계산 된 위상 오프셋 값 ( x ) 은 제 1 샘플 을 보 간 하 여 상기 제 1 샘플 이 샘플링 클록 ( 342 ) 의 동기 화 된 인 스턴스 들 을 사용 하 여 샘플링 되 는 나중 의 샘플 들 과 일치 하 도록 하 는 보 간 필터 ( 320 ) 에 제공 된다 . 보 간 필터 ( 320 ) 는 결정 된 위상 에 대응 하 도록 수신 된 샘플 을 보 간 할 수 있 는 종래 기술 에 공지 된 임의 의 회로 일 수 있 다 . 샘플링 클록 ( 342 ) 이 동기 화 되 기 전 에 발생 되 는 디지털 샘플 들 ( 312 ) 의 각각 의 샘플 들 각각 에 대해 ( n 의 상이 한 값 에 대응 하 는 ) 상이 한 위상 오프셋 값 이 결정 된다 . 따라서 , 예 를 들 면 , 샘플링 클록 ( 342 ) 의 위상 은 샘플링 클록 ( 342 ) 이 동기 화 될 때 까지 디지털 샘플 들 ( 312 ) 의 다른 샘플 이 메모리 ( 315 ) 에 저장 된 때 로부터 많 은 도 ( y ) 만큼 이동 할 수 있 다 . 유사 하 게 , 값 ( y ) 은 다른 샘플 을 보 간 하 여 상기 다른 샘플 이 샘플링 클록 ( 342 ) 의 동기 화 된 인 스턴스 들 을 사용 하 여 샘플링 되 는 나중 의 샘플 들 과 일치 하 도록 하 는 보 간 필터 ( 320 ) 에 제공 된다 . 이 보 간 프로세스 는 샘플링 클록 ( 342 ) 을 동기 화 시키 기 전 에 다수 의 샘플 들 에 적용 될 수 있 다 .