본 발명 에 따른 실시 예의 추가 로 생각 할 수 있 고 바람직 한 실시 예 는 복수 의 정렬 마크 가 기판 표면 측면 당 렌즈 시스템 의 시야 에 위치 하 여 렌즈 시스템 의 외부 또는 내부 의 변위 가 전혀 필요 하 지 않 다는 사실 로 구성 된다 . 따라서 , 본 발명 에 따르 면 , 광학 그룹 을 변위 시키 지 않 고 복수 의 정렬 마크 를 측정 할 수 도 있 다 .