형태 1 의 X 선 회절 ( XRD ) 데 이타 를 HI - STAR 2 - 차원 검출기 및 평평 한 흑연 단색화 장치 가 있 는 Bruker D 8 DISCOVER 분말 회절계 상 에 수집 하 였 다 . K α 방사선 이 있 는 Cu 밀봉 된 튜브 를 40 kV , 35 mA 에서 사용 하 였 다 . 샘플 을 25 ℃ 에서 0 - 배경 규소 웨이퍼 상 에 놓 았 다 . 각각 의 샘플 에 있 어서 , 각각 2 개 의 상이 한 θ 2 각도 , 8 ° 및 26 ° 에서 2 개 의 데 이타 프레임 을 각각 120 초 에서 수집 하 였 다 . GADDS 소프트웨어 로 데 이타 를 통합 하 고 DIFFRACTplusEVA 소프트웨어 로 병합 하 였 다 . 보고 된 피크 위치 에 대한 불 확실 성 은 ± 0 . 2 도 이 다 .