통상 적 으로 평판 디스플레이 의 결함 을 검사 하 는 방법 으로 는 패널 표면 에 광 을 조사 하 고 , 상기 조사 된 광 의 광학 적 변화 로부터 패널 표면 의 결함 을 검사 하 는 방식 이 이용 된다 . 즉 , 광원 으로부터 조사 된 빛 은 거울 , 렌즈 , 액정판 등 의 경로 를 순차 적 으로 거쳐 피검 체인 상기 평판 디스플레이 에 조사 되 고 , 검사 자 는 흠집 이나 얼룩 과 같 은 결함 유무 를 판별 할 수 있 다 . 그러나 , 광 의 휘도 가 불 안정 한 경우 구조 적 으로 평판 디스플레이 에서 의 불 균일 한 밝기 로 인하 여 정확 하 게 결함 유무 를 판별 하 지 못할 수 있 다 .