도 2 에 나타내 는 실시 예 2 는 , 단자 부 에서 의 배선 피치 를 작 게 함 과 함께 , 검사 용 TFT ( 110 ) 혹은 검사 용 배선 ( 150 ) 의 면적 을 작 게 할 수 있 는 구성 을 부여 하 는 것 이 다 . 도 2 의 ( a ) 는 본 실시 예의 평면도 이 다 . 도 2 의 ( a ) 의 상측 은 표시 영역 이 며 , 하측 은 TFT 기판 ( 100 ) 의 단부 이 다 . 도 2 의 ( a ) 에서 , 상반 분 의 영역 TE 는 IC 드라이버 ( 300 ) 와 의 접속 을 위한 단자 부이 며 , 영역 TE 의 아래 는 , 배선 을 게이트 메탈 ( 50 ) 로부터 SD 메탈 ( 60 ) 로 전환 하 기 위한 전환 단자 ( 20 ) 가 형성 된 영역 CO 이 며 , 전환 단자 ( 20 ) 의 아래 는 검사 용 TFT ( 110 ) 영역 TFT 가 형성 되 고 , 또한 그 아래 에 는 검사 용 배선 ( 150 ) 영역 TL 이 형성 되 어 있 다 .