최종 적 으로 불량 검 출부 ( 240 _ 0 ) 는 로직 하이 레벨 의 제 1 값 ( DN _ FAIL ) 및 제 2 값 ( UP _ FAIL ) 을 토대 로 로직 로우 레벨 의 불량 판정 신호 ( FAIL < 1 >) 를 생성 할 수 있 다 . 테스트 장치 ( 미 도시 ) 혹은 메모리 컨트롤러 ( 미 도시 ) 는 로직 로우 레벨 의 불량 판정 신호 ( FAIL < 1 >) 를 토대 로 실제로 사용 되 는 관통 전극 ( TSV 01 ) 이 결함 이 없 다고 판단 할 수 있 다 .