ASP 에서 , 회절 된 광 은 탤벗 깊이 들 , " h = n · zT 중 하나 에 위치 한 동일 피치 ( pitch ) 의 제 2 "" 분석기 격자 ( analyzer grating ) "" 상 에 투사 된다 . 셀프 이미지 들 은 입사 각 에서 의 시프트 들 ( shifts ) 에 응답 하 여 측면 으로 시프트 하 고 ", 상기 분석기 격자 는 셀프 이미지 피크 들 ( peaks ) 과 분석기 격자 의 상대 적 위치 들 에 따라 광 을 차단 하 거나 통과 시킨다 ( 도 2 b 를 보라 ) . 피크 들 이 격자 내 갭 들 ( gaps ) 과 정렬 하 면 광 을 통과 시키 고 , 그 들 이 와이어 들 ( wires ) 과 정렬 할 때 , 차단 된다 . 이 격자 에 의해 통과 된 광 은 이 들 격자 들 아래 에 있 는 광 다이오드 에 의해 측정 된다 . 셀프 이미지 와 분석기 격자 들 모두 주기 적 이 기 때문 에 통과 된 광 의 양 은 또한 다음 의 방정식 에 따라 입사각 θ 와 함께 주기 적 으로 변한다 .