상기 설명 한 바 와 같이 , 본 발명 에 따른 위치 조정 수단 이 구비 된 인서 트 장치 에 의하 면 , 반도체 소자 의 시험 을 위하 여 장착 된 반도체 소자 의 위치 를 간단 하 고 정밀 하 게 조정 함 으로써 시험 장비 의 프로브 단자 들 과 반도체 소자 의 전극 들 이 정확히 대응 되 어 물리 적 및 전기 적 으로 접촉 되 게 되 므로 반도체 소자 의 시험 이 정확 하 게 이루어지 게 되 며 시험 의 신뢰도 가 향상 되 게 된다 .