상기 와 같이 본 발명 의 실시 예 에 따른 평판 검사 방법 에 따라 ( W 개 의 픽셀 ) * ( H 개 의 픽셀 ) 을 갖 는 2 차원 영상 에 대해 2 치화 연산 을 수행 하 는 경우 소요 되 는 시간 ( T ') 은 아래 식 에 의해 구할 수 있 다 . 아래 식 에서 , Pw 는 X 축 에 대한 샘플링 간격 이 고 , Ph 는 Y 축 에 대한 샘플링 간격 을 나타낸다 . 또한 , C 는 샘플링 된 모든 픽셀 중 에서 g ( x , y ) 값 이 1 인 픽셀 의 개수 를 나타낸다 .