얻 어 진 착색 도막 에 대하 여 , 측 색기 ( OSP - SP - 200 ; 올림푸스 ( 주 ) 제 ) 를 이용 하 여 분광 을 측정 하 고 , C 광원 의 특성 함수 를 이용 하 여 CIE 의 XYZ 표색 계 에 있 어서 의 xy 색도 좌표 ( x , y ) 와 자극 값 Y 를 측정 하 였 다 . Y 의 값 이 클수록 명도 가 높 다는 것 을 나타낸다 .