본 발명 의 추가 실시 양태 는 임의 재료 에서 표면 결함 을 검출 하 는데 유용 한 키트 에 관한 것 이 다 . 이 키트 는 상기 설명 된 바 와 같이 하나 이상 의 친유성 형광 물질 ( 예 를 들 면 , 염료 , " 형광 마이크 로구 또는 양자 도트 ) 을 포함 할 수 있 다 . 키트 는 상기 기술 된 방법 을 수행 하 기 위한 사용 설명서 를 포함 할 수 있 다 . 키트 는 하나 이상 의 표면 결함 을 함유 하 는 "" 양성 대조 "" 재료 를 포함 할 수 있 다 . 키트 는 표면 결함 을 함유 하 지 않 은 "" 음성 대조 "" 재료 를 포함 할 수 있 다 . 키트 는 그 재료 로부터 위치 해 있 지 않 은 형광 물질 을 제거 하 는데 유용 한 세척 물질 을 포함 할 수 있 다 . "