또한 , 준비 판정 회로 ( 260 ) 가 검출 신호 ( DT [ m ] ) 에 근거 하 여 복수 의 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] [ n ] ) 중 의 제 1 전자 퓨즈 가 용단 된 전자 퓨즈 라고 판정 할 때 , 제 1 전자 퓨즈 에 대응 하 는 대기 시간 을 제 1 대기 시간 으로 조정 한다 . 준비 판정 회로 ( 260 ) 가 검출 신호 ( DT [ m ] ) 에 근거 하 여 복수 의 전자 퓨즈 ( 120 [ m ] ) 중 의 제 2 전자 퓨즈 가 용단 되 어 있 지 않 은 전자 퓨즈 라고 판정 할 때 , 제 2 전자 퓨즈 에 대응 하 는 대기 시간 을 제 2 대기 시간 으로 조정 한다 . 이 실시 예 에서 는 , 제 2 대기 시간 은 제 1 대기 시간 보다 길 다 .