이 와 같이 , 메모리 모듈 ( 1 ) 의 착 탈시 테스트 소켓 ( 110 ) 의 유동 을 억제 함 으로써 메모리 모듈 ( 1 ) 이 시스템 보드 ( 3 ) 까지 정확 하 게 연결 되 도록 하 여 메모리 모듈 ( 1 ) 에 대한 테스트 의 신뢰 성 을 향상 시키 고 , 테스트 소켓 ( 110 ) 의 유동 으로 인한 확장 PCB ( 120 ) 의 휨 에 의한 손상 또는 테스트 소켓 ( 110 ) 및 메모리 소켓 ( 2 ) 에서 확장 PCB ( 120 ) 가 접속 되 는 부위 가 파손 되 는 것 을 방지 하 며 , 이 로 인해 메모리 모듈 ( 1 ) 의 테스트 에 사용 되 는 구성 부품 들 의 내구 성 을 증대 시킨다 .