우선 , 적 재부 ( 1110 ) 는 테스트 되 지 않 은 복수 의 디바이스 가 테스트 단계 를 수행 하 기 위해 대기 하 는 위치 이 다 . 일 예 로서 , 복수 의 디바이스 는 웨이퍼 에서 싱 귤 레 이 션 된 다이 상태 로 웨이퍼 카세트 상 에 적재 된다 . 본 실시 예 에서 는 적 재부 ( 1110 ) 가 본 테스트 장치 의 일 구성 인 것 으로 도시 되 어 있 으나 , 이 에 한정 되 는 것 은 아니 며 테스트 장치 와 는 별도 의 구성 으로 이루어져 , 테스트 중 인접 배치 되 도록 구성 되 는 것 도 가능 하 다 .