또한 , 유기 EL 패널 ( P ) 의 가장자리 부를 지지 하 는 지 지부 ( 42 b ) 는 , 얼라인먼트 마크 에 대응 하 는 위치 에 위아래 로 관통 한 절 결부 를 형상 하 여 , 하측 에서 라도 얼라인먼트 마크 를 시인 할 수 있 게 한 실험 용 으로 제작 한 것 을 사용 했 다 . 유기 EL 패널 ( P ) 을 유리판 으로 제작 한 것 은 , TEG 을 투과 하 여 얼라인먼트 마크 를 인식 했 을 때 라도 그 인식 정밀도 에 TEG 의 휘어짐 이나 주름 또는 투과율 등 이 영향 을 주 는 것 을 최대한 방지 하 기 위해서 이 다 .