상기 회로 기판 검사 장치 ( 100 ) 는 프로브 부 ( 110 ) 및 고정부 ( 120 ) 를 포함 할 수 있 다 . 상기 프로브 부 ( 110 ) 는 검사 대상물 ( 10 ) 의 전기 적 인 특성 을 검사 하 는 구성 일 수 있 다 . 상기 프로브 부 ( 110 ) 는 프로브 판 ( 112 ) 및 상기 프로브 판 ( 112 ) 에 구비 된 테스트 핀 들 ( 114 ) 을 포함 할 수 있 다 . 상기 프로브 판 ( 112 ) 은 상기 회로 기판 ( 10 ) 의 상부 에 배치 되 며 , 상기 테스트 핀 들 ( 114 ) 의 상기 프로브 판 ( 112 ) 의 하부 면 에 구비 될 수 있 다 .