본 발명 에 따른 대안 적 인 실시 예 에 있 어서 , 도 8 에 도시 된 바 와 같이 , 상기 프로브 카드 ( 20 ) 의 상기 테스트 헤드 ( 21 ) 는 , 상기 피검 소자 와 상기 지지 플레이트 ( 23 ) 사이 에서 전력 신호 및 / 또는 접지 신호 및 / 또는 저 주파 신호 와 같이 더 긴 프로브 들 에 의해 전달 될 수 있 는 신호 를 전달 할 수 있 도록 구성 된 추가 콘 택 요소 들 ( 22 bis ) 을 포함 한다 .