상기 표 2 의 물성 측정 에서 컷 앤 칩 특성 은 비 . 에프 . 굿리치 컷 앤 칩 테스터 ( B . F . Goodrich cut & chip tester ) 를 이용 하 여 날카로운 칼날 이 회전 하 는 시편 을 일정 한 속도 로 내리치 면서 시험 을 하 는 방법 으로 최초 의 시편 무게 와 시험 후 의 시편 무게 와 의 무게 차 가 적 을수록 성능 이 우수 함 을 나타낸다 . 한편 상기 표 2 의 결과 에서 실시 예 1 ∼ 3 의 컷 앤 칩 특성 값 은 비 교예 의 측정값 을 100 으로 하 였을 때 환산 한 것 으로서 수치 가 높 을수록 마모 특성 이 우수 함 을 의미 한다 .