이러 한 제 1 , 2 패드 ( Pd 1 , Pd 2 ) 를 구비 한 검사 패턴 ( TP ) 은 최종 적 으로 는 상기 모 기판 ( 111 ) 에서 제거 되 지만 , 유기 전계 발광 다이오드 모 기판 ( 111 ) 자체 에서 상기 유기 전계 발광 다이오드 패턴 ( OEDP 1 , OEDP 2 , OEDP 3 , OEDP 4 ) 의 불량 유무 를 검사 가 가능 하 도록 한다는 점 에 있 어서 본 발명 의 가장 특징 적 인 구성 요소 라 할 수 있 다 .