이러 한 본 실시 예 에 따른 반도체 테스트 용 소켓 하우징 ( 1 ) 은 공간 효율 성 이 우수 하 여 , 하나 의 테스트 보드 ( 28 ) 에 많 은 수 의 반도체 테스트 용 소켓 하우징 ( 1 ) 을 장 착할 수 있 다 . 이 에 따라 많 은 수 의 반도체 소자 ( 21 ) 를 동시 에 테스트 하 여야 하 는 경우 에 특히 유리 한 장점 이 있 다 .