그러나 , 신 틸레 이터 층 은 고 휘도 형광 물질 인 CsI 등 의 할로겐 화합물 을 이용 한 경우 , 요드 등 의 할로겐 원소 의 반응 성 이 높 으므로 , 신 틸레 이터 층 과 접촉 하 는 광전 변환 소자 중 의 양성 원소 등 과 반응 하 여 부식 이 발생 하 고 , 대기 중 의 수분 과 반응 하 여 신 틸레 이터 층 이 조해 ( 潮海 ) 되 므로 X 선 검출기 의 제 특성 및 신뢰 성 의 열화 나 생산 성 의 저하 및 생산 비용 증가 가 발생 된다 .