도 6 을 참조 하 면 , 외곽 영역 ( PA ) 에 는 테스트 회로 ( 170 , 도 1 ) 의 서브 - 회로 부인 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 들 이 배치 될 수 있 다 . 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 들 은 상호 이격 되 어 배치 될 수 있 으며 , 이웃 하 는 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 들 사이 에 는 구동 회로 의 서브 - 회로 부 ( 들 ) 이 배치 될 수 있 다 . 이 와 관련 하 여 도 6 은 이웃 한 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 들 사이 에 는 서브 - 발광 제 어회 로 ( 140 S ) 및 서브 - 제 1 스캔 구동회 로 ( 120 S ) 가 배치 된 것 을 도시 하나 , 다른 실시 예 에서 , 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 들 의 위치 별로 이웃 한 서브 - 테스트 회로 ( 170 S ) 사이 에 는 서브 - 발광 제 어회 로 및 서브 - 제 2 스캔 구동 회로 가 배치 될 수 있 다 .