도 3 은 본 발명 의 일실 시예 에 따른 메모리 모듈 의 검사 장치 의 분리 사시도 이 고 , 도 4 는 도 3 의 결합 사시도 이 며 , 도 5 는 도 4 의 인터 포저 와 검사 소켓 의 배면 사시도 이 고 , 도 6 은 도 4 의 Ⅵ - Ⅵ 단면도 이 며 , 도 7 은 도 6 의 검사 장치 에 메모리 모듈 이 삽입 된 모습 을 나타내 는 단면도 이 고 , 도 8 은 도 6 의 걸림 턱 이 걸림 부 로부터 걸림 해제 된 모습 을 나타내 는 단면도 이 며 , 도 9 는 도 4 의 Ⅸ - Ⅸ 단면도 이 고 , 도 10 은 도 9 의 이 젝 트 수단 의 동작 도 이 다 .