다음 의 애버리지 강도 구현 은 단일 - 다이 또는 멀티 다 이 레티 클 에 사용 될 수 있 다 . 그러나 , 멀티 다 이 예 가 먼저 설명 된다 . 도 5 a 는 본 발명 의 다른 실시 예 에 따라 검사 기술 이 구현 될 수 있 는 동일 하 게 설계 된 복수 의 다이 를 갖 는 2 개 의 예시 적 인 레티 클 ( 500 및 520 ) 의 개략 적 인 평면도 이 다 . 도시 된 바 와 같이 , 각각 의 레티 클 은 행 및 열 로 지정 된 6 × 4 어레이 의 다이 를 포함 한다 . 예 를 들 어 , 레티 클 ( 500 및 520 ) 각각 의 맨 윗 행의 다이 ( 512 a ~ 512 f 및 522 a ~ 522 f ) 는 제일 왼쪽 의 열 로부터 제일 오른 쪽 의 열 까지 각각 ( 1 , 1 ) , ( 1 , 2 ) , ( 1 , 3 ) , ( 1 , 4 ) , ( 1 , 5 ) 및 ( 1 , 6 ) 로 지정 된다 . 마찬가지 로 , 마지막 행의 다이 는 각 특정 행 및 열 에 대하 여 ( 4 , 1 ) , ( 4 , 2 ) , ( 4 , 3 ) , ( 4 , 4 ) , ( 4 , 5 ) 및 ( 4 , 6 ) 으로 지정 된다 .