동작 740 에서 , 전자 장치 는 장치 상태 데이터 를 예측 모델 에 입력 할 수 있 다 . 장치 상태 데이터 를 예측 모델 에 입력 한 결과 로서 장애 발생 예측 결과 를 획득 하 면 , 전자 장치 는 장애 발생 예측 결과 에 기초 하 여 동작 750 에서 발생 할 것 으로 예상 되 는 장애 를 개선 할 수 있 는 개선 항목 이 존재 하 는지 판단 할 수 있 다 . 개선 사항 이 존재 하 는 경우 , 동작 760 에서 전자 장치 는 개선 항목 을 선택 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 전자 장치 는 사용 자 가 개선 항목 을 선택 할 수 있 는 사용 자 인터페이스 를 출력 하 고 , 사용 자 인터페이스 를 이용 하 여 입력 된 사용자 입력 에 기초 하 여 개선 항목 을 선택 할 수 있 다 . 동작 770 에서 , 전자 장치 는 선택 된 개선 항목 을 전자 장치 의 동작 설정 에 적용 할 수 있 다 . 일 실시 예 에 따르 면 , 동작 760 및 동작 770 은 사용 자 의 개입 없이 전자 장치 가 자동 적 으로 수행 할 수 도 있 다 .