이제 도 6 및 도 7 을 참조 하 면 , 테스트 시스템 의 실시 예 들 의 도면 들 이 있 으며 , 여기 서 DUT 를 테스트 하 기 위해 인터페이스 보드 ( 108 ) 를 관통 하 는 RF 또는 밀리미터파 ( mmw ) 방사 통로 가 필요 하 지 않 다 . 이 경우 , 인터페이스 보드 ( 108 ) 는 DUT ( 104 ) ( 미도 시 됨 ) 를 수용 하 기 위한 테스트 소켓 ( 604 ) 을 갖 는다 . 클램프 ( clamp ) ( 606 ) 는 DUT 를 고정 하 여 자신 의 핀 들 및 소켓 ( 604 ) 의 메이팅 핀 들 사이 의 양호 한 전기 적 접촉 을 보장 하 기 위해 폐쇄 된다 . 이러 한 예 에서 DUT ( 104 ) 는 자신 의 바닥 면 및 / 또는 자신 의 측면 들 상 에 자신 의 핀 들 이 배치 되 게 할 수 있 는 반면 에 , 자신 의 최상 부면 은 테스트 안테나 ( 118 ) 에 상향 으로 지향 되 는 집적 형 안테나 를 갖 는다 . 테스트 안테나 ( 118 ) 는 업 / 다운 컨버터 ( 120 ) 의 RF 또는 밀리미터파 ( mmw ) ( 업 컨 버팅 된 ) 포트 에 연결 된다 . 컨버터 ( 120 ) 의 IF 또는 기저 대역 ( 다운 컨 버팅 된 ) 포트 는 인터페이스 보드 ( 108 ) 의 포트 에 케이 블링 될 수 있 다 . 테스트 안테나 ( 118 ) 는 DUT 안테나 의 밀리미터파 ( mmw ) 방사 패턴 을 위해 필요 한 DUT 안테나 와 테스트 안테나 ( 118 ) 사이 의 거리 를 달성 하 기 위해 , 도시 된 것 처럼 클램프 ( 606 ) 위 로 상승 된다 . 이 는 도시 된 것 처럼 인터페이스 보드 ( 108 ) 에 얹혀 있 을 수 있 는 브라 켓 ( bracket ) 또는 플랫 폼 ( 612 ) 을 사용 하 여 도 6 의 실시 예 에서 달성 된다 . 도 7 의 실시 예 에서 , 챔버 ( 330 ) 는 플랫 폼 ( 612 ) 을 사용 하 는 대신 에 , 테스트 안테나 와 소켓 ( 604 ) 사이 에 배치 되 어 테스트 안테나 를 상승 시킨다 .