상기 저 장부 ( 160 ) 에 저장 되 어 있 는 지연 시간 ( t ) 및 듀티 비 정보 는 상기 백라이트 제 어부 ( 140 ) 에 시리얼 통신 으로 연결 된 테스트 장치 ( 200 ) 를 통해 저장 될 수 도 있 다 . 즉 , 상기 테스트 장치 ( 200 ) 는 상기 백라이트 제 어부 ( 140 ) 를 통해 LED 어레이 부 ( 110 ) 로 테스트 신호 를 출력 하 고 , 상기 테스트 신호 에 대응 하 는 결과 신호 를 상기 백라이트 제 어부 ( 140 ) 로부터 피드백 받 아 LED 어레이 부 ( 110 ) 의 작동 상태 를 파악 하 여 지연 시간 ( t ) 및 R / G / B LED 각각 에 대한 PWM 신호 의 최적 의 듀티 비 를 찾아내 어 상기 저 장부 ( 160 ) 에 저장 시켜 둔다 . 이 에 , LED 어레이 부 ( 110 ) 는 PWM 신호 조 절부 ( 150 ) 에 의해 지연 시간 ( t ) 만큼 지연 되 고 , 최적 의 듀티 비 로 보정 된 R / G / B 구동 용 PWM 신호 를 입력 받 아 노이즈 가 제거 되 고 , 광도 편차 가 보정 되 어 개선 된 LCD 화질 을 제공 하 게 된다 .