상기 용접 영역 의 조성 을 다음 과 같이 조정 하 였 다 . 도 4 ( a ) 및 도 4 ( b ) 에 나타낸 바 와 같이 , 레이저 로 조사 되 는 상기 귀금속 칩 의 원주 표면 상 의 위치 를 고정 된 축 방향 높이 로 유지 함 으로써 , 상기 귀금속 칩 을 형성 하 는 데 에 사용 하 는 귀금속 의 융 해량 을 일정 하 게 유지 하 면서 , 상기 전극 베이스 금속 을 형성 하 는 데 에 사용 하 는 Ni 합금 의 융 해량 을 증가 또는 감소 시켰 다 . 상기 Ni 합금 의 융 해량 은 레이저 조사 직경 의 조정 을 통하 여 조절 하 였 다 .