둘째 , 테스트 될 반도체 소자 들 을 테스트 트레이 ( T ) 에 수납 시키 는 공정 , 및 테스트 된 반도체 소자 들 을 테스트 트레이 ( T ) 에서 분리 하 는 공정 중 어느 하나 의 공정 에 에러 가 발생 하 면 , 정상 적 으로 작동 이 가능 한 나머지 공정 도 작동 이 정지 된다 . 따라서 , 공정 의 효율 성 이 저하 되 는 문제 가 있 다 .