상기 제 5 단계 는 테스트 트레이 ( T ) 를 수직 상태 로 상기 제 1 이 송부 에 의해 제 1 챔버 ( 4 ) 에서 테스트 유닛 ( 5 ) 으로 공급 할 수 있 으며 , 테스트 유닛 ( 5 ) 으로 공급 된 테스트 트레이 ( T ) 를 테스트 헤드 방향 으로 수평 이 동시 켜 테스트 트레이 ( T ) 에 로딩 된 반도체 소자 에 대한 테스트 를 수행 한다 . 또한 , 이 경우 상기 테스트 유닛 ( 5 ) 은 제 1 챔버 ( 4 ) 의 하측 에 , 즉 상기 제 1 챔버 ( 4 ) 가 테스트 유닛 ( 5 ) 의 상측 에 배열 되 어 , 테스트 트레이 ( T ) 의 이송 과정 에서 중력 의 도움 을 받 아 보다 빠른 시간 에 테스트 트레이 ( T ) 를 이송 할 수 있 으므로 , 인덱스 타임 을 줄일 수 있 다 .