표면 기능 화 및 GO 및 dGO 의 화학 적 구조 를 조사 하 기 위해 , X 선 광전자 분광법 ( X - ray photoelectron spectroscopy ; 이하 ' XPS ') 및 푸리 에 변환 적외선 분광학 ( Fourier transform infrared spectroscopy ; 이하 ' FT - IR 분광학 ') 분석 을 수행 하 였 다 .