상기 한 목적 을 달성 하 기 위해 , 본 발명 은 , 복수 의 디바이스 가 수용 되 는 수 용부 , 상기 수 용부 의 상측 에 착 탈 가능 하 게 설치 되 어 상기 수 용부 의 적어도 일부 를 선택 적 으로 가압 하 는 리드 부 및 , 상기 디바이스 와 상기 테스트 부 를 전기 적 으로 연결 하 기 위한 회로 를 형성 하 고 상기 리드 부 에 의한 가압 시 상기 수 용부 의 디바이스 와 선택 적 으로 연결 되 는 회로 부를 포함 하 는 반도체 디바이스 테스트 보드 를 제공 한다 .