도 11 ∼ 도 13 에 나타나 있 는 바 와 같이 시료 No . 2 에서 , 시료 No . 1 보다 낮 은 컨 택트 저항 을 얻 을 수 있 었 다 . 이것 은 , 제 1 실시 예 에 의하 면 , 컨 택트 저항 을 종래 의 것 보다 도 낮 게 억제 할 수 있 다는 것 을 의미 하 는 것 이 다 . 컨 택트 저항 이 낮 을 경우 , 강유전체 커패시터 에 접속 된 트랜지스터 의 역치 ( threshold value ) 와 온 ( on ) 전류 와 의 관련 성 을 나타낸 특성 변동 ( characteristic fluctuation ) 에 대한 마진 ( margin ) 을 폭넓 게 확보 할 수 있 다 . 이 때문 에 , 수율 ( yield ) 을 향상 시킬 수 있 다 .