본 발명 은 전자 기기 용 사전 진단 시스템 과 이 를 이용 한 사전 진단 방법 에 관한 것 으로 , 더욱 상세 하 게 는 전자 기기 의 하드웨어 를 구성 하 는 각 전자 부품 의 전류 값 과 주파수 값 을 연속 또는 주기 적 으로 계측 하 고 , 상기 계측 된 현 전류 값 과 현 주파수 값 을 판독 하 여 이상 징후 를 예측 함 으로써 , 관리자 에 의해 전자 기기 의 이상 징후 발생 시 적절 한 대처 가 가능 하 도록 구성 한 전자 기기 용 사전 진단 시스템 과 이 를 이용 한 사전 진단 방법 에 관한 것 이 다 .