그러나 , GI 부가 유닛 ( 502 ) 에서 , OFDM 심볼 의 샘플 값 열 이 , 유효 심볼 의 샘플 값 열 의 전단 의 특정수 의 샘플링 포인트 를 복사 하 고 , 그 복사 된 샘플링 포인트 를 유효 샘플 의 샘플 값 열 의 후미 에 부가 하 는 방식 으로 생성 되 는 경우 , 복조 처리 는 GI 부가 유닛 ( 502 ) 의 처리 의 설명 에서 예시 한 바 와 같 다 . 보다 구체 적 으로 는 , GI 에 대응 하 는 부분 인 OFDM 심볼 의 샘플 값 열 의 전단 의 특정수 의 샘플링 포인트 를 제거 하 고 , 그 부분 에 후단 의 특정수 의 샘플링 포인트 를 이동 시켜 생성 되 는 샘플 값 열 이 유효 심볼 로서 취급 되 어 복조 될 수 있 다 ( 도 12 a , 12 b 의 다른 방법 으로 생성 되 는 OFDM 심볼 및 그 복조 시 의 유효 심볼 을 도시 한 도면 을 참조 ) .