이 와 같이 구성 됨 에 따라 , 케리어 ( 60 ) 에 의해 상기 스트립 레벨 기판 ( 30 ) 이 지지 되 어도 상기 케리어 ( 60 ) 에 의해 , 보다 정확 하 게 는 , 케리어 ( 60 ) 의 하판 에 의해 리 젝 트 마크 ( 52 ) 가 가려 지 는 현상 은 일어나 지 않 으며 , 따라서 , 본 발명 은 상기 리 젝 트 마크 ( 52 ) 의 신뢰 성 있 는 모니터링 을 통해 각 유 니트 기판 의 불량 유무 를 정확 하 게 파악 할 수 있 으며 , 결과 적 으로 , 원치 않 는 유 니트 기판 ( 52 ) 에 의 패 키 징 공정 이 진행 되 는 것 을 방지 할 수 있 음 으로 해서 제조 수율 은 높이 는 반면 제조 비용 은 낮출 수 있 다 .