상기 반도체 웨이퍼 들 이 컨베이어 를 타 고 이송 되 면서 상기 프로브 카드 에 접촉 되 어 양품 및 불량 이 판정 되 는 동안 그 접촉 충격 이 상기 니 들 의 탐 침부 로 전달 되 는데 , 이때 상기 탐 침부 들 이 상기 전극 패드 와 접촉 불량 ( 오픈 성 페일 ) 상태 로 연결 될 경우 상기 탐 침부 들 의 흔들림 및 떨림 으로 노이즈 가 발생 되 어 양품 인 반도체 웨이퍼 를 불량 으로 판정 하 는 오동작 을 일으키 는 문제 가 있 다 .