각각 의 시험 패턴 은 시험 장치 의 각 시험 모듈 로 생성 된다 . 예 를 들 어 , 각 시험 모듈 은 미리 주어지 는 시험 시 컨스 를 생성 해야 할 시험 패턴 에 따른 시험 주기 에 실행 함 으로써 소정 의 패턴 의 시험 패턴 을 생성 한다 . 보다 구체 적 으로 는 , 시험 모듈 은 주어지 는 복수 의 논리 패턴 을 시험 시 컨스 에 의해 정해 지 는 순서 로 출력 함 으로써 소정 의 논리 패턴 의 시험 패턴 을 생성 한다 . 또한 , 각 시험 패턴 의 주기 가 다른 경우 각 시험 모듈 이 동작 하 는 시험 주기 가 다른 경우 가 있 다 ( 예 를 들 어 , 특허 문헌 1 및 2 참조 ) .