예 를 들 면 , 특허 문헌 1 ( 일본 특허 제 5635903 호 공보 ) 에 는 , 피검 사물 중 에서 검출 하 는 이물 ( 異物 ) 의 이물 검출 특성 을 오퍼레이터 가 선택 하 면 , 선택 된 이물 검출 특성 에 근사 하 는 복수 의 화상 처리 알고리즘 을 , 미리 기억 된 복수 의 화상 처리 알고리즘 으로부터 추출 하 여 표시 부 에 표시 하 는 검사 장치 ( X 선 검사 장치 ) 가 개시 되 어 있 다 .