상기 한 바 와 같이 테스트 모드 시 에 는 서로 인접 하 는 계조 라인 간 에서 의 전압 차 는 디바이스 의 동작 전압 으로부터 GND 레벨 로 되 어 , " 디바이스 에서 의 최대 전압 차 로 된다 . STRESS 신호 를 "" H """," "" L "" 로 절환 함 으로써 ", 계조 라인 간 에 는 최대 전압 에서 스트레스 가 가해 지 게 되 어 , 스크리닝 효율 이 향상 된다 .