본 발명 은 반도체 소자 테스트 용 프로브 카드 에 관한 것 으로서 , 반도체 소자 를 검사 하 기 위한 프로브 카드 에 있 어서 , 양측 에 접촉 팁 과 단자 팁 이 각각 형성 되 는 다수 의 프로브 와 , 프로브 가 나란 하 게 고정 되 는 다수 의 고정부 재와 , 고정 부재 가 양측 에 길 이 방향 으로 배열 되 도록 고정 됨 으로써 접촉 팁 각각 이 반도체 소자 의 접속 패드 에 접촉 할 수 있 도록 위치 하 는 프로브 바 와 , 프로브 바 가 고정 되 는 메 인회 로 기판 과 , 프로브 의 접촉 팁 과 메 인회 로 기판 을 접속 시키 는 접속 수단 을 포함 한다 . 그러므로 , 본 발명 은 일정 개수 의 프로브 를 모듈 화 하 여 조립 함 으로써 프로브 의 변형 을 방지 하 여 품질 을 향상 시킴 과 아울러 조립 성 이 뛰어나 생산 성 을 향상 시키 고 , 마모 또는 변형 이 발생 한 프로브 를 교체 시 모듈 단위 로 분리 됨 으로써 다른 프로브 에 손상 을 주 지 않 고서 용이 하 게 교체 작업 을 실시 할 수 있 으며 , 프로브 가 검사 의 대상물 인 반도체 소자 와 메인 회로 기판 을 안정 적 으로 접속 시킴 으로써 동작 의 신뢰 성 을 향상 시키 고 , 반도체 소자 의 고집 적 화 및 고 밀도 화 에 따른 프로브 간 의 미세 한 피치 를 실현 시킬 수 있 는 효과 를 가지 고 있 다 .