몇몇 실시 양태 에서 , 본 발명 은 핵산 합성 을 위한 프라이머 로서 고정 된 프로브 를 사용 함 으로써 샘플 중 의 핵산 분자 를 검출 하 는 방법 을 포함 한다 . 이 방법 은 핵산 분자 에 상보 적 이 며 수상돌기 또는 본원 에 개시 된 다른 물질 에 의해 고체 표면 에 부착 되 는 단일 가닥 핵산 프로브 의 존재 하 에 폴리머 라 제 연쇄 반응 에 의해 본원 에 기재 된 바 와 같이 샘플 중 의 핵산 분자 를 증폭 시키 는 것 을 포함 할 수 있 다 . 상기 프로브 는 폴리머 라 제 연쇄 반응 에서 프라이머 들 중 의 하나 로서 사용 하 기 위한 서열 을 포함 한다 . 프로브 의 쇄 연장 또는 확장 에 의해 고체 표면 에 부착 된 이중 가닥 핵산 물질 이 생성 된다 . 이어서 , 부착 된 증폭 된 물질 을 본원 에 기재 된 바 와 같이 검출 할 수 있 다 .