상기 설명 된 동적 결함 검출 프로세스 와 동시 에 일어날 수 있 는 스펙 클 검출 은 , Gav ( 수학식 20 b ) 가 스펙 클 검출 임계 값 spkTh 보다 큰 지 를 결정 함 으로써 수행 될 수 있 다 . 동적 결함 임계 값 dynTh 와 유사 하 게 , 스펙 클 임계 값 spkTh 는 , 각각 spkTh 1 및 spkTh 2 로 나타내 어 진 , 고정 된 및 동적 컴포넌트 들 을 또한 포함 할 수 있 다 . 일반 적 으로 , 문자 , 나뭇잎 , 일정 한 직물 패턴 등 과 같이 이미지 에서 다른 영역 들 보다 더 빽빽 한 질감 의 영역 들 에서 스펙 클 을 잘못 검출 하 는 것 을 방지 하 기 위해 , " 고정 된 및 동적 컴포넌트 들 spkTh 1 및 spkTh 2 는 dynTh 1 및 dynTh 2 값 들 에 비해 더 "" 적극 적 으로 "" 설정 될 수 있 다 . 따라서 ", 일 실시 예 에서 , 동적 스펙 클 임계 값 컴포넌트 spkTh 2 는 이미지 의 높 은 질감 영역 들 에 대해 증가 될 수 있 으며 , " "" 단조로운 "" 또는 더 균일 한 영역 들 에 대해 감소 될 수 있 다 . 스펙 클 검출 임계 값 spkTh 는 아래 보여진 것 과 같이 계산 될 수 있 다 . "