도 1 을 참조 하 면 , FOSB ( 10 ) 는 웨이퍼 ( W ) 가 슬롯 사이 에 순차 적 으로 배열 된 다 . FOSB ( 10 ) 의 하단 에 는 소터 홀더 ( sorter holder , 11 ) 가 부착 되 어 소터 ( sorter ) 에 도킹 ( docking ) 된다 . 현재 300 mm 반도체 공정 에서 테스트 웨이퍼 의 후면 검사 는 트 위저 ( tweezer ) 를 사용 하 여 상기 웨이퍼 를 뒤집 어 검사 하 고 있 다 . 트 위저 로 핸들링 하 게 되 면 테스트 웨이퍼 에 스크래치 및 깨 짐 의 위험 이 존재 하 게 되 고 특히 테스트 웨이퍼 의 후면 에 트 위저 의 자국 이 남 게 되 어 정밀 한 검사 를 진행할 수 없 게 된다 .