본 발명 의 실시 예 는 , 전자 퓨즈 회로 의 동작 방법 을 제공 하 고 , 전자 퓨즈 회로 는 , 메모리 장치 에 적용 되 고 , 전자 퓨즈 는 , 복수 의 전자 퓨즈 세트 및 제 어 회로 를 포함 하 고 , 각 전자 퓨즈 세트 는 , 복수 의 전자 퓨즈 를 포함 하 고 , 동작 방법 은 , 전원 이 온 으로 될 때 에 각 전자 퓨즈 세트 를 검출 하 여 검출 신호 를 생성 하 는 것 을 포함 하 지만 , 이것 으로 한정 되 는 것 은 아니 다 . 검출 신호 에 근거 하 여 , 각 전자 퓨즈 세트 의 복수 의 전자 퓨즈 가 용단 되 어 있 는지 여부 를 판정 한다 . 복수 의 전자 퓨즈 에 대하 여 용단 동작 을 실시 할지 여부 를 결정 한다 . 검출 신호 에 근거 하 여 복수 의 전자 퓨즈 중 적어도 하나 의 전자 퓨즈 가 용단 된 전자 퓨즈 라고 판정 할 때 , 적어도 하나 의 용단 된 전자 퓨즈 가 속하 는 전자 퓨즈 세트 의 덮어쓰 기 동작 을 디스 에이블 로 한다 .