또한 , 상기 NCST 불순물 영역 ( 150 ) 은 소자 분리 막 ( 130 ) 의 내 측벽 및 바닥 부 에 이온 주입 공정 을 통해 형성 되 기 때문 에 이온 주입 공정 시 , 이온 주입 결함 이 발생 하 며 , 이 는 추후 디스 로케이션 ( dislocation ) 을 유발 하 여 이미지 센서 의 특성 및 신뢰 성 을 저하 시키 는 문제 가 있 었 다 .