" 본 출원 은 "" 인쇄 및 제조 시스템 에서 정밀 한 위치 정렬 ", 보정 및 측정 ( Precision Position Alignment , " Calibration And Measurement In Printing And Manufacturing Systems ) "" 에 대한 첫 번 째 발명자 인 David C . Darrow 를 대표 하 여 2017 년 12 월 21 일자 로 출원 된 미국 특허 출원 제 15 / 851419 호 의 우선권 을 주장 하 며 ; 본 출원 은 "" 인쇄 및 제조 시스템 에서 의 정밀 위치 정렬 ", 교정 및 측정 ( Precision Position Alignment , " Calibration And Measurement In Printing And Manufacturing Systems ) "" 에 대한 첫 번 째 발명자 인 David C . Darrow 를 대표 하 여 2017 년 2 월 15 일 에 출원 된 미국 가 출원 특허 제 62 / 459402 호 의 방금 언급 된 미국 실용신안 특허 출원 과 마찬가지 로 우선 권 을 주장 한다 . 이 들 각각 의 이전 출원 은 본 발명 에서 참조 로 포함 된다 . 본 출원 은 또한 하 기 문서 를 참조 로 포함 한다 : ( 1 ) "" 정밀 공차 내 에서 유체 를 증착 하 기 위해 프린트 잉크 액 적 측정 및 제어 를 위한 기술 ( Techniques for Print Ink Droplet Measurement and Control to Deposit Fluids within Precise Tolerances ) "" 에 대해 첫 번 째 발명자 인 Nahid Harjee 를 대표 하 는 2014 년 7 월 24 일 에 출 원서 가 제출 된 미국 특허 번호 제 9352561 호 ( USSN 14 / 340403 ) "," ( 2 ) "" 향상 된 속도 및 정확도 로 영구 층 의 정렬 을 위한 기술 ( Techniques for Arrayed Printing of a Permanent Layer with Improved Speed and Accuracy ) "" 에 대해 첫 번 째 발명자 인 Michael Baker 를 대표 하 여 2015 년 6 월 30 일 에 출 원서 가 제출 된 미국 특허 공개 번호 제 20150298153 호 ( USSN 14 / 788609 ) "," 및 ( 3 ) "" 두께 제어 를 위해 하프토닝 을 사용 하 여 잉크 기반 층 제조 "" 에 대해 첫 번 째 발명자 인 Eliyahu Vronsky 를 대표 하 여 2014 년 8 월 12 일 에 출 원서 로서 출원 된 미국 특허 번호 제 8995022 호 . "