차폐 체 ( 66 ) 에 입사 한 X 선 은 산란 선 ( 散亂 線 ) 을 발생 시켜 , 모든 X 선 검출기 ( 23 ) 를 동시 노광 · 펄스 촬상한 때 에 는 촬상 화상 의 열화 를 유발 할 가능 성 이 있 다 . 예 를 들 면 , X 선 검출기 ( 23 . 1 , 23 . 2 및 23 . 3 ) 를 동시 노광 한 경우 , X 선 검출기 ( 23 . 1 ) 를 향하 여 조사 한 X 선 의 산란 선 은 , X 선 검출기 ( 23 . 2 ) 에서 의 촬상에 영향 을 줄 가능 성 이 있 다 . 그래서 , 후술 하 는 바 와 같이 , X 선 검출기 ( 23 ) 를 , 양단 의 2 개 의 X 선 검출기 ( 23 . 1 및 23 . 3 ) 와 중앙 의 X 선 검출기 ( 23 . 2 ) 로 노광 시간 을 비키 여서 동작 시킴 으로써 , 촬상 시간 은 같 아도 , 산란 선 의 영향 을 억제 한 촬상이 가능 해진다 .