상술 한 바 와 같이 , 본 발명 에 의하 면 고속 푸리에 변환 에 따른 주파수 스펙트럼 분석 을 통하 여 디 펙 검사 를 실행 함 으로써 , 디 펙 의 종류 별 로 디 펙 의 발생 유무 를 판정 할 수 있 는 효과 가 발생 된다 . 특히 , 한 번 의 디 펙 테스트로 서멀 아 스펠리 티 디 펙 , 마이크 로 디 펙 및 신호 레벨 디 펙 을 함께 검사 할 수 있 으며 , 또한 종래 의 기술 에 비하 여 정확 하 게 디 펙 을 검사 할 수 있 는 효과 가 발생 된다 .