도 1 에 도시 된 바 와 같이 , PCB ( 10 ) 상면 에 도포 된 다이 접착 용 페이스트 층 ( 15 ) 에 대해 UV 램프 ( 20 ) 를 이용 하 여 UV 를 조사 하 여 ( 25 ) B - 스테이 징 을 구현 한다 . 이때 , UV 조사 장치 는 배치 식 또는 컨베이어 식 의 방법 으로 장치 를 구성 할 수 있 으며 , UV 램프 ( 25 ) 는 재료 의 특성 에 적합 한 다양 한 광원 , 예컨대 아크 ( Arc ) , 융 합 ( Fusion ) 등 을 선택 하 여 사용 할 수 있 다 . UV 는 다 이 접착 용 페이스트 층 ( 25 ) 전면 에 조사 되 며 조사 강도 ( Intensity ) 및 조사량 ( Dosage ) 은 UV 개시제 ( initiator ) 의 UV 흡수 파장 대 를 기준 으로 최적 화 된 조건 을 고려 하 여 조절 될 수 있 다 .