도 1 은 종래 의 기술 에 따른 테스트 패턴 을 도시 한 평면도 이 다 . 도시 된 바 와 같이 , 종래 의 테스트 패턴 ( 10 ) 은 반도체 소자 ( 미 도시 ) 에 형성 되 며 , 다수 의 프로 빙 패드 ( probing pad ; 11 , 12 ) 와 프로 빙 패드 ( 11 , 12 ) 각각 에 연결 되 는 다수 의 메탈 라인 ( metal line ; 13 , 14 ) 을 포함 한다 .