본 발명 에서 는 베이스 코팅 층 에 일정량 포함 된 MgO ( 산화마그네슘 ) 성분 에 의한 회절 X 선 의 강도 를 이용해 베이스 코팅 층 의 두께 를 측정 하 는 방법 을 이용 한다 . X 선 회절 방법 을 이용 하 기 위하 여서는 X 선원 이 필요 한데 현재 가장 일반 적 으로 널리 사용 되 는 것 은 구리 ( Cu ) 를 대음극 으로 한 봉입 형 튜브 이 다 . 그러나 , 이 경우 베이스 코팅 층 으로부터 회절 되 는 X 선 과 강판 층 으로부터 회절 되 는 X 선과 의 각도 차이 가 적 기 때문 에 이 를 각각 동시 에 검출 이 불 가능 하 다 .