도 12 를 참조 하 고 , 스텝 ( S 1210 ) 에서 , 전원 이 온 으로 될 때 , 제 어 회로 ( 110 ) 는 , 각 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ m ] ) 를 검출 하 여 검출 신호 ( DT [ m ] ) [ n ] 를 생성 한다 . 다음 으로 , 스텝 ( 1220 ) 에서 , 제 어 회로 ( 110 ) 는 , 검출 신호 ( DT [ m ] ) [ n ] 에 근거 하 여 , 각 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ m ] ) 중 복수 의 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 가 용단 되 어 있 는지 를 판정 한다 . 스텝 ( S 1230 ) 에서 , 제 어 회로 ( 110 ) 가 복수 의 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 에 대하 여 용단 동작 을 실시 할지 여부 를 결정 하 고 , 여기 서 , 검출 신호 ( DT [ m ] ) 에 근거 해 복수 의 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ n ] ) 중 적어도 하나 의 전자 퓨즈 가 용단 된 전자 퓨즈 라고 판정 할 때 , 적어도 하나 의 용단 된 전자 퓨즈 의 기입 데이터 를 래치 하 고 , 적어도 하나 의 용단 된 전자 퓨즈 가 속하 는 전자 퓨즈 세트 ( 120 [ m ] ) 에 대한 덮어쓰 기 동작 을 디스 에이블 로 한다 .