따라서 , 이러 한 문제점 들 을 방지 하 기 위해 본 발명 의 일 실시 예 와 같이 , 테스트 라인 ( TL ) 들 은 제 3 절연 층 ( 113 ) 과 제 4 절연 층 ( 114 ) 을 사이 에 두 고 제 4 절연 층 ( 114 ) 상 에 배치 될 수 있 다 . 일 실시 예 로 , 도 17 과 같이 테스트 라인 ( TL ) 들 은 공통 전원 공급 라인 ( 170 ) 상 에 배치 된 컨 택 전극 ( 171 ) 과 동일 물질 을 포함 할 수 있 다 . 한편 , 테스트 라인 ( TL ) 들 은 팬 아웃 부 ( 160 ) 와 신호 간섭 및 기생 커패시턴스 가 발생 하 는 것 을 방지 하 고자 제 4 절연 층 ( 114 ) 상 에 배치 되 는 것 인 바 , 테스트 라인 ( TL ) 들 과 팬 아웃 부 ( 160 ) 가 비중 첩 하 는 부분 에 있 어서 , 테스트 라인 ( TL ) 들 은 제 3 절연 층 ( 113 ) 상 에 배치 될 수 도 있 다 . 상기 구조 는 도 18 및 도 19 를 참조 해 설명 한다 .