CCD 소자 들 은 많 은 이미 징 애플리케이션 들 에서 사용 된다 . 디지털 카메라 들 과 같 은 , 그 중 일부 예 들 에서 는 CCD 가 셔터 뒤 에서 제공 된다 . 그러나 발광 ( luminescence ) 및 섬광 ( scintillation ) 어레이 측정 시스템 들 과 같 은 , 다른 예 들 에서 는 , 셔터 가 제공 되 지 않 는다 . 그러나 셔터 의 부재 는 문제 들 을 일으킬 수 있 다 . 셔터 가 없 는 시스템 들 에서 , 전하 가 전달 및 판독 프로세스 동안 에 인접 CCD 엘리먼트 들 을 통해서 아래 로 끌어내 질 , CCD 엘리먼트 들 은 여전히 조도 ( illumination ) 에 종속 된다 . 이것 은 측정 된 전하 를 증가 시키 는 경향 이 있 고 , 특히 전하 가 판독 프로세스 동안 몇몇 CCD 엘리먼트 들 을 통해 끌어내 지 는 경우 들 에서 그러 하 다 . 또한 , 이 추가 의 노출 시간 은 각각 의 전하 마다 일정 하 지 않 다 . 열 의 상부 ( top ) 에 있 는 CCD 엘리먼트 들 에 대응 하 는 전하 들 은 전달 및 판독 프로세스 동안 몇몇 CCD 엘리먼트 들 을 통해 아래 로 끌어내 지 고 , 반면 에 최 하위 ( lowest ) CCD 엘리먼트 와 연관 된 전 하 는 어떤 다른 CCD 엘리먼트 들 을 통해서 지나가 지 않 는다 . CCD 엘리먼트 들 의 조도 는 균일 하 거나 일정 하 지 않 을 수 있 기 때문 에 , 전달 및 판독 프로세스 동안 에 다른 CCD 엘리먼트 들 을 통해 지나갔 던 전하 의 효과 를 정하 는 것 이 어렵 다 .