대안 적 으로 , 도 2 b 에 도시 된 바 와 같이 , 빔 편 향기 ( 122 ) 는 빔 위치 들 ( 222 , 232 ) 과 각각 연관 된 대표 적 인 직교 축들 ( 224 , 226 및 234 , 236 ) 과 같 은 , 축 ( 110 ) 을 가로지르 는 하나 이상 의 축들 을 따라 CPB 를 스캔 할 수 있 다 . 대개 , 이러 한 많 은 축 을 따라 스캔 이 실행 된다 . 도 2 c 에 도시 된 바 와 같이 , 244 , 246 과 같 은 스캔 축 들 은 X , Y 좌표 들 과 연관 된 좌표 축들 에 대한 임의 의 배향 에서 사용 될 수 있 다 . W - 형상 또는 나선형 과 같 은 다른 스캔 패턴 이 사용 될 수 도 있 다 .