이 경우 , 제 3 서브 검사선 ( STL 3 ) , 제 5 서브 검사선 ( STL 5 ) 및 제 2 단락 패드 ( OTS 2 ) 에 의해 제 1 서브 루프 가 형성 될 수 있 다 . 즉 , 제 1 서브 루프 는 제 1 입력 패드 ( ITP 1 ) 및 제 2 입력 패드 ( ITP 2 ) 와 연결 되 며 , 제 1 서브 패드 영역 ( ARS 1 ) 을 경유 하 여 제 1 입력 패드 ( ITP 1 ) 및 제 2 입력 패드 ( ITP 2 ) 사이 에 형성 될 수 있 다 . 유사 하 게 , 제 4 서브 검사선 ( STL 4 ) , 제 6 서브 검사선 ( STL 6 ) 및 제 3 단락 패드 ( OTS 3 ) 에 의해 제 2 서브 루프 가 형성 되 며 , 제 2 루프 는 제 1 및 제 2 서브 루프 들 을 포함 할 수 있 다 . 즉 , 제 2 서브 루프 는 제 2 입력 패드 ( ITP 2 ) 및 제 3 입력 패드 ( ITP 3 ) 와 연결 되 며 , 제 2 서브 패드 영역 ( ARS 2 ) 을 경유 하 여 제 2 입력 패드 ( ITP 2 ) 및 제 3 입력 패드 ( ITP 3 ) 사이 에 형성 될 수 있 다 .