도 1 은 본 발명 의 일실 시예 에 따른 반도체 소자 의 비전 검사 시스템 의 구성 을 나타낸 블록 도로 , 본 발명 에 따른 비전 검사 시스템 은 크 게 로딩 영역 ( A ) 과 , 소팅 영역 ( B ) 과 , 클리닝 영역 ( C ) 과 , 비전 검사 영역 ( D ) 과 , 핸들링 영역 ( E ) 과 , 버퍼 영역 ( F ) 및 리 사이클 영역 ( G ) 으로 나뉜다 .