블록 ( 256 ) 동안 , 제 어 회로 부 ( 42 ) 는 측정 회로 부 ( 102 ) 를 사용 하 여 코일 들 ( 36 ) ( 예컨대 , 코일 들 ( 36 ) 전부 또는 검출 된 물체 의 위치 에 인접 한 코일 들 의 서브 세트 등 ) 의 인덕턴스 를 측정 한다 . 측정 된 인덕턴스 들 내 에서 , 코일 들 ( 36 ) 의 공칭 인덕턴스 값 들 과 는 상이 한 값 들 을 갖 는 인덕턴스 들 의 세트 가 식별 될 수 있 다 ( 예컨대 , 도 14 및 도 16 의 테이블 들 에서 측정 된 인덕턴스 들 참조 ) . 이 들 인덕턴스 값 들 은 잠재 적 으로 디바이스 ( 10 ) 의 존재 를 나타내 고 , 따라서 디바이스 ( 12 ) 에 의해 분석 된다 .