제 2 압축 부 ( 320 ) 는 다수 의 입출력 라인 ( GIO ) 에 실린 데이터 가 서로 동일 한지 를 비교 하 여 그 결과 에 따라 다른 논리 값 을 갖 는 데이터 를 적어도 하나 의 출력 핀 ( DQ ) 으로 출력 한다 . 종래 의 제 2 압축 부 ( 도 2 ) 는 2 개 의 입출력 라인 의 데이터 를 논리 연산 하 여 하나 의 출력 핀 으로 클럭 에 따라 순차 적 으로 4 번 출력 했 는데 ( 출력 핀 하나 당 8 개 의 입출력 라인 이 대응 ) , 본 발명 의 제 2 압축 부 ( 320 ) 는 종래 보다 더 많 은 입출력 라인 ( GIO ) 의 데이터 를 논리 연산 하 여 ( 도 4 의 실시 예 에 따르 면 8 개 의 입출력 라인 을 논리 연산 ) 하나 의 출력 핀 ( DQ ) 으로 클럭 에 따라 순차 적 으로 4 번 출력 한다 . 즉 , 출력 핀 ( DQ ) 하나 당 더 많 은 입출력 라인 ( GIO ) 에 대응 되 며 , 사용 되 는 형태 에 따라 하나 의 출력 핀 ( DQ ) 으로 도 칩 전체 의 테스트 를 가능 하 게 한다 .