광조 사기 ( 75 ) 는 반도체 레이저 가 조사 하 는 가시광선 을 소정 의 패턴 으로 변경 하 여 출력 할 수 있 다 . 광조 사기 ( 75 ) 는 조리실 ( 3 ) 내 의 식자재 를 향하 여 방사상 으로 퍼지 는 가시광선 을 조사 하 고 , 카메라 ( 71 ) 는 광조 사기 ( 75 ) 에 의해 조사 된 가시광선 을 촬영 한다 . 삼 차원 계측 장치 는 카메라 ( 71 ) 에 의해 촬영 된 가시광선 을 토대 로 삼각 측량 의 원리 를 사용 하 여 식자재 의 삼차원 형상 을 계측 할 수 있 다 .