하 기 표 1 은 홈 부 의 길이 에 따른 접촉 성 , 고온 / 고압 신뢰 성 및 내습 신뢰 성 을 나타낸 것 이 다 . 표 1 은 각 내부 전극 에 모두 홈 부 가 형성 된 커패시터 부품 을 대상 으로 하 였으며 , 홈 부 의 폭 의 합계 가 내부 전극 의 폭 의 30 내지 80 % 의 범위 에 속하 는 커패시터 부품 을 대상 으로 하 였 다 . 표 1 에서 접촉 성 은 기준 용량 의 상한 및 하한 에 대하 여 ± 30 % 를 벗어나 는 경우 를 불량 으로 평가 하 였 다 . 고온 / 고압 신뢰 성 불량 은 150 ℃ 에서 2 Vr 의 전압 을 인가 하 였을 때 , 400 개 의 샘플 중 불량 이 발생 하 는 커패시터 부품 의 개수 를 조사 하 였 다 . 또한 , 내습 신뢰 성 불량 은 85 ℃ 85 % RH 에서 , 1 Vr 의 전압 을 인가 하 였을 때 , 400 개 의 샘플 중 불량 이 발생 하 는 커패시터 부품 의 개수 를 조사 하 였 다 .