이 에 대한 원인 은 노광 제어 장치 ( 300 ) 로부터 방사선원 ( 400 ) 으로 의 선량 명령 의 송신 으로부터 방사선원 ( 400 ) 으로부터 의 방사선 의 방출 의 개시 까지 의 시간 의 변동 에 기초 하 여 생각 될 수 있 다 . 이 변동 에 의해 , 방사선 ( 800 ) 의 조사 의 개시 로부터 샘플 홀드 회로 ( 270 ) 의 샘플링 및 홀드 의 완료 까지 의 기간 ( T 1 ) ( 도 4 참조 ) 이 변동 된다 . 또한 , 방사선 ( 800 ) 의 조사 의 개시 로부터 샘플 홀드 회로 ( 280 ) 의 샘플링 및 홀드 의 완료 까지 의 기간 ( T 1 + T 2 ) ( 도 4 참조 ) 도 변동 될 수 있 다 . 결과 적 으로 , 제 1 신호 ( 805 ) ( E 2 ) 및 제 2 신호 ( 806 ) ( E 2 + E 3 ) 의 값 이 프레임 사이 에서 변동 한다 .