상술 한 바 와 같 은 본 발명 의 실시 예 들 에 따르 면 , 테스트 트레이 에 수납 된 반도체 패키지 들 의 테스트 공정 을 수행 하 는 동안 상기 반도체 패키지 들 의 온도 정보 를 테스터 로부터 수신 하 고 , 상기 수신 된 온도 정보 로부터 상기 반도체 패키지 들 의 전체 평균 온도 를 산출 하 며 , 상기 산출 된 전체 평균 온도 와 각각 의 반도체 패키지 들 의 개별 온도 들 사이 의 차이 값 에 따라 푸 셔 유닛 들 에 구비 된 히터 들 의 동작 을 개별 적 으로 제어 할 수 있 다 . 또한 , 상기 산출 된 전체 평균 온도 와 상기 반도체 패키지 들 의 기 설정 된 테스트 기준 온도 사이 의 차이 값 에 따라 상기 히터 들 의 동작 을 전체 적 으로 일괄 제어 할 수 있 다 .