제조 된 인공 격자 의 결정 구조 를 확인 하 기 위하 여 Cu - K α 파장 의 ( λ = 1 . 5405 Å ) X - 선 회절 장치 ( XRD ; x - ray diffractometry ) 를 사용 하 였 다 . 또한 , 전기 적 특성 은 RT 66 A 강유 전 분극 특성 측정 장비 와 LCR 측정기 ( HP 4194 A Impedance Analyser ) 를 사용 하 여 관찰 하 였 다 . 그리고 인공 격자 의 표면 평탄 도 및 도메인 구조 와 나노 스케일 의 비트 형성 을 위하 여 주사 탐침 현미경 ( scanning probe microscope ) 방법 을 통하 여 관찰 하 였 다 . 특히 표면 평탄 도 는 접촉 방식 의 원자 현미경 ( contact mode - atomic force microscopy ) 방법 을 이용 하 여 표면 을 스캔 하 여 관찰 하 였 고 , 상기 방법 으로 탐침 에 외부 펄스 또는 직류 전압 을 통하 여 인공 격자 의 전기 분극 의 방향 을 특정 방향 으로 배열 하 여 데이터 를 기록 하 였 다 . 데이터 를 읽 을 때 는 탐침 이 접촉 한 상태 에서 일정 한 교류 전압 을 인가 하 여 박막 에 기록 된 도메인 간 의 전기 적 힘 에 의해 박막 이 교류 전압 에 따라 진폭 이 변하 는 것 을 분석 하 여 전기 분극 방향 을 알아내 는 압 전 응답 방식 의 주사 탐침 현미경 ( Piezoresponse force microscopy ) 방법 을 사용 하 였 다 .