레인 징 교정 과정 을 수행 함 에 있 어서 , 단계 S 1690 에서 일 실시 예 에 따른 전자 디바이스 는 레인 징 결과 값 Tr 1 , … , TrK ( K in { 2 , 3 , 4 }) 를 측정 후 , k - 평균 ( means ) 클러스터 링 기법 등 을 통해 측정 된 레인 징 결과 값 중 일부 값 이 다른 값 과 큰 차이 를 보이 는 지 여부 를 판단 할 수 있 다 . 전자 디바이스 는 , 레인 징 결과 값 중 일부 값 이 다른 값 과 큰 차이 를 보인다면 , 해당 레인 징 결과 값 은 간섭 에 크 게 영향 을 받 았 다고 판단 하 여 교정 과정 에서 제외 할 수 있 다 .