상술 한 바 와 같이 , 복수 의 화소 ( PX ) 들 중 일부 는 제 1 스위칭 트랜지스터 ( SCT ) 의 제 2 드레 인 전극 ( 440 ) 이 데이터 라인 ( DTL ) 과 연결 되 고 , 다른 일부 는 제 2 드레 인 전극 ( 440 ) 과 접촉 하 는 제 2 도전 패턴 ( 640 ) 이 데이터 라인 ( DTL ) 과 연결 될 수 있 다 . 어느 한 화소 ( PX ) 의 제 1 스위칭 트랜지스터 ( SCT ) 가 제 2 드레 인 전극 ( 440 ) 을 통해 데이터 라인 ( DTL ) 과 연결 되 는 경우 , 제 2 도전 패턴 ( 640 ) 은 생략 될 수 있 다 . 이 경우 , 제 1 보호막 ( 160 ) 에 는 제 7 컨 택 홀 ( CT 7 ) 이 형성 되 지 않 을 수 있 다 . 다만 , 도 30 의 표시 장치 ( 1 _ 3 ) 는 반드시 제 2 도전 패턴 ( 640 ) 이 생략 되 는 구조 만 을 포함 하 는 것 은 아니 며 , 일 실시 예 에 따른 표시 장치 ( 1 ) 는 도 7 의 표시 장치 ( 1 ) 와 도 30 의 표시 장치 ( 1 _ 3 ) 가 갖 는 구조 는 혼재 된 구조 를 가질 수 있 다 . 즉 , 일부 화소 ( PX ) 는 제 2 도전 패턴 ( 640 ) 이 배치 되 어 데이터 라인 ( DTL ) 과 연결 됨 과 동시 에 제 1 스위칭 트랜지스터 ( SCT ) 의 제 2 드레 인 전극 ( 440 ) 과 접촉 하 고 , 다른 일부 화소 ( PX ) 는 제 2 도전 패턴 ( 640 ) 이 생략 되 어 제 1 스위칭 트랜지스터 ( SCT ) 의 제 2 드레 인 전극 ( 440 ) 이 데이터 라인 ( DTL ) 과 직접 연결 될 수 있 다 . 이 를 통해 , 일 실시 예 에 따른 표시 장치 ( 1 ) 는 서로 다른 데이터 라인 ( DTL ) 을 통해 화소 ( PX ) 각각 에 데이터 신호 를 인가 할 수 있 고 , 표시 장치 ( 1 ) 의 고속 구동 이 가능 하 다 .