본 고안 은 테스트 프로브 시트 위 에 회로 기판 상 의 테스트 지점 들 의 위치 에 따라 배열 되 는 복수 의 프로브 홀 을 구비 하 는 , 테스트 프로브 시트 ; 탄성 천 위 에서 상기 프로브 홀 을 겨냥 하 는 복수 의 위치 홀 을 구비 하 는 , 테스트 프로브 시트 위 에 덮여 진 탄성 천 ; 위치 판 위 에 상기 프로브 홀 을 겨냥 하 는 복수 의 위치 홀 을 구비 하 는 , 상기 테스트 프로브 시트 및 상기 탄성 천 위 에 설치 되 는 적어도 하나 이상 의 위치 판 ; 상기 테스트 프로브 시트 가 상기 탄성 천 및 기판 사이 에 놓이 며 , 상기 프 로브 홀 을 겨 낭 하 는 복수 의 리드 와이어 홀 을 구비 하 며 , 각각 의 리드 와이어 홀 은 와이어 부분 과 코어 부분 을 구비 하 는 , 기판 ; 프로브 홀 에 각각 설치 되 는 복수 의 압축 스프링 ; 테스트 프로브 의 상부 가장자리 가 탄 성천 과 위치 판 위 의 위치 홀 로부터 확장 하 여 회로 기판 상 의 테스트 지점 과 접촉 하 는 , 압축 스프링 위 에 각각 설치 되 는 복수 의 테스트 프로브 ; 리드 와이어 의 한 쪽 가장자리 는 테스트 판독 장치 에 연결 되 고 , 다른 쪽 가장 자리 는 와이어 코어 를 노출 시키 기 위해 벗겨지 는 , 복수 의 리드 와이어 ; 일단 접착제 가 상기 리드 와이어 홀로 흘러들 어 가 면 , 리드 와이어 와 그것 의 와이어 코어 가 상기 리드 와이어 홀 의 와이어 부분 과 코어 부분 에 위치 하 도록 각각 삽입 될 수 있 고 , 상기 와이어 코어 의 상부 표면 은 상기 압축 스프링 을 직접 적 으로 접촉 하 기 위한 기판 과 함께 평면 을 형성 하 기 위해서 연마 되 는 , 접착제 층 으로 코팅 되 어 있 는 반대 기판 ; 으로 구성 되 는 회로 기판 을 검사 하 기 위한 테스트 프로브 장치 이 다 .