실제로 , 터치 부재 에 관련 되 는 회로 및 기구 구조 가 다를 때 는 물론 이 거니와 , 동일 하 다 할 지라 도 제조 공차 를 비롯 한 다양 한 외부 요인 으로 그 공진 점 은 동일 하 지 않 을 수 있 기에 변화 율 또한 제품 / 사람 마다 다르 게 나타날 수 있 다 . 또한 도면 에서 볼 수 있 듯이 , 터치 이후 손 을 땐 직후 체온 의 영향 이 남 아 있 어 나타나 는 옵 셋 ( Offset ) 값 자체 의 변화 또한 고려 해야 하 기에 Raw 값 자체 를 이용 함 에 한계 가 있 다 할 수 있 다 . 때문 에 옵 셋 ( Offset ) 및 스케일 리 ( Scaling ) 과정 으로 제품 간 성능 편차 를 줄여 신뢰 성 향상 에 활용 가능 하 다 . 이 를 위한 과정 은 이후 에 설명 된다 .