이 에 , 본 발명자 들 은 여러 부작용 을 유발 하 는 활성산소 의 발생 이 억제 된 광 감응 물질 을 연구 하 던 중 , 근적외선 영역 의 빛 에 노출 된 PSi 또는 CNT 로부터 방출 된 활성산소 의 양 을 X 선 회절 분석 을 이용 하 여 간접 적 으로 측정 하 는 신뢰 성 및 재현 성 이 우수 한 방법 을 개발 함 으로써 본 발명 을 완성 하 였 다 .