한편 , 제 1 및 제 2 검사선 ( TL 1 , TL 2 ) 의 구성 은 도 8 a 에 도시 된 구성 에 국한 되 지 않 는다 . 예 를 들 어 , 제 2 검사선 ( TL 2 ) 은 도 4 a 내지 도 4 f 에 도시 된 제 2 검사선 ( TL 2 ) 과 유사 하 게 , 복수 의 층 들 을 경유 하 고 , 도 5 에 도시 된 제 2 검사선 ( TL 2 ) 과 유사 하 게 , 검사 패턴 ( DPL ) 을 포함 할 수 있 다 . 또한 , 제 2 검사선 ( TL 2 ) 의 배열 / 구조 및 검사 패턴 ( DPL ) 의 위치 는 , 도 6 a 내지 도 6 c 및 도 7 a 내지 도 7 c 에 도시 된 제 2 검사선 ( TL 2 ) 와 유사 하 게 , 패널 벤딩 영역 ( PBA ) 의 위치 , 손상 ( 예 를 들 어 , 빈번 하 게 발생 하 는 손상 ) 의 종류 / 원인 등 에 기초 하 여 결정 될 수 있 다 .