이런 해결 방 안 에 기초 하 면 , 상기 기술 적 문제 는 제 1 말 단부 와 제 2 말 단부 의 사이 에서 종축 을 따라 연장 된 복수 의 콘 택 부재 들 을 수용 하 는 테스트 헤드 , 제 1 말 단부 가 접할 수 있 게 구성 된 서포트 플레이트 ( support plate ) , 및 플렉시블 멤 브레인 을 포함 하 는 전자 디바이스 테스트 장비 의 프로브 카드 에 의해 주로 해결 되 며 , 상기 프로브 카드 는 다음 의 내용 , 즉 테스트 헤드 가 서포트 플레이트 와 플렉시블 멤 브레인 의 제 2 부위 에 의해 서포트 플레이트 와 연결 된 플렉시블 멤 브레인 의 제 1 부위 의 사이 에 배치 되 고 , 프로브 카드 는 플렉시블 멤 브레인 의 제 1 부위 에서 플렉시블 멤 브레인 의 제 1 면 에 배치 된 복수 의 콘 택 팁 들 을 더 포함 하 며 , 각 콘 택 부재 의 제 2 말 단부 는 플렉시블 멤 브레인 의 제 1 면 의 반대편 인 제 2 면 에 접할 수 있 도록 구성 되 고 , 콘 택 부재 들 의 개수 및 배열 은 콘 택 팁 들 의 개수 및 배열 과 상이 한 것 을 특징 으로 한다 .