본 발명 은 종래 와 다르 게 , 8 ° 이상 의 높 은 축 각도 를 갖 는 이방성 이 형 필름 을 구비 하 여도 상관없 는 , 제조 단가 가 낮 은 편광판 을 제공 하 며 , 이 형 필름 의 이방성 과 관계없이 , 또한 , 검사 하 고자 하 는 편광판 의 편광자 와 검사 용 편광판 사이 에 이방성 매질 이 존재 하 여도 간단 하 게 이 를 보정 하 여 편광판 의 흠결 을 검사 할 수 있 는 편광판 검사 시스템 을 제공 한다 .