상기 레이저 시스템 을 통해 밀봉재 에 조사 된 빔 은 반사 되 어 비젼 에 입력 되 어 밀봉재 영상 정보 를 형성 하 며 , 상기 비젼 은 밀봉재 영상 정보 를 제어 유닛 에 전달 하 고 제어 유닛 은 그 내부 에 저장 된 밀봉재 프로파일 정보 에 따른 레이저 빔 세기 프로 파일 을 결정 하 기 위하 여 상기 마이크 로 광학계 를 배열 하 는 정보 에 기초 하 여 레이저 빔 프로파일 변환 명령 을 상기 레이저 시스템 에 전달 할 수 도 있 다 .