특성 조정 레지스터 ( 14 ) 의 설정 을 변경 한 후 , 다시 자기 판정 용 패턴 을 스 켈 치 시간 측정 회로 ( 21 ) 에 공급 하 고 , 스 켈 치 시간 측정 회로 ( 21 ) 로부터 출력 된 4 개 의 신호 의 시간 T 5 ∼ T 7 의 카운트 와 , 카운트 값 비교 를 반복 하 고 , 카운트 값 이 레지스터 값 을 초과 하 였을 때 의 레지스터 값 에 의해 설정 의 변경 을 스톱 한다 . 이 때 의 레지스터 값 에 의해 설정 되 는 스 켈 치 시간 측정 회로 ( 21 ) 의 반응 시간 이 , 회로 특성 의 변동 에 의한 영향 을 흡수 한 반응 시간 으로 된다 .