히팅 테스트 장치 부 ( 1800 ) 제 어부 에서 제어 된 음극 전원 은 상부 히터 장치 ( 1600 ) 의 전자 부품 접촉 판 ( 1610 ) 을 공통 접지 ( GND COM ) 로 통전 되 며 , 양극 전원 은 테스트 보드 ( test B / D ; 2720 ) 를 통하 여 핀 보드 ( pin B / D ; 1730 ) 에 삽입 고정 된 테스트 용 핀 ( test pin ; 1740 ) 들 이 상승 하 여 트레이 안착 부 ( 1500 ) 에 고정 된 트레이 ( 200 ) 하부 핀 홀 ( 220 ) 에 삽입 되 며 , 전자 부품 의 전극 부 와 접촉 되 어 전기 적 회로 가 완성 되 어 전기 적 특성 을 테스트 하 고 , 테스트 결과 를 제 어부 에 송신 한다 .