상기 테스트 유닛 ( 5 ) 은 테스트 트레이 ( T ) 에 장착 된 반도체 소자 를 테스트 하 는 구성 으로서 , 상기 제 1 챔버 ( 4 ) 에서 테스트 조건 에 상응 하 는 온도 로 조절 된 테스트 트레이 ( T ) 를 수직 상태 로 공급 받 아 테스트 를 수행 하 고 , 테스트 완료 된 테스트 트레이 ( T ) 를 수직 상태 로 상기 제 2 챔버 ( 5 ) 로 공급 하 며 , 상술 한 종래 의 핸들러 와 마찬가지 로 콘택트 푸쉬 유닛 ( 도시 되 지 않 음 ) 에 의해 테스트 트레이 ( T ) 가 수평 이동 되 어 각 반도체 소자 가 테스트 헤드 ( 도시 되 지 않 음 ) 에 전기 적 으로 접속 되 면서 테스트 가 이루어진다 .