내부 전극 층 ( 12 ) 의 노출면 에 는 도 2 ( B ) 에 도시 되 는 바 와 같 은 복수 개 의 판상 물 인 제 2 결정립 ( G 2 ) 이 관찰 된다 . SEM 관찰 상 내 에서 의 제 2 결정립 ( G 2 ) 에 대해 그 긴 지름 ( L 2 i ) ( i = 1 , 2 , … N ) 이 측정 되 었 다 . 긴 지름 ( L 2 i ) 측정 은 화상 해석 에 의해 실시 되 었 다 . 또한 , 긴 지름 ( L 2 i ) 을 측정 한 제 2 결정립 ( G 2 ) 에 대해 FIB 를 이용 하 여 두께 를 알 수 있 도록 가공 하 고 , SEM 에 의해 두께 ( T 2 i ) ( i = 1 , 2 , … N ) 가 측정 되 었 다 .