이상 과 같 은 제 2 변형 예 에 관한 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 , 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 를 병행 하 여 시험 하 는 경우 와 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 를 가지 는 피 시험 메모리 ( 500 ) 를 시험 하 는 경우 의 각각 에 있 어서 , 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 및 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 각각 의 커맨드 의 처리 상태 를 병행 하 여 검출 할 수 있 다 . 이 에 의해 , 이상 의 각 경우 에 , 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 , 일례 로서 , 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 및 복수 의 메모리 뱅크 ( 502 ) 의 각각 이 커맨드 에 대한 처리 를 종료 한 것 을 조건 으로서 다음 의 커맨드 를 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 에게 공급 하 는 시험 패턴 을 실행 할 수 있 다 . 더욱 , 이상 의 각 경우 에 , 시험 장치 ( 10 ) 에 의하 면 복수 의 피 시험 메모리 ( 500 ) 의 각각 의 비지 시간 을 병행 하 여 계측 할 수 있 다 .