상기 ( 3 ) 과 같이 , 주사 형 전자 현미경 ( JEOL 사제 : JSM - 5600 ) 을 이용 하 여 , 배율 1000 ∼ 3000 배 의 SEM 사진 을 촬영 한다 . 또한 , 임의 의 2000 개 이상 의 입자 화상 에 대해서 , 화상 해석 장치 ( 아사히 가세 이 사제 , IP - 1000 ) 를 이용 하 여 , 평균 입자 지름 을 측정 하 여 , 입자 지름 분포 에 관한 변동 계수 ( CV 치 ) 를 산출 한다 . 구체 적 으로 는 , 입자 2000 개 에 대해서 , 각각 의 입자 지름 을 측정 하 여 , 그 값 으로부터 평균 입자 지름 및 입자 지름 의 표준 편차 를 구하 여 , 하 기 의 식 으로부터 변동 계수 ( CV 치 ) 를 산출 한다 .