상기 가열기 ( 220 ) 는 , 도 3 에 도시 되 어 있 는 바 와 같이 , 상기 한 쌍 의 소켓 ( 211 ) 의 상부 에 한 쌍 으로 구비 되 어 , 상기 한 쌍 의 소켓 ( 211 ) 에 삽입 된 한 쌍 의 메모리 모듈 을 가열 한다 . 본 발명 의 반도체 소자 테스터 는 상기 가열기 ( 220 ) 를 작동 시킬 경우 , 약 80 ℃ 안팎 까지 의 고온 실장 테스트 의 수행 이 가능 하 다 .