X - 선 회절 분석 은 제조 된 금속 산화물 나노 분말 의 결정상 ( phase ) 변화 를 X - 선 회절 ( XRD , D / MAX 2500 - V / PC , Rigaku Co . , Japan ) 을 이용 하 여 분석 하 였 다 . 이때 사용 된 X 선 은 40 kV , 30 mA 에서 발생 된 CuK α 선 을 Ni 필터 로 단색화 하 였 고 측정 범위 는 10 ∼ 70 ° 이 었 다 . 결정상 은 JCPDS ( Joint Committee of Powder Diffraction Standard ) 카드 와 비교 하 여 확인 하 였 다 .