대향 방전 이 라 함 은 스캔 전극 과 데이터 전극 간 의 방전 을 의미 한다 . 즉 , 롱 갭 구조 에서 스캔 전극 의 전압 과 그라운드 전압 으로 설정 된 서 스테인 전극 간 에 전 압차 가 인가 되 는 경우 스캔 전극 과 서 스테인 전극 간 의 방전 에 앞서 서 스캔 전극 과 데이터 전극 간 의 전압 차 에 의하 여 방전 이 이루어진다 . 결국 , 전술 한 바 와 같이 , 롱 갭 구조 는 대향 방전 의 발생 을 전제 로 하 여 구동 이 이루어짐 을 알 수 있 다 . 이 는 종래 의 면방 전 모드 에서 의 구동 방법 과 는 별개 의 구동 방법 을 필요 로 하 게 된다 .