프린트 배선 기판 에 회로 패턴 ( 回路 pattern ) 을 형성 할 때 에 , 회로 패턴 에 단락 ( 短絡 ) 이나 단선 ( 斷線 ) 등 의 결함 이 발생 해 버리 는 경우 가 있 다 . 그러 한 기판 의 결함 을 발견 하 기 위해서 , 예 를 들 면 광학 검사 장치 ( 光學 檢査 裝 置 ) 가 사용 되 고 있 다 . 이러 한 광학 검사 장치 는 , 검사 기판 을 지지 하 는 테이블 과 , 검사 기판 의 회로 패턴 을 향하 여 검사 용 의 광 ( 光 ) 을 출력 하 는 광 조사 장치 ( 光 照射 裝置 ) 와 , 회로 패턴 으로부터 반사 된 광 을 수광 ( 受 光 ) 하 는 광검 출장 치 ( 光 檢出 裝置 ) 와 , 검출 한 광 으로부터 회로 패턴 을 해석 하 여 결함 의 상황 을 조사 ( 調 査 ) 하 는 제어 장치 를 구비 하 고 있 다 .