본 개시 의 일 측면 에 따른 검사 장치 에서 는 , 화상 처리 알고리즘 에 의한 기준 투과 화상 의 처리 의 결과 , 전자파 의 투과 량 이 클수록 어둡 게 나타나 고 , 투 과량 이 작 을수록 밝 게 나타나 는 평가 화상 이 얻 어 지 는 경우 , 평가 부 는 평가 화상 의 이 물 에 대응 하 는 부분 이 밝 아 질수록 , 또한 이 물 이외 의 물품 에 대응 하 는 부분 이 어두워질수록 득점 이 높 아 지 도록 설정 된 계 산식 에 기초 하 여 산출 된 득점 에 기초 하 여 검출 정밀도 를 평가 할 수 있 다 . 이 로 인해 , 복수 의 화상 처리 알고리즘 에 대한 각각 의 평가 가 명시 적 으로 나타나 므로 , 평가 부 에 의해 평가 된 화상 처리 알고리즘 을 확실 하 게 미리 선택 된 화상 처리 알고리즘 으로서 설정 할 수 있 다 .