또한 , 본 발명 은 전자 부품 을 히팅 하 는 시험 장치 내부 에 전기 적 특성 을 검사 할 수 있 는 전기 적 회로 를 구성 하 여 이동하 는 트레이 내 에 전기 적 으로 연결 하 기 위한 연결 핀 을 제거 하 므로 , 트레이 의 이동 과정 과 트레이 내부 에 전자 부품 을 안착 시기 위하 여 가해 지 는 진동 에 의한 전기 회로 연결 장치 가 파손 되 는 문제 를 해결 하 는 또 다른 목적 이 있 다 .