결정 형 의 X - 선 분말 회절 패턴 은 Siemens 단일 규소 결정 ( SSC ) 웨이퍼 마운트 에 결정질 물질 의 샘플 을 탑재 하 고 샘플 을 현미경 슬라이드 에 의하 여 박 층 으로 분산 시킴 으로써 측정 하 였 다 . ( 카 운 팅 통계 를 개선 시키 기 위하 여 ) 샘플 을 분당 30 회전 으로 회전 시키 고 Bruker D 5000 분 말 X - 선 회절계 ( Bruker AXS , Banner Lane Coventry CV 4 9 GH ) 를 사용 하 여 40 kV 및 40 mA 와 1 . 5418 Å 의 파장 에서 작동 되 는 구리 롱 - 파인 포커스 에 의하 여 발생 된 X - 선 을 조사 하 였 다 . 시준 된 X - 선 공급원 을 V 20 에서 셋 팅 된 자동 가변 발산 슬릿 에 통과 시키 고 반사광 을 2 mm 반산 란 슬릿 및 0 . 2 mm 검출 슬릿 을 통과 하 도록 배향 시켰 다 . 샘플 을 연속 스캔 세타 - 세타 모드 에서 2 ∼ 40 ° 2 - 세타 범위 에 걸쳐 0 . 02 ° 2 - 세타 증가 당 1 총 동안 노출 시켰 다 ( 연속 스캔 모드 ) . 도구 에 검출기 로서 섬광 계수기 를 장착 하 였 다 . 대 조군 및 데이터 수득 은 Diffrac + 소프트웨어 로 작동 하 는 Dell Optiplex 686 NT 4 . 0 워크스테이션 에 의한 것 이 었 다 .