본 발명 에 따르 면 , 이 행 스테핑 ( stepping ) 은 유리 하 게 는 , 열 을 아래 로 동작 하 며 , 한 번 에 하나 의 서브 픽셀 만 을 활성 시키 는 데 사용 된다 . 도 3 을 참고 하 면 , 모든 서브 픽셀 을 오프 로 시작 하 며 , 하나 의 열 ( 32 a ) 만 이 구동 된다고 가정 한다 . 열 라인 ( 32 a ) 은 부착 되 어 있 는 서브 픽셀 들 이 광 을 방출 하 게 하 는 , 높 은 전압 과 같 은 아날로그 구동 트랜지스터 제어 신호 를 가질 것 이 다 ; 모든 다른 열 라인 ( 32 b , . . 32 c ) 은 이 에 부착 된 서브 픽셀 이 광 을 방출 하 지 않 도록 하 는 , 저 전압 과 같 은 , 제 어 신호 를 가질 것 이 다 . 모든 서브 픽셀 이 오프 이 기 때문 에 , 패널 은 어떠 한 전류 도 인출 할 수 없 다 ( 이하 , " "" 잡음 의 근원 "" 참고 ) . 최 상부 열 에서 시작 하 여 ", 행 은 시간 축 상 의 체크 표시 ( tick ) 에 의해 표시 된 지점 들 에서 활성 된다 . 행이 활성 됨 에 따라 , 열 ( 32 a ) 에 부착 된 서브 픽셀 은 켜 지 고 , 그래서 패널 에 의해 인출 된 전체 전류 는 상승 한다 . 도 4 a 를 참고 하 면 , 시간 1 에서 , 서브 픽셀 이 활성 되 고 ( 예 를 들 어 , 행 라인 ( 34 a ) 으로 ) 이 의 전류 ( 41 ) 는 측정 회로 ( 16 ) 로 측정 된다 . 구체 적 으로 는 , 측정 되 는 것 은 전술 한 바 와 같이 제 1 및 제 2 전압 공 급기 를 통한 전류 를 나타내 는 , " 전류 - 측정 회로 로부터 전압 신호 이 고 ; 전류 를 나타내 는 전압 신호 를 측정 하 는 것 은 명료 함 을 위해 "" 측정 전류 "" 로서 언급 된다 . 시간 2 에서 ", 다음 서브 픽셀 은 활성 되 고 ( 예 를 들 어 , 행 라인 ( 34 b ) 로 ) 전류 ( 42 ) 가 측정 된다 . 전류 ( 42 ) 는 제 1 서브 픽셀 로부터 의 전류 및 제 2 서브 픽셀 로부터 의 전류 의 합 이 다 . 제 2 측정 ( 42 ) 과 제 1 측정 ( 41 ) 사이 의 차 는 제 2 서브 픽셀 에 의해 인출 된 전류 ( 43 ) 이 다 . 이렇게 하 여 과정 은 각각 의 서브 픽셀 의 전류 를 측정 하 며 , 제 1 열 아래 로 진행 한다 . 제 2 열 , 제 3 열 , 등 패널 의 나머지 열 이 측정 된다 . 각각 의 측정 ( 예 를 들 어 , 41 , 42 ) 이 가능 한 한 서브 픽셀 을 활성 화 하 자마자 얻 어 짐 을 유의 한다 . 이상 적 상황 에서 , 각각 의 측정 은 다음 서브 픽셀 을 활성 시키 기 전 에 임의 시간 에 행해질 수 있 지만 , 이하 설명 된 바 와 같이 , 서브 픽셀 을 활성 시킨 후 바로 측정 을 하 는 것 은 자기 - 가 열 영향 에 기인 하 여 오류 를 제거 하 는 것 을 협조 할 수 있 다 . 이 방법 은 측정 이 , 서브 픽셀 의 정착 시간 ( settling time ) 이 허용 되 는 만큼 빨리 행해 지 도록 한다 .