일 실시 예 에 따르 면 , 장치 상태 데이터 ( 206 ) 는 테스트 대상 ( 201 ) 의 제조 과정 에서 획득 되 는 생산 데이터 를 포함 할 수 있 다 . 예 를 들 어 , 장치 상태 데이터 ( 206 ) 는 장치 의 생산 과정 에서 측정 된 온도 , 시간 , 공정 테스트 결과 ( 예 : 커널 패닉 횟수 , 워 치독 리셋 횟수 , 또는 리셋 카운트 값 ) 를 포함 할 수 있 다