본 발명 은 케이스 가 조립 되 지 않 은 상태 에서 유에스 비 메모리 소자 의 기판 을 직접 지지 하 여 , 테스트 완료 된 메모리 소자 를 테스트 보드 로부터 분리 시 유에스 비 메모리 소자 가 이탈 되 는 것 을 방지 함 으로써 , 테스트 결과 불량 으로 판별 된 유에스 비 메모리 소자 에 대해 별도 의 추가 작업 없이 도 용이 하 게 수리 작업 을 진행할 수 있 으며 , 그 에 따라 작업 의 효율 성 을 향상 시킬 수 있 는 효과 를 얻 을 수 있 다 .