반면 에 , 앞 으로 설명 될 본 발명 의 다른 일실 시예 에 따른 전자 부품 검사 장치 는 유리판 위 에 2 개 이상 , 바람직 하 게 는 2 개 의 궤도 를 형성 시키 고 , 상기 리니어 피더 수단 , 정렬 수단 , 촬영 수단 , 분류 수단 등 도 상기 궤도 의 수 에 맞춰 2 개 씩 구비 시켜 상기 2 개 의 궤도 에 있 는 전자 부품 각각 에 대해 검사 가 이루어진다 . 이 에 따라 동일 한 시간 내 에 전자 부품 검사 효율 을 배 ( 倍 ) 로 증가 시킬 수 있 다 .