본 발명 의 다른 실시 예 에 따른 데이터 처리 시스템 은 리드 데이터 와 리드 명령 을 생성 하 는 호스트 ; 및 비휘발성 메모리 장치 , 상기 비휘발성 메모리 장치 에 구비 된 복수 의 메모리 블록 들 의 복수 의 페이지 각각 의 에러 비트 정보 를 바탕 으로 상기 복수 의 페이지 중 상기 에러 비트 정보 가 에러 임계 치 를 넘어서 는 페이지 들 을 에러 가능 페이지 로 선정 하 고 , 상기 에러 가능 페이지 각각 의 상기 에러 비트 정보 에 대한 우선순위 를 부여 하 고 , 상기 에러 가능 페이지 중 상기 우선 순위 가 기 설정 된 임계 치 를 넘어서 는 에러 가능 페이지 에 테스트 리드 동작 을 수행 하 는 컨트롤러 를 포함 하 는 메모리 시스템 을 포함 할 수 있 다 .