도 10 b 를 참조 하 면 , 상기 제 2 슬라이드 이미지 상 의 각 샘플링 포인트 를 중심 샘플링 포인트 ( 15 a , 16 a ) 로 지정 하 여 기 설정 된 크기 ( e . g . 10 HPF ) 의 패치 를 샘플링 하 는 경우 , 중복 된 영역 ( 빗금 으로 도시 ) 을 갖 는 패치 ( 15 , 16 ) 가 샘플링 될 수 있 다 . 따라서 , 본 발명 의 실시 예 에 따르 면 패치 가 가리키 는 샘플링 영역 에 포함 된 샘플링 포인트 를 이용 하 여 중심 샘플링 포인트 의 위치 가 조정 된다 .