각각 의 채널 회로 ( 50 ) 는 피 시험 디바이스 ( 300 ) 의 대응 하 는 입출력 핀 에 접속 되 어 해당 입출력 핀 에 시험 신호 를 공급 해도 된다 . 또한 , 각각 의 채널 회로 ( 50 ) 는 해당 입출력 핀 으로부터 의 출력 신호 를 측정 해도 좋 다 . 또한 , 피 시험 디바이스 ( 300 ) 의 입출력 핀 은 입력 핀 또는 출력 핀 의 하나 이 어도 된다 .