본 발명 의 일실 시예 는 한 쌍 의 형광 검출기 와 함께 한 쌍 의 타원 형 미러 를 이용 함 으로써 제 2 광학 시스템 의 기능 을 개선 시킨다 . 미러 와 검출기 는 크기 를 위해 측정 된 것 과 동일 한 미립자 로부터 형광 방출 을 수집 하 도록 배치 된다 . 각각 의 타원 형 미러 의 경우 에 , 하나 의 초점 이 여기 광 빔 의 교차점 에 있 고 하나 의 초점 이 형광 신호 가 형광 검출기 들 중 하나 로 진입 하 는 대향 하 는 타원 형 미러 의 정점 에 있 다 . 다른 실시 예 에 있 어서 , 타원 형 미러 와 구형 미러 가 미립자 로부터 형광 방출 을 수집 하 도록 배치 된다 .