즉 , 상기 적 재부 는 테스트 를 수행 할 복수 의 반도체 소자 ( 40 ) 을 정렬 하 고 , 테스트 가 완료 된 양품 의 반도체 소자 ( 40 ) 이 다시 적재 되 는 곳 이 다 . 또한 , 상기 테스 터부 는 테스트 회로 기판 을 포함 하 여 상기 반도체 소자 ( 40 ) 의 실장 테스트 가 수행 되 며 , 이 적 재부 와 는 별도 로 구비 된 불량 적 재부 에 불량품 으로 판정 된 상기 반도체 소자 가 적재 된다 . 여기 서 , 상기 테스트 회로 기판 은 PC ( Personal computer ) 의 메인보드 ( Main board ) 이 다