도 7 에 도시 하 는 예 에서 는 , 프로브 카드 기판 ( 11 ) 의 대략 사각형 형상 을 갖 는 개구부 ( 12 ) 가 2 개 서로 경사 의 방향 으로 형성 되 고 , 해당 개구부 ( 12 ) 의 외주 변 중 인접 하 는 2 변 에 , 즉 도 6 에서 경사 의 방향 으로 서로 인접 하 는 시험 유닛 ( TU 1 ) 과 시험 유닛 ( TU 2 ) 의 사이 에 만 , 프로브 침 ( 13 ) 이 접속 된 회로 기판 ( 14 ) 이 배설 되 고 , 개구부 ( 12 ) 의 외주 변의 다른 변 의 근방 에서 는 , 회로 기판 ( 14 ) 을 사용 하 지 않 고 , 프로브 침 ( 13 ) 은 프로브 카드 기판 ( 11 ) 에 형성 된 전극 단자 ( 25 ) 에 접속 되 어 있 다 .