본 발명 은 메모리 모듈 테스트 용 소켓 모듈 에 관한 것 으로서 , 메모리 모듈 을 테스트 하 는 장치 의 메모리 소켓 에 설치 되 어 테스트 하 고자 하 는 메모리 모듈 을 장착 시키 는 소켓 모듈 에 있 어서 , 메모리 모듈 이 장착 되 는 테스트 소켓 과 , 테스트 소켓 에 장착 되 어 메모리 소켓 에 접속 되 는 확장 PCB 와 , 테스트 소켓 과 메모리 소켓 사이 에 설치 되 어 테스트 소켓 이 메모리 소켓 에 가이드 되 도록 하 는 가이드 블록 을 포함 한다 . 따라서 , 본 발명 은 메모리 모듈 이 장착 되 는 테스트 소켓 이 메모리 소켓 으로부터 유동 하 는 것 을 방지 함 으로써 메모리 모듈 이 정확 하 게 접속 되 도록 하 여 테스트 의 신뢰 성 을 높이 고 , 테스트 소켓 과 메모리 소켓 을 접속 시키 는 확장 PCB 가 휨 에 의한 손상 되 거나 테스트 소켓 및 메모리 소켓 에서 확장 PCB 의 접속 부위 가 손상 되 는 것 을 방지 하 며 , 확장 PCB 가 메모리 모듈 과 테스트 장치 간 의 신호 전달 시간 을 최소 로 하 여 신속 한 테스트 가 이루어지 도록 하 는 효과 를 가지 고 있 다 .