이 경우 , 도 1 에 도시 된 바 와 같이 , 각 콘 택 프로브 ( 6 ) 는 상기 테스트 헤드 ( 1 ) 를 포함 하 는 상기 프로브 카드 ( 15 ) 의 스페이스 트랜스포머 ( 13 ) 의 복수 의 콘 택 패드 들 중 한 콘 택 패드 ( 12 ) 를 향하 는 소위 콘 택 헤드 ( 11 ) 라 불리우 는 또 다른 말단 부분 또는 영역 을 갖 는다 . 웨이퍼 ( 9 ) 상 에 집적 된 피검 소자 의 콘 택 패드 들 ( 8 ) 과 콘 택 팁 들 ( 7 ) 간 의 접촉 방식 과 유사 하 게 , 콘 택 프로브 들 ( 6 ) 의 상기 콘 택 헤드 들 ( 11 ) 을 상기 스페이스 트랜스포머 ( 13 ) 의 콘 택 패드 들 ( 12 ) 상 에 접하 게 함 으로써 상기 콘 택 프로브 들 ( 6 ) 과 상기 스페이스 트랜스포머 ( 13 ) 사이 의 양호 한 전기 적 접촉 이 보장 된다 .