한편 , 대한민국 등록 특허 제 1706345 호 는 프리즘 을 이용 한 광학 식 의 비문 인증 장치 를 제시 하 였 다 . 이 방식 은 지문 인식 에 사용 하 는 광학 식 지문 획득 방식 을 그대로 적용 한 것 이 다 . 비문 패턴 도 지문 처럼 융 선 과 골 로 구분 될 수 있 는데 , 광학 식 비문 이미지 획득 은 비문 을 비추 는 빛 이 융 선 과 골 에서 다른 광학 적 처리 를 수행 된다는 점 을 이용 하 는 것 이 다 .