표면 분석 장비 ( optical profiler , Nano View E 1000 , 나노 시스템 ) 를 이용 하 여 픽셀 내 채워진 잉크 로부터 형성 된 기능 층 의 중심부 ( center ) 두께 , 픽셀 과 격벽 부 사이 의 최대 ( maximun ) 두께 및 최소 ( minimum ) 두께 를 측정 하 고 , 하 기 수학식 1 에 따라 평탄 도 를 산출 하 였 다 .