조사 하 였 다 .