공정 윈도우 의 충분 한 적용 범위 가 N 개 의 공정 윈도우 지점 들 에서 의 평가 를 필요 로 하 고 , 미분 이미지 들 ( a 및 b ) 을 적합 하 게 하 는데 L < N 인 이미지 들 이 사용 되 는 경우 , 계산 시간 의 감소 는 L / N 에 가까울 것 이 며 , 이 는 사전 설정 된 이미지 들 ( I 0 , a 및 b ) 을 스케일링 하 는 것 이 각각 의 새로운 파라미터 세팅 에서 의 투영 이미지 의 독립 적 인 재 - 계산 보다 상당히 적 은 계산 시간 을 필요 로 하 기 때문 임 을 유의 한다 . 에어리얼 이미지 시뮬레이션 의 특정 한 세부 사항 들 에 독립 적 인 앞선 방법 은 일반 적 으로 적용 가능 하 다 . 또한 , 에어리얼 이미지 뿐 만 아니 라 시뮬레이션 된 레지스 트 윤곽 들 이 추출 되 는 레지스 트 이미지 에 도 적용 가능 할 수 있 다 .