본 변형 예 에서 , 복수 의 계측 부 ( 22 ) 는 복수 의 AND 회로 ( 36 ) 에 일 대 일 로 대응 하 여 설치 된다 . 본 변형 예 에서 는 , 시험 장치 ( 10 ) 는 복수 의 계측 부 ( 22 ) 로서 제 1 ~ 제 4 계측 부 ( 22 - 1 ~ 22 - 4 ) 를 구비 한다 . 제 1 계측 부 ( 22 - 1 ~ 22 - 4 ) 는 제 1 ~ 제 4 AND 회로 ( 36 - 1 ~ 36 - 4 ) 에 일 대 일 로 대응 하 여 설치 된다 . 복수 의 계측 부 ( 22 ) 의 각각 은 , 대응 하 는 AND 회로 ( 36 ) 가 출력 하 는 매치 신호 에 기초 하 여 피 시험 메모리 ( 500 ) 또는 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 비지 시간 을 계측 한다 .