이 경우 , 디바이스 ( 20 ) 의 상면 은 가압 모듈 의 단차 부 ( 322 ) 와 접촉 되 면서 위치 가 로정 되 며 , 이 에 의해 테스트 보드 이송 중 수용 공간 내 에서 디바이스 ( 20 ) 가 이동 하 는 것 을 제한 할 수 있 다 . 이때 , 가압 모듈 ( 320 ) 에 의해 디바이스 가 손상 되 는 것 을 방지 할 수 있 도록 , 단차 부 ( 322 ) 는 가 압부 ( 321 ) 와 소정 깊이 ( D ) 만큼 단차 가 형성 된다 . 이때 , 단차 의 크기 ( D ) 는 디바이스 컨 택 단자 ( 410 ) 가 포켓 유닛 저면 으로 돌출 되 면서 디바이스 의 상면 이 포켓 유닛 의 격벽 높이 이상 으로 돌출 되 는 높이 에 상응 하 는 크기 일 수 있 다 . 즉 , 도 3 의 경우 , 디바이스 의 높이 ( h ) 와 디바이스 컨 택 의 돌출 높이 ( d ) 의 합 과 포켓 유닛 의 격벽 의 높이 ( H ) 의 차이 에 해당 하 는 값 일 수 있 다 . 다만 , 리드 부 설치 시 , 디바이스 가 단 차부 에 의해 가압 되 어 손상 되 는 것 을 방지 할 수 있 도록 소정 의 공차 를 확보 하 여 설계 하 는 것 도 가능 하 다 . 나아가 , 단차 부 ( 322 ) 또는 포켓 유닛 ( 120 ) 의 저면 을 완충 소재 를 이용 하 여 구성 하 거나 완충 재질 로 코팅 하 는 것 도 가능 하 며 , 필요 할 경우 별도 의 탄성 부재 를 이용 한 완충 구조 를 단 차부 에 구비 하 도록 설계 하 는 것 도 가능 하 다 .