상기 테스트 부 ( 700 ) 의 구성 에 대해 더욱 구체 적 으로 설명 하 면 다음 과 같 다 . 즉 , 상기 테스트 부 ( 700 ) 는 상기 교환 부 ( 430 ) 에서 이송 되 어 온 테스트 트레이 ( 100 ) 를 전방 에서부터 후방 으로 한 스텝 ( step ) 씩 단계 적 으로 이송 시키 며 반도체 소자 들 을 소정 의 온도 로 가열 또는 냉각 시킬 수 있 도록 된 예열 챔버 ( 710 ) 와 , 상기 예열 챔버 ( 710 ) 를 통해 이송 된 테스트 트레이 ( 100 ) 의 반도체 소자 들 을 외부 의 테스트 장비 ( 도시 않 음 ) 와 결합 된 테스트 소켓 ( 도시 않 음 ) 에 장착 하 여 테스트 를 수행 하 는 테스트 챔버 ( 720 ) 와 , 상기 테스트 챔버 ( 720 ) 를 통해 이송 된 테스트 트레이 ( 100 ) 를 후방 에서부터 전방 으로 한 스텝 ( step ) 씩 단계 적 으로 이송 시키 면서 테스트 완료 된 반도체 소자 를 초기 의 상온 상태 로 복귀 시키 는 제열 챔버 ( 730 ) 로 구성 된다 .