광픽업 장치 ( 100 , 300 , 400 , 또는 500 ) 에 의해 디스크 틸 트 신호 를 검출 하 는 경우 , 서브 빔 생성 회절 격자 ( 123 ) ( 또는 서브 빔 생성 회절 격자 ( 123 ) 대신 사용 되 는 광학 소자 ) 에 의해 생성 되 는 서브 빔 을 미리 설정 된 양 만큼 디 포커스 시킨다 . 예 를 들 면 서브 빔 생성 회절 격자 ( 123 ) 의 회절 격자 에 , 각각 상이 한 파워 를 부여 하 거나 및 / 또는 , 귀환 광로 중 파워 나 광로 길이 를 바꾸 어서 , 서브 빔 의 포커스 위치 를 상이 하 게 한다 .