일 실시 예 에서 , 상기 ( I ) 프로세스 에서 , 상기 프로세서 는 , 상기 제 1 내지 상기 제 k 컨 벌 루 션 레이어 로 하여금 상기 테스트 이미지 및 상기 제 1 내지 상기 제 ( k - 1 ) 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 의 사이즈 를 순차 적 으로 감소 시키 고 , 상기 테스트 이미지 및 상기 제 1 내지 상기 제 ( k - 1 ) 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 의 채널 수 를 증가 시켜 상기 제 1 내지 상기 제 k 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 을 각각 출력 하 도록 하 고 , 상기 제 1 내지 상기 제 h 마스크 레이어 로 하여금 상기 h 개 의 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 으로부터 상기 주파수 의 변화 가 상기 기 설정 된 임계 치 보다 큰 상기 영역 을 추출 함 으로써 상기 제 1 내지 상기 제 k 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 중 에서 상기 제 1 내지 상기 제 h 마스크 레이어 에 각각 입력 될 상기 h 개 의 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 으로부터 상기 테스트 용 에지 부분 을 추출 하 여 상기 제 1 내지 상기 제 h 테스트 용 밴드 패스 특징 맵 을 출력 하 도록 하 고 , 상기 ( II ) 프로세스 에서 , 상기 프로세서 는 , 상기 제 k 내지 상기 제 1 디컨 벌 루 션 레이어 로 하여금 상기 제 k 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 및 상기 제 k 내지 상기 제 2 테스트 용 디 코디 드 특징 맵 의 사이즈 를 순차 적 으로 증가 시키 고 상기 제 k 테스트 용 인 코디 드 특징 맵 및 상기 제 k 내지 상기 제 2 테스트 용 디 코디 드 특징 맵 의 채널 수 를 순차 적 으로 감소 시켜 상기 제 k 내지 상기 제 1 테스트 용 디 코디 드 특징 맵 을 각각 출력 하 도록 한다 .