본 발명 에 따른 플로트 배스 장치 에서 제조 된 평판 유리 는 훨씬 더 적 은 수 의 표면 결함 을 나타낸다 . 30 내지 50 탑 스펙 / m 2 부터 0 내지 20 탑 스펙 / m 2 까지 평균 m 2 당 표면 결함 의 갯 수 를 줄이 는 것 이 가능 하 였 다 . 또한 , 표면 결함 의 크기 가 25 ㎛ 미만 의 직경 까지 감소 하 였음을 알아냈 다 .