도 6 은 도 1 의 전자 장치 의 동작 을 보여 주 는 순서도 이 다 . 도 1 및 도 6 을 참조 하 면 , S 101 단계 에서 , 전자 장치 ( 100 ) 는 측정 대상 에 대한 간섭 무늬 로부터 접힌 위상 을 획득 할 수 있 다 . S 102 단계 에서 , 전자 장치 ( 100 ) 는 접힌 위상 을 3 차원 의 실린더 좌표계 로 매핑 시켜 접힌 위상 을 실린더 곡면 상 의 커브 로 변환 할 수 있 다 . 접힌 위상 은 국소 등장 변환 을 수행 하 는 매핑 함수 에 의해 커브 로 변환 될 수 있 다 .