한편 , 국내 등록 실용신안 제 435565 호 에 는 상기 문제 를 해결 하 기 위해 , 다수 의 메모리 모듈 을 각각 개별 적 으로 온도 신뢰 성 테스트 를 수행 할 수 있 는 장치 가 게시 된 바 있 다 . 상기 테스트 장치 는 베이스 프레임 에 설치 된 메모리 모듈 에 온도 조건 을 부여 하 기 위한 다수 의 냉온 시스템 을 구비 하 고 , 다수 의 냉온 시스템 을 승 하강 , 전 후진 및 양측 으로 이동 할 수 있 도록 베이스 프레임 상 에 설치 되 며 각각 의 냉온 시스템 을 지지 하 는 다수 의 거치대 를 구비 하 고 있 다 .