XRD 분석 을 통해 도 10 과 같 은 분석 결과 를 얻 었 고 결정 성 흑연 구조 ( crystalline graphitic structure ) 와 관련 된 [ 002 ] peak 를 23 . 4 ° 에서 확인 하 였 다 . XRD 회절 패턴 에서 얻 은 값 을 이용 하 여 Bragg 법칙 ( 식 ( 1 ) ) 을 이용 하 여 계산 한 면간 거리 ( Interlayer distance , d ) 는 0 . 379 nm 이 며 , 이 는 일반 적 인 Graphite 의 값 인 0 . 34 nm 보다 큰 값 으로 나타났 다 . 이러 한 면간 거리 의 증가 는 비정질 ( Amorphous ) 의 증가 를 나타내 는 것 으로 판단 된다 .