상관 이중 - 샘플링 유닛 ( 220 ) 은 노화 신호 를 발생 하 기 위해 측정 된 전류 를 샘플링 한다 . 하드웨어 에서 , 전류 는 도 2 의 샘플 - 및 - 유지 ( sample and hold ) 유닛 ( 221 , 222 ) 로 전류 미러 유닛 ( 210 ) 으로부터 의 대응 하 는 전압 신호 를 래치 ( latch ) 함 으로써 측정 된다 . 전압 신호 는 전류 - 전압 컨버터 ( 216 ) 에 의해 발생 된 것 일 수 있 다 . 차동 증폭기 ( 223 ) 는 연속 하 는 서브 픽셀 측정 사이 의 차 를 가진다 . 샘플 - 및 - 유지 유닛 ( 221 ) 의 출력 은 차동 증폭기 ( 223 ) 의 양 의 단자 에 전기 적 으로 연결 되 고 유닛 ( 222 ) 이 출력 은 증폭기 ( 223 ) 의 음 의 단자 에 전기 적 으로 연결 된다 . 예 를 들 어 , 전류 ( 41 ) 가 측정 되 는 경우 , 측정 은 샘플 - 및 - 유지 유닛 ( 221 ) 으로 래치 된다 . 이때 , 전류 ( 42 ) 가 측정 되 기 전 에 ( 유닛 ( 221 ) 으로 래치 되 기 전 에 ) , 유닛 ( 221 ) 의 출력 은 제 2 샘플 - 및 - 유지 유닛 ( 222 ) 으로 래치 된다 . 전류 ( 42 ) 가 이때 측정 된다 . 이 는 유닛 ( 222 ) 에서 의 전류 ( 41 ) 및 유닛 ( 221 ) 에서 의 전류 ( 42 ) 를 남긴다 . 차동 증폭기 의 출력 , 즉 유닛 ( 222 ) 에서 의 값 빼 기 유닛 ( 222 ) 에서 의 값 은 따라서 전류 ( 42 ) ( 를 나타내 는 전압 신호 ) 빼 기 전류 ( 41 ) ( 를 나타내 는 전압 신호 ) , 또는 차 ( 43 ) 이 다 . 각각 의 전류 차 , 예 를 들 어 43 은 대응 하 는 서브 픽셀 에 대한 노화 신호 일 수 있 다 . 예 를 들 어 , 전류 차 ( 43 ) 는 행 라인 ( 34 b ) 및 열 라인 ( 32 a ) 에 부착 된 서브 픽셀 에 대한 노화 신호 일 수 있 다 . 이 방식 으로 , 행 아래 로 기르 고 열 을 가로지르 는 스테핑 은 각각 의 서브 픽셀 로 취해질 수 있 고 노화 신호 는 각각 의 서브 픽셀 에 제공 된다 .