생산 변동 계측 기능 ( 114 ) 은 , 이 수치 모델 을 이용 하 여 생산 시스템 ( 101 ) 의 생산 시각 ( 116 ) 과 장치 의 나열 ( enumerated devices ) ( 117 ) 로 이루어지 는 생산 변동 표시 테이블 ( 118 ) 을 갖 는다 . 이 생산 변동 표시 테이블 ( 118 ) 은 , 각 장치 의 생산 변동 이 다른 장치 로 전파 하 는 상황 을 표시 할 수 있 기 때문 에 , 각각 의 장치 의 파라미터 를 의도 적 으로 변화 시켜 ( 119 ) , 이 에 의한 생산 변동 이 다른 장치 로 전파 하 는 상황 을 표시 시킨다 ( 120 ) . 그리고 , 생산 변동 을 발생 시킨 장치 로부터 영향 을 받 은 가장 하류 의 장치 까지 의 공정 길이 를 생산 변동 전파 길이 ( 121 ) 로서 계측 한다 . 본 도면 에서 는 , 장치 1 a 의 파라미터 를 의도 적 으로 변화 시켰 을 때 , 그 영향 이 장치 6 a 까지 전파 하 고 있 는 모습 을 나타내 고 , 장치 1 a 에서 장치 6 a 까지 의 공정 길이 를 생산 변동 전파 길이 ( 121 ) 로서 계측 하 고 있 다 .