사 분 의 일 파장판 ( 240 ) 은 편광 광분 할 기 ( 220 ) 의 하 측면 에 위치 하 여 편광 광분 할 기 ( 220 ) 로부터 입사 되 는 제 4 광 과 제 6 광 을 편광 조절 하 여 진공 챔버 ( 250 ) 로 출사 한다 . 이때 사 분 의 일 파장판 ( 240 ) 은 입사 되 는 광 을 원편광 으로 변경 시켜 출사 한다 . 또한 사 분 의 일 파장판 ( 240 ) 은 측정 대상물 ( 254 ) 과 기준 판 ( 255 ) 으로부터 반사 되 는 제 4 광 과 제 6 광 을 편광 조절 하 여 편광 광분 할 기 ( 220 ) 로 출사 한다 . 이때 사 분 의 일 파장판 ( 240 ) 은 편광 광분 할 기 ( 220 ) 로부터 입사 되 는 광이 수직 한 s 편광 이 면 수평 한 p 편광 으로 변경 시키 고 , 입사 되 는 광이 수평 한 p 편광 이 면 수직 한 s 편광 으로 변경 시킨다 .