도 1 은 적어도 하나 의 대 상체 ( 112 ) 의 위치 를 결정 하 기 위한 , 본 발명 에 따른 광 검출기 ( 110 ) 의 예시 적 인 실시 예 를 개략 적 으로 도시 하고 있 다 . 광 검출기 ( 110 ) 는 바람직 하 게 380 nm 내지 760 nm 의 가시 스펙트럼 범위 및 / 또는 760 nm 초과 1 , 000 nm 의 적외선 스펙트럼 범위 의 구획 , 특히 380 ㎚ 내지 15 ㎛, 바람직 하 게 는 380 ㎚ 내지 3 ㎛, 구체 적 으로 는 1 ㎛ 내지 3 ㎛ 의 스펙트럼 범위 의 파장 에 대한 검출기 로서 사용 하 도록 구성 될 수 있 다 . 하 기 도 3 ( b ) 에서 보다 상세히 도시 된 바 와 같이 , 그래핀 층 ( 134 ) 은 , 특히 , 바람직 하 게 는 1 ㎛ 내지 3 ㎛ 의 파장 범위 에 걸쳐 적어도 80 % 의 투과율 을 나타낼 수 있 다 . 그러나 , 다른 실시 예 도 또한 가능 할 수 있 다 .