제조 된 디바이스 는 이중 피크 적 녹색 방출 을 나타내 었 다 . 10 mA / cm 2 에서 측정 된 제조 된 디바이스 실시 예의 EL 스펙트럼 은 도 10 에 도시 되 어 있 다 . 휘도 변화 를 갖 는 디바이스 발광 층 내 의 재조합 대역 이동 으로 인해 , 적색 및 녹색 피크 의 비율 이 변경 되 어 , 색 좌표 1931 CIE x , y 또는 1976 u ' v ' 도 변경 되 었 다 . 디바이스 색 좌표 의 변화 가 적 을수록 디바이스 의 색상 안정 성 이 향상 된다 . 각각 의 디바이스 의 색상 안정 성 은 100 및 1 mA / cm 2 에서 측정 한 델타 u ' v ' 로 정의 되 었 다 .