또한 본 발명 은 , 스 탬핑 공정 상 의 불량 이 웨이퍼 의 일정 영역 에 있 는 렌즈 열 전체 에 일어날 가능 성 이 높 다는 것 을 고려 하 여 , 웨이퍼 상 에 열 을 이루 어 형성 된 다수 의 렌즈 군 중 일정 영역 의 일부 의 렌즈 만 을 평가 하 는 방식 을 사용 함 으로써 , 보다 효율 적 인 웨이퍼 렌즈 의 평가 가 이루어질 수 있 게 된다 .