도 4 에서 예시 되 는 대안 적 인 구성 에서 , 조명 빔 ( 456 ) 의 입사각 은 수직 축 ( N ) 과 동일 하 거나 또는 수직 축 ( N ) 에 매우 근접 한다 . 따라서 , 반사 축 ( R ) 과 0 차 반사 빔 ( 458 ) 의 방향 은 수직 축 과 도 역시 일치 한다 . 따라서 , 회절 스펙트럼 의 대향 하 는 부분 은 , 수직 축 의 양측 에서 대칭 적 으로 발견 된다 . 검출 시스템 ( 418 ) 은 , 이 경우 , 수직 축 및 조명 빔 ( 456 ) 의 양측 으로 ( 그리고 Y 방향 에서 도 또한 ) 대칭 적 으로 연장 된다 . 검출 시스템 ( 418 ) 은 , 이 경우 , 조명 빔 ( 456 ) 의 통과 를 위해 사이 에 공간 을 갖 는 별개 의 검출기 어레이 를 포함 할 수 도 있 다 . 대안 적 으로 , 검출 시스템 ( 418 ) 은 , 이 경우 , 조명 빔 ( 456 ) 의 통과 를 위해 사이 에 스펙 을 갖 는 별개 의 검출기 어레이 를 포함 할 수 도 있 다 . 대안 적 으로 , 검출 시스템 ( 418 ) 은 , 조명 빔 ( 456 ) 및 0 차 빔 ( 458 ) 의 통과 를 허용 하 기 위한 어퍼 쳐 가 내부 에 형성 된 단일 의 2 차원 이미지 센서 를 포함 할 수 도 있 다 . 센서 또는 센서 들 은 , 그 들 이 조명 방사선 및 타 겟 의 상호 작용 으로부터 원거리 장 산란 패턴 ( far - field scatter pattern ) ( 회절 스펙트럼 ) 을 포착 할 곳 에 배치 된다 .