또한 , 도 4 의 주입 공정 및 도 5 의 준비 공정 에서 는 , 제 2 프로파일러 컵 ( 44 b ) 은 사용 되 지 않 는다 . 주입 공정 및 준비 공정 에 있 어서 , 제 2 프로파일러 컵 ( 44 b ) 은 , 차폐 부재 ( 43 ) 에 의하 여 스캔 빔 ( SB ) 의 입사 가 차단 되 는 제 2 퇴피 위치 ( 72 ) 에 배치 된 채 가 된다 . 제 2 프로파일러 컵 ( 44 b ) 은 , 제 1 프로파일러 컵 ( 44 a ) 의 빔 전류 측정값 을 교정 하 기 위한 교정 공정 에 있 어서 만 사용 된다 .