또한 , 전지 에 접하 여 , 이 전지 의 표면 의 형상 변화 를 검출 하 는 센서 와 , 상기 센서 의 출력 을 연산 처리 하 여 상기 전지 의 표면 의 형상 변화 의 상태 나 상기 전지 의 내부 저항 을 측정 하 여 전지 의 상태 를 판정 하 는 판정 회로 를 구비 하 는 전지 상태 검출 장치 가 공지 이 다 ( 예 를 들 면 , 특허 문헌 2 를 참조 ) . 그러나 , 이 기술 은 , 전지 에 있 어서 의 가능 한 한 많 은 면 에 센서 를 배치 할 필요 가 있 고 , 비용 이 증대 할 우려 가 있 다 . 또한 , 장치 의 소비 전력 이 크 다는 , 형상 의 미소 한 변화 를 검출 하 는 것 이 곤란 하 다는 부적합 함 도 있 다 .