그런데 , 본 실시 예의 본 발명자 등 은 , " 전술 한 "" 플 래쉬 현상 "" 의 원인 을 해석 한 결과 ", 이 현상 은 , 발광 다이오드 ( 유기 ＥＬ 소자 등 ) 의 역 바이어스 기간 의 길이 에 관계 된 것 을 찾 았 다 . 유기 ＥＬ 소자 의 역 바이어스 에 대해서 , 상기 특허 문헌 1 에 는 , 5 T 1 Ｃ 형 의 화소 회로 에 있 어서 , 유기 발광 다이오드 ＯＬＥＤ ( 유기 ＥＬ 소자 ) 를 역 바이어스 된 상태 에서 한계 치 전압 보정 을 행하 는 제어 가 기재 되 어 있 다 ( 상기 특허 문헌 1 의 제 1 및 제 2 실시 예 참조 , 예 를 들 면 , 제 1 실시 예 에 있 어서 의 단락 [ 0046 ] 등 의 기재 참조 ) . 특허 문헌 1 에서 는 , 1 개 의 화소 에 대한 구동 에 만 착안 한 설명 을 하 고 있 기 때문 에 기재 되 지 않 고 있 지만 , 실제 의 유기 EL 디스플레이 에 있 어서 는 , 유기 ＥＬ 소자 의 역 바이어스 는 , 이전 의 화면 표시 기간 ( 1 F ) 에 있 어서 의 발광 종점 으로부터 개시 되 어 , 보정 기간 을 경과 해서 다음 발광 시 에 해소 된다 . 그 때문 에 , 역 바이어스 의 길이 ( 시점 ) 가 , 유기 ＥＬ 소자 의 발광 허가 기간 의 길이 에 의존 하 고 , 때로 는 변화 된 다 .