도 1 a 및 1 b 는 본 발명 의 다양 한 실시 예 를 구현 하 기 에 적합 한 커패시턴스 측정 디바이스 의 터치 센서 예 를 도시 한다 . 소정 응용 에서 , 도시 된 디바이스 는 터치 대상 의 존재 로 인해 센서 표면 상 의 복수 의 위치 에서 커패시턴스 , 또는 상대 적 커패시턴스 를 측정 함 으로써 센서 표면 에 연결 된 터치 대상 과 관련 된 정보 를 판단 한다 . 예 를 들 어 , 도 1 a 의 디바이스 ( 10 ) 는 센서 ( 12 ) 의 모서리 에 위치 하 는 것 으로 도시 된 커패시턴스 Cx 1 내지 Cx 4 가 제어기 ( 14 ) 에 의해 측정 되 는 4 - 선 용량 성 ( 아날로그 용량 성 이 라고 도 하 는 ) 센서 시스템 을 나타낸다 . 센서 ( 12 ) 는 ( 3 M 터치 시스템 사 ( 3 M Touch Systems , Inc . ) 에서 Cleartek 이 라는 상표명 으로 구입 가능 한 용량 성 터치 센서 와 같 은 ) 연속 저항 층 이 거나 , ( 2007 년 4 월 12 일 에 출원 된 공동 양도 된 미국 특허 출원 제 11 / 734 , 553 호 에 개시 된 센서 와 같 은 ) 패턴 화 된 또는 분할 된 저항 층 이 거나 , 또는 다른 적합 한 센서 일 수 있 다 . 다른 예 로서 , 도 1 b 의 디바이스 ( 20 ) 는 전극 의 직교 세트 와 , ( 미국 특허 공개 제 2007 / 0074913 호 에 개시 된 것 과 같 은 ) 각 전극 에서 커패시턴스 를 측정 하 는 제어기 ( 24 ) 를 포함 하 는 매트릭스 용량 성 센서 시스템 을 나타낸다 . 본 발명 의 실시 예 는 또한 버튼 과 스위치 응용 ( 개별 적 으로 또는 어 레이로 ) , 선형 슬라이더 제어 , 등 을 위한 커패시턴스 를 측정 하 기 위해 사용 될 수 있 다 .