그러나 , 기록 동작 시 에 생기 는 터널 전류 로 인하 여 기억 소자 를 구성 하 는 게이트 절 연막 이 열화 되 기 때문 에 기록 동작 이 소정 횟수 행해짐 으로써 기억 소자 가 기능 하 지 않 게 되 는 문제 가 생긴다 . 이 문제 의 영향 을 완화 하 기 위하 여 , 예 를 들 어 , 각 기억 소자 의 기록 횟수 를 균일화 하 는 기법 이 채용 되 지만 , 이것 을 실현 하 기 위해서 는 복잡 한 주변 회로 가 필요 하 다 . 그리고 , 이러 한 기법 을 채용 하 여도 근본 적 인 수명 문제 가 해소 되 지 는 않 는다 . 즉 , 플래시 메모리 는 정보 를 재 기록 하 는 빈도 가 높 은 용도 에 는 부적합 하 다 .