그러나 초고 집적화 되 고 있 는 추세 에 따라 하나 의 칩 에 집적 되 는 셀 ( cell ) 의 수 가 수천만 개 이상 으로 되 어 감 에 따라 제조 공정 의 발달 에 도 불구 하 고 그 불량 셀 의 존재 가능 성 은 상대 적 으로 더욱 크 다고 할 수 있 다 . 만일 이러 한 불량 셀 에 대하 여 정확 한 테스트 가 이루어지 지 않 는다면 반도체 메모리 소자 로서 의 신뢰 성 을 확보 할 수 없 게 된다 .