제 1 평면 ( E 14 ) 이 제 1 측정 눈금 ( T 14 ) 의 눈 금선 들 의 방향 으로 스캐닝 유닛 ( A 14 ) 의 스캐닝 위치 를 통과 하 여 표면 ( O 4 ) 에 대해 수직 이 고 , 제 2 평면 ( E 24 ) 이 제 2 측정 눈금 ( T 24 ) 의 눈 금선 들 의 방향 으로 스캐닝 유닛 ( A 24 ) 의 스캐닝 위치 를 통과 하 여 표면 ( O 4 ) 에 대해 수직 이 면 , 이러 한 2 개 의 평면 ( E 14 , E 24 ) 사이 에 공통 의 교 차축 ( S 4 ) 이 생성 된다 . 이제 , 이러 한 교 차축 ( S 4 ) 이 마찬가지 로 점 ( P ) 을 통과 하 는 것 이 매우 유리 하 다 .