이러 한 불 완전 한 역 테이퍼 형상 의 격벽 ( 125 ) 의 형성 을 유도 하 는 노광 공정 에 따른 불량 은 지역 적 으로 발생 하 는 특성 을 가지 며 , 모기 판 ( 111 ) 의 크기 가 대형 화 될수록 노광 장치 내 의 광학계 의 한계 ( 일례 로서 광학계 를 구성 하 는 렌즈 의 주변 부 광량 저하 , 수차 증가 , 해상도 의 한계 ) 로 인해 상기 모 기판 ( 111 ) 의 중앙부 보다 는 주변 부 에서 노광 불량 이 주로 발생 하 고 있 는 실정 이 다 . 즉 , 상기 노광 불량 은 유기 전계 발광 다이오드 각각 에서 발생 하 는 것 은 드물 고 , 수 내지 수 백 개 의 화소 영역 ( P ) 에 해당 하 는 영역 에 대해 발생 하 는 특성 을 갖 는다 .