모든 AFM 실험 을 디지털 장비 , 즉 0 . 8 - 1 Hz 의 스캔 속도 로 24 ± 1 ℃ 에서 탭핑 모드 ( tapping mode ) 로 Nanoscope IV 컨트롤러 를 갖춘 Dimension 3100 AFM ( Veeco , Santa Babara , CA ) 상 에서 수행 하 였 다 . 울트라 - 샤프 MikroMasch 실리콘 컨 틸 레버 ( cantilever ) ( NSC 15 시리즈 , 125 ㎛ 길 이 , 팁 ( tip ) 반지름 < 10 nm , 스프링 상수 ~ 40 N / m , 공진 주파수 ~ 300 KHz ) 를 사용 하 였 다 . 위상 이미지 ( topographic images ) 는 형상 의 팁 압축 의 효과 를 최소 화 시키 기 위해 안정 한 이미지 를 수득 하 기 에 충분 한 광 탭핑 하 에 찍 었 다 . 모든 이미지 들 을 이미지 당 512 x 512 픽셀 로 캡 춰 하 였 고 일 순위 평판 화 를 사용 하 여 Nanoscope 이미지 분석 소프트웨어 ( version 5 . 12 r 3 ) 를 사용 하 여 분석 하 였 다 ( 상기 문헌 : 19 )