본 발명 은 테스트 할 반도체 소자 를 테스트 트레이 에 로딩 하 는 로딩 부 ; 테스트 트레이 에 로딩 된 반도체 소자 를 테스트 조건 에 상응 하 는 온도 로 조절 하 는 제 1 챔버 ; 테스트 조건 에 상응 하 는 온도 로 조절 된 테스트 트레이 를 공급 받 아 테스트 를 수행 하 고 , 테스트 완료 된 테스트 트레이 를 공급 하 는 테스트 유닛 ; 테스트 완료 된 테스트 트레이 를 상온 으로 복원 시키 는 제 2 챔버 ; 테스트 완료 된 반도체 소자 를 테스트 트레이 로부터 분리 하 여 테스트 결과 에 따라 언 로딩 하 는 언로 딩 부 ; 상기 테스트 유닛 , 상기 테스트 유닛 의 상측 , 및 상기 테스트 유닛 의 하측 간 에 수직 상태 로 전환 된 테스트 트레이 를 이송 하 는 제 1 이 송부 를 가지 는 테스트 이송 부 ; 테스트 트레이 를 수평 상태 에서 수직 상태 로 회전 시키 는 제 1 로 테이터 ; 및 테스트 트레이 를 수직 상태 에서 수평 상태 로 회전 시키 는 제 2 로 테이터 를 포함 하 는 반도체 소자 테스트 용 핸들러 및 테스트 방법 에 관한 것 으로서 ,