도금 층 바로 아래 의 강판 표층 부 에 있 어서 의 개 재물 의 형성 상황 을 확인 하 려면 , 단면 을 경면 연마 한 샘플 의 SEM ( 주사 형 전자 현미경 ) 관찰 , 또는 FIB ( 집속 이온 빔 ) 등 에 의해 박편 화 된 샘플 의 단면 TEM ( 투과 형 전자 현미경 ) 관찰 등 이 유효 하 다 . 개 재물 의 동정 ( identification ) 은 , 예 를 들 면 , 단면 연마 샘플 의 SEM - EDS ( 에너지 분산 형 X 선 분석 ) , EPMA ( 전자선 마이크 로 애널라이저 ) , FE - AES ( 전계 방사형 - 오거 전자 분광 ) , 더욱 상세 한 해석 에 는 , 박편 화 샘플 이나 단면 연마 시료 로부터 취득 한 레플리카 ( replica ) 시료 의 TEM - EDS 등 으로 행할 수 있 다 .