따라서 , 본 발명 의 반도체 메모리 장치 는 저 주파수 로 동작 하 는 테스트 장치 에서 공급 되 는 복수 개 의 저 주파수 클럭 신호 를 배타 적 논리합 연산 을 수행 하 여 출력 되 는 클럭 신호 에서 매우 작 은 클럭 - 하이 구간 을 구현 하 고 , 이 를 반도체 메모리 장치 의 내부 회로 에 공급 하 여 마치 내부 적 으로 고주 파수 의 클럭 이 인가 된 것 처럼 하 여 고주 파수 로 동작 하 는 반도체 메모리 장치 의 특정 한 테스트 항목 을 고주파 로 테스트 할 수 있 다 .