일 측면 에서 , 측정값 은 기준 디바이스 기준 으로 커패시턴스 측정 에 기초 한다 . 일 측면 에서 , 커패시턴스 측정 은 디바이스 내 의 임의 의 전극 의 위치 및 다른 측면 에 의존 할 수 있 다 . 이러 한 변동 은 SEM Scanner Model 200 ( Bruin Biometrics , LLC , Los Angeles , CA ) 과 같 은 기준 SEM 디바이스 와 비교 될 수 있 다 . 당업자 는 본원 에서 설명 된 측정 이 기준 디바이스 를 참조 하 여 차이 커패시턴스 범위 를 수용 하 도록 조정 될 수 있 음 을 이해 한다 .