그렇지만 , 상기 의 시험 을 반복 하 여 수행 하 면 , TCP 의 테스트 패드 의 금속 이 프로브 로 옮 아 가 서 , 그 금속 에 의한 산화 피막 이 프로브 에 형성 되 어 , TCP 의 테스 트 패드 와 프로브 의 접촉 불량 을 일으키 는 경우 가 있 다 . 이 상태 에서 TCP 의 테스트 패드 를 프로브 에 접촉 시키 더라도 정확 한 시험 을 수행 할 수 없 다 .