또한 상기 한 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 에 따른 테스트 핸들러 의 반도체 소자 로딩 방법 은 , M X N ( M 은 3 보다 크 거나 같 은 자연수 . N 은 1 보다 크 거나 같 은 자연수 ) 행렬 형태 로 배열 되 는 픽커 들 을 구비 한 픽 앤 플레이스 장치 에 의해 고객 트레이 로부터 반도체 소자 를 M X N 행렬 형태 로 파지 하 여 테스트 트레이 로 로딩 할 시 에 , M 개 의 행 들 중 서로 인접 하 는 3 개 의 행 에서 순서 적 으로 1 행과 3 행의 픽커 들 간 의 간격 을 ' 테스트 트레이 의 안착 공간 의 임의 의 행간 간격 ' 으로 조절 한 후 , 1 행 및 3 행 , 또는 2 행의 픽커 들 이 파지 한 반도체 소자 들 을 테스트 트레이 에 먼저 로딩 시킨 다음 소정 간격 이동 하 여 2 행 또는 , 1 행 및 3 행의 픽커 들 이 파지 한 반도체 소자 들 을 테스트 트레이 에 로딩 시키 는 것 을 특징 으로 한다 .