일 측면 에서 , 측정 값 은 기준 디바이스 에 대한 기준 에 의한 정전 용량 측정 에 기초 한다 . 일 측면 에서 , 정전 용량 측정 은 디바이스 내 의 임의 의 전극 의 위치 및 다른 측면 에 의존 할 수 있 다 . 이러 한 변형 은 SEM 스캐너 모델 200 ( Bruin Biometrics , LLC , Los Angeles , CA ) 과 같 은 기준 SEM 디바이스 와 비교 될 수 있 다 . 당업자 는 본 출원 에서 설명 된 측정치 가 기준 디바이스 에 대한 기준 에 의해 차이 정전 용량 범위 를 수용 하 도록 조절 될 수 있 음 을 이해 한다 .