또한 , 상기 와 같이 도 3 에 도시 된 본 발명 의 일실 시예 에 따른 반도체 소자 테스트 용 핸들러 및 테스트 방법 에서 로딩 부 및 언로 딩 부 의 위치 를 달리 하 는 실시 예 들 은 , 도시 되 지 는 않 았 지만 , 도 4 에 도시 된 본 발명 의 다른 실시 예 및 도 5 에 도시 된 본 발명 의 또 다른 실시 예 에 도 동일 하 게 적용 할 수 있 는 것 이 며 , 이 또한 당업자 가 상술 한 실시 예 에 따른 설명 으로부터 용이 하 게 도출 하 여 적용 할 수 있 으므로 , 이 에 대한 상세 한 설명 은 생략 하 기 로 한다 .