대향 하 는 전극 사이 에 밀봉 된 액정 재료 가 유전체 이 기 때문 에 , 전기 적 으로 보 았 을 때 , 전체 액정 소자 는 캐 패 시터 와 동일 한 구조 를 갖 는다 . 따라서 , 유전체 캐 패 시 턴 스 내 의 변칙 ( 저장 된 전하량 의 변칙 ) 으로서 대향 하 는 전극 사이 에 생성 된 결함 을 검출 함 으로써 결함 이 전기 적 으로 판단 될 수 있 다 . 액정 디스플레이 패널 의 단자 를 접속 시킴 으로써 장비 가 간단히 작동 할 수 있 기 때문 에 전기 적 인 방법 에 기초 한 테스트 는 광학 적 테스트 장비 를 사용 하 는 것 과 같이 테스트 장비 및 패널 을 정확 하 게 위치 시킬 필요 가 없 다 . 또한 , 테스트 장비 의 부분 은 테스트 동안 기계 적 으로 작동 할 필요 가 없 다 . 또한 , 저장 된 전하 를 제공 하 는 방법 을 변경 함 으로써 정적 특성 뿐 만 아니 라 동적 특성 도 측정 될 수 있 다 . 결함 의 원인 을 판단 하 는 데 에 요구 되 는 다양 한 데이터 가 수집 될 수 있 다 .