추가 의 예시 적 인 실시 양태 에서 , 샘플 의 분석 방법 은 , 2 개 이상 의 특정 광학 파장 에서 샘플 을 관찰 하 는 하나 이상 의 검출기 를 사용 하 는 단계 ; 및 ( i ) 제 1 파장 에서 의 검출기 응답 의 변화 , ( ii ) 제 2 파장 에서 의 검출기 응답 의 변화 , 또는 ( iii ) 제 1 및 제 2 파장 에서 의 검출기 응답 들 로 표현 되 는 복합 응답 의 변화 에 따라 분획 수집 기 에 새로운 샘플 분획 을 수집 하 는 단계 를 포함 한다 . 소정 의 검출기 응답 의 변화 는 , 이 로서 한정 하 는 것 은 아니 지만 , 검출기 응답 역치 값 에 도달 하 거나 이 를 능가 하 는 검출기 응답 값 의 변화 , 시간 경과 에 따른 검출기 응답 값 의 기울기 , 시간 경과 에 따른 검출기 응답 값 의 기울기 역치 값 , 시간 경과 에 따른 검출기 응답 값 의 기울기 의 변화 , 시간 경과 에 따른 검출기 응답 값 의 기울기 역치 값 의 변화 , 또는 이 들 의 임의 의 조합 을 포함 할 수 있 다 . 이러 한 실시 양태 에서 , 상기 방법 은 흡광 도 스펙트럼 의 범위 에 걸쳐 n ( 여기 서 , n 은 1 초과 의 정수임 ) 개 의 특정 파장 을 관찰 하 는 하나 이상 의 검출기 내 n 개 의 센서 들 을 사용 하 는 단계 , 및 ( i ) n 개 의 센서 들 로부터 의 n 개 의 검출기 응답 들 중 임의 의 하나 에서 의 변화 , 또는 ( ii ) n 개 의 검출기 응답 들 로 표현 되 는 복합 응답 의 변화 에 따라 분획 검출기 에 새로운 샘플 분획 을 수집 하 는 단계 를 포함 한다 .