본 발명 에 있 어서 의 실리콘 함유 불연속 영역 은 30 ㎛ 이상 의 직경 을 갖 는다 . 본 발명 에 있 어서 불 연속 영역 의 「 직경 」 이 란 면적 원 상당 직경 ( 불연속 영역 의 면적 과 동일 한 면적 의 원 의 직경 ) 을 의미 한다 . 상기 불 연속 영역 의 직경 은 25 ㎛ 이상 이 바람직 하 고 , 20 ㎛ 이상 이 보다 바람직 하 고 , 15 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 10 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 5 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 1 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 0 . 5 ㎛ 이상 이 특히 바람직 하 다 . 상기 불 연속 영역 이 원형 인 경우 는 그 직경 이 「 직경 」 이 다 . 또한 , 상기 불 연속 영역 이 비 원형 인 경우 는 면적 원 상당 직경 ( 불연속 영역 의 면적 과 동일 한 면적 의 원 의 직경 ) 이 25 ㎛ 이상 인 것 이 바람직 하 고 , 20 ㎛ 이상 이 바람직 하 고 , 15 ㎛ 이상 이 보다 바람직 하 고 , 10 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 5 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 1 ㎛ 이상 이 보다 더욱 바람직 하 고 , 0 . 55 ㎛ 이상 이 특히 바람직 하 다 . 상기 불 연속 영역 의 직경 및 면적 은 예 를 들 면 현미경 법 에 의해 측정 가능 하 다 .