이 와 같이 , 본 발명 에 따른 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 ( 100 ) 는 고정 부재 ( 120 ) 에 의해 일정 개수 , 예컨대 , 1 / 2 DUT 에 해당 하 는 갯 수 의 프로브 ( 110 ) 를 모듈 화 하 여 조립 함 으로써 조립 공정 에서 발생 하 는 프로브 ( 110 ) 의 변형 을 방지 하 여 품질 을 향상 시키 고 , 조립 성 이 뛰어나 생산 성 을 향상 시킨다 . 또한 , 사용 중 에 마모 또는 변형 이 발생 한 프로브 ( 110 ) 를 교체 시 모듈 단위 로 분리 시킬 수 있 기 때문 에 다른 프로브 에 손상 을 주 지 않 고서 용이 하 게 교체 할 수 있 다 .