또한 , 이러 한 공정 에 의해 상기 제 2 로딩 픽커 ( 222 ) 는 , 도 7 a 내지 도 7 d 에 도시 된 바 와 같이 , 상기 로딩 버퍼 ( 23 ) 에서 테스트 될 반도체 소자 들 을 집어내 어 해당 수납 영역 ( L ') 으로 일정 거리 ( 222 c ) 이동 된 후 에 , 테스트 될 반도체 소자 들 을 상기 로딩 위치 ( 2 a ) 에 위치 된 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시킬 수 있 다 .