또한 , 상기 종래 기술 에 따른 문제점 을 해결 하 기 위한 본 발명 의 반도체 소자 의 인 - 트레이 검사 방법 은 , 트레이 에 반도체 소자 가 수납 되 어 있 는 상태 에서 반도체 소자 의 외관 을 검사 하 는 반도체 소자 인 - 트레이 검사 방법 에 관한 것 으로서 , 상기 반도체 소자 에 대하 여 적어도 둘 이상 영역 으로 분할 되 어 구비 되 는 조명 장치 를 순차 적 으로 점 등 및 소등 시키 고 반도체 소자 표면 에서 반사 되 는 각각 의 영상 을 획득 하 는 단계 와 , 상기 획득 된 다수 의 영상 에서 그림자 영상 이 생성 된 부분 을 제거 하 는 단계 와 , 상기 그림자 영상 이 제거 된 각각 의 영상 을 단일 영상 으로 합성 하 는 단계 와 , 상기 합성 된 단일 영상 을 기준 영상 과 비교 하 여 결함 유무 를 판별 하 는 단계 를 포함 하 여 구성 된다 .