각각 의 콘 택 프로브 ( 6 ) 는 웨이퍼 ( 9 ) 상 에 집적 된 피검 소자 ( device under test ) 의 콘 택 패드 ( 8 ) 상 에 접하 게 될 콘 택 팁 ( contact tip ) 으로 된 말단 을 가짐 으로써 상기 피검 소자 와 테스트 장치 ( 미 도시 ) 사이 의 기계 적 및 전기 적 콘 택 을 실현 할 수 있 는데 , 상기 프로브 카드 는 이 테스트 장치 의 말단 구성 ( terminal element ) 이 다 .