테스트 회로 ( 170 ) 는 데이터 선 ( DL ) 들 에 연결 되 고 , 데이터 선 ( DL ) 들 로 테스트 신호 를 인가 할 수 있 다 . 도 13 에 도시 된 바 와 같이 , 테스트 회로 ( 170 ) 는 복수 의 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 을 포함 할 수 있 다 . 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 각각 은 단위 화소 ( UP ) 를 구성 하 는 복수 의 화소 ( PX ) 들 의 개수 만큼 의 제 2 스위치 ( SW 2 ) 들 을 포함 할 수 있 다 . 도 13 에서 는 서브 테스트 회로 ( STU ) 가 3 개 의 제 2 스위치 ( SW 2 ) 들 을 포함 하 는 예 를 도시 하고 있 다 . 제 2 스위치 ( SW 2 ) 들 은 3 개 의 화소 ( PX ) 들 에 각각 연결 된 3 개 의 데이터 선 ( DL ) 들 에 연결 될 수 있 다 . 제 2 스위치 ( SW 2 ) 는 박막 트랜지스터 로 구현 될 수 있 다 . 제 2 스위치 ( SW 2 ) 들 각각 은 제어 신호 ( DC _ GATE ) 에 의해 턴 온 되 어 입력 선 들 ( 221 , 223 , 225 ) 중 대응 하 는 입력 선 으로부터 인가 되 는 테스트 신호 ( DC _ R , DC _ G , DC _ B ) 를 대응 하 는 데이터 선 ( DL ) 으로 출력 할 수 있 다 . 표시 장치 ( 10 ') 는 테스트 회로 ( 170 ) 를 이용 하 여 화소 ( PX ) 들 및 신호선 들 의 결함 유무 를 알 수 있 다 . 테스트 회로 ( 170 ) 의 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 은 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 및 제 3 주변 영역 ( PA 3 ) 에 분산 배치 될 수 있 다 .