단계 ( 230 ) 는 평균 센서 판독 값 을 처리 하 고 , 대응 하 는 오프셋 값 을 저장 한다 . 하나 의 실시 예 에 따라 , 처리 장치 ( 110 ) 는 각각 의 센서 엘리먼트 에 대한 대응 하 는 오프셋 값 을 결정 하 기 위해 이전 단계 로부터 의 평균 센서 판독 값 을 사용 하 고 , 그 다음 메모리 장치 ( 112 ) 에 오프셋 값 을 저장 한다 . 앞서 언급 한 바 와 같이 , 센서 엘리먼트 는 이론 적 으로 동일 한 자기장 에 노출 된 때 동일 하 게 동작 해야 한다 . 그러나 , 실제로 센서 엘리먼트 는 센서 엘리먼트 위치 , 시간 에 따른 열화 , 실제 컴포넌트 내 의 고유 한 차이 , 전기 적 잡음 등 을 포함 하 는 몇 가지 이유 로 인해 서로 약간 의 성능 편차 를 가질 수 있 다 . 그러므로 , 앞서 수집 된 평균 센서 판독 값 으로부터 도출 되 는 개별 적 인 오프셋 값 은 각각 의 센서 엘리먼트 에 대하 여 판정 되 고 , 센서 시스템 ( 10 ) 에 저장 된다 . 예 를 들 어 , 센서 엘리먼트 ( 70 ) 로부터 의 평균 센서 판독 값 이 그 들 이 가져야 하 는 값 보다 0 . 1 V 높 다면 , 단계 ( 230 ) 는 그 센서 엘리먼트 에 대하 여 - 0 . 1 V 의 오프셋 값 을 생성 하 고 저장 할 수 있 다 . 센서 엘리먼트 ( 70 ) 가 후속 하 여 정상 모드 로 사용 될 때 , 그 센서 판독 값 은 그 내부 바이어스 ( bias ) 를 보상 하 고 더 정확 한 판독 값 을 제공 하 기 위해 - 0 . 1 V 만큼 조절 될 것 이 다 . 이러 한 교정 방법 은 전위차계 등 과 같 은 컴포넌트 에 대한 물리 적 조절 에 의해 새로운 하드웨어 를 수동 적 으로 교정 하 는 것 과 달리 , 새로운 하드웨어 가 설치 되 면 하나 이상 의 센서 엘리먼트 ( 예컨대 , 전체 센서 어레이 ) 가 운행 중 에 ( on the fly ) 쉽 게 교정 될 수 있 게 한다 . 또한 , AGV 에 설치 되 거나 설치 되 지 않 은 센서 보드 를 교정 하 는 것 도 가능 하 다 . 다른 장점 도 당업자 들 에게 명백 할 것 이 다 .