도 13 에 도시 된 것 과 같이 , 테스트 회로 ( 190 ) 는 복수 의 테스트 라인 ( TL ) 들 ( 즉 , 제 1 신호 선 들 ) 을 포함 할 수 있 다 . 복수 의 테스트 라인 ( TL ) 들 은 복수 의 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 과 복수 의 데이터 선 ( DL ) 들 을 연결 하 기 위해 표시 영역 ( DA ) 의 외곽 을 일주 ( 一周 ) 하 도록 배치 될 수 있 다 . 테스트 회로 ( 190 ) 의 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 은 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 및 제 3 주변 영역 ( PA 3 ) 에 만 배치 되 나 , 복수 의 테스트 라인 ( TL ) 들 은 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 및 제 3 주변 영역 ( PA 3 ) 뿐 만 아니 라 , 제 2 주변 영역 ( PA 2 ) 및 제 4 주변 영역 ( PA 4 ) 에 도 배치 될 수 있 다 .