일반 적 으로 원자 현미경 ( AFM ) 은 캔틸레버 ( cantilever ) 라 불리 는 미소 한 막대 를 이용 하 여 표면 형상 등 을 측정 하 는 장치 로 캔틸레버 본체 의 종단 상부 에 미세 한 ( 수 nm ) 크기 의 캔틸레버 탐침 이 형성 되 는 구조 를 가지 고 있 다 . 이 를 이용 하 여 nm 의 해상도 로 시편 의 표면 형상 , " 전기 또는 자기 적 인 성질 등 을 밝혀낼 수 있 다 . 이러 한 원자 현미경 은 수 nm 크기 의 탐침 을 이용 함 으로써 원자 구조 를 직접 측정 할 수 있 을 정도 로 높 은 해상도 를 갖 는 것 이 가장 큰 장점 이 다 . 최근 원자 현미경 이 갖 는 높 은 해상도 를 이용 하 여 Tbit / in 2 이상 의 저장 밀도 를 갖 는 나노 정보 저장 장치 를 개발 하 고자 하 는 연구 가 활발히 이루어지 고 있 다 . 이렇게 캔틸레버 탐침 을 이용 하 여 소정 의 저장 매체 ( media ) 를 변화 시켜 기록 하 는 장치 를 "" SPM ( Scanning Probe Microscopy ) 원리 를 이용 한 정보 저장 장치 "" 라고 한다 . "