이상 에서 설명 한 바 와 같이 , 본 발명 에 따르 면 핫 캐리어 를 발생 시키 는 스트레스 조건 을 가하 여 , 다양 한 형태 의 비교기 의 옵 셋 을 줄일 수 있 게 된다 . 본 발명 은 각기 다른 옵 셋 값 을 가지 는 복수 개 의 비교기 가 구비 된 장치 에서 옵 셋 감소 를 위한 본 발명 에 의한 기본 작동 을 반복 하 여 수행 함 으로써 복수 개 의 비교기 의 옵 셋 이 각각 0 으로 수렴 하 는 효과 를 얻 을 수 있 다 . 본 발명 이 DRAM 의 비트 라인 을 읽 는 감지 증폭기 에 적용 되 는 경우 , 트랜지스터 를 추가 하 지 않 고 기존 에 이미 구비 된 트랜지스터 들 을 이용 하 여 단지 입력 전압 만 을 제어 함 으로써 구현 될 수 있 는 장점 이 있 다 .