또한 , 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 가 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 위치 ( 2 a ) 에 위치 된 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시킴 과 동시 에 , 상기 제 1 로딩 픽커 ( 221 ) 가 새로운 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 에 수납 시킬 수 있 다 . 이 에 따라 , 로딩 공정 에 걸리 는 시간 을 더 단축 시킬 수 있 고 , 로딩 공정 의 효율 성 을 더 향상 시킬 수 있 다 .