제어 회로 부 ( 42 ) 는 임펄스 응답 측정 회로 부 ( 102 ) 와 같 은 임피던스 측정 회로 부 및 스위칭 회로 부 ( 110 ) 를 사용 하 여 충전 표면 ( 60 ) 아래 의 코일 들 ( 36 ) 각각 에 대해 L 을 측정 한다 . 주어진 코일 에 대한 L 의 측정 된 값 이 표면 ( 60 ) 과 중첩 하 는 코일 들 ( 36 ) 의 어레이 내 의 코일 들 ( 36 ) 각각 에 대해 예상 되 는 정상 ( 공칭 ) L 값 과 매칭 되 는 경우 ( 예컨대 , 측정 된 L 값 이 코일 ( 14 ) 또는 디바이스 ( 10 ) 의 다른 부분 들 의 존재 에 의해 영향 을 받 지 않 을 때 ) , 제 어 회로 부 ( 42 ) 는 외부 물체 가 존재 하 지 않 는다고 결론 내릴 수 있 다 . L 의 주어진 측정 된 값 이 L 의 공칭 값 과 상이 한 경우 , 제 어 회로 부 ( 42 ) 는 디바이스 ( 10 ) 의 하우징 의 일부분 이 존재 한다고 ( 예컨대 , L 에서 의 감소 가 측정 된 경우 ) 또는 코일 ( 14 ) 이 존재 한다고 ( 예컨대 , L 에서 의 증가 가 측정 된 경우 ) 결론 내릴 수 있 다 . 각각 의 측정 된 코일 ( 36 ) 의 위치 들 및 L 값 들 은 제어 회로 부 ( 42 ) 에 의해 분석 되 어 , 디바이스 ( 12 ) 의 위치 ( 코일 ( 14 ) 의 중심 및 / 또는 디바이스 ( 10 ) 의 중심 ) 를 결정 하 고 , 디바이스 ( 12 ) 의 각도 배향 A 를 결정 하 기 위해 , 어느 유형 의 디바이스 ( 10 ) 가 존재 하 는지 를 검출 하 는 것 을 도울 수 있 다 ( 예컨대 , 임피던스 - 변화 패턴 들 이 시계 또는 다른 작 은 디바이스 , 셀룰러 전화기 , 태블릿 컴퓨터 등 을 식별 하 는 것 을 돕 기 위해 사용 될 수 있 다 ) .