여기 에서 a 및 b 의 값 들 은 피치 ( pitch ) 및 수직 간격 ( vertical spacing ) 과 함께 격자 들 의 방향 ( orientation ) 에 의존 한다 . 푸리 에 유사 변환 ( Fourier - like transformation ) 을 제공 하 기 위해 , a 및 b 는 2 차원 주파수 공간 을 타일 ( tile ) 해야 한다 . a 와 b 의 각각 의 조합 에 대해 , 도 3 b 에 보여진 바 와 같이 π / 2 의 위상 분리 ( phase - split ) 를 가진 4 개 의 ASP 들 이 필요 하 다 . 그 다음 상보 신호 들 을 감산 함 으로써 2 차원 푸리에 변환 의 각각 의 주파수 와 방향 에서 사인 ( sine ) 과 코사인 ( cosine ) 항 들 을 생성 한다 . 방정식 ( 4 ) 에서 a 와 b 는 상기 응답 의 방향 과 주기성 ( 즉 , 방정식 ( 3 ) 에서 β 의 극 좌표 들 ( polar coordinates ) 에 맵 핑 하 는 데카르트 좌표 ( Cartesian coordinates ) 로서 취급 될 수 있 다 . ASP 의 응답 의 방향 은 단순히 어떤 각 에 대해 설계 될 수 있 는 그 격자 의 방향 을 추적 한다 ( 현대 CMOS 프로세스 들 에서 그리드 간격 ( grid spacing ) 은 광 의 파장 보다 훨씬 작 으므로 ) . 주기 를 변화 시키 기 위해 , 격자 피치 ( 분석기 격자 의 깊이 와 함께 따르 는 ) 격자 피치 가 조정 될 수 있 고 , 또는 대안 적 으로 분석기 격자 가 더 높 은 차수 의 탤벗 거리 ( a higher order Talbot distance ) 에 위치 될 수 있 다 . 도 7 a 는 그 분석기 격자 들 이 zT 및 2 zT ( 도 2 로부터 ) 에 위치 된 두 개 의 ASP 테스트 구조 들 로부터 측정 된 결과 들 을 보여준다 . 도 7 b 는 분석기 격자 와 마찬가지 로 피치 를 변경 함 으로써 주기 들 의 범위 를 제공 하 는 ASP 들 에 대한 FDTD 시뮬레이션 결과 들 을 보여준다 .