상술 한 목적 을 달성 하 기 위한 본 발명 의 메모리 모듈 의 검사 장치 는 , 패턴 면 이 마련 된 마더 보드 와 다 수개 의 접촉 단자 가 마련 된 메모리 모듈 을 서로 전기 적 으로 연결 시켜 상기 메모리 모듈 의 전기 적 검사 를 하 기 위한 메모리 모듈 의 검사 장치 에 있 어서 , 마더 보드 의 패턴 면 에 솔 더 링 되 어 있 는 다수 의 접촉 핀 이 마련 되 고 , 상기 마더 보드 의 상측 에 고정 결합 되 며 , 걸림 부가 마련 된 인터 포저 와 , 상기 인터 포저 의 상측 에 장착 되 고 , 상기 메모리 모듈 을 안착 시키 며 , 상기 메모리 모듈 의 접촉 단자 와 상기 인터 포저 의 접촉 핀 을 일 대 일 전기 적 으로 접촉 시키 게 하 기 위한 콘 택 터 가 마련 되 고 , 상기 걸림 부 와 대응 되 는 위치 에 는 상기 걸림 부 에 끼워 걸렸 을 때 상기 인터 포저 로부터 이탈 하 는 것 이 방지 되 는 걸 림 턱 을 구비 한 검사 소켓 을 포함 한다 .