이상 에서 상세히 설명 한 바 와 같이 본 고안 에 따르 면 , 플라 즈 마 디스플레이 패널 을 만들 어 낼 때 , 제조 공정 전반 에 걸쳐 발생 된 유리 조각 이 PDP 에 들어가 불량 을 발생 시키 게 되 는 것 을 방지 하 기 위하 여 , PDP 에 들어간 유리 조각 을 검출 할 때 , 유리 조각 을 통과 할 시 그 감쇠 의 정도 가 커서 정상 적 으로 발광 하 는 형광체 와 의 구분 을 확연히 할 수 있 는 자외선 을 이용 하 여 , 종래 의 백색광 을 이용 한 유리 조각 검출 에서 보다 효과 적 이 면서 도 미 세립 의 유리 조각 까지 도 검출 될 수 있 는 검출 작업 이 이루어지 는 것 이 다 .