테스트 시스템 ( 100 ) 은 DUT ( 104 ) 가 시스템 ( 100 ) 에 의해 테스트 되 는 위치 에 배치 되 었 을 때 , 최상 부면 이 안테나 구조물 ( 106 ) 의 방사 패턴 에 접하 도록 배향 되 는 인터페이스 보드 ( 108 ) 를 갖 는다 . 인터페이스 보드 ( 108 ) 는 최상 부면 에 대향 하 는 바닥 면 을 갖 는다 . 인터페이스 보드 ( 108 ) 는 DUT ( 104 ) 및 테스트 설비 ( 116 ) 사이 의 물리 적 인 인터페이스 로서 작용 하 는 인쇄 배선 보 드 또는 인쇄 회로 보드 일 수 있 다 . 일 예 로서 , 인터페이스 보드 ( 108 ) 는 특히 특정 DUT ( 104 ) 의 방사형 , 전기 적 그리고 물리 적 특성 들 에 대해 변형 된 주문 형 RF 로드 보드 일 수 있 다 . 인터페이스 보드 ( 108 ) 는 DUT ( 104 ) 가 테스트 목적 들 로 설치 된 커넥션 보 드 또는 도 터 카드 ( 110 ) 의 매칭 접촉 지점 들 ( 103 ) ( 예 , 패드 들 ) 을 일시 적 인 전도성 커넥션 들 에 제공 하 기 위해 , 자신 의 최상 부면 상 에 노출 된 다수 의 접촉 지점 들 ( 109 ) ( 예 , 포고 ( pogo ) 핀 들 또는 다른 적절 한 대안 들 ) 을 갖 는다 .