본 발명 의 위치 추적 방법 은 입체 공간 ( BD ) 의 형태 를 다양 하 게 변형 하 고 그 에 따라서 센서 노드 ( S ) 를 배치 함 으로써 , 보다 효율 적 이 고 정밀 하 게 공간 적 인 위치 를 추적 할 수 있 다 . 예컨대 , 상기 평면 을 6 각 형 으로 한다면 , 보다 정밀 한 위치 추적 이 가능 하 다 . 또한 , 입체 공간 ( BD ) 은 본 발명 의 적용 되 는 환경 에 따라 달라질 수 있 다 . 본 발명 의 실시 예 는 센서 노드 ( S ) 의 편향 오차 의 경계 조건 을 최종 위치 의 추정 치 를 사용 하 여 , 추정 속도 를 높일 수 있 는 피드백 ( feed back ) 구조 이 다 .