본 발명 은 테스트 용 보드 에 형성 된 복수 개 의 인터페이스 영역 의 양부 를 체크 하 는 테스트 보조 체 에 관한 것 으로서 , 보다 상세 하 게 는 테스트 용 보드 에 복수 개 로 구비 되 어 있 는 인터페이스 영역 에서 반도체 소자 가 정상 적 으로 테스트 되 는 데 이용 될 수 있 는지 여부 를 테스트 하 는 데 이용 되 는 테스트 보조 체 에 관한 것 이 다 .