이상 이 IC 드라이버 ( 300 ) 의 범프 ( 310 ) 와 접속 하 는 단자 부 의 구성 이 다 . 도 2 의 ( a ) 에서 , 단자 부 의 하측 에 는 검사 용 TFT ( 110 ) 가 각 단자 배선 ( 15 ) 에 대응 하 여 형성 되 어 있 다 . 이 검사 용 TFT ( 110 ) 는 통상 은 OFF 하 고 있 지만 , 검사 시 에 는 게이트 전극 ( 112 ) 을 하이 레벨 로 하 여 , 검사 용 TFT ( 110 ) 를 ON 하 고 , 단자 ( 10 ) 간 의 쇼트 등 을 검출 한다 .