광 모듈 ( 10 ) 이 차재용 측 거 장치 ( 100 ) 에 적용 되 는 경우 , 사용 환경 온도 가 크 게 변화 하 고 , 그것 에 따라서 , 자석 ( 30 ) 의 온도 가 크 게 변화 하 기 때문 에 , 미러 ( 7 ) 의 편 향각 에 관한 정보 의 정밀도 가 현저 하 게 열화 될 우려 가 있 다 . 그러나 상술 한 것 처럼 , 측 거 장치 ( 100 ) 에서 는 , 사용 환경 온도 의 변화 에 의존 하 지 않 고 , 광 모듈 ( 10 ) 에 있 어서 미러 ( 7 ) 를 원하 는 편 향각 으로 요동 시킬 수 있 기 때문 에 , 고 정밀 한 측 거 를 실현 하 는 것 이 가능 해진다 .