테스트 를 위해서 , 전자 소자 , 예컨대 SIP 는 외부 패드 들 ( 115 ) 에 부가 하 여 바이패스 패드 들 ( 120 ) 을 포함 할 수 있 다 . 바이패스 패드 들 ( 120 ) 은 테스트 패드 들 로 불릴 수 도 있 다 . 바이패스 패드 들 ( 120 ) 은 반도체 칩 을 포함 하 는 전자 소자 가 매우 작 은 경우 에 특히 유용 할 수 있 다 . 바이패스 패드 들 ( 120 ) 은 전자 소자 들 내 의 메모리 칩 들 을 테스트 하 기 위해서 이용 될 수 있 다 . 결과 적 으로 , 정상 적 인 ( normal ) 제조 공정 동안 또는 특정 테스트 단계 들 이 유발 될 때 , 메모리 칩 들 은 제어기 칩 이 정상 동작 하 지 않 는 경우 에 도 테스트 될 수 있 다 .