상기 AFM 은 프로브 탑 침 의 끝 을 측정 하 고자 하 는 샘플 의 표면 에 근접 시키 면 정전기 적 인 힘 ( Electrostatic Force ) , 반데르발스 힘 ( Van Der Waals Force ) , 쿨렁 힘 ( Coulombic Force ) 등 과 같이 끌어당기 는 힘 또는 밀어내 는 힘 이 샘플 표면 의 원자 와 탑 침 끝 의 원자 사이 에 작용 하 는데 , 이 힘 에 의해 상기 캔 티 레버 의 휨 이 발생 하 고 이 힘 이 일정 하 게 유지 되 도록 하 면서 정밀 제어 되 어 측정 하 고자 하 는 각 지점 에서 스캐너 의 위치 를 저장 하 여 샘플 표면 의 삼차원 영상 을 얻 는 원리 를 가지 고 있 다 .