액정 표시 장치 는 표시 화상 에서 부정형 얼룩 이 나타날 수 있 다 . 액정 층 에 동일 극성 의 직류 전압 을 장시간 인가 하 면 , 액정 층 내 의 불순물 이온 들 은 액정 의 극성 을 따라 나뉘 어 지 게 되 고 , 액정 셀 내 에서 화소 전극 과 공통 전극 에서 서로 다른 극성 의 이온 들 이 축적 된다 . 액정 층 에 직류 전압 이 장시간 인가 되 면 , 이온 들 의 축 적 양 이 증가 하 면서 배향 막 이 열화 되 며 , 그 결과 액정 의 배향 특성 이 열화 된다 . 이 로 인하 여 , 액정 표시 장치 에 직류 전압 이 장시간 인가 되 면 부정형 얼룩 이 발생 한다 . 부정형 얼룩 의 문제점 을 개선 하 기 위하 여 , 유전 율 이 낮 은 액정 물질 을 개발 하 거나 배향 물질 이나 배향 방법 을 개선 하 는 방법 을 도모 하 고 있 다 . 그러나 이러 한 방법 은 재료 개발 에 많 은 시간 과 비용 이 필요 하 며 , 액정 의 유전율 을 낮 게 하 면 액정 의 구 동특성 이 나빠 지 는 또 다른 문제점 을 초래 할 수 있 다 . 실험 적 으로 밝혀진 바 에 의하 면 , 부정형 얼룩 의 발 현시점 은 액정 층 내 에서 이온 화 되 는 불순물 이 많 을수록 , 그리고 가속 팩터 가 클수록 빨라진다 . 가속 팩터 는 온도 , 시간 , 액정 의 직류 구동 화 등 이 다 . 따라서 , 부정형 얼룩 은 온도 가 높 거나 동일 극성 의 직류 전압 이 액정 층 에 인가 되 는 시간 이 길 수록 빨리 나타나 고 그 정도 도 심해진다 . 부정형 얼룩 은 같 은 제조 라인 을 통해 제작 된 패널 들 사이 에서 도 불 규칙 한 형태 로 나타나 므로 새로운 재료 개발 이나 공정 의 개선 방법 만 으로 해결 할 수 없 고 , 액정 의 직류 구동 화 를 억제 하 는 구동 방법 이 가장 효과 적 이 다 .