도 2 는 표면 높이 오프셋 보상 에 기초 한 간섭계 신호 의 분석 을 나타내 는 플로 차트 의 예 이 다 . 대 상체 ( 145 ) 에 대한 간섭계 신호 를 취득 하 기 위해 , 간섭계 시스템 ( 100 ) 은 기준 경로 와 측정 경로 사이 의 광로차 를 기계 적 으로 또는 전자 광학 적 으로 주사 한다 . 측정 광 ( 150 ) 은 측정 경로 를 따라 대 상체 ( 145 ) 로 향하 고 , 반사 된 이후 에 기준 광 ( 155 ) 과 간섭 한다 . 주사 의 시작 부분 에서 의 OPD 는 대 상체 ( 145 ) 의 국소 적 표면 높이 에 따라 달라진다 . 간섭 광 의 세기 는 검출기 ( 165 ) 에 의해 검출 된다 . 주사 를 행하 는 동안 , 컴퓨터 ( 167 ) 는 각 이미지 포인트 에 대한 지수 적 세기 데이터 Iex ( x , y , ξ ) 또는 연속 하 는 카메라 프레임 에서 의 카메라 픽셀 x , y 를 기록 한다 ( 단계 200 ) . 간섭계 시스템 ( 100 ) 의 어떠 한 영향 ( 예 를 들 어 , 검출기 민감 도 ) 도 무시 하 면 , 지수 적 세기 데이터 Iex ( x , y , ξ ) 는 간섭계 신호 를 나타낸다 . 대 상체 ( 145 ) 의 상이 한 표면 위치 에 대응 하 는 다수 의 카메라 픽셀 의 각각 에 대하 여 , 컴퓨터 ( 167 ) 는 OPD 주사 과정 중 에 이러 한 간섭계 신호 를 기록 할 수 있 다 .