하지만 , 본 발명 에 따른 유기 전계 발광 다이오드 모 기판 ( 111 ) 은 검사 패턴 ( TP ) 을 이용 하 여 유기 전계 발광 다이오드 패턴 ( OEDP 1 내지 ODP 4 ) 의 불량 유무 를 판단 함 으로써 선택 적 으로 어레이 패턴 모 기판 과 합착 절단 하 여 최종 적 으로 유기 전계 발광 소자 를 제조 함 으로써 불량 없 는 완성품 의 수율 을 증대 시킬 수 있 으며 , 불량 이 발생 하 지 않 은 어레이 패턴 의 소비 를 억제 함 으로써 생산비 를 절감 시킬 수 있 는 것 이 본 발명 의 장점 이 된다 .