피 시험 디바이스 ( 300 ) 의 시험 을 개시 하 는 경우 , 제 1 패턴 발생 부 및 제 2 패턴 발생 부 는 후단 의 회로 ( 132 ) 의 단수 에 따른 사이클 수 의 사이 에 미리 동작 하 여 논리 패턴 을 순차 적 으로 생성 하 고 , 후단 의 회로 ( 132 ) 에 순차 적 으로 격납 한다 . 제 1 패턴 발생 부 및 제 2 패턴 발생 부 에 는 사이트 제어 장치 ( 130 ) 로부터 시험 을 개시 하 는 취지 의 신호 가 주어져도 좋 다 .