또한 , 측정 대상 ( 시험 대상 ) 인 피 시험 반도체 소자 ( LSI 칩 ) 에 따라 다른 회로 구성 을 갖 는 회로 기판 을 사용 할 필요 가 있 는 경우 가 있 고 , 이러 한 경우 에 , 적당 하 게 , 회로 기판 ( 30 ) 을 선택 하 여 사용 함 으로써 , 피 시험 반도체 소자 ( LSI 칩 ) 마다 정확 하 게 측정 ( 시험 ) 을 행하 는 것 이 가능 하 다 .