전자기파 차폐 성 은 0 . 5 mm 두께 의 전자기 차폐 경량 고분자 복합체 필름 시편 을 전자파 측정기 ( EMI spectrum analyzer ) 를 이용 하 여 전자기파 발생 소스 ( device source ) 에서 발생 하 는 전자기파 와 전자기 차폐 경량 고분자 복합체 필름 을 통과 한 후 의 전자기파 세기 감소 를 측정 하 여 표 1 에 나타내 었 다 .