상기 종래 기술 에 따른 문제점 을 해결 하 기 위한 본 발명 의 목적 은 , 화소 별 디스플레이 제어 수단 을 이용 하 여 검사 대상 표면 의 전체 가 시도 가 균일 하 게 나타나 도록 임의 의 패턴 을 형성 하 거나 각 화소 별 로 반사 도 조절 을 통해 검사 대상 표면 의 전체 반 사도 를 균일 하 게 하 는 입체 형상 검사 장치 및 입체 형상 검사 방법 을 제공 함 에 있 다 .