각 콘 택 프로브 ( 6 ) 는 웨이퍼 ( 9 ) 상 에 집적 된 피검 디바이스 의 콘 택 패드 ( 8 ) 에 접하 게 될 콘 택 팁 ( 7 ) 을 구비 한 말 단부 를 가짐 으로써 , 상기 피검 디바이스 와 테스트 장치 ( 미 도시 ) 사이 의 기계 적 및 전기 적 접촉 을 실현 하 게 되 는데 , 상기 프로브 카드 가 말단 구성 ( end element ) 을 형성 하 게 된다 .