도 8 과 같이 , 휘점 또는 암점 등 이 발생 된 화소 전극 ( 103 a ) 은 이러 한 검사 과정 에서 불량 으로 판단 된다 . 이 경우 에 는 상기 구동 이상 이 발생 된 박막 트랜지스터 ( TFT 1 ) 와 연결 되 어 있 는 화소 전극 ( 103 a ) 을 레이저 를 조사 하 여 컷팅 ( cutting ) 하 면 , 상기 화소 전극 ( 103 a ) 과 상기 화소 전극 ( 103 a ) 에 신호 를 인가 하 는 해당 박막 트랜지스터 ( TFT 1 ) 가 절연 분리 된다 . 즉 , 상기 박막 트랜지스터 ( TFT 1 ) 의 소오 스 전극 ( 102 a ) 에 인가 되 는 신호 는 상기 화소 전극 ( 103 a ) 에 영향 을 미치 지 않 는다 . 따라서 , 이러 한 레이저 에 의한 컷팅 후 에 는 상기 화소 전극 ( 103 a ) 은 플로팅 ( floating ) 상태 에 있 다 .