일본 공개 특허 공보 제 2007 - 65441 에 설명 된 기술 은 단지 배열 렌즈 사양 을 도출 하 기 위한 방법 만 을 설명 한다 . 평행선 그룹 의 각도 의 조정 , 간격 조정 , 및 수평 적 레퍼런스 위치 의 조정 을 하 더라도 , 이 기술 은 각각 의 뷰 포인트 들 에서 우측 및 좌측 이미지 가 서로 대체 되 는 리버스 뷰 현상 을 방지 할 수 없 다 . 또한 , 평행선 그룹 의 드로잉 프로세스 및 그 조정 에 이용 된 제어기 가 필요 하 기 때문 에 , 검사 장치 의 비용 이 증가 되 고 동작 시간 이 또한 증가 된다 .