잘 알려진 바 와 같이 , 프로브 카드 ( probe card ) 는 미세 구조 , 특히 반도체 웨이퍼 상 에 집적 된 전자 소자 의 복수 의 콘 택 패드 들 ( contact pads ) 을 , 상기 미세 구조 에 대한 기능 성 테스트 , 특히 전기 적 테스트 를 수행 하 거나 총칭 하 여 테스트 를 수행 하 는 테스트 장치 의 대응 하 는 채널 들 과 전기 적 으로 연결 할 수 있 도록 구성 된 장치 이 다 .