반도체 메모리 의 집적도 가 증가 하 면서 소량 의 셀 에 결함 이 발생 한다 . 소량 의 셀 에 결함 이 발생 한 반도체 메모리 를 불량품 으로 폐기 하 는 것 은 양품 의 획득 율 ( Yield ) 을 낮추 는 비 효율 적 이 방법 이 다 . 따라서 리페 어 퓨즈 박스 를 통하 여 불량 셀 을 예비 셀 로 대체 함 으로써 양품 의 획득 율 을 높이 고 있 다 .