그 결과 , 상기 현미경 시스템 ( 1 ) 은 샘플 ( 400 ) 의 더 높 은 주파수 스펙트럼 을 측정 할 수 있 고 , 개선 된 종 방향 ( lateral direction ) 및 축 방향 ( axial direction ) 응답 을 가진다 . 이 로 인해 , 표면 의 입자 ( particles ) 등 이 보다 선명 하 게 나타난 고품질 의 광학 절편 이미지 를 생성 할 수 있 다 . 특히 , 높 은 축 방향 응답 및 더 분별력 있 는 높이 정보 를 제공 한다 .