그러나 , 상기 마스크 가 상대 적 으로 수평 및 수직 으로 이동 하 여 상기 레이저 빔 이 상기 기판 에 조사 될 때 , 상기 레이저 빔 이 오버랩 ( overlap ) 되 어 상기 기판 에 2 번 조사 될 수 있 다 . 즉 , 상기 기판 은 상기 레이저 빔 이 한 번 조사 되 는 제 1 영역 및 2 번 조사 되 는 제 2 영역 으로 구분 될 수 있 다 . 이때 , 상기 제 1 및 제 2 영역 은 서로 다른 전기 적 인 특성 을 가질 수 있 다 .