64 개 의 핀 을 테스트 할 수 있 는 테스트 장치 로 상술 한 바 와 같 은 병렬 테스트 회로 가 구비 된 메모리 장치 를 테스트 할 경우 한 번 에 테스트 할 수 있 는 칩 ( Chip ) 의 수 는 16 개 가 된다 . 만약 하나 의 칩 에서 나오 는 데이터 의 옳 고 그름 을 하나 의 핀 으로 판단 할 수 있 게 하 면 한 번 에 테스트 할 수 있 는 칩 의 수 는 64 개 가 되 고 , 이 는 테스트 시간 과 비용 을 크 게 줄일 수 있 게 된다는 장점 이 있 다 .