따라서 , 본 발명 에서 는 제품 출하 를 위한 검사 전 ORT 단계 에서 , 불량 검출 용 전 압공 급부 ( 23 ) 로 하여금 데이터 구동 부 ( 28 ) 에 전원 전압 ( Vdd ) 을 공급 하 는 전원 전압 공급 부 ( 24 ) 에 소정 의 주기 를 가지 는 형태 의 입력 전압 ( Vin : 12 V ) 을 공급 하 도록 하 여 압흔 불량 및 압흔 미약 에 의한 IC 본딩 부 의 버 닝 현상 이 나타나 는 데이터 구동 부 ( 28 ) 들 을 검출 할 수 있 도록 하 였 는데 , 이 과정 을 조금 더 상세히 설명 하 면 다음 과 같 다 .