다음 에 , S 200 에서 , 교점 Int 를 검출 할 때 의 파라미터 및 교점 Int 둘레 의 에지 를 검출 할 때 의 파라미터 를 설정 한다 . 자세 하 게 는 , 교점 검출 용 의 가중 계수 ( 도 7 ( b ) 의 계수 ) 와 임계 값 , 샘플링 라인 길 이 SL ( 도 5 ( c ) 중 의 부호 SL ) 과 샘플링 라인수 SN ( 도 5 ( c ) 중 의 부호 SN ) , 교점 Int 로부터 샘플링 라인 까지 의 간격 S ( 도 7 ( d ) 중 의 부호 S ) 등 을 나타내 는 파라미터 등 을 설정 한다 .