즉 , 상기 레이저 발생 부 ( 10 ) 의 레이저 발생 장치 ( 11 ) 에서 발생 및 방출 되 는 레이저 빔 으로 인해 상기 시료 셀 ( 33 ) 내부 의 렌즈 ( 34 ) 의 초점 근처 에서 발생 되 는 레이저 유도 충격파 가 매질 을 전파 해 갈 때 매질 의 굴절 률 이 변화 되 면 이 로 인해 탐침 빔 의 경로 가 변하 는 원리 를 이용 한 것 으로서 , 탐침 빔 의 경로 변화 는 결과 적 으로 광 다이오드 ( 53 ) 로 입사 되 는 탐침 빔 의 세기 에 변화 를 주 어 충격파 를 측정 할 수 있 다 .