도 6 을 참조 하 여 , 이 실시 예 에서 는 , 전원 이 온 으로 될 때 , 기입 데이터 ( WD [ m ] [ 1 ] ~ WD [ m ] [ n ] ) 를 특정 의 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ m ] ) 에 2 회 입력 하 는 예 를 나타내 고 , 그 중 의 1 회 째 의 기입 데이터 ( WD [ m ] [ 1 ] ~ WD [ m ] [ n ] ) 는 1010110 이 며 , 2 번 째 의 기입 데이터 ( WD [ m ] [ 1 ] ~ WD [ m ] [ n ] ) 는 1000110 이 다 . 여기 서 , eFuse 의 절단 상태 는 , eFuse 를 센스 했 을 때 의 퓨즈 전압 ( VP ) 에 의해 나타나 고 , eFuse 가 절단 되 어 있 지 않 을 때 , 퓨즈 전압 ( VP ) 은 하이 논리 레벨 이 며 , eFuse 가 절단 되 어 있 을 때 , 퓨즈 전압 ( VP ) 은 로우 논리 레벨 이 다 . 타이밍 ( 610 ) 일 때 , 전원 이 온 되 어 ( power on ) , 최초 의 퓨즈 전압 ( VP [ m ] [ 1 ] ~ VP [ m ] [ n ] ) 은 1111111 이 며 , 센서 ( 220 ) 가 독 출한 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] ) 는 1111111 이 고 , 데이터 래치 ( 230 ) 는 , 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 를 래치 하 여 래치 데이터 ( LD [ m ] [ 1 ] ~ LD [ m ] [ n ] ) 를 1111111 으로서 출력 한다 . 타이밍 ( 620 ) 일 때 , 1 회 째 의 기입 데이터 1010110 을 입력 하 고 , 이때 , 퓨즈 전압 ( VP [ m ] [ 1 ] ~ VP [ m ] [ n ] ) 은 , 1010110 이 며 , 센서 ( 220 ) 가 독 출한 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 는 1111111 에서 1010110 이 되 고 , 다음 에 클록 신호 ( CLK [ m ] ) 가 대응 하 는 펄스 를 제공 해 , 도 5 b 의 펄스 신호 ( CLK [ m ] [ 1 ] ~ CLK [ m ] [ 7 ] ) 와 같이 , 대응 하 는 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 가 용단 되 고 , 이때 , 래치 데이터 ( LD [ m ] [ 1 ] ~ LD [ m ] [ n ] ) 는 1111111 로서 , 1111111 을 유지 한다 . 타이밍 ( 630 ) 일 때 , 2 번 째 의 기입 데이터 1000110 을 입력 하 고 , 판정 회로 ( 240 ) 는 , 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 중 적어도 하나 의 전자 퓨즈 가 용단 되 어 있 다고 판정 하 고 있 으므로 , 판정 회로 ( 240 ) 에 의해 제공 되 는 검출 신호 ( DT [ m ] ) 는 하이 논리 레벨 이 지만 용단 클록 제너 레이터 ( 320 ) 에 의해 제공 되 는 클록 신호 ( CLK [ m ] ) 는 로우 논리 레벨 이 며 , 용단 셀 렉터 ( 330 ) 가 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 에 대한 덮어쓰 기 동작 을 디스 에이블 로 하 고 있 으므로 , 퓨즈 전압 ( VP [ m ] [ 1 ] ~ VP [ m ] [ n ] ) 은 1010110 을 유지 하 고 , 센서 ( 220 ) 에 의해 독 출 되 는 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 는 1010110 을 유지 하 고 , 래치 데이터 ( LD [ m ] [ 1 ] ~ LD [ m ] [ n ] ) 는 1111111 로서 , 1111111 을 유지 한다 . 이 실시 예 에서 는 , 종래 기술 에서 의 일시 기억 데이터 는 전원 이 온 및 오프 될 때 만 갱신 되 고 , 전원 이 온 될 때 와 오프 될 때 의 사이 에 는 , 용단 된 전자 퓨즈 를 가지 는 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ m ] ) 에 대하 여 덮어쓰 기 동작 이 실시 되 어 , 전자 퓨즈 에 대한 용단 동작 의 신뢰 성 이 저하 된다고 하 는 문제 를 극복 할 수 있 다 .