디스플레이 를 비롯 한 반도체 , 태양 전지 및 LED 등 에서 사용 되 는 다층막 의 구조 는 두께 가 수 ㎚ ~ 수 ㎛ 되 는 다층막 으로 구성 된다 . 따라서 반사광 측정기 ( Reflectometry ) 보다 는 타원 계측기 ( Ellipsometry ) 의 활용 이 우선시 되 고 있 는 현실 이 지만 , 그 구성 요소 의 초기 설정 값 ( parameters ) 을 찾 기 위한 보정 작업 ( Calibration ) 의 어려움 과 회전 요소 의 회전 각도 의 구동 오 차 로 인한 정밀 도 저하 로 인해 사용 자 의 전문 성 과 측정 결과 에 대한 높 은 분석 능력 이 요구 된다 .