더욱이 , 복수 의 계측 부 ( 22 ) 의 각각 은 계측 한 비지 시간 과 피 시험 메모 리 ( 500 ) 의 디바이스 스펙 에 나타난 비지 시간 을 비교 하 여 양부 의 판정 을 해도 된다 . 복수 의 계측 부 ( 22 ) 의 각각 은 , 일례 로서 , 계측 한 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 각각 의 기입 시간 을 , 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 디바이스 스펙 에 나타난 기입 시간 과 비교 하 여 양부 를 판정 해도 된다 .