상기 구성 에 의하 면 , 생산 라인 테스트 프로그램 ( TEST Program ) 상 에서 각각 의 공정 표시 및 TEST 결과 를 BIOS 에서 제공 하 는 DMI DATA ( Type 11 OEM STRING ) 에 저장 하 여 보다 쉽 고 편리 하 고 효율 적 으로 생산 할 수 있 는 방법 을 제안 한다 . 또한 , 각 TEST 공정 에서 발생 한 Error 내용 을 Code 값 으로 DMI DATA 에 저장 하 여 Repair 라인 에서 해당 코드 만 을 보 고 Repair 를 할 수 있 도록 한다 . 그리고 , H / W ECO 가 발생 했 을 때 , 보통 H / W ECO 작업 후 , 작업 공정 표시 또한 Mother board 에 수기 로 표시 하 는데 , 이 또한 작업자 의 부주의 로 작업 을 하 지 않 은 상태 의 보드 가 출하 될 수 있 는 가능 성 또한 있 다 . H / W ECO 가 발생 하 면 관련 내용 을 DMI Data ( Desktop Management Interface ) 에 표시 하 고 출하 시 Test Program 상 에서 해당 ECO 를 수행 했 는지 를 check 하 여 작업 이 되 지 않 은 시료 를 분류 해 낼 수 있 다 .