그러나 최근 라만 센서 시스템 에서 후방 산란광 의 세기 분포 의 부정확 성 이 중요 한 문제 로 제기 되 고 있 다 . 이러 한 부정확 성 은 순수 한 온도 에 의한 영향 뿐 만 아니 라 광섬유 상 에서 의 물리 적 인 방해 로 인한 로컬 감쇠 로부터 야기 된다 . 이러 한 세기 분포 의 부정확 성 으로 인해 야기 된 측 정상 의 에러 를 피하 기 위해 로컬 감쇠 의 영향 은 제거 될 필요 가 있 다 . 이러 한 부정확 성 은 주로 스톡스 광과 안티 스톡스 광 에 있 어서 100 nm 내지 200 nm 에 이르 는 파장 차이 와 입사광 파장 에 대한 의존 성 으로 인해 발생 한다 . 또한 , 서로 다른 제조 과정 에서 제조 된 광섬유 들 은 차등 감쇠 분포 를 갖 게 된다 . 게다가 , 이러 한 차등 감쇠 는 광섬유 가 구 부러짐 , 인장 , 압축 , 방사 및 화학 적 오염 과 같 은 방해 를 받 을 때 더욱 증가 하 게 된다 . 구 부러짐 이나 압축 의 경우 에 차등 감쇠 는 상대 적 으로 작 아서 레일리파 또는 스톡스 파 에 의해 보상 될 수 있 다 . 또한 , 핵 구조물 에서 의 감마선 방사 는 차등 감쇠 에 의해 야기 되 는 온도 에러 의 전형 적 인 원인 이 다 . 이러 한 문제 를 해결 하 기 위해 레일리 와 안티 스톡스 밴드 를 이용 한 몇몇 방법 들 이 제안 되 었 지만 파장 차이 는 여전히 남 아 있 었 고 이 로 인한 차등 감쇠 는 완전히 제거 될 수 없 었 다 .