여기 서 , t 1 은 상기 RFID 유전율 센서 의 송신기 의 송신 안테나 로부터 칩 리스 태그 까지 도달 하 는 송신 시간 또는 상기 칩 리스 태그 로부터 RFID 유전율 센서 의 수신기 의 수신 안테나 로부터 수신 시간 ( 공기 중 트래벌 링 시간 ) , td 는 칩 리스 태그 의 지연 라인 센서 에서 지연 시간 이 며 , 지연 라인 센서 에서 파 의 그룹 지연 ( wave ’ s group delay in the sensor ) 은 시험 대상 ( MUT ) 의 유전율 ( permittivity ) 에 의해 영향 을 받 으며 , 측정 된 칩 리스 태그 의 지연 시간 td 는 시험 대상 ( MUT ) 의 유전율 ( MUT permittivity ) 에 따라 계산 되 며 ,