도 2 는 도 1 의 현상 을 극복 할 수 있 도록 하 기 위하 여 형성 된 반도체 웨이퍼 검사 용 프로브 카드 를 부분 적 으로 도시 한 평면도 로서 , 확대 된 부분 은 전극 패드 의 중앙부 에 위치 한 탐 침부 의 첩 촉 위치 에서 탐 침부 가 미끄러져 보조 전극 패드 ( 230 ) 로 탐 침부 의 첩 촉 위치 가 이동 된 것 을 도시 한 것 이 다 .