실시 예 에서 , X - 선 과 같 은 투과 방사선 소스 , 검출기 , 및 제어기 를 포함 하 는 센서 는 소스 로부터 검출기 에서 수신 된 신호 의 세기 를 저 장소 용융 금속 레벨 판독 으로 처리 하 는 알고리즘 을 더 포함 한다 . 센서 는 단일 광각 이 미터 및 단일 광각 검출기 를 포함 할 수 있 다 . X - 선 또는 감마선 은 검출기 로 비행 하 는 용융 금속 함유 영역 을 통한 경로 길이 를 증가 시키 기 위해 저 장소 내부 를 저 장소 횡 방향 평면 에 대해 경사지 게 관통 할 수 있 다 . 각도 는 저 장소 에서 용융 금속 의 깊이 를 결정 하 기 위한 판별 을 증가 시키 기 위해 더 큰 용융 금속 깊이 를 샘플링 할 수 있 다 . 검출기 신호 세기 는 공지 된 저 장소 용융 금속 레벨 에 대해 교정 될 수 있 다 . 레벨 이 상승 함 에 따라 , 검출기 세기 신호 는 감소 하 며 , 레벨 은 교정 으로부터 결정 될 수 있 다 . 예 시 적 인 소스 는 아메리슘 241 과 같 은 방사성 동위 원소 및 Bremsstrahlung 장치 와 같 은 X - 선 소스 이 다 . 예 시 적 인 검출기 는 Geiger 카운터 및 신 틸레 이터 및 포토다이오드 이 다 . X - 선 소스 는 Mini - X 와 같 은 AmeTek 소스 를 포함 할 수 있 고 , 검출기 는 NaI 또는 YSO 결정 검출기 를 포함 할 수 있 다 . X - 선 소스 및 검출기 와 같 은 방사선 소스 중 적어도 하나 는 X - 선 감쇠 의 종 방향 프로파일 및 이 에 따른 금속 레벨 을 얻 기 위해 스캐닝 될 수 있 다 . 스캐너 는 캠 구동 스캐너 와 같 은 기계식 스캐너 를 포함 할 수 있 다 . 캠 은 전기 모터 에 의해 구동 될 수 있 는 회전 샤프트 에 의해 회전 될 수 있 다 . 스캐너 는 기계식 , 공 압 식 , 유압식 , 압 전식 , 전자 기식 , 서보 모터 구 동식 , 또는 X - 선 소스 및 검출기 중 적어도 하나 를 금속 레벨 의 깊이 프로 파일 로 가역 적 으로 번역 하 거나 방향 을 바꾸 는 당업자 에게 공지 된 다른 그러 한 스캐너 또는 수단 을 포함 할 수 있 다 . 아메리슘 과 같 은 방사성 동위 원소 는 W , Mo , Ta , Nb , 알루미나 , ZrO , MgO 와 같 은 내화 재료 , 또는 온도 가 높 은 저 장소 에 아주 가깝 게 배치 되 게 하 도록 본 개시 의 하나 와 같 은 다른 내화 재료 에 놓일 수 있 다 . X - 선 소스 와 이 미터 및 검출기 중 적어도 하나 는 압력 및 온도 중 적어도 하나 를 제어 할 수 있 는 하우징 에 장착 될 수 있 다 . 하우징 은 외부 압력 용기 ( 5 b 3 a ) 에 장착 될 수 있 다 . 하우징 은 외부 압력 용기 ( 5 b 3 a ) 를 용이 하 게 제거 할 수 있 도록 제거 될 수 있 다 . 하우징 은 외부 압력 용기 ( 5 b 3 a ) 의 수직 제거 를 허용 하 기 위해 수평 제거 될 수 있 다 . 하우징 은 창 에 걸쳐서 압력 구배 를 유지 하 면서 X - 선 통과 를 위한 내부 창 을 가질 수 있 다 . 창 은 탄소 섬유 를 포함 할 수 있 다 . 하우징 의 외부 단부 는 대기 로 개방 되 거나 대기 에 대해 폐쇄 될 수 있 다 .