도 4 는 본 발명 의 일실 시예 에 따른 편광판 검사 시스템 으로서 , 광원 ( 30 ) , 상기 광원 상부 에 위치 하 고 , 하부 에 점착 층 ( 14 ) 을 보호 하 는 이방성 이 형 필름 ( 15 ) 이 구비 된 피 ( 被 ) 검사 편광판 ( 10 ) , 및 상기 피 검사 편광판 의 상부 에 위치 하 고 상기 피 검사 편광판 과 평행 니콜 또는 직교 니콜 로 배치 되 는 검사 용 편광판 ( 20 ) 을 포함 하 여 이루어지 는 것 을 특징 으로 한다 . 　 상기 이방성 이 형 필름 ( 15 ) 은 축각 도 ( 본 명세서 에서 축각 도란 편광판 의 투과 축 과 이방성 이 형 필름 의 광축 간 의 사이 각 을 의미 한다 ) 가 8 ° 내지 45 ° 범위 내 인 것 이 특징 이 다 . 　 결함 여부 판단 은 광수 신부 ( 50 ) 에서 행한다 . 　 광수 신부 ( 50 ) 는 사람 의 육안 으로 확인 하 는 것 일 수 있 으며 , CCD 카메라 등 의 광수 신 장치 를 이용 하 여 화상 처리 되 어 결함 을 검출 할 수 도 있 다 . 　 이 는 본 기술 분야 에서 잘 알려져 있 으므로 설명 을 생략 한다 .