보정 함수 는 , 모델링 할 트랜지스터 와 동일 한 구조 를 갖 는 트랜지스터 를 임의 로 선정 하 고 , 선정 한 트랜지스터 의 공정 파라미터 와 복수 의 변곡점 에 각각 대응 하 여 복수 의 커패시턴스 를 측정 한 실측값 ( Measure Cgs , M _ Cgs ) 을 이용 하 여 , 도출 된다 . 즉 , 복수 의 변곡점 각각 에서 , 커패시턴스 의 실측값 ( M _ Cgs ) 과 예비 모델링 값 ( P _ Cgs ) 간 의 오차 를 검출 하 고 , 오 차 를 드레 인 또는 소스 가 게이트 와 중첩 하 는 영역 의 단위 면적 으로 일반 화 하 여 , 단위 보정 값 ( Unit Correction Value , UC ) 을 생성 한다 . 그리고 , 이 와 같이 생성 되 는 복수 의 변곡점 에 각각 대응 하 는 복수 의 단위 보정 값 ( UC ) 을 조합 하 여 , 보정 함수 가 도출 된다 . 이 에 따라 , 보정 함수 는 , 게이트 전압 ( Vgs ) 에 대한 단위 보정 값 ( UC ) 의 함수 로 정의 될 수 있 다 .