이 때 , 슬라이더 ( 13 ) 에 고정 된 브러시 ( 16 ) 가 아치형 상 부재 ( 8 ) 의 제 1 및 제 2 띠 부재 ( 10 및 11 ) 의 표면 에 각각 접촉 하 면서 슬라이더 ( 13 ) 가 이동 하 고 , 제 1 및 제 2 띠 부재 ( 10 및 11 ) 는 각각 그 길이 에 비례 한 저항 값 을 가지 고 있 다 . 이 때문 에 , 도 6 에 나타내 는 바 와 같이 , 제 1 띠 부재 ( 10 ) 의 일단 ( A ) 으 로부터 제 2 띠 부재 ( 11 ) 의 일단 ( B ) 까지 의 저항 값 은 , 아치형 상 부재 ( 8 ) 를 따른 슬라이더 ( 13 ) 의 이동 위치 에 대응 이 된다 . 따라서 , X 축 둘레 회전 위치 측정 회로 ( 17 ) 에서 AB 간 의 저항 값 을 계측 함 으로써 , 슬라이더 ( 13 ) 의 이동 위치 에 대응 하 는 위치 정보 가 얻 어 져 , X 축 둘레 의 회전자 ( 7 ) 의 회전 위치 를 측 정할 수 있 다 .