도 2 및 도 5 a 를 참조 하 고 , 판정 회로 ( 240 ) 는 , 센서 ( 220 ) 로부터 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 를 수신 하 고 , 판정 회로 ( 240 ) 에 있 어서 , 논리 판정 회로 ( 510 ) 에 의해 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 에 대하 여 논리 판정 을 실시 한다 . 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 에 근거 해 , 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 중 적어도 하나 의 전자 퓨즈 가 용단 된 전자 퓨즈 라고 판정 될 때 , 논리 판정 회로 ( 510 ) 는 , 로우 ( Low ) 논리 레벨 을 가지 는 판정 신호 ( D [ m ] ) 를 생성 한다 . 다음 으로 , 버퍼 회로 ( 520 ) 는 , 로우 논리 레벨 을 가지 는 판정 신호 ( D [ m ] ) 에 대하 여 버퍼링 을 실시 해 , 로우 논리 레벨 을 가지 는 버퍼 경유 판정 신호 ( DB [ m ] ) 를 생성 하 고 , 래치 ( 530 ) 는 , 로우 논리 레벨 을 가지 는 버퍼 경유 판정 신호 ( DB [ m ] ) 에 대하 여 래치 동작 을 실시 하 고 , 하이 논리 레벨 을 가지 는 검출 신호 ( DT [ m ] ) 를 생성 한다 . 한편 , 센싱 데이터 ( SD [ m ] [ 1 ] ~ SD [ m ] [ n ] ) 에 근거 해 , 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ 1 ] ~ 120 [ m ] [ n ] ) 에 용단 된 전자 퓨즈 가 없 다고 판정 할 때 , 논리 판정 회로 ( 510 ) 는 , 하이 논리 레벨 을 가지 는 판정 신호 ( D [ m ] ) 를 출력 한다 . 다음 으로 , 버퍼 회로 ( 520 ) 는 , 하이 논리 레벨 을 가지 는 판정 신호 ( D [ m ] ) 에 대하 여 버퍼링 을 실시 해 , 하이 논리 레벨 을 가지 는 버퍼 경유 판정 신호 ( DB [ m ] ) 를 생성 하 고 , 래치 ( 530 ) 는 , 하이 논리 레벨 을 가지 는 버퍼 경유 판정 신호 ( DB [ m ] ) 에 대하 여 래치 동작 을 실시 해 , 로우 논리 레벨 을 가지 는 검출 신호 ( DT [ m ] ) 를 생성 한다 . 여기 서 , 래치 ( 530 ) 는 , 반전 게이트 ( INV 5 ) 및 반전 게이트 ( INV 6 ) 를 포함 한다 .