그러나 , 워드 선 의 저항 및 용량 은 크 다 . 이 때문 에 , 워드 선 의 전압 의 상승 및 하강 특성 은 , 워드 선 의 구동 회로 로부터 의 거리 에 따라 상위 하 다 . 도 16 에서 , 점선 으로 나타내 는 특성 WLf 는 , 구동 회로 로부터 먼 부분 의 워드 선 의 특성 을 나타내 고 , 실선 으로 나타내 는 WLn 은 , 구동 회로 로부터 가까운 부분 의 워드 선 의 특성 을 나타내 고 있 다 . 이렇게 , 워드 선 의 전위 는 , 구동 회로 에 가까운 부분 과 구동 회로 로부터 떨어진 부분 에서 상위 하 기 때문 에 , 이 워드 선 에 접속 되 는 메모리 셀 의 불량 률 도 상이 하 게 된다 . 즉 , 메모리 셀 의 불량 률 은 , 구동 회로 에 가까울수록 프로그램 디 스터브 에 의해 높 아 지 는 경우 도 있 다 .