제 1 및 제 2 센서 ( 244 , 246 ) 를 위해 사용 되 는 센서 의 형태 에 의존 하 여 , 제 1 또는 제 2 센서 는 이송 된 다이 의 기능 성 을 또한 테스트 할 수 있 다 . 대안 적 으로 , 추가 의 테스터 센서 ( 도시 되 지 않 음 ) 는 장치 ( 200 ) 로부터 제품 기판 ( 210 ) 을 제거 하 기 전 에 개별 다이 를 테스트 하 기 위해 장치 ( 200 ) 의 구조 에 통합 될 수 있 다 .