S 170 단계 에서 는 , 전하 누설 ( charge leakage ) 로 인한 읽 기 페일 의 원인 을 결정 하 고 , 읽 기 페일 을 복구 한다 . S 171 단계 에서 읽 기 페일 이 전하 누설 로 인한 것 임 이 밝혀 지 면 , S 172 단계 에서 재 프로그램 으로 인한 전하 리 프레쉬 ( charge refresh ) 를 통해 읽 기 페일 을 치유 한다 .