검사 용 커넥터 는 , 반도체 소자 등 의 전자 부품 을 회로 기판 에 실장 한 후 에 기능 검사 를 실시 하 면 , 전자 부품 이 불량 인 경우 , 회로 기판 도 함께 처분 되 게 되 어 , 금액 적 인 손실 이 커진다는 문제 를 회피 하 기 위해 개발 되 었 다 . 검사 용 커넥터 는 , 반도체 소자 등 의 전자 부품 을 , 실장 시 와 동일 한 포지션 으로 회로 기판 에 이방 도전 성 부재 를 개재 하 여 접촉 시켜 기능 검사 를 실시 함 으로써 , 전자 부품 을 회로 기판 상 에 실장 하 지 않 고 기능 검사 를 실시 할 수 있 어 , 상기 문제 를 회피 할 수 있 다 .