이 구성 의 신호 무결성 ( 예 를 들 어 , 임피던스 및 스큐 ) 은 신호 전도체 ( 20106 ) 들 을 서로 에 대하 여 배치 하 는 정밀도 / 일관 성 뿐 만 아니 라 전도체 ( 106 ) 들 을 접 지 면 에 대해 배치 하 는 정밀도 에 좌우 될 수 있 다 . 도 35 f 에 도시 된 바 와 같이 , 필름 ( 20110 , 20112 ) 들 은 각자 의 차폐 층 ( 20308 ) 및 유전체 층 ( 20310 ) 을 포함 한다 . 차폐 층 ( 20308 ) 은 이 경우 에 접 지 면 으로서 작용 할 수 있 고 , 케이블 의 길이 를 따른 치수 ( 20312 ) 의 그러 한 엄밀 한 제어 는 유리 할 수 있 다 . 이러 한 예 에서 , 치수 ( 20312 ) 가 상부 및 하부 필름 ( 20110 , 20112 ) 들 둘 모두 에 대해 동일 한 것 으로 도시 되 어 있 지만 , 이 들 거리 가 일부 배열 에서 비대칭 인 것 이 가능 하 다 ( 예 를 들 어 , 필름 ( 20110 , 20112 ) 들 의 상이 한 유전체 ( 20310 ) 두께 / 상수 의 사용 , 또는 필름 ( 20110 , 20112 ) 들 중 하나 가 유전체 층 ( 20310 ) 을 갖 지 않 음 ) .