예 를 들 어 , 광원 들 중 LS 1 및 LS 2 의 위치 가 변경 되 거나 , LS 1 의 파장 정보 가 변경 되 거나 , 또는 LS 2 가 조명 시스템 으로부터 이탈 할 수 가 있 다 . 이러 한 각각 의 경우 에 대하 여 조명 시스템 특성 측정 방법 을 별도 로 수행 하 는 경우 , 소요 되 는 시간 은 크 게 증가 하 게 되 고 , 특히 , 광원 의 수 가 증가 될 수록 각각 의 광원 이 변경 될 수 있 는 경우 의 수 를 고려 하 면 , 더욱 시간 이 늘어나 는 문제점 이 있 었 다 .