이때 , 상기 검사 패턴 ( TP ) 은 , 도 4 에 도시 한 바 와 같이 , 상기 유기 전계 발광 다이오드 패턴 내부 의 격벽 으로 둘러싸인 하나 의 화소 영역 ( P ) 에 대응 하 여 하나 의 유기 전계 발광 다이오드 가 형성 된 구성 과 동일 하 게 하나 의 화소 영역 ( P ) 과 상기 화소 영역 내 에 형성 된 유기 발광 다이오드 와 이러 한 하나 의 유기 전계 발광 다이오드 와 연결 된 제 1 , 2 패드 ( Pd 1 , Pd 2 ) 로 구성 되 거나 , 또는 도 5 에 도시 한 바 와 같이 , 서로 이웃 하 여 형성 된 다수 의 화소 영역 ( P ) 과 상기 각 화소 영역 ( P ) 내 에 각각 형성 된 다수 의 유기 발광 다이오드 가 하나 의 그룹 을 형성 하 여 이러 한 그룹 과 연결 된 제 1 , 2 패드 ( Pd 1 , Pd 2 ) 로 구성 되 고 있 는 것 이 특징 이 다 . 이때 , 도 3 내지 도 5 에 있 어서 는 A 영역 에 는 다수 의 화소 영역 으로 구성 된 검사 패턴 ( TP ) 이 B 영역 에 는 하나 의 화소 영역 으로 구성 된 검사 패턴 ( TP ) 이 도시 된 것 처럼 나타나 고 있 으나 , 이 는 단순히 일례 를 보인 것 이 며 , A 및 B 영역 모두 동일 하 게 하나 또는 다수 의 화소 영역 으로 구성 된 검사 패턴 ( 도 4 의 TP ) 이 형성 될 수 있 으며 , 또는 영역 별 로 다르 게 A 영역 에 는 하나 의 화소 영역 으로 구성 된 검사 패턴 ( 도 5 의 TP ) 이 B 영역 에 는 다수 의 화소 영역 으로 구성 된 검사 패턴 ( 도 4 의 TP ) 이 형성 될 수 도 있 다 .