즉 , 이동한 위치 에서 검사 유닛 과 기판 ( 1 ) 의 전기 접속 의 이루어지 면 기판 ( 1 ) 에 대한 정상 적 인 전기 검사 를 수행 할 수 있 어서 , 전기 접속 패드 ( 5 ) 의 위치 오 차 로 인하 여 발생 한 양품 의 불량 판정 을 확인 할 수 있 다 . 따라서 , 기판 ( 1 ) 과 검사 유닛 과 의 접속 불량 으로 인한 판정 의 오류 를 방지 하 여 기판 ( 1 ) 의 수율 을 향상 시킬 수 있 다 .