일반 적 으로 FET 인 구동 트랜지스터 ( 201 ) , 및 EL 디바이스 ( 202 ) 의 움직임 은 제 1 전압 공 급기 ( 211 ) 로부터 , 제 2 전압 공 급기 ( 206 ) 로 , EL 디바이스 전극 ( 207 및 208 ) 을 통해 , 제 2 공급 전극 ( 205 ) 및 제 1 공급 전극 ( 204 ) 을 통해 본질 적 으로 동일 한 전류 가 통과 하 도록 한다 . 그러므로 , 전류 는 이 사슬 에서 임의 지점 에서 측정 될 수 있 다 . 전류 는 EL 서브 픽셀 의 복잡도 를 감소 시키 기 위해 제 1 전압 공 급기 ( 211 ) 에서 EL 패널 에서 떨어져 측정 될 수 있 다 . 일 실시 예 에서 , 본 발명 은 전류 미러 유닛 ( 210 ) , " 상관 이중 - 샘플링 유닛 ( 220 ) 및 아날로그 - 디지털 컨버터 ( 230 ) 를 사용 한다 . 이 들 은 이하 "" 데이터 수집 "" 에서 설명 될 것 이 다 . "