다른 실시 예 에서 , 검출 시스템 이 제공 된다 . 검출 시스템 은 복수 의 전자 감지 요소 로부터 수신 된 전자 세기 데이터 에 기초 하 여 세기 구배 세트 를 생성 하 도록 구성 된 신호 처리 회로 를 포함 하 고 있 다 . 검출 시스템 은 세기 구배 세트 에 기초 하 여 제 1 빔 스폿 의 제 1 경 계부 와 제 2 빔 스폿 의 제 2 경 계부 를 결정 하 도록 구성 된 빔 스폿 처리 모듈 을 더 포함 하 고 있 다 . 빔 스폿 처리 모듈 은 또한 제 1 경 계부 에 기초 하 여 복수 의 전자 감지 요소 중 제 1 세트 의 전자 감지 요소 가 제 1 빔 스폿 내 에 있 다는 것 을 결정 하 도록 그리고 제 2 경 계부 에 기초 하 여 복수 의 전자 감지 요소 중 제 2 세트 의 전자 감지 요소 가 제 2 빔 스폿 내 에 있 다는 것 을 결정 하 도록 구성 되 어 있 다 . 빔 스폿 처리 모듈 은 제 1 및 제 2 경 계부 에 기초 하 여 제 1 빔 스폿 과 제 2 빔 스폿 사이 의 중첩 영역 을 결정 하 도록 더 구성 되 어 있 다 .