동작 1511 에서 , 프로세서 는 복수 의 서미스터 에 의해 측정 된 온도 정보 에 기초 하 여 사용 자 지문 이미지 를 보정 할 수 있 다 . 이 동작 에서 , 프로세서 는 서미스터 IC ( 도 9 의 127 c ) 로부터 상기 복수 의 서미스터 각각 이 측정 한 복수 의 온도 정보 를 제공 받 고 , 상기 복수 의 온도 정보 중 상기 동작 1505 에서 판단 된 적어도 하나 의 픽셀 회로 영역 에 대응 하 는 적어도 하나 의 서미스터 에 의해 측정 된 적어도 하나 의 온도 정보 를 참조 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 프로세서 는 사전 구축 된 룩 업 테이블 상 에서 상기 적어도 하나 의 온도 정보 에 매핑 된 적어도 하나 의 배경 이미지 ( 예 : 디스플레이 의 액티브 영역 에 사용 자 신체 가 접촉 되 지 않 은 상태 의 특정 온도 환경 에서 , 지문 센서 층 의 구동 에 따라 수집 되 는 정보 를 기반 으로 생성 되 는 이미지 ) 를 획득 하 여 사용 자 지문 이미지 와 비교 함 으로써 , 상기 사용 자 지문 이미지 상 에서 노이즈 를 제거 할 수 있 다 .