또한 , 디스플레이 패널 및 광학 수단 상 에 마커 들 을 미리 제공 하 고 , 길 이 측정 마이크 로 스코프 보다 더 비싸 지 않 은 센서 및 광학 시스템 을 이용 하 여 마커 들 의 위치 및 형상 을 검출 하 며 , 이 에 의해 광학 수단 과 디스플레이 패널 간 의 상대 적 위치 정확도 를 검출 하 는 방법 이 존재 한다 . 그러나 , 이러 한 방법 에 따르 면 , 동일 한 포커스 에서 디스플레이 패널 과 광학 수단 의 마커 들 을 촬영 ( photograph ) 하 기 가 어렵 다 . 또한 , 디스플레이 패널 에서 의 높 은 선명도 를 증가 시키 는 경향 에 따라 필요 한 정확도 에서 위치 적 편차 가 검출 될 수 없 는 다른 문제점 이 있 다 .