종래 , 세라믹 콘덴서 로 대표 되 는 칩 형 전자 부품 을 연속 하 여 대량 으로 검사 하 는 장치 에서 는 롤러 형 전극 부재 가 사용 되 고 있 다 . 이 일반 적 으로 사용 되 고 있 는 롤러 형 전극 부재 의 사용 에 있 어 , 칩 형 전자 부품 의 전기 특성 을 검사 하 는 장치 에 의해 차례 로 이송 되 어 오 는 칩 형 전자 부품 의 단면 전극 에 , 롤러 형 전극 부재 가 접촉 되 거나 혹은 접촉 이 해제 될 때 , 칩 형 전자 부품 의 단면 전극 의 표면 에 긁힌 자국 이 생겨서 외관 불량 이 되 는 문제 가 있 었 다 .