U . S . 특허 4 , 968 , 892 ( 1990 년 11 월 6 일 발행 ) 에 는 제작품 에서 표면 결함 을 확인 하 기 위한 시험 장치 가 기술 되 어 있 다 . 그 제작품 은 그 표면 에서 흠 ( flaw ) 내 에 포획 되 는 형광 물질 로 처리 되 어 있 다 . 상기 장치 는 그 표면 을 스캐닝 하 는 광원 , 렌즈 , 및 필터 를 포함 한다 .