본 발명 의 다른 측면 에 따르 면 , 외부 테스트 장비 로부터 테스트 데이터 를 수신 하 는 테스트 컨트롤러 ; 상기 테스트 컨트롤러 로부터 출력 되 는 테스트 데이터 및 오프 - 칩 데이터 의 출력 을 멀티 플렉 싱하 는 멀티플렉서 ; 및 상기 멀티플렉서 로부터 상기 테스트 데이터 를 수신 할 경우 상기 테스트 데이터 를 테스트 대상 이 되 는 코어 에 상응 하 는 프로토콜 의 데이터 로 변환 하 여 해당 코어 에 전달 하 는 온 - 칩 마스터 를 포함 하 는 테스트 기능 이 구비 된 온 / 오프 - 칩 브리지 가 제공 된다 .