게다가 , 반사 의 위상 ( phase ) 측정 이 홀 프로파일 ( 가령 , 깊이 프로파일 ) 에 대한 추가 적 인 정보 를 제공 할 수 있 다 . 이 는 , 샘플 과 의 상호 작용 이전 에 입사 광선 의 일부 를 분할 ( split off ) 하 고 , 분할 된 입사 광선 과 반사 광선 의 간섭 을 야기 함 으로써 수행 될 수 있 다 . 이러 한 분할 된 빔 은 전체 검출기 광 민감 성 표면 을 덮 도록 확장 될 수 있 고 , 따라서 , 세기 측정 에 민감 한 위상 을 생성 할 수 있 다 .