반도체 메모리 장치 는 모드 레지스터 라이트 커맨드 에 응답 하 여 테스트 인 에이블 신호 를 생성 하 는 테스 트인 에이블 신호 생 성부 와 제 1 및 제 2 테스트 모드 신호 조합 에 따라 제 1 및 제 2 전달 신호 를 생성 하 는 전달 신호 생 성부 와 상기 제 1 및 제 2 전달 신호 에 응답 하 여 하위 코드 를 디 코딩 하 여 테스트 구동 신호 를 생성 하 는 테스트 구동 신호 생 성부 및 상기 테스트 구동 신호 에 응답 하 여 테스트 모드 동작 을 수행 하 는 테스트 회로 를 포함 한다 .