만일 온도 의 변화 에 따라 지연 시간 구간 ( P 2 / P 2 ') 이 가변 되 지 않 는다면 , 저온 의 동작 환경 에서 전자 / 홀 들 이 충분히 안정 화 되 기 이전 에 검증 구간 ( P 3 ) 이 실행 될 것 이 다 . 소거 동작 시 전자 / 홀 들 의 안정 화 가 충분히 수행 되 지 않 은 상태 에서 메모리 셀 로부터 읽혀진 데이터 는 , 소거 검증 동작 시 페일 데이터 로 판별 된다 . 이 는 소거 루프 의 수행 횟수 를 증가 시키 고 , 메모리 셀 로 인가 되 는 고전압 스트레스 ( 예 를 들 면 , 20 V 의 소거 전압 ) 를 증가 시키 는 원인 이 된다 .