특히 , 도 1 은 테스트 헤드 ( 1 ) 를 포함 하 는 프로브 카드 ( 15 ) 를 개략 적 으로 도시 하 는데 , " 테스트 헤드 ( 1 ) 는 순차 적 으로 적어도 하나 의 판상 형 서포트 또는 일반 적 으로 "" 상부 다이 ( die ) "" 를 가리키 는 "" 상부 가이드 ( guide ) ( 2 ) "" 와 "," 판상 형 서포트 또는 일반 적 으로 "" 하부 다이 ( die ) "" 를 가리키 는 하부 가이드 ( guide ) ( 3 ) 를 포함 하 며 ", 상부 가이드 ( 2 ) 와 하부 가이드 ( 3 ) 는 각각 의 가이드 홀 들 ( 4 , 5 ) 을 가지 고 , 콘 택 프로브 들 ( 6 ) 이 각 가이드 홀 내 로 슬라이딩 된다 .