또한 , 데이터 처리 장치 ( 600 ) 는 샘플 ( 400 ) 의 밑면 에서 윗면 까지 스캐닝 하 는 동작 을 제어 할 수 있 다 . 상기 스캐닝 동작 은 : 특정 높이 에서 의 섹 셔 닝 동작 을 포함 하 며 , 상기 특정 높이 는 샘플 ( 400 ) 의 높이 중 어느 높이 일 수 있 다 . 따라서 , 상기 현미경 시스템 ( 1 ) 은 이러 한 스캐닝 과정 을 통해 샘플 ( 400 ) 의 3 차원 정보 를 획득 할 수 있 다 .