또한 , 상기 다공질 실리카 계 입자 의 소성 분체 의 단면 을 100000 배 의 투과 형 전자 현미경 으로 관찰 한 바 , 상기 입자 의 입계 에 작 은 입자 등 의 이물 은 대부분 관찰 되 지 않 았 다 . 또한 , 이 때 , 찍힌 전자 현미경 사진 ( TEM 사진 ) 을 이용 하 여 , 상기 입자 의 외접원 과 내접원 과 의 차이 에서 규정 되 는 표면 거칠 기 값 을 구한 바 , 10 nm 이하 였 다 . 이 전자 고 미경 사진 ( TEM 사진 ) 을 도 11 에 나타낸다 .