이상 에서 설명 한 바 와 같이 , 본 발명 에 의한 반도체 검사 장치 는 , 프로브 카드 보드 의 니들 을 상측 으로 연장 형성 시키 고 , 그 연장 된 니 들 이 퍼포먼스 보드 의 하판 을 관통 하 여 상판 의 접촉 단자 와 직접 연결 됨 으로써 , 연장 형성 된 니들 을 통한 연결부 의 단순 화 로 누전 의 원인 을 줄여 보다 정확 한 측정 결과 를 얻 을 수 있 다 . 또한 , 구조 의 단순 화 로 제작 비용 이 절감 됨 은 물론 , 시 그날 패스 ( signal pass ) 가 짧아져서 테스트 의 시간 이 단축 되 는 효과 를 가지 고 있 다 .