단계 355 의 판단 에서 에러 발생 비트 수 가 설정 값 보다 큰 경우 , 단계 357 을 진행 하 여 비휘발성 메모리 소자 ( NVM ) ( 400 ) 에 대한 고장 여부 를 최종 판정 한다 . 반면 에 단계 355 의 판단 에서 에러 발생 비트 수 가 설정 값 보다 크 지 않 은 경우 에러 발생 비트 의 에러 정도 가 임계 값 ( th ) ( threshold value ) 을 넘 는지 의 여부 를 판단 한다 ( 단계 356 ) . 일 예 에서 에러 발생 비트 의 에러 정도 는 , 비트 셀 에 흐르 는 전 류량 을 센싱 하 고 센싱 된 전 류량 의 크기 에 따라 복수 의 레벨 들 로 구분 될 수 있 다 . 일 예 에서 에러 발생 비트 의 에러 정도 가 임계 값 ( th ) 을 넘 는 경우 는 , 에러 발생 비트 에 데이터 의 쓰 기 및 읽 기 동작 이 수행 되 지 않 는 상태 를 의미 할 수 있 다 . 단계 356 의 판단 에서 에러 발생 비트 의 에러 정도 가 임계 값 ( th ) 을 넘 는 경우 , 단계 357 을 진행 하 여 비휘발성 메모리 소자 ( NVM ) ( 400 ) 에 대한 고장 여부 를 최종 판정 한다 . 반면 에 단계 356 의 판단 에서 에러 발생 비트 의 에러 정도 가 임계 값 ( th ) 을 넘 지 않 는 경우 , 비휘발성 메모리 소자 ( NVM ) ( 400 ) 가 정상 적 인 상태 를 유지 하 고 있 는 것 으로 판단 하 여 비휘발성 메모리 시스템 의 건강 상태 파악 단계 를 종료 한다 .