반도체 와 같 은 전자 제품 의 제조 과정 에 는 최종 적 으로 제조 된 전자 제품 을 검사 하 는 검사 장치 가 요구 된다 . 이러 한 검사 장치 는 전자 제품 을 검사 하 는 과정 에서 발생 된 열 을 외부 로 방출 할 필요 가 있 다 . 이 와 같이 발생 된 열 은 검사 시 에 저항 을 상승 시키 는 인자 로서 제품 검사 의 신뢰 성 을 저하 시키 고 , 내부 의 회로 를 단락 시켜 제품 고장 의 원인 이 된다 . 따라서 , 파워 ( Power ) 반도체 , 차량 용 반도체 , 시스템 반도체 의 테스트 에 는 발생 된 열 의 빠른 방출 이 필수 요건 이 라 할 수 있 다 .