도 8 과 도 9 에 도시 된 바 와 같이 , 게이트 테스트 패드 ( 124 a ) 는 게이트 전극 층 구성 물질 로 이루어지 고 , 하나 의 공통 된 전극 으로 형성 된다 . 그리고 그 일 측 끝단 에 는 오토 프로브 패드 ( 140 a ) 가 동일 한 물질 로 형성 되 어 있 으며 , 게이트 절연 층 ( 136 ) 과 층간 절연 층 ( 137 ) 에 형성 된 컨 택트 홀 ( 140 a , 140 b ) 을 통하 여 반대쪽 끝단 과 연결 된 화소 전극 층 구성 물질 로 이루어진 패턴 ( 150 a ) 과 병열 로 연결 된다 .