그러나 , 본 발명 의 일 실시 예 에 따르 면 대칭 으로 배열 된 핀 들 중 에서 , 이러 한 미러 동작 회로 가 비활성 화 되 는 구간 에서 NC 핀 이 되 어야 할 경우 에 대칭 구조 의 두 핀 에 대해서 각각 배타 적 으로 입력 버퍼 부 를 제어 할 수 있 다 . 구체 적 으로 설명 하 면 , 본 발명 의 일 실시 예 에 따른 반도체 집 적 회로 는 미러 동작 회로 여부 에 따라 NC 핀 이 되 어야 할 경우 에 는 미러 동작 회로 관련 신호 및 테스트 모드 신호 의 정보 를 갖 는 새로운 입력 버퍼 제어 신호 를 생성 함 으로써 입력 버퍼 부 를 제어 할 수 있 다 .