본 발명 은 시험 장치 , 전자 디바이스 및 시험 방법 에 관한 것 이 다 . 특히 , 본 발명 은 피 시험 디바이스 를 시험 하 는 시험 장치 , 피 시험 회로 를 시험 하 는 시험 회로 를 구비 한 전자 디바이스 및 피 시험 디바이스 를 시험 하 는 시험 방법 에 관한 것 이 다 . 본 출원 은 , 아래 의 미국 특허 출원 에 관련 된다 . 문헌 의 참조 에 의한 편입 이 인정 되 는 지 정국 에 대해서 는 아래 의 출원 에 기재 된 내용 을 참조 에 의해 본 출원 에 편입 하 고 , 본 출원 의 일부 로 한다 .