일반 적 으로 웨이퍼 를 구성 하 는 각각 의 칩 의 전기 적 특성 검사 를 통하 여 , 그 불량 여부 를 선별 하 는 공정 을 실시 하 기 위하 여 , 프로브 카드 가 이용 된다 . 프로브 카드 는 프로브 를 구비 하 고 , 상기 프로브 가 칩 의 패드 에 접촉 되 어 전류 를 인가 함 으로써 , 그 출력 특성 을 통해 칩 의 불량 여부 를 판단 한다 . 이러 한 프로브 카드 는 수평 형 과 , 수직 형 으로 구분 된다 .