도 1 은 종래 기술 의 테스트 용 소켓 을 나타내 는 도면 이 다 . 종래 기술 의 테스트 용 소켓 의 이방 전도성 시트 ( 5 ) 는 반도체 소자 ( 1 ) 의 단자 ( 2 ) 와 접촉 하 는 접촉 부 ( 6 ) 와 인접 한 접촉 부 ( 6 ) 들 을 절연 시키 며 지지 하 는 절 연부 ( 8 ) 로 구성 된다 . 접촉 부 ( 6 ) 의 상단 부 와 하단 부 는 각각 반도체 소자 ( 1 ) 의 단자 ( 2 ) 와 반도체 검사 장치 ( 3 ) 의 접촉 패드 ( 4 ) 와 접촉 하 여 , 단자 ( 2 ) 와 접촉 패드 ( 4 ) 를 전기 적 으로 연결 한다 . 접촉 부 ( 6 ) 는 실리콘 수지 에 크기 가 작 은 구형 의 전도성 입자 ( 7 ) 들 을 혼합 하 여 굳힌 것 으로서 전기 가 흐르 는 도체 로 작용 한다 .