PxC 를 이용 하 여 전기 신호 로 통신 되 는 실시 예 들 에서 , 결과 로 얻 은 전기 콘택트 들 의 임피던스 는 , 일반 적 으로 , 도전 성 및 / 또는 용량 성 일 수 있 는데 , 즉 , 동상 컴포넌트 ( in - phase component ) 및 / 또는 이상 컴포넌트 ( out - of - phase component ) 를 포함 하 는 복잡 한 임피던스 를 가질 수 있 다 . 전기 적 콘택트 메커니즘 ( 이를테면 , 땜납 , 미세 스프링 들 , 이방성 층 등 ) 과 무관 하 게 , 콘택트 들 과 관련 된 임피던스 가 도전 성 인 경우 , 종래 의 송신 및 수신 I / O 회로 들 은 칩 패키지 의 실시 예 들 에 있 는 컴포넌트 들 에서 이용 될 수 있 다 . 그러나 , 복잡 한 ( 및 , 아마도 , 가변 적 인 ) 임피던스 를 갖 는 콘택트 들 에 대해 , 송신 및 수신 I / O 회로 들 은 , 2009 년 4 월 17 일 에 출원 된 , Robert J . Drost 등 에 의한 , " 발명 의 명칭 이 "" Receive Circuit for Connectors with Variable Complex Impedance "" 이 며 ", 그 내용 이 여기 에 참고 로 포함 되 는 , 미국 특허 출원 12 / 425 , 871 에 기술 된 하나 이상 의 실시 예 들 을 포함 할 수 있 다 .