소자 가 고집 적 화 됨 에 따라 디자인 룰 ( design rule ) 이 축소 되 면서 이러 한 플로팅 게이트 ( 200 ) 의 어택 문제 는 불휘발성 메모리 소자 를 제조 하 는데 있 어서 가장 치명 적 인 문제 로 대두 되 고 있 다 . 이 에 따라 플로팅 게이트 의 어택 문제 를 개선 시켜 플로팅 게이트 의 신뢰 성 , 반복 동작 및 분포 를 향상 시킬 수 있 는 방법 이 요구 된다 .