본 개시 의 일 실시 예 에 따르 면 , 레인 징 에 참여 하 는 디바이스 의 처리 속도 를 고려 하 여 , STS 세그먼트 에 따라 레인 징 결과 값 의 신뢰도 ( reliability ) 가 달라질 수 있 다 . 그러므로 , 도 16 a 의 단계 S 1650 에서 공격 이 감지 되 었 는지 여부 를 판단 하 는 기준 이 되 는 Vth 에 대해서 는 , STS 세그먼트 에 따라 서로 다른 값 이 적용 될 수 있 다 . 본 개시 의 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 , 도 16 a 에 도시 된 방법 을 수행 함 으로써 , 레인 징 정확도 를 위한 복수 의 STS 세그먼트 를 레인 징 보안 ( ranging security ) 향상 을 위해서 도 이용 할 수 있 다 .