또한 , ( c ) 감방 사선 성 산 발생 제 에 제 2 방사선 을 조사 함 으로써 산 이 발생 한 경우 에 , 일부 조사 에 있 어서 의 조사 부 와 비조 사부 사이 에 있 어서 의 산 의 농도 의 차 를 패턴 형성 가능 한 정도 의 크기 로 유지 할 수 있 을 정도 로 제 2 방사선 의 조사 에 의한 산 의 발생량 을 적 게 할 수 있 는 제 2 방사선 의 파장 의 하한 으로서 는 , 300 ㎚ 가 바람직 하 고 , 320 ㎚ 가 보다 바람직 하 고 , 350 ㎚ 가 더욱 바람직 하 다 . ( c ) 감방 사선 성 산 발생 제 가 제 2 방사선 의 조사 에 의해 산 을 발생 하 는 경우 에 있 어서 의 제 2 방사선 의 파장 을 상기 하한 이상 으로 함 으로써 제 1 방사선 이 조사 되 는 일부 조 사 부 에서 는 , 발생 한 감방 사선 성 증 감체 의 증감 작용 에 의해 제 2 방사선 의 조사 시 에 산 이 발생 하 고 , 반대 로 제 1 방사선 이 조사 되 지 않 는 비 일부 조 사 부 에서 는 제 2 방사선 의 조사 시 에 있 어서 의 산 의 발생 이 억제 된다 . 그 결과 , 일부 조사 부 와 비 일부 조사 부 사이 에 있 어서 의 감도 및 콘트 라스트 를 향상 시킬 수 있 다 .