본 발명 은 전술 한 문제점 을 해결 하 기 위하 여 안출 된 것 으로서 , FPGA 칩 을 사용 하 여 다수 의 드라이버 칩 과 다수 의 컴 패 레이터 칩 을 집적 화 하 고 , 이러 한 FPGA 칩 에서 드라이버 와 컴 패 레이터 의 기능 이 상호 충돌 없이 선택 적 으로 수행 되 도록 한 FPGA 를 이용 한 반도체 테스트 헤드 장치 를 제공 하 는데 그 목적 이 있 다 .