본 발명 에 따른 검사 장치 ( 10 ) 는 , 도 1 및 도 2 에 나타내 어 져 있 듯이 , 액정 표시 패널 ( 12 ) 과 같 은 표시 패널 의 예 를 들 어 점 등 검사 와 같 은 전기 시험 에 이용 된다 . 액정 표시 패널 ( 12 ) 은 사각형 의 형상 을 갖 고 , 한 쪽 면 의 각 변 을 따라 배치 된 다수 의 전극 ( 14 ) 의 군 ( 群 ) ( 도 2 참조 ) 이 상호 간격 을 두 고 형성 되 어 있 다 . 이 들 전극 ( 14 ) 은 액정 표시 패널 ( 12 ) 의 도시 하 지 않 은 액정 구동 회로 에 접속 되 어 있 다 .