이 경우 , 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 가 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 위치 ( 2 a ) 에 위치 된 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시킬 수납 영역 ( M , L ) 이 변경 되 면 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 는 해당 수납 영역 ( M , L ) 위 로 테스트 될 반도체 소자 들 을 이동 시킬 수 있 다 . 따라서 , 수납 영역 ( M , L ) 에 관계없이 , 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 가 로딩 공정 을 수행 하 기 위해 이동 되 는 거리 를 줄일 수 있 다 .