도 14 를 참조 하 면 , 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 에 는 테스트 회로 ( 170 ) , 제 1 스캔 구동회 로 ( 120 ) 및 발광 제 어회 로 ( 140 ) 가 혼합 하 여 배치 될 수 있 다 . 즉 , 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 에 서로 다른 구동 회로 들 이 일 열 로 배치 될 수 있 다 . 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 에 스테이지 그룹 ( SG ) 들 각각 이 하나 의 행 에 대응 하 여 일 열 로 배치 될 수 있 다 . 테스트 회로 ( 170 ) 의 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 중 제 1 표시 영역 ( DA 1 ) 및 제 2 표시 영역 ( DA 2 ) 에 배치 된 데이터 선 ( DL ) 들 에 연결 되 는 서브 테스트 회로 ( STU ) 들 은 제 1 주변 영역 ( PA 1 ) 의 스테이지 그룹 ( SG ) 들 사이 에 분산 배치 될 수 있 다 .