도 23 의 ( b ) 왼쪽 은 , 오픈 결함 의 플러그 를 포함 하 는 복수 패턴 에 , 빔 조사 조건 A 의 빔 을 조사 했 을 때 에 얻 어 지 는 화상 예 를 나타내 는 도면 이 다 . 오픈 결함 의 경우 , 게이트 컨 택트 에 빔 을 조사 해도 , 게이트 는 열리 지 않 고 , 게이트 컨 택트 도 절연 되 어 있 으므로 , 모든 패턴 의 명도 가 낮 다 . 한편 , 도 23 의 ( b ) 오른쪽 은 , 오픈 결함 의 플러그 를 포함 하 는 복수 패턴 에 , 빔 조사 조건 B 의 빔 을 조사 했 을 때 에 화상 예 를 나타내 고 있 다 . 전하 가 축적 되 기 어려운 빔 조사 조건 때문 에 , 게이트 컨 택트 가 높 은 명도 가 되 는 한편 , 게이트 는 닫힌 상태 이 기 때문 에 , 소스 컨 택트 와 드레 인 컨 택트 에 는 전하 가 충분히 축적 되 어 , 명도 가 낮 다 .